Superconductivity - Part 16: Electronic characteristic measurements - Power-dependent surface resistance of superconductors at microwave frequencies

IEC 61788-16:2013 involves describing the standard measurement method of power-dependent surface resistance of superconductors at microwave frequencies by the sapphire resonator method. The measuring item is the power dependence of Rs at the resonant frequency. This method is the applicable for a frequency in the range of 10 GHz, for an input microwave power lower than 37 dBm (5 W). The aim is to report the surface resistance data at the measured frequency and that scaled to 10 GHz. Keyword: superconductivity

Supraconductivité - Partie 16: Mesures de caractéristiques électroniques - Résistance de surface des supraconducteurs aux hyperfréquences en fonction de la puissance

La CEI 61788-16:2013 décrit la méthode de mesure normale de la résistance de surface des supraconducteurs aux hyperfréquences en fonction de la puissance par la méthode du résonateur au saphir. La grandeur de mesure est la dépendance en fonction de la puissance de Rs à la fréquence de résonance. Cette méthode est applicable à des fréquences de l'ordre de 10 GHz pour une puissance d'entrée inférieure à 37 dBm (5 W). Il s'agit de consigner dans un rapport les données de résistance de surface à la fréquence mesurée et celles qui sont ramenées à une échelle de 10 GHz. Mot clé: supraconductivité

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Published
Publication Date
15-Jan-2013
Technical Committee
Drafting Committee
Current Stage
PPUB - Publication issued
Start Date
31-Jan-2013
Completion Date
16-Jan-2013
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Superconductivity –
Part 16: Electronic characteristic measurements – Power-dependent surface
resistance of superconductors at microwave frequencies

Supraconductivité –
Partie 16: Mesures de caractéristiques électroniques – Résistance de surface
des supraconducteurs aux hyperfréquences en fonction de la puissance

IEC 61788-16:2013

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