EN 14571:2005
(Main)Metallic coatings on nonmetallic basis materials - Measurement of coating thickness - Microresistivity method
Metallic coatings on nonmetallic basis materials - Measurement of coating thickness - Microresistivity method
This standard describes a method for nondestructive measurements of the thickness of conductive coatings on nonconductive base materials. This method is based on the principle of the sheet resistivity measurement and is applicable to any conductive coatings and layers of metal and semiconductor materials. In general, the probe has to be adjusted to the conductivity and the thickness of the respective application. However, this standard is focussing on metallic coatings on nonconductive base materials (e.g. Copper on plastic substrates, printed circuit boards).
NOTE 1 This method also applies to the measurement of through-hole copper thickness of printed circuit boards. However, for this application a probe geometry different from the one described in this standard is necessary.
NOTE 2 This method is also applicable for thickness measurements of conductive coatings on conductive base materials, if the resistivity of the coating and the base material is different. This case is not considered in this standard.
Metallische Überzüge auf nichtmetallischen Grundwerkstoffen - Schichtdickenmessung - Mikro-Widerstand-Verfahren
Dieses Dokument beschreibt ein Verfahren für zerstörungsfreie Messungen der Dicke von elektrisch leitenden
Beschichtungen auf nichtleitenden Grundwerkstoffen. Dieses Verfahren beruht auf dem Prinzip der
Flächenwiderstandsmessung und ist auf alle leitfähigen Beschichtungen und Schichten aus metallischen und
halbleitenden Materialien anwendbar. Generell muss die Sonde an die Leitfähigkeit und die Schichtdicke des
jeweiligen Einsatzfalls angepasst sein. Dieses Dokument befasst sich jedoch ausschließlich mit metallischen
Beschichtungen auf nichtleitenden Grundwerkstoffen (z. B. Kupfer auf Kunststoffsubstraten, Leiterplatten).
ANMERKUNG 1 Dieses Verfahren ist ebenfalls zur Messung der Kupferschichtdicke in den metallisierten Bohrlöchern von
Leiterplatten anwendbar. Für diesen Einsatzfall wird allerdings eine Sonde mit einer Geometrie benötigt, die von dem in diesem
Dokument beschriebenen Sondenaufbau abweicht.
ANMERKUNG 2 Dieses Verfahren ist ebenfalls für die Schichtdickenmessung von leitfähigen Beschichtungen auf leitfähigen
Grundmaterialien anwendbar, wenn sich der spezifische Widerstand vom Grundmaterial von dem der Beschichtung
unterscheidet. Dieser Fall wird in diesem Dokument nicht berücksichtigt.
Revêtements métalliques sur matériaux non-métalliques - Mesurage de l'épaisseur des revêtements - Méthode utilisant la microrésistivité
La présente norme décrit une méthode de mesurage non destructif de l�épaisseur de revêtements conducteurs
déposés sur des matériaux non conducteurs. Cette méthode repose sur le principe du mesurage de la résistivité de
la feuille et est applicable à tout revêtement conducteur, aux couches métalliques et aux matériaux
semi-conducteurs. En règle générale, la sonde doit être adaptée à la conductivité et à l�épaisseur de l�application
considérée. La présente norme est cependant principalement axée sur les revêtements métalliques déposés sur
des matériaux de base non conducteurs (par exemple du cuivre sur une matière plastique, les cartes de circuit
imprimé).
NOTE 1 Cette méthode est également applicable au mesurage de l�épaisseur de cuivre déposé par voie autocatalytique sur
les cartes de circuit imprimé mais elle nécessite une forme de sonde différente de celle qui est décrite dans la présente norme.
NOTE 2 Cette méthode est également applicable au mesurage de l�épaisseur de revêtements conducteurs déposés sur des
matériaux de base conducteurs si la résistivité du revêtement et celle du matériau de base sont différentes. Ce cas n�est pas
considéré dans la présente norme.
Kovinske prevleke na materialih z nekovinsko osnovo – Merjenje debeline prevleke – Metoda mikroupornosti
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
SLOVENSKI STANDARD
SIST EN 14571:2005
01-julij-2005
Kovinske prevleke na materialih z nekovinsko osnovo – Merjenje debeline
prevleke – Metoda mikroupornosti
Metallic coatings on nonmetallic basis materials - Measurement of coating thickness -
Microresistivity method
Metallische Überzüge auf nichtmetallischen Grundwerkstoffen - Schichtdickenmessung -
Mikro-Widerstand-Verfahren
Revetements métalliques sur matériaux non-métalliques - Mesurage de l'épaisseur des
revetements - Méthode utilisant la microrésistivité
Ta slovenski standard je istoveten z: EN 14571:2005
ICS:
17.040.20 Lastnosti površin Properties of surfaces
25.220.40 Kovinske prevleke Metallic coatings
SIST EN 14571:2005 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.
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SIST EN 14571:2005
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SIST EN 14571:2005
EUROPEAN STANDARD
EN 14571
NORME EUROPÉENNE
EUROPÄISCHE NORM
April 2005
ICS 25.220.40; 17.040.20
English version
Metallic coatings on nonmetallic basis materials - Measurement
of coating thickness - Microresistivity method
Revêtements métalliques sur matériaux non-métalliques - Metallische Überzüge auf nichtmetallischen
Mesurage de l'épaisseur des revêtements - Méthode Grundwerkstoffen - Schichtdickenmessung - Mikro-
utilisant la microrésistivité Widerstand-Verfahren
This European Standard was approved by CEN on 3 March 2005.
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Standard the status of a national standard without any alteration. Up-to-date lists and bibliographical references concerning such national
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SIST EN 14571:2005
EN 14571:2005 (E)
Contents page
Foreword.3
1 Scope .4
2 Measurement principle.4
3 Factors affecting measurement uncertainty.6
4 Calibration of instruments .7
5 Procedure .8
6 Accuracy requirements.9
7 Test report .9
Annex A (normative) Method for determining the critical current path width.10
Bibliography .11
2
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SIST EN 14571:2005
EN 14571:2005 (E)
Foreword
This document (EN 14571:2005) has been prepared by Technical Committee CEN/TC 262 “Metallic and other
inorganic coatings”, the secretariat of which is held by BSI.
This European Standard shall be given the status of a national standard, either by publication of an identical text or
by endorsement, at the latest by October 2005, and conflicting national standards shall be withdrawn at the latest
by October 2005.
Th
...
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