IEC TS 62132-9:2014
(Main)Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method
IEC TS 62132-9:2014 provides a test procedure, which defines a method for evaluating the effect of near electric, magnetic or electromagnetic field components on an integrated circuit (IC). This diagnostic procedure is intended for IC architectural analysis such as floor planning and power distribution optimization. This test procedure is applicable to testing an IC mounted on any circuit board that is accessible to the scanning probe. In some cases it is useful to scan not only the IC but also its environment. For comparison of surface scan immunity between different ICs, the standardized test board defined in IEC 62132-1 should be used. This measurement method provides a mapping of the sensitivity (immunity) to electric- or magnetic-near-field disturbance over the IC. The resolution of the test is determined by the capability of the test probe and the precision of the Probe-positioning system. This method is intended for use up to 6 GHz. Extending the upper limit of frequency is possible with existing probe technology but is beyond the scope of this specification. The tests described in this document are carried out in the frequency domain using continuous wave (CW), amplitude modulated (AM) or pulse modulated (PM) signals.
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 9: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de balayage en surface
L'IEC TS 62132-9:2014 fournit une procédure d'essai, qui définit une méthode d'évaluation de l'effet des composants de champs proches électriques, magnétiques ou électromagnétiques sur un circuit intégré (CI). Cette procédure de diagnostic est destinée à l'analyse architecturale du CI telle que la gestion de couches et l'optimisation de la distribution de puissance. Cette procédure d'essai s'applique aux essais effectués sur un CI monté sur n'importe quelle carte de circuit à laquelle la sonde de balayage a accès. Il est dans certains cas utile de balayer l'environnement en plus du CI. Pour la comparaison de l'immunité de balayage en surface entre différents CI, il convient que la carte d'essai normalisée définie dans l'IEC 62132-1 soit utilisée. Cette méthode de mesure fournit un mapping de la sensibilité (immunité) des perturbations de champs proches électriques ou magnétiques sur le CI. La résolution de l'essai est déterminée par l'aptitude de la sonde d'essai et la précision du système de positionnement de la sonde. Cette méthode est destinée à une utilisation jusqu'à 6 GHz. L'extension de la limite supérieure de la fréquence est possible avec la technologie actuelle en matière de sondes, mais cela n'entre pas dans le domaine d'application de la présente spécification. Les essais décrits dans ce document sont effectués dans le domaine de fréquence avec des signaux en onde entretenue (CW, continuous wave), en amplitude modulée (AM, amplitude modulated) ou modulation par impulsion (PM, pulse modulated).
General Information
Standards Content (Sample)
IEC TS 62132-9
®
Edition 1.0 2014-08
TECHNICAL
SPECIFICATION
SPECIFICATION
TECHNIQUE
colour
inside
Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity –
Part 9: Measurement of radiated immunity – Surface scan method
Circuits intégrés – Mesure de l'immunité électromagnétique –
Partie 9: Mesure de l'immunité rayonnée – Méthode de balayage en surface
IEC TS 62132-9:2014-08(en-fr)
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