IEC 61300-2-14:2005

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 2-14: Tests - Optical power handling and damage threshold characterization

This part of IEC 61300 is to characterize the robustness of a fibre optic passive component or interconnecting device against damage from exposure to optical power.

Dispositifs d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques - Méthodes fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2-14: Essais - Traitement de la puissance optique et caractérisation du seuil de dommage

Cette partie de la CEI 61300 est de proposer une méthode permettant de déterminer la robustesse d'un composant ou d'un dispositif d'interconnexion passif à fibres optiques contre les dommages dus à la puissance optique.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 23-Oct-2005
• ICS: 33.180.20 - Fibre optic interconnecting devices
• Technical Committee: SC 86B - Fibre optic interconnecting devices and passive components
• Drafting Committee: WG 4 - TC 86/SC 86B/WG 4
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Start Date: 07-Nov-2012
• Completion Date: 26-Oct-2025

Relations

• Revises: IEC 61300-2-14:1997 - Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 2-14: Tests - Maximum input power
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 61300-2-14:2012 - Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - Part 2-14: Tests - High optical power
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61300-2-14
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2005-10
Dispositifs d'interconnexion et
composants passifs à fibres optiques –
Méthodes fondamentales d'essais
et de mesures –
Partie 2-14:
Essais – Traitement de la puissance optique
et caractérisation du seuil de dommage

Fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Basic test and measurement procedures –
Part 2-14:
Tests – Optical power handling
and damage threshold characterization
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61300-2-14:2005
Numérotation des publications Publication numbering
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respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
recherches en utilisant de nombreux critères, variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
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(www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61300-2-14
INTERNATIONAL
Deuxième édition
STANDARD
Second edition
2005-10
Dispositifs d'interconnexion et
composants passifs à fibres optiques –
Méthodes fondamentales d'essais
et de mesures –
Partie 2-14:
Essais – Traitement de la puissance optique
et caractérisation du seuil de dommage

Fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Basic test and measurement procedures –
Part 2-14:
Tests – Optical power handling
and damage threshold characterization

 IEC 2005 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
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R
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Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
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– 2 – 61300-2-14  CEI:2005
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4

1 Domaine d’application .8
2 Références normatives.10
3 Définitions .10
4 Description générale .10
4.1 Buts de l’essai de composants .10
4.2 Méthodes utilisées .12
4.3 Précautions .12
5 Matériel .12
5.1 Unité source (S) .12
5.2 Unité détecteur (D).14
5.3 Chambre climatique.14
5.4 Acquisition de données .14
5.5 Dispositif de couplage .14
5.6 Liaisons temporaires .14
5.7 Dispositifs de sécurité .14
6 Procédure d’essai.16
6.1 Préparation des spécimens .16
6.2 Préconditionnement.16
6.3 Mesures initiales .16
6.4 Méthode 1 .16
6.5 Méthode 2 .22
6.6 Méthode 3 .24
6.7 Reprise .24
6.8 Mesures finales .24
7 Sévérité.24
8 Détails à spécifier.24

Annexe A (informative) Contexte de la méthode d'essai.28
Annexe B (informative) Critère de réduction.32

Bibliographie.38

Figure 1 – Montage d'essai de caractérisation du seuil de dommage et de
l'écoulement à grande puissance .16
Figure 2 – Logigramme de l'essai à court terme.20
Figure 3 – Logigramme de l'essai à long terme .22
Figure B.1 – Graphique de réduction .34

Tableau B.1 – Critère de réduction .36

61300-2-14  IEC:2005 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

1 Scope.9
2 Normative references .11
3 Definitions .11
4 General description .11
4.1 Purpose of the component test .11
4.2 Procedures.13
4.3 Precautions .13
5 Apparatus.13
5.1 Source unit (S) .13
5.2 Detector unit (D).15
5.3 Environmental chamber.15
5.4 Data acquisition .15
5.5 Branching device.15
5.6 Temporary joints .15
5.7 Safety devices.15
6 Test procedures .17
6.1 Preparation of specimens .17
6.2 Preconditioning .17
6.3 Initial measurements .17
6.4 Method 1 .17
6.5 Method 2 .23
6.6 Method 3 .25
6.7 Recovery.25
6.8 Final measurements .25
7 Severity.25
8 Details to be specified .25

Annex A (informative) Background to the test method.29
Annex B (informative) Derating criteria .33

Bibliography.39

Figure 1 – High power handling and damage threshold characterization test set up .17
Figure 2 – Flowchart of short-term test .21
Figure 3 – Flowchart of long-term test.23
Figure B.1 – Derating chart.35

Table B.1 – Derating criteria .37

– 4 – 61300-2-14  CEI:2005
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION
ET COMPOSANTS PASSIFS À FIBRES OPTIQUES –
MÉTHODES FONDAMENTALES D’ESSAIS ET DE MESURES –

Partie 2-14: Essais – Traitement de la puissance optique
et caractérisation du seuil de dommage

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61300-2-14 a été établie par le sous-comité 86B: Dispositifs
d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques, du comité d'études 86 de la CEI:
Fibres optiques.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 1997. Cette édition
constitue une révision technique. Parmi les changements techniques spécifiques introduits
dans cette nouvelle édition, figure un changement fondamental dans la méthode de mesure,
pour permettre d’élargir la méthode à des environnements de mesure différents, par exemple
des ressources d’essai limitées.

61300-2-14  IEC:2005 – 5 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
___________
FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES
AND PASSIVE COMPONENTS –
BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES –

Part 2-14: Tests – Optical power handling
and damage threshold characterization

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61300-2-14 has been prepared by subcommittee 86B: Fibre optic
interconnecting devices and passive components, of IEC technical committee 86: Fibre optics.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 1997. It constitutes a
technical revision. Specific technical changes from the previous edition include fundamental
change of the measurement method to introduce various measurement environments such as
limited testing resources.
– 6 – 61300-2-14  CEI:2005
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
86B/2204/FDIS 86B/2234/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cette norme.
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
La CEI 61300 comprend les parties suivantes, regroupées sous le titre général Dispositifs
d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques – Méthodes fondamentales d'essais
et de mesures:
Partie 1: Généralités et guide
Partie 2: Essais
Partie 3: Examens et mesures
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
61300-2-14  IEC:2005 – 7 –
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
86B/2204/FDIS 86B/2234/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
IEC 61300 consists of the following parts, under the general title Fibre optic interconnecting
devices and passive components – Basic test and measurement procedures:
Part 1: General and guidance
Part 2: Tests
Part 3: Examinations and measurements
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– 8 – 61300-2-14  CEI:2005
DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION
ET COMPOSANTS PASSIFS À FIBRES OPTIQUES –
MÉTHODES FONDAMENTALES D’ESSAIS ET DE MESURES –

Partie 2-14: Essais – Traitement de la puissance optique
et caractérisation du seuil de dommage

1 Domaine d’application
Le but de la présente partie de la CEI 61300 est de proposer une méthode permettant de
déterminer la robustesse d'un composant ou d'un dispositif d'interconnexion passif à fibres
optiques contre les dommages dus à la puissance optique.
Ses objectifs sont en particulier les suivants:
• caractériser la robustesse des composants, à la fois à court et à long terme, contre les
dommages dus à la dégradation ou aux mécanismes de défaillance induits par la
puissance optique;
• fournir les données nécessaires pour assurer que les composants sont exposés à des
niveaux de puissance optique adaptés qui ne dégradent pas leurs performances;
• identifier les composants sujets à une dégradation irréversible.
La méthode d'essai décrite dans cette norme est structurée de la manière suivante: si l'option
de «caractérisation complète» est réalisée, le composant est caractérisé et il ne sera pas
nécessaire de procéder à de nouveaux essais si des changements d'applications
interviennent dans le futur.
Par exemple, une des manières d'appréhender la question de la caractérisation de la
puissance optique consiste à soumettre un composant à un essai au niveau de puissance et à
la longueur d'onde spécifiques auxquels le composant sera exposé dans une application
donnée. Bien que les essais du composant à la dite puissance/longueur d'onde puissent
indiquer la robustesse du composant dans l'application spécifique concernée, si le composant
est envisagé pour une autre application, les essais ne sont pas répétés aux autres
puissances/longueurs d'onde. Toutefois, si le composant est complètement caractérisé à
toutes les longueurs d'ondes applicables et que le niveau maximal d'écoulement de puissance
à ces longueurs d'ondes est identifié, alors toutes les informations nécessaires pour évaluer
la bonne adaptation du composant à une application sont disponibles.
Les résultats de la méthode d'essai de caractérisation complète décrite dans cette norme
donnent les caractéristiques du composant en essai. Ces caractéristiques servent de base
pour la détermination des niveaux de puissance auxquels le composant peut être exposé de
manière fiable. Elles définissent essentiellement l'«enveloppe de la zone de fonctionnement»
pour le composant concerné.
Comme certaines contraintes (à savoir, de temps, de coût, de disponibilité des équipements)
limitent souvent l'aptitude à réaliser la caractérisation complète, des méthodes d'essais
alternatives ne réalisant qu'une partie de l'essai complet sont indiquées dans cette norme.
Les méthodes d'essai contenues dans cette norme sont destinées à évaluer la robustesse
des composants dans les conditions d'utilisation normale pour lesquelles ils sont conçus.

61300-2-14  IEC:2005 – 9 –
FIBRE OPTIC INTERCONNECTING DEVICES
AND PASSIVE COMPONENTS –
BASIC TEST AND MEASUREMENT PROCEDURES –

Part 2-14: Tests – Optical power handling
and damage threshold characterization

1 Scope
The purpose of this part of IEC 61300 is to characterize the robustness of a fibre optic
passive component or interconnecting device against damage from exposure to optical power.
Specifically, the objectives are to:
• characterize both the short term and the long term robustness of components from
damage due to optical power induced degradation or failure mechanisms;
• provide data necessary to ensure that components are exposed to appropriate optical
power levels that will not degrade their performance;
• identify components prone to irreversible degradation.
The test procedure described in this standard is structured such that, if the ‘full
characterization’ option is performed, the component will be characterized without the need
for re-testing should future applications change.
For example, one way to approach the issue of optical power characterization is to test a
component at a specific power level and wavelength to which the component will be exposed
in a specific application. While testing of the component at that power/wavelength may
indicate the robustness of the component in that specific application, if the component is
considered for another application, the tests will need to be performed again at other
powers/wavelengths. However, if the component is fully characterized at all relevant
wavelengths, and the maximum power handling level at those wavelengths is identified, then
all the information required to assess the suitability of the component in any application is
available.
The results of the full characterization test method in this standard will be a rating of the
component under test. This rating forms the basis of determining the power levels to which
the component can be exposed in a reliable manner. It essentially defines the “operating
region envelope” for the component.
Since there will often be constraints (that is, time, cost, equipment availability) that limit the
ability to perform the full characterization, alternative test methods are outlined in this
standard that perform only a subset of the full test.
The test methods contained in this standard are intended to assess the robustness of
components in their normal use conditions for which they were designed.

– 10 – 61300-2-14  CEI:2005
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60825-1: Sécurité des appareils à laser – Partie 1: Classification des matériels, prescrip-
tions et guide de l’utilisateur (en anglais seulement)
CEI 61300-1: Dispositifs d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques –
Procédures fondamentales d'essais et de mesures – Partie 1: Généralités et guide
CEI 61300-3-1: Dispositifs d'interconnexion et composants passifs à fibres optiques –
Méthodes fondamentales d'essais et de mesures – Partie 3: Examens et mesures – Examen
visuel
3 Définitions
3.1
dérive
P
drift
puissance à laquelle le dispositif subit un changement spécifié en IL de 0,5 dB au cours de
l'essai à court terme lorsqu'il est sous tension. Cette dérive est récupérable après
suppression de la puissance du composant
3.2
défaillance
P
fail
puissance à laquelle le dispositif subit un changement spécifié permanent en IL après
suppression de la puissance au cours de l'essai à court terme
3.3
puissance maximale
P
max
puissance à laquelle un composant peut être exposé jusqu'à 500 h sans subir de dommage
permanent P ou de dérive de performance P
fail drift
4 Description générale
4.1 Buts de l’essai de composants
L'essai des composants est destiné à fournir les valeurs suivantes:
a) la dérive (voir 3.1);
b) la défaillance (voir 3.2):
la défaillance pour un type de composant et une longueur d'onde doit être définie comme
suit.
– pour un composant avec une IL initiale inférieure à 2 dB, si le changement de
puissance dans l'IL est égal ou supérieur à 0,5 dB;
– pour un composant avec une IL initiale comprise entre 2 dB et 10 dB, si le changement
dans l'IL est égal ou supérieur à 1 dB;
– pour un composant avec une IL initiale égale ou supérieure à 10 dB, si le changement
dans l'IL est égal ou supérieur à 2 dB;
c) la puissance maximale (voir 3.3).

61300-2-14  IEC:2005 – 11 –
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this standard. For
dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of
the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60825-1: Safety of laser products – Part 1: Equipment classification, requirements and
user guide
IEC 61300-1: Fibre optic interconnecting devices and passive components – Basic test and
measurement procedures – Part 1: General and guidance
IEC 61300-3-1: Fibre optic interconnecting devices and passive components – Basic test and
measurement procedures – Part 3: Examinations and measurements – Visual examination
3 Definitions
3.1
drift
P
drift
the power at which the device experiences a specified change in insertion loss (IL) of 0,5 dB
during the short term test while under power. This drift is recoverable after power is removed
from the component
3.2
failure
P
fail
the power at which the device experiences a permanent specified change in insertion loss (IL)
after power is removed during the short term test
3.3
maximum power
P
max
the power to which a component may be exposed for up to 500 h and not experience
permanent damage P or performance drift P
fail drift
4 General description
4.1 Purpose of the component test
Testing of the component is designed to yield the following values:
a) drift (see 3.1);
b) failure (see 3.2);
failure for a component type and wavelength shall be defined as:
− for a component with an initial IL, <2 dB, the power change in the IL is ≥0,5 dB;
− for a component with initial IL, of 2-10 dB, where the change in the IL is ≥1 dB;
− for a component with the initial IL ≥10 dB, where the change in IL is ≥2 dB;
c) maximum power (see 3.3).
– 12 – 61300-2-14  CEI:2005
4.2 Méthodes utilisées
La méthode d'essai préférentielle est l'option de la caractérisation complète. Toutefois, si les
conditions sont telles que la mise en œuvre de cette méthode n'est pas réalisable en pratique,
il existe plusieurs méthodes alternatives dans la présente norme. Un des niveaux de
qualification suivants doit être choisi et atteint avec succès pour qu'un composant puisse être
utilisé dans une application de grande puissance.
• Méthode 1 – caractérisation complète: ce niveau d'essai est le niveau préférentiel dans la
mesure où il donne le plus grand nombre d'informations sur les capacités de puissance
optique globales du composant.
• Méthode 2 – caractérisation à une longueur d'onde donnée: ce niveau d'essai est
recommandé si la caractérisation complète n'est pas possible à toutes les longueurs
d'onde.
• Méthode 3 – caractérisation en fonction de l'application: ce niveau d'essai peut être
obtenu si les contraintes de temps et de ressources ne permettent que des essais limités.
Il convient de noter que si cette option est choisie et que les conditions changent, le
dispositif peut devoir subir de nouveaux essais complets pour maintenir son statut de
qualification.
Les échantillons d'essai peuvent être mis en série et soumis aux essais simultanément à la
fois au cours des essais à court terme et des essais à long terme pour les trois méthodes
d'essai. (Ceci est souvent désigné sous le terme connexion en chaîne (en anglais ‘daisy-
chaining’). Toutefois, le dernier échantillon de la série doit voir le niveau de puissance d'essai
exigé. En pratique, ceci signifie que les échantillons au début de la série reçoivent des
puissance optiques supérieures à celles reçues dans la suite de la chaîne. Les produits qui
utilisent cette technique ne peuvent prétendre qu'à la vérification au niveau de puissance vu
par le dernier élément de la chaîne.
4.3 Précautions
Cette procédure d'essai implique l'utilisation de puissances optiques qui constituent un risque
potentiel pour les yeux et la peau du personnel chargé de l'essai. Toutes les procédures de
sécurité nécessaires doivent être adoptées conformément à la CEI 60825-1. En particulier, la
puissance doit être coupée (cela signifie qu'il ne doit pas y avoir de propagation de puissance
à l'intérieur de la fibre) dans le dispositif en essai lors de tout examen visuel.
5 Matériel
5.1 Unité source (S)
Cette unité source est composée d'un émetteur optique, de son moyen de connexion et des
dispositifs électroniques associés. Elle doit présenter une stabilité de puissance de sortie et
de longueur d'onde sur une durée suffisante pour enregistrer les performances du dispositif
en essai. Cette source doit posséder les caractéristiques suivantes:
– précision de longueur d'onde: ±5 nm
– stabilité de la puissance de sortie: ±0,05 dB.
NOTE 1 Une source de lumière accordable (TLS – tunable light source) dans laquelle une longueur d'onde de
sortie spécifique peut être accordée sur une plage de longueurs d'onde donnée peut être choisie. Une source de
lumière accordable peut être constituée soit par une diode laser accordable et un amplificateur optique, soit par un
laser à rétroaction fibré afin d’obtenir la puissance nécessaire aux essais.
NOTE 2 Pour les dispositifs DWDM, la précision et la largeur de longueur d'onde sont choisies conformément à
leur bande passante de fonctionnement.

61300-2-14  IEC:2005 – 13 –
4.2 Procedures
The preferred test procedure is the full characterization option. However, if conditions are
such that implementation of this procedure is impractical, there are several alternative
methods available in this standard. One of the following levels of qualification must be chosen
and successfully executed for a component to be used in a high power application.
• Method 1 – full characterization: this level of testing is preferred, as it gives the most
information on the overall optical power capabilities of the component.
• Method 2 – full characterization at a specific wavelength: this level of testing is
recommended if full characterization is not possible at all wavelengths.
• Method 3 – characterization based upon application: this level of testing can be performed
if time and resource constraints permit only limited testing. It should be noted that if this
option is chosen and the application conditions change, the device may be required to
undergo complete re-testing in order to maintain its qualification status.
Test samples may be put in series and tested simultaneously in both the short term and the
long term tests for all three test methods. (This is often referred to as ‘daisy-chaining’).
However, the last sample in the series must see the required test power level. In practice, this
will mean that samples at the beginning of the series will receive optical powers higher than
those further down the chain. Products using this technique may only claim verification to the
power level seen by the last sample in the chain.
4.3 Precautions
This test procedure involves the use of optical powers, which constitute a potential ocular and
skin hazard to test personnel. All necessary safety procedures shall be adopted in accordance
with IEC 60825-1. In particular, the device under test shall be unpowered (that is, with no
power propagating in the fibre) when conducting a visual examination.
5 Apparatus
5.1 Source unit (S)
The source unit consists of an optical emitter, the means to connect to it, and the associated
device electronics. It shall be stable in output power and wavelength over a time period
sufficient to record the performance of the device under test. The source shall have the
following characteristics:
− wavelength accuracy: ±5 nm;
− output power stability : ±0,05 dB.
NOTE 1 A tunable light source (TLS) in which a specific output wavelength can be tuned across a specified
wavelength range may be chosen as the light source. A TLS may consist of a tunable LD and an optical amplifier or
fiber ring laser in order to get an efficient power to test.
NOTE 2 For DWDM devices, wavelength accuracy and wavelength width should be chosen in accordance with its
operating passband.
– 14 – 61300-2-14  CEI:2005
5.2 Unité détecteur (D)
Cette unité détecteur est composée d'un détecteur optique, de son moyen de connexion et
des dispositifs électroniques associés. Les détecteurs doivent posséder une gamme
dynamique suffisante pour réaliser les mesures nécessaires et ils doivent être linéaires sur
cette gamme. Les détecteurs doivent être stables sur la période de mesure et doivent avoir
une plage de longueur d'onde de fonctionnement cohérente avec le dispositif en essai. La
connexion aux détecteurs doit se faire avec un adaptateur qui accepte une fiche de
connecteur de conception appropriée. Les détecteurs doivent être capables de capturer toute
la lumière émise par la fiche de connecteur. Ces détecteurs doivent posséder les
caractéristiques suivantes:
– linéarité: ≤±0,1 dB
– stabilité: ≤0,05 dB.
5.3 Chambre climatique
Le montage d'essai doit inclure une chambre climatique capable de produire et de maintenir
la température et/ou l'humidité spécifiée(s).
5.4 Acquisition de données
L'enregistrement des valeurs de puissance lues sur le détecteur peut être réalisé soit
manuellement soit automatiquement. Un appareil approprié d'acquisition des données doit
être utilisé lorsque les mesures sont effectuées de manière automatique.
5.5 Dispositif de couplage
Le rapport de séparation du dispositif de couplage doit être stable sur les puissances
optiques et les longueurs d'onde choisies pour l'essai. Il doit également être insensible à la
polarisation. Les dispositifs de couplage doivent être stables pendant l’essai. Un rapport de
division de 1:99 pour les dispositifs de couplage est recommandé afin d’induire une haute
puissance d’entrée au dispositif en essai et d’assurer un contrôle avec la faible puissance.
5.6 Liaisons temporaires
Elles sont généralement utilisées pour raccorder le dispositif en essai au matériel d'essai.
Généralement, les exigences de puissance et de stabilité d'un essai nécessitent que les
liaisons temporaires soient des épissures par fusion.
5.7 Dispositifs de sécurité
Tous les dispositifs de sécurité nécessaires, y compris les lunettes de sécurité laser, les
signes et autres matériels de sécurité doivent être fournis pour protéger les personnes des
risques potentiels encourus au cours des essais.
Un montage type du matériel d'essai est représenté à la Figure 1. Cette figure représente le
cas des composants optiques à deux accès. Pour les composants à accès multiples, cet essai
doit être réalisé pour toutes les combinaisons d'accès d'entrée et de sortie.

61300-2-14  IEC:2005 – 15 –
5.2 Detector unit (D)
The detector unit consists of an optical detector, the means to connect to it, and the
associated electronics. The detectors shall have sufficient dynamic range to make the
necessary measurements and shall be linear over thi
...