IEC 61000-4-19:2014
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-19: Testing and measurement techniques - Test for immunity to conducted, differential mode disturbances and signalling in the frequency range 2 kHz to 150 kHz at a.c. power ports
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-19: Testing and measurement techniques - Test for immunity to conducted, differential mode disturbances and signalling in the frequency range 2 kHz to 150 kHz at a.c. power ports
IEC 61000-4-19:2014 relates to the immunity requirements and test methods for electrical and electronic equipment to conducted, differential mode disturbances and signalling in the range 2 kHz up to 150 kHz at a.c. power ports. The object of this standard is to establish a common and reproducible basis for testing electrical and electronic equipment with the application of differential mode disturbances and signalling to a.c. power ports. This standard defines:
- test waveforms;
- range of test levels;
- test equipment;
- test setup;
- test procedures;
- and verification procedures. These tests are intended to demonstrate the immunity of electrical and electronic equipment operating at a mains supply voltage up to 280 V (from phase to neutral or phase to earth, if no neutral is used) and a frequency of 50 Hz or 60 Hz when subjected to conducted, differential mode disturbances such as those originating from power electronics and power line communication systems. The immunity to harmonics and interharmonics, including mains signalling, on a.c. power ports up to 2 kHz in differential mode is covered by IEC 61000-4-13. Emissions in the frequency range 2 kHz to 150 kHz often have both differential mode and common mode components. This standard provides immunity tests only for differential mode disturbances and signalling. It is recommended to perform common mode tests as well, which are covered by IEC 61000-4-16. Key words: electromagnetic compatibility, EMC
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-19: Techniques d'essai et de mesure - Essai pour l'immunité aux perturbations conduites en mode différentiel et à la signalisation dans la gamme de fréquence de 2 kHz à 150 kHz, aux accès de puissance à courant alternatif
L'IEC 61000-4-19:2014 traite des exigences en matière d'immunité et des méthodes d'essai relatives aux matériels électriques et électroniques soumis à des perturbations et des signaux par conduction en mode différentiel dans la bande de fréquences de 2 kHz à 150 kHz, aux accès de puissance à courant alternatif. L'objet de la présente norme est d'établir une base commune et reproductible destinée à soumettre à essai les performances des matériels électriques et électroniques lorsque ceux-ci sont soumis à des perturbations et des signaux par conduction en mode différentiel sur les accès de puissance en courant alternatif. La présente norme définit:
- les formes d'onde d'essai;
- les plages de niveaux d'essai;
- le matériel d'essai;
- l'installation d'essai;
- les procédures d'essai;
- et les procédures de vérification. Ces essais sont destinés à démontrer l'immunité des équipements électriques et électroniques fonctionnant sous une tension d'alimentation du réseau jusqu'à 280 V (phase-neutre ou phase-terre, si le neutre n'est pas utilisé) et une fréquence de 50 Hz ou 60 Hz lorsqu'ils sont soumis à des perturbations conduites en mode différentiel, telles que celles provenant de l'électronique de puissance et des systèmes de communication par courants porteurs en ligne. L'immunité aux harmoniques et interharmoniques, incluant les signaux transmis sur le réseau électrique, sur les accès de puissance jusqu'à 2 kHz en mode différentiel est traitée par l'IEC 61000-4-13. Les émissions dans la gamme de fréquences de 2 kHz à 150 kHz ont souvent des composantes en mode différentiel et en mode commun. La présente norme fournit les essais d'immunité pour les signaux et perturbations en mode différentiel uniquement. Il est recommandé d'effectuer aussi des essais en mode commun, qui sont traités par l'IEC 61000-4-16. Mots clé: compatibilité électromagnétique, CEM, EMC
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IEC 61000-4-19 ®
Edition 1.0 2014-05
INTERNATIONAL
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BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-19: Testing and measurement techniques – Test for immunity to
conducted, differential mode disturbances and signalling in the frequency range
2 kHz to 150 kHz at a.c. power ports
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-19: Techniques d’essai et de mesure – Essai pour l'immunité aux
perturbations conduites en mode différentiel et à la signalisation dans la gamme
de fréquences de 2 kHz à 150 kHz, aux accès de puissance à courant alternatif
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PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-19: Testing and measurement techniques – Test for immunity to
conducted, differential mode disturbances and signalling in the frequency range
2 kHz to 150 kHz at a.c. power ports
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-19: Techniques d’essai et de mesure – Essai pour l'immunité aux
perturbations conduites en mode différentiel et à la signalisation dans la gamme
de fréquences de 2 kHz à 150 kHz, aux accès de puissance à courant alternatif
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX V
ICS 33.100.20 ISBN 978-2-8322-1565-4
– 2 – IEC 61000-4-19:2014 © IEC 2014
CONTENTS
FOREWORD . 4
INTRODUCTION . 6
1 Scope . 7
2 Normative references . 7
3 Terms and definitions . 8
3.1 Terms and definitions. 8
3.2 Abbreviations . 9
4 General . 9
5 Test levels and wave profiles in the frequency range 2 kHz to 150 kHz . 10
5.1 Test levels for differential voltage testing . 10
5.1.1 General . 10
5.1.2 Test wave profile with CW pulses with pause . 11
5.1.3 Test wave profile with rectangularly modulated pulses . 12
5.2 Test levels for differential current testing . 12
5.2.1 General . 12
5.2.2 Test wave profile with CW pulses with pause . 13
5.2.3 Test wave profile with rectangularly modulated pulses . 13
6 Test equipment . 13
6.1 Test generators . 13
6.1.1 General . 13
6.1.2 Characteristics and performance of the generator for the differential
voltage test . 14
6.1.3 Characteristics and performance of the generator for the differential
current test . 14
6.2 Verification of the characteristics of the test generators . 15
6.2.1 General . 15
6.2.2 Verification of the generators . 15
6.2.3 Verification of the coupling/decoupling network . 16
7 Test setups . 17
7.1 Test setup for differential mode voltage testing . 17
7.2 Test setup for differential mode current test . 18
8 Test procedure . 18
8.1 General . 18
8.2 Laboratory reference conditions . 19
8.2.1 Climatic conditions . 19
8.2.2 Electromagnetic conditions . 19
8.3 Execution of the test . 19
9 Evaluation of test results . 19
10 Test report . 20
Annex A (informative) Interference sources, victims and effects . 21
Annex B (informative) Selection of test levels . 25
Annex C (informative) Testing electricity meters guideline . 27
C.1 Example of the basic structure of a test generator for differential current
testing. 27
C.2 Example of a test circuit . 28
C.3 Example of a realized setup including schematics . 29
Annex D (informative) Test wave profiles . 30
Bibliography . 31
Figure 1 – Frequency vs. amplitude profile for differential voltage testing . 11
Figure 2 – Test wave profile with CW pulses with pause . 12
Figure 3 – Test wave profile with rectangularly modulated pulses for differential
voltage testing . 12
Figure 4 – Example of a simplified circuit diagram with the major elements of the
differential voltage test generator . 14
Figure 5 – Test setup for verification of the CDN in a 10 Ω measurement system. 16
Figure 6 – Limit for the damping characteristics measured in a 10 Ω measurement
system . 17
Figure 7 – Example of test setup for differential mode voltage testing with auxiliary
equipment . 17
Figure 8 – Example of test setup for differential mode current testing . 18
Figure A.1 – Standards dealing with voltage levels due to non-intentional emissions in
the frequency range 2 kHz to 150 kHz . 23
Figure A.2 – Standards dealing with voltage levels due to intentiona
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.