IEC 61000-4-20:2022
(Main)Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
IEC 61000-4-20:2022 focuses on emission and immunity test methods for electrical and electronic equipment using various types of transverse electromagnetic (TEM) waveguides. These types include open structures (for example striplines and electromagnetic pulse simulators) and closed structures (for example TEM cells). These structures can be further classified as one-port, two-port, or multi-port TEM waveguides. The frequency range depends on the specific testing requirements and the specific TEM waveguide type. The object of this document is to describe
TEM waveguide characteristics, including typical frequency ranges and equipment-under-test (EUT) size limitations;
TEM waveguide validation methods for electromagnetic compatibility (EMC) tests;
the EUT (i.e. EUT cabinet and cabling) definition;
test set-ups, procedures, and requirements for radiated emission measurements in TEM waveguides; and
test set-ups, procedures, and requirements for radiated immunity testing in TEM waveguides. NOTE Test methods are defined in this document to measure the effects of electromagnetic radiation on equipment and the electromagnetic emissions from the equipment concerned. The simulation and measurement of electromagnetic radiation is not adequately exact for the quantitative determination of effects for all end-use installations. The test methods defined are structured for a primary objective of establishing adequate reproducibility of results at various test facilities for qualitative analysis of effects.
This document does not intend to specify the tests to be applied to any particular apparatus or system(s). The main intention of this document is to provide a general basic reference for all interested product committees of the IEC. For radiated emission measurements, product committees select emission limits and measurement methods in consultation with CISPR standards. For radiated immunity testing, product committees remain responsible for the appropriate choice of immunity tests and immunity test limits to be applied to equipment within their scope. This document describes test methods that are separate from those of IEC 61000‑4‑3.
This third edition cancels and replaces the second edition published in 2010. This edition constitutes a technical revision. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
provide information on the testing of large EUTs (including cables);
apply the work on measurement uncertainties by adapting the work completed in CISPR and TC 77 (for emissions and immunity);
update the validation procedure for the test volume regarding field uniformity and TEM mode verification;
provide information concerning two-port and four-port TEM waveguides;
add a new informative annex (Annex I) dealing with transient TEM waveguide characterization; and
add information dealing with dielectric test stands for EUTs.
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20: Techniques d’essai et de mesure - Essais d’émission et d'immunité dans les guides d’onde TEM
IEC 61000-4-20:2022 concerne les méthodes d’essai d’émission et d’immunité pour les matériels électriques et électroniques qui utilisent différents types de guides d’onde transverses électromagnétiques (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d’impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple, des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d’onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La plage de fréquences dépend des exigences d’essai spécifiques et du type spécifique de guide d’onde TEM.
L’objet du présent document est de décrire
les caractéristiques des guides d’onde TEM, y compris les plages de fréquences types et les limites de tailles des équipements en essai (EUT);
les méthodes de validation des guides d’onde TEM pour les essais de compatibilité électromagnétique CEM;
la définition de l'EUT (c’est-à-dire l’armoire et le câblage de l'EUT);
les montages d’essai, les procédures et les exigences relatives aux mesurages d’émissions rayonnées dans les guides d’onde TEM; et
les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d’immunité rayonnée dans les guides d’onde TEM. NOTE Dans le présent document, les méthodes d’essai sont définies afin de mesurer les effets des rayonnements électromagnétiques sur les matériels et les émissions électromagnétiques des matériels concernés. La simulation et le mesurage des rayonnements électromagnétiques ne sont pas suffisamment exacts pour une détermination quantitative des effets sur toutes les installations d'utilisation finale. Les méthodes d’essai définies sont structurées avec l’objectif premier d'établir une reproductibilité adéquate des résultats dans différentes installations d’essai pour des analyses qualitatives des effets.
Le présent document ne vise pas à spécifier les essais à appliquer à des appareils ou à un ou des systèmes particuliers. Le but principal présent document est de donner une référence de base d'ordre général à tous les comités de produits IEC concernés. Pour les mesurages d’émission rayonnée, les comités de produits sélectionnent des limites d’émission et des méthodes de mesure en consultation avec les normes CISPR. Pour les essais d’immunité rayonnée, les comités de produits restent responsables du choix approprié des essais d’immunité et des limites qui y sont associées, à appliquer aux matériels qui relèvent de leur domaine d’application. Le présent document décrit des méthodes d'essai qui sont indépendantes de celles de l'IEC 61000-4-3 [34].
CEM conformément au Guide IEC 107.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition parue en 2010. Cette édition constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) fournir des informations relatives aux essais d'EUT volumineux (y compris les câbles);
b) appliquer les travaux sur les incertitudes de mesure par adaptation des travaux réalisés par le CISPR et le CE 77 (pour les émissions et l'immunité);
c) mettre à jour la procédure de validation pour le volume d'essai en ce qui concerne la vérification de l'uniformité du champ et du mode TEM;
d) fournir des informations relatives aux guides d'onde TEM à deux accès et à quatre accès;
e) ajouter une nouvelle annexe informative (Annex I) qui traite de la caractérisation du guide d'onde TEM transitoire; et
f) ajouter des informations qui traitent des bancs d'essais diélectriques des EUT.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
IEC 61000-4-20
®
Edition 3.0 2022-02
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission and immunity
testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-20: Techniques d’essai et de mesure – Essais d’émission et d’immunité
dans les guides d’onde TEM
IEC 61000-4-20:2022-02(en-fr)
---------------------- Page: 1 ----------------------
THIS PUBLICATION IS COPYRIGHT PROTECTED
Copyright © 2022 IEC, Geneva, Switzerland
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form
or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from
either IEC or IEC's member National Committee in the country of the requester. If you have any questions about IEC
copyright or have an enquiry about obtaining additional rights to this publication, please contact the address below or
your local IEC member National Committee for further information.
Droits de reproduction réservés. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et
les microfilms, sans l'accord écrit de l'IEC ou du Comité national de l'IEC du pays du demandeur. Si vous avez des
questions sur le copyright de l'IEC ou si vous désirez obtenir des droits supplémentaires sur cette publication, utilisez
les coordonnées ci-après ou contactez le Comité national de l'IEC de votre pays de résidence.
IEC Secretariat Tel.: +41 22 919 02 11
3, rue de Varembé info@iec.ch
CH-1211 Geneva 20 www.iec.ch
Switzerland
About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.
About IEC publications
The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigendum or an amendment might have been published.
IEC publications search - webstore.iec.ch/advsearchform IEC Products & Services Portal - products.iec.ch
The advanced search enables to find IEC publications by a Discover our powerful search engine and read freely all the
variety of criteria (reference number, text, technical publications previews. With a subscription you will always have
committee, …). It also gives information on projects, replaced access to up to date content tailored to your needs.
and withdrawn publications.
Electropedia - www.electropedia.org
IEC Just Published - webstore.iec.ch/justpublished
The world's leading online dictionary on electrotechnology,
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published
containing more than 22 300 terminological entries in English
details all new publications released. Available online and once
and French, with equivalent terms in 19 additional languages.
a month by email.
Also known as the International Electrotechnical Vocabulary
(IEV) online.
IEC Customer Service Centre - webstore.iec.ch/csc
If you wish to give us your feedback on this publication or need
further assistance, please contact the Customer Service
Centre: sales@iec.ch.
A propos de l'IEC
La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
Normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.
A propos des publications IEC
Le contenu technique des publications IEC est constamment revu. Veuillez vous assurer que vous possédez l’édition la
plus récente, un corrigendum ou amendement peut avoir été publié.
Recherche de publications IEC - Découvrez notre puissant moteur de recherche et consultez
webstore.iec.ch/advsearchform gratuitement tous les aperçus des publications. Avec un
La recherche avancée permet de trouver des publications IEC abonnement, vous aurez toujours accès à un contenu à jour
en utilisant différents critères (numéro de référence, texte, adapté à vos besoins.
comité d’études, …). Elle donne aussi des informations sur les
projets et les publications remplacées ou retirées. Electropedia - www.electropedia.org
Le premier dictionnaire d'électrotechnologie en ligne au monde,
IEC Just Published - webstore.iec.ch/justpublished
avec plus de 22 300 articles terminologiques en anglais et en
Restez informé sur les nouvelles publications IEC. Just
français, ainsi que les termes équivalents dans 19 langues
Published détaille les nouvelles publications parues.
additionnelles. Egalement appelé Vocabulaire
Disponible en ligne et une fois par mois par email.
Electro
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.