IEC 60444-8:2016
(Main)Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
IEC 60444-8:2016 describes test fixtures suitable for leadless surface mounted quartz crystal units in enclosures as defined in IEC 61837 (all parts). These fixtures allow the measurement of (series) resonance frequency, (series) resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters L1, C1 and C0 using the measurement techniques specified in IEC 60444-5 and for the determination of load resonance frequency and load resonance resistance according to IEC TR 60444-4 and IEC 60444-11.
Two test fixtures are described in this document:
1) A fixture using the p-network circuit with electrical values as described in IEC 60444-1 for measurements in transmission mode up to 500 MHz. This fixture includes optional means to add physical load capacitors for the measurement of load resonance parameters up to 30 MHz in accordance with IEC 60444-4. The range of load capacitance is 10 pF or more. Calibration of the measurement system and CL adapter board is explained hereinafter.
2) A fixture based on the reflection method, suitable for a frequency range up to 1 200 MHz. No provisions for adding a physical load capacitance are anticipated. Load resonance parameters can be measured by using the method of IEC 60444-11.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) modification of Clause 1;
b) modification of 5.2;
c) modification of 5.3;
d) modification of 5.4;
e) 6.3 Calibration of the reflection measurement system.
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface
L'IEC 60444-8:2016 spécifie les dispositifs d'essai appropriés aux résonateurs à quartz sans sorties montés en surface dans des enveloppes tels que définis dans l'IEC 61837 (toutes les parties). Ces dispositifs permettent de mesurer les paramètres de fréquence de résonance (en série), de résistance de résonance (en série) et de circuit électrique équivalents L1, C1 et C0 à l'aide des techniques de mesure spécifiées dans l'IEC 60444-5. Ils permettent également de déterminer la fréquence de résonance à la charge et la résistance de résonance à la charge selon l'IEC TR 60444-4 et l'IEC 60444-11.
Deux dispositifs d'essai sont spécifiés dans le présent document:
1) Un dispositif utilisant le circuit en p avec des valeurs électriques telles que décrites dans l'IEC 60444-1 pour les mesurages en mode de transmission jusqu'à 500 MHz. Ce dispositif comprend des moyens facultatifs permettant d’ajouter des condensateurs de charge physique pour le mesurage des paramètres de résonance à la charge jusqu'à 30 MHz conformément à l'IEC 60444-4. La plage de la capacité de charge est de 10 pF ou plus. L'étalonnage du système de mesure et de la carte d'adaptateur CL est décrit ci-après.
2) Un dispositif fonctionnant selon la méthode de réflexion, approprié pour une plage de fréquences jusqu'à 1 200 MHz. Aucune disposition concernant l'ajout d'une capacité de charge physique n'est prévue. Les paramètres de résonance à la charge peuvent être mesurés en utilisant la méthode spécifiée dans l'IEC 60444-11.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) modification de l'Article 1;
b) modification du 5.2;
c) modification du 5.3;
d) modification du 5.4;
e) 6.3 Étalonnage du système de mesure de réflexion.
General Information
Standards Content (Sample)
IEC 60444-8
®
Edition 2.0 2016-12
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
Measurement of quartz crystal unit parameters –
Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz –
Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface
IEC 60444-8:2016-12(en-fr)
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