IEC 61189-5-504:2020

Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies - Part 5-504: General test methods for materials and assemblies - Process ionic contamination testing (PICT)

IEC 61189-5-504:2020 is a test method designed to determine the proportion of soluble ionic residues present upon a circuit board, electronic component or assembly. The conductivity of the solution used to dissolve the ionic residues is measured to evaluate the level of ionic residues.

Méthodes d’essai pour les matériaux électriques, les cartes imprimées et autres structures d’interconnexion et ensembles - Partie 5-504: Méthodes d’essai générales pour les matériaux et les ensembles - Essai de contamination ionique des procédés (PICT)

L'IEC 61189-5-504:2020 est une méthode d'essai conçue pour déterminer la proportion de résidus ioniques solubles sur une carte à circuit imprimé, un composant électronique ou un ensemble. La conductivité de la solution utilisée pour dissoudre les résidus ioniques est mesurée afin d'évaluer le niveau des résidus ioniques.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 20-Apr-2020
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 31.180 - Printed circuits and boards
• Technical Committee: TC 91 - Electronics assembly technology
• Drafting Committee: WG 3 - TC 91/WG 3
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 08-May-2020
• Completion Date: 21-Apr-2020

Standards Content (Sample)

IEC 61189-5-504 ®
Edition 1.0 2020-04
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
Test methods for electrical materials, printed board and other interconnection
structures and assemblies –
Part 5-504: General test methods for materials and assemblies – Process ionic
contamination testing (PICT)
Méthodes d'essai pour les matériaux électriques, les cartes imprimées et autres
structures d'interconnexion et ensembles –
Partie 5-504: Méthodes d'essai générales pour les matériaux et les ensembles –
Essai de contamination ionique des procédés (PICT)

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INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 31.180 ISBN 978-2-8322-8111-6

– 2 – IEC 61189-5-504:2020  IEC 2020
CONTENTS
FOREWORD . 4
1 Scope . 6
2 Normative references . 6
3 Terms and definitions . 7
4 General description of the test . 7
5 Test apparatus . 7
6 Materials . 8
6.1 Test solution . 8
6.1.1 General . 8
6.1.2 Deionised water (DI) . 8
6.1.3 Propan-2-ol . 9
6.2 Calibration solution . 9
6.3 Test chamber . 9
6.4 Regeneration filter column . 9
6.5 Recirculating pump . 9
6.6 Measurement system capability . 9
7 Test procedure . 9
7.1 Test apparatus . 9
7.2 Closed loop . 10
7.3 Open loop . 11
7.4 System verification . 12
7.4.1 General . 12
7.4.2 Polishing the test solution . 12
7.4.3 Recording test solution temperature and specific gravity. 12
7.4.4 Checking conductivity accuracy . 13
7.5 Procedure . 14
7.5.1 Specimen handling . 14
7.5.2 General . 14
7.5.3 Closed loop . 14
7.5.4 Open loop . 15
7.5.5 Influence of CO . 15
8 Measurement Methods . 16
8.1 Method 1. 16
8.2 Method 2. 17
Annex A (normative) Test technique . 18
A.1 Conductivity signal . 18
A.2 DI water correction . 18
A.3 Conductivity of the ionic solution . 19
A.3.1 General . 19
A.3.2 Conductivity differences. 20
A.4 Test solution temperature . 20
A.4.1 General . 20
A.4.2 Linear temperature . 20
A.4.3 Leaching effects . 20
A.5 Conversion of conductivity to contamination . 21
A.6 Calibration . 21

Annex B (informative) Measurement methods . 22
B.1 Method 1. 22
B.2 Method 2. 24
Bibliography . 25

Figure 1 – Typical test instrument . 8
Figure 2 – Closed-loop method in regeneration mode . 10
Figure 3 – Closed loop in test mode . 11
Figure 4 – Open loop method . 12
Figure 5 – 50 % specific gravity chart . 13
Figure 6 – 75 % specific gravity chart . 13
Figure 7 – Example of result measuring the influence of CO . 16
Figure A.1 – Conductivity against voltage curve . 18
Figure A.2 – Deionised water correction. 19
Figure B.1 – Test pass . 23
Figure B.2 – Test fail . 23

Table B.1 – Pass/Fail value method 1 worked example . 22

– 4 – IEC 61189-5-504:2020  IEC 2020
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
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TEST METHODS FOR ELECTRICAL MATERIALS, PRINTED BOARDS
AND OTHER INTERCONNECTION STRUCTURES AND ASSEMBLIES –

Part 5-504: General test methods for materials and assemblies –
Process ionic contamination testing
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