EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE)

IEC 62433-2:2008(E) specifies macro-models for ICs to simulate conducted electromagnetic emissions on a printed circuit board. The model is commonly called Integrated Circuit Emission Model - Conducted Emission (ICEM-CE). The ICEM-CE model can also be used for modelling an IC-die, a functional block and an Intellectual Property block (IP). The ICEM-CE model can be used to model both digital and analogue ICs. Basically, conducted emissions have two origins: - conducted emmissions through power supply terminals and ground reference structure; - conducted emmisions through input/output (I/O) terminals. The ICEM-CE model addresses those two types of origins in a single approach. This standard defines structures and components of the macro-model for EMI simulation taking into account the IC's internal activities. This standard gives general data, which can be implemented in different formats or languages such as IBIS, IMIC, SPICE, VHDL-AMS and Verilog. SPICE is however chosen as default simulation environment to cover all the conducted emissions. This standard also specifies requirements for information that shall be incorporated in each ICEM-CE model or component part of the model for model circulation, but description syntax is not within the scope of this standard.

EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE)

Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques - Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE)

La CEI 62433-2:2008 définit des macromodèles pour circuits intégrés, destinés à simuler les émissions électromagnétiques conduites sur une carte de circuit imprimé. On appelle habituellement ce modèle: Modèle des émissions de circuits intégrés - Émission conduite (ICEM-CE). Le modèle ICEM-CE peut également être utilisé pour modéliser une puce de circuit intégré, un bloc fonctionnel et un bloc à propriété intellectuelle (IP). Le modèle ICEM-CE peut être utilisé pour modéliser à la fois des circuits intégrés numériques et analogiques. Les émissions conduites ont fondamentalement deux origines: - les émissions conduites par l'intermédiaire des bornes d'alimentation et des structures de référence de masse; - les émissions conduites par l'intermédiaire des bornes d'entrée/sortie (E/S). Le modèle ICEM-CE traite ces deux types d'origine en une approche unique. La présente norme définit les structures et les composants du macromodèle pour la simulation des perturbations électromagnétiques en tenant compte des activités internes du circuit intégré. La présente norme fournit des données générales, pouvant être mises en oeuvre dans des formats ou des langages différents tels que: IBIS, IMIC, SPICE, VHDL-AMS et Verilog. On choisit toutefois SPICE comme environnement de simulation par défaut pour couvrir la totalité des émissions conduites. La présente norme spécifie également les exigences relatives aux informations qui doivent être incorporées dans chaque modèle ICEM-CE ou élément constituant du modèle pour la circulation du modèle. La syntaxe de la description ne fait toutefois pas partie du domaine d'application de la présente norme.

Modeliranje integriranih vezij (IC) za elektromagnetno združljivost (EMC) - 2. del: Modeli integriranih vezij za vedenjsko simulacijo pri EMI - Vodeni model oddajanja (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017)

Standard IEC 62433-2:2008(E) določa makro modele za integrirana vezja za simulacijo prevajanega elektromagnetnega sevanja v tiskanem vezju. Model običajno imenujemo model sevanja integriranega vezja – prevajano sevanje (ICEM–CE). Model ICEM-CE se lahko uporablja tudi za modeliranje integriranih vezij, funkcijskega bloka in bloka intelektualne lastnine (IP). Model ICEM-CE se lahko uporablja za modeliranje digitalnih in analognih integriranih vezij. V osnovi imajo prevajana sevanja dva izvora:  – prevajana sevanja prek terminalov napajalnika in referenčno strukturo tal; – prevajana sevanja prek vhodnih/izhodnih (I/O) terminalov.  ICEM-CE model obravnava dve vrsti izvorov v enem samem pristopu. Ta standard določa strukture in komponente makro modela za simulacijo EMI ob upoštevanju notranjih aktivnosti integriranega vezja. Ta standard podaja splošne podatke, ki se lahko uporabljajo v različnih oblikah zapisa ali jezikih, npr. IBIS, IMIC, SPICE, VHDL-AMS in Verilog. SPICE je izbran kot privzeto okolje simulacije, ki zajema vsa prevajana sevanja. Ta standard določa tudi zahteve glede informacij, ki jih je treba vključiti v vsak model ICEM-CE ali del komponente modela za kroženje modela, vendar pa skladnja opisa ne spada na področje uporabe tega standarda.

General Information

Status
Published
Publication Date
11-May-2017
Withdrawal Date
02-Mar-2020
Drafting Committee
Current Stage
6060 - Document made available - Publishing
Start Date
12-May-2017
Completion Date
12-May-2017

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SLOVENSKI STANDARD
SIST EN 62433-2:2017
01-julij-2017
1DGRPHãþD
SIST EN 62433-2:2010
Modeliranje integriranih vezij (IC) za elektromagnetno združljivost (EMC) - 2. del:
Modeli integriranih vezij za vedenjsko simulacijo pri EMI - Vodeni model oddajanja
(ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017)
EMC IC modelling - Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural simulation -
Conducted emissions modelling (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017)
EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des
Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung leitungsgeführter
Aussendungen (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017)
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: Modèles de circuits intégrés pour la
simulation du comportement lors de perturbations électromagnétiques – Modélisation
des émissions conduites (ICEM-CE) (IEC 62433-2:2017)
Ta slovenski standard je istoveten z: EN 62433-2:2017
ICS:
31.200 Integrirana vezja, Integrated circuits.
mikroelektronika Microelectronics
33.100.10 Emisija Emission
SIST EN 62433-2:2017 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

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SIST EN 62433-2:2017

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SIST EN 62433-2:2017


EUROPEAN STANDARD EN 62433-2

NORME EUROPÉENNE

EUROPÄISCHE NORM
May 2017
ICS 31.200; 33.100.10 Supersedes EN 62433-2:2010
English Version
EMC IC modelling -
Part 2: Models of integrated circuits for EMI behavioural
simulation - Conducted emissions modelling (ICEM-CE)
(IEC 62433-2:2017)
Modèles de circuits intégrés pour la CEM - Partie 2: EMV-IC-Modellierung - Teil 2: Modelle integrierter
Modèles de circuits intégrés pour la simulation du Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei
comportement lors de perturbations électromagnétiques - elektromagnetischer Beeinflussung - Modellierung
Modélisation des émissions conduites (ICEM-CE) leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE)
(IEC 62433-2:2017) (IEC 62433-2:2017)
This European Standard was approved by CENELEC on 2017-03-03. CENELEC members are bound to comply with the CEN/CENELEC
Internal Regulations which stipulate the conditions for giving this European Standard the status of a national standard without any alteration.
Up-to-date lists and bibliographical references concerning such national standards may be obtained on application to the CEN-CENELEC
Management Centre or to any CENELEC member.
This European Standard exists in three official versions (English, French, German). A version in any other language made by translation
under the responsibility of a CENELEC member into its own language and notified to the CEN-CENELEC Management Centre has the
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 Ref. No. EN 62433-2:2017 E

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SIST EN 62433-2:2017
EN 62433-2:2017
European foreword
The text of document 47A/999/FDIS, future edition 2 of IEC 62433-2, prepared by SC 47A "Integrated
circuits", of IEC/TC 47 "Semiconductor devices" was submitted to the IEC-CENELEC parallel vote and
approved by CENELEC as EN 62433-2:2017.
The following dates are fixed:
(dop) 2017-12-03
• latest date by which the document has to be implemented at
national level by publication of an identical national
standard or by endorsement
(dow) 2020-03-03
• latest date by which the national standards conflicting with
the document have to be withdrawn

This document supersedes EN 62433-2:2010.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. CENELEC [and/or CEN] shall not be held responsible for identifying any or all such
patent rights.
Endorsement notice
The text of the International Standard IEC 62433-2:2017 was approved by CENELEC as a European
Standard without any modification.
In the official version, for Bibliography, the following notes have to be added for the standards indicated:
IEC 61967 NOTE Harmonized in EN 61967 series.
IEC 61967-4 NOTE Harmonized as EN 61967-4.
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