IEC 60050-521:2002
(Main)International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits
International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 521: Semiconductor devices and integrated circuits
It has the status of a horizontal standard in accordance with IEC Guide 108.
Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 521: Dispositifs à semiconducteurs et circuits intégrés
Elle a le statut de norme horizontale conformément au Guide IEC 108.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60050-521
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2002-05
Vocabulaire Electrotechnique International
Partie 521 :
Dispositifs à semiconducteurs
et circuits intégrés
International Electrotechnical Vocabulary
Part 521:
Semiconductor devices
and integrated circuits
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60050-521:2002
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60050-521
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2002-05
Vocabulaire Electrotechnique International
Partie 521 :
Dispositifs à semiconducteurs
et circuits intégrés
International Electrotechnical Vocabulary
Part 521:
Semiconductor devices
and integrated circuits
IEC 2002 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
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XD
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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– II – 60050-521 CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS. IV
INTRODUCTION – Principes d'établissement et règles suivies . VIII
1 Domaine d'application .1
2 Références normatives.1
3 Termes et définitions .3
Section 521-01 – Notions de physique atomique.3
Section 521-02 – Propriétés des matériaux semiconducteurs.15
Section 521-03 – Traitement des matériaux semiconducteurs .44
Section 521-04 – Types de dispositifs à semiconducteurs.50
Section 521-05 – Termes généraux pour dispositifs à semiconducteurs .75
Section 521-06 – Termes particuliers aux diodes .89
Section 521-07 – Termes particuliers aux transistors .91
Section 521-08 – Termes particuliers aux thyristors .100
Section 521-09 – Termes particuliers aux dispositifs à effet hall
et aux magnétoresistances .106
Section 521-10 – Termes particuliers aux circuits intégrés.113
Section 521-11 – Termes particuliers aux circuits intégrés numériques.117
INDEX en français, anglais, chinois, allemand, espagnol, japonais, polonais,
portugais et suédois. 126
60050-521 IEC:2002 – III –
CONTENTS
FOREWORD. V
INTRODUCTION – Principles and rules followed . IX
1 Scope.2
2 Normative references .2
3 Terms and definitions .3
Section 521-01 – Introduction to atomic physics .3
Section 521-02 – Properties of semiconductor materials .15
Section 521-03 – Processing semiconductor materials.44
Section 521-04 – Types of semiconductor devices .50
Section 521-05 – General terms for semiconductor devices .75
Section 521-06 – Specific terms for diodes .89
Section 521-07 – Specific terms for transistors .91
Section 521-08 – Specific terms for thyristors .100
Section 521-09 – Specific terms for hall-effect devices and magnetoresistors .106
Section 521-10 – Specific terms for integrated circuits.113
Section 521-11 – Specific terms for digital integrated circuits.117
INDEX in French, English, Chinese, German, Spanish, Japanese, Polish,
Portuguese and Swedish . 126
– IV – 60050-521 CEI:2002
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
VOCABULAIRE ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONAL
PARTIE 521 : DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS
ET CIRCUITS INTÉGRÉS
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 60050-521 a été établie par le Groupe de Travail 1 du Comité
d'études 47 : Dispositifs à semiconducteurs, sous la responsabilité du comité d'études 1 de la
CEI : Terminologie.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants :
FDIS Rapport de vote
1/1830/FDIS 1/1835/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette deuxième édition de la CEI 60050-521 est issue de l’édition originale de 1984 et des
termes nouveaux ou modifiés approuvés dans le FDIS en référence.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.
Dans la présente partie du VEI les termes et définitions sont donnés en français et en
anglais : de plus, les termes sont indiqués en chinois (cn), allemand (de), espagnol (es),
japonais (ja), polonais (pl), portugais (pt) et suédois (sv).
60050-521 IEC:2002 – V –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL VOCABULARY
PART 521: SEMICONDUCTOR DEVICES
AND INTEGRATED CIRCUITS
FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International
Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the
two organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 60050-521 has been prepared by Working Group 1 of IEC technical
committee 47: Semiconductor devices, under the responsibility of IEC technical committee 1:
Terminology.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
1/1830/FDIS 1/1835/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This second edition of IEC 60050-521 is based on 1984 edition and new or modified approved
terms in FDIS in reference.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 3.
In this part of IEV, the terms and definitions are written in French and English; in addition the
terms are given in Chinese (cn), German (de), Spanish (es), Japanese (ja), Polish (pl),
Portuguese (pt) and Swedish (sv).
– VI – 60050-521 CEI:2002
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2013.
A cette date, la publication sera
• reconduite ;
• supprimée ;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
60050-521 IEC:2002 – VII –
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until 2013.
At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– VIII – 60050-521 CEI:2002
INTRODUCTION
Principes d'établissement et règles suivies
Généralités
Le VEI (série CEI 60050) est un vocabulaire multilingue à usage général couvrant le champ
de l'électrotechnique, de l'électronique et des télécommunications. Il comprend environ
18 500 articles terminologiques correspondant chacun à une notion. Ces articles sont répartis
dans environ 80 parties, chacune correspondant à un domaine donné.
Exemples :
Partie 161 (CEI 60050-161) : Compatibilité électromagnétique
Partie 411 (CEI 60050-411) : Machines tournantes
Les articles suivent un schéma de classification hiérarchique Partie/Section/Notion, les
notions étant, au sein des sections, classées par ordre systématique.
Les termes, définitions et notes des articles sont donnés dans les trois langues officielles
de la CEI, c'est-à-dire français, anglais et russe (langues principales du VEI).
Dans chaque article, les termes seuls sont également donnés dans les langues additionnelles
du VEI (arabe, chinois, allemand, grec, espagnol, italien, japonais, polonais, portugais et
suédois).
De plus, chaque partie comprend un index alphabétique des termes inclus dans cette partie,
et ce pour chacune des langues du VEI.
NOTE – Certaines langues peuvent manquer.
Constitution d'un article terminologique
Chacun des articles correspond à une notion, et comprend :
–un numéro d'article,
– éventuellement un symbole littéral de grandeur ou d'unité,
puis, pour chaque langue principale du VEI :
– le terme désignant la notion, appelé « terme privilégié », éventuellement accompagné de
syn
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.