IEC 60749-2:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Modification of the validity date: now put at 2007.

Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmosphérique

Modification de la date de validité : fixée maintenant à 2007.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 11-Aug-2003
• ICS: 31.080.01 - Semiconductor devices in general
• Technical Committee: TC 47 - Semiconductor devices
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 31-Aug-2003
• Completion Date: 12-Aug-2003

Relations

• Corrects: IEC 60749-2:2002 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

CEI 60749-2 IEC 60749-2
(Première édition – 2002) (First edition – 2002)
DISPOSITIFS À SEMICONDUCTEURS – SEMICONDUCTOR DEVICES –
MÉTHODES D'ESSAIS MÉCANIQUES MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS –
ET CLIMATIQUES –
Partie 2: Basse pression atmosphérique Part 2: Low air pressure
CORRIGENDUM 1
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Au lieu de: Instead of:
Le comité a décidé que le contenu de The committee has decided th
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