IEC 62005-2:2001

Reliability of fibre optic interconnecting devices and passive components - Part 2: Quantitative assessment of reliability based on accelerated ageing test - Temperature and humidity; steady state

Defines a basis for reliability tests for passive optical components. It provides advice on life testing procedures, the calculation of failure rates and presentation of results. A worked example illustrates the method of calculating the instantaneous failure rate for a device during its service lifetime, based on accelerated life tests.

Fiabilité des dispositifs d'interconnexion et des composants passifs à fibres optiques - Partie 2: Evaluation quantitative de la fiabilité en fonction d'essais de vieillissement accélérés - Température et humidité; régimes continus

Definit la base pour des essais de fiabilité des composants optiques passifs. Il fournit des conseils sur les procédures d'essai de durée de vie, les calculs des taux de défaillance et la présentation des résultats. Un exemple partique presente la méthode de caldul des taux de défaillance instantanée pour un dispositif au cours de sa durée de vie en service en fonction d'essais de durée de vie accélérée.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 06-Mar-2001
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 33.180.20 - Fibre optic interconnecting devices
• Technical Committee: SC 86B - Fibre optic interconnecting devices and passive components
• Drafting Committee: WG 5 - TC 86/SC 86B/WG 5
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 31-Mar-2001
• Completion Date: 07-Mar-2001

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
62005-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2001-03
Fiabilité des dispositifs d'interconnexion
et des composants passifs à fibres optiques –
Partie 2:
Evaluation quantitative de la fiabilité en fonction
d'essais de vieillissement accélérés –
Température et humidité; régimes continus
Reliability of fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Part 2:
Quantitative assessment of reliability
based on accelerated ageing tests –
Temperature and humidity; steady state
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62005-2:2001
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
62005-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2001-03
Fiabilité des dispositifs d'interconnexion
et des composants passifs à fibres optiques –
Partie 2:
Evaluation quantitative de la fiabilité en fonction
d'essais de vieillissement accélérés –
Température et humidité; régimes continus
Reliability of fibre optic interconnecting devices
and passive components –
Part 2:
Quantitative assessment of reliability
based on accelerated ageing tests –
Temperature and humidity; steady state
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S
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– 2 – 62005-2 © CEI:2001
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION .8
Articles
1 Domaine d’application . 10
2 Références normatives. 10
3 Guide sur les essais de défaillances par usure . 10
3.1 Distribution de défaillances . 10
3.2 Durée moyenne de fonctionnement avant défaillance (MTF) . 12
4 Matrice d’essai de durée de vie . 14
5 Exemple pratique . 18
5.1 Matrice des conditions d’essai. 18
5.2 Analyse des résultats . 18
5.3 Calcul de la durée moyenne de fonctionnement avant défaillance . 22
5.4 Calcul du facteur d’accélération de température . 28
5.5 Calcul du facteur d’accélération de l’humidité . 30
5.6 Extrapolation aux conditions en service . 32
5.7 Calcul du taux de défaillance. 34
6 Calculs du taux de défaillance aléatoire. 38
7 Implications pour la fiabilité du système. 40
Figure 1 – Extrapolation des résultats pour la détermination de la durée de
fonctionnement avant défaillance . 20
Figure 2 – Tracé log-normal pour des dispositifs dans la condition d’essai C . 26
Figure 3 – Tracé log-normal pour des dispositifs dans la condition d’essai E . 26
Figure 4 – Ajustement de la courbe exponentielle pour MTF par rapport à 1/T. 30
Figure 5 – Ajustement de courbe exponentielle pour MTF par rapport à H . 32
R
Figure 6 – Fiabilité de composant en service. 36
Tableau 1 – Humidité relative (%) à des conditions diverses de température d’humidité
absolue . 16
Tableau 2 – Matrice des conditions d'essai . 18
Tableau 3 – Durée de fonctionnement avant défaillance (TTF) pour les dispositifs dans
deux conditions d’essai de durée de vie . 24
Tableau 4 – Durées moyennes de fonctionnement avant défaillance pour trois
températures à 85 % H . 28
R
Tableau 5 – Durées moyennes de fonctionnement avant défaillance pour trois niveaux
d’humidité à 85 °C . 30
Tableau 6 – Durées moyennes de fonctionnement avant défaillance dans différentes
conditions fondées sur des données d’un exemple pratique . 34
Tableau 7 – Taux de défaillance calculés à 25 °C/85 % H . 36
R
62005-2 © IEC:2001 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
INTRODUCTION .9
Clause
1 Scope . 11
2 Normative references . 11
3 Guidance on testing for wear out failures . 11
3.1 Failure distribution . 11
3.2 Median time to failure (MTF) . 13
4 Life test matrix .15
5 Worked example . 19
5.1 Test condition matrix. 19
5.2 Analysis of results . 19
5.3 Calculating median time to failure. 23
5.4 Calculation of temperature acceleration factor . 29
5.5 Calculation of humidity acceleration factor. 31
5.6 Extrapolation to service conditions . 33
5.7 Calculation of failure rate . 35
6 Random failure rate calculations. 39
7 Implications for system reliability . 41
Figure 1 – Extrapolation of results to determine time to failure . 21
Figure 2 – Log-normal plot for devices in test condition C. 27
Figure 3 – Log-normal plot for devices in test condition E. 27
Figure 4 – Exponential curve fit for MTF versus 1/T . 31
Figure 5 – Exponential curve fit for MTF versus H . 33
R
Figure 6 – Component reliability in service . 37
Table 1 – Relative humidity (%) at various temperature and absolute humidity conditions . 17
Table 2 – Matrix of test conditions . 19
Table 3 – Times to failure (TTF) for devices in two life test conditions . 25
Table 4 – Median times to failure for three temperatures at 85 % H . 29
R
Table 5 – Median times to failure for three humidity levels at 85 °C . 31
Table 6 – Median times to failure in different conditions based on worked example data. 35
Table 7 – Calculated failure rates at 25 °C/85 % H . 37
R
– 4 – 62005-2 © CEI:2001
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
FIABILITÉ DES DISPOSITIFS D'INTERCONNEXION
ET DES COMPOSANTS PASSIFS À FIBRES OPTIQUES –
Partie 2: Evaluation quantitative de la fiabilité
en fonction d’essais de vieillissement accélérés –
Température et humidité; régimes continus
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le
...