IEC 62044-2:2005

Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 2: Magnetic properties at low excitation level

Gives guidance for the drafting of those parts of specifications for magnetic cores that are concerned with measuring methods for magnetic and electric core properties. Applies to magnetic cores, mainly made of magnetic oxides or metallic powders, used at low excitation level in inductors and transformers for telecommunication equipment and electronic devices employing similar techniques.
The contents of the corrigendum of May 2021 have been included in this copy.

Noyaux en matériaux magnétiques doux - Méthodes de mesure - Partie 2: Propriétés magnétiques à niveau d'excitation faible

Donne des lignes directrices pour la rédaction des parties des spécifications pour les noyaux magnétiques qui concernent les méthodes de mesure pour les propriétés magnétiques et électriques. S'applique aux noyaux magnétiques, principalement en oxydes magnétiques ou en poudres métalliques, utilisés à faible niveau d'excitation dans des inductances et transformateurs pour le matériel de télécommunications et les dispositifs électroniques utilisant des techniques analogues.
Le contenu du corrigendum de mai 2021 a été pris en considération dans cet exemplaire.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 06-Mar-2005
• ICS: 29.100.10 - Magnetic components
• Technical Committee: TC 51 - Magnetic components, ferrite and magnetic powder materials
• Drafting Committee: WG 1 - TC 51/WG 1
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 07-Mar-2005
• Completion Date: 15-Apr-2005

Relations

• Corrected By: IEC 62044-2:2005/COR1:2021 - Corrigendum 1 - Cores made of soft magnetic materials - Measuring methods - Part 2: Magnetic properties at low excitation level
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
62044-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2005-03
Noyaux en matériaux magnétiques doux –
Méthodes de mesure –
Partie 2:
Propriétés magnétiques à niveau
d'excitation faible
Cores made of soft magnetic materials –
Measuring methods –
Part 2:
Magnetic properties at low excitation level
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62044-2:2005
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
recherches en utilisant de nombreux critères, variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
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.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
62044-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2005-03
Noyaux en matériaux magnétiques doux –
Méthodes de mesure –
Partie 2:
Propriétés magnétiques à niveau
d'excitation faible
Cores made of soft magnetic materials –
Measuring methods –
Part 2:
Magnetic properties at low excitation level
 IEC 2005 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including
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Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE V
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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– 2 – 62044-2  CEI:2005
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.6

1 Domaine d’application et objet .10
2 Références normatives .10
3 Définitions .10
4 Symboles .12
5 Conditions d’environnement.16
6 Précautions générales pour les méthodes concernant les mesures de perméabilité.16
6.1 Paramètres concernés .16
6.2 Montage de noyaux constitués de plus d’une partie .16
7 Précautions générales concernant la mesure des pertes à faible induction.16
7.1 Pertes contributives .16
7.2 Montage .18
8 Conditionnement magnétique.18
9 Mesure d’inductance.20
9.1 Généralités.20
9.2 Détermination du signal d’essai .20
9.3 Détermination de la bobine d’essai.22
9.4 Considérations pour l’alignement de noyaux pendant l’essai.26
9.5 Mesure d’inductance sous l’influence du champ magnétique à courant continu .28
9.6 Paramètres liés à la géométrie du noyau.30
9.7 Paramètres des matériaux magnétiques.32
10 Désaccommodation .36
11 Coefficient de température de perméabilité .36
11.1 Eprouvettes.36
11.2 Procédure de mesure .38
12 Pertes à faible induction .40
12.1 Objet .40
12.2 Bobine de mesure.40
12.3 Mesure de la perte par courant de Foucault et courant différentiel .40
12.4 Mesure de la perte par hystérésis .42
13 Distorsion harmonique totale .44
13.1 Éprouvette.44
13.2 Instrument et circuit de mesure .44
13.3 Procédure de mesure .44
13.4 Valeur A et conditions d’enroulement pour la mesure de THD .46
L F
13.5 Caractéristiques de matériaux – THD .46
F
14 Point de Curie .48
15 Impédance normalisée, conductivité parallèle et affaiblissement d’insertion .48
15.1 Généralités.48
15.2 Procédure de mesure .48
15.3 Impédance normalisée.50
15.4 Conductivité parallèle .50

62044-2  IEC:2005 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7

1 Scope and object.11
2 Normative references .11
3 Definitions .11
4 Symbols .13
5 Environmental conditions.17
6 General precautions for methods involving permeability measurements .17
6.1 Parameters involved .17
6.2 Mounting of cores consisting of more than one part .17
7 General precautions for loss measurement at low flux density .17
7.1 Contributory losses.17
7.2 Mounting .19
8 Magnetic conditioning .19
9 Inductance measurement.21
9.1 General .21
9.2 Determination of the test signal.21
9.3 Determination of the test coil .23
9.4 Considerations for core alignment during test.27
9.5 Measurement of inductance under the influence of d.c. magnetic field .29
9.6 Parameters related to core geometry .31
9.7 Magnetic material parameters .33
10 Disaccommodation .37
11 Temperature coefficient of permeability.37
11.1 Specimens .37
11.2 Measuring procedure .39
12 Losses at low flux density .41
12.1 Object .41
12.2 Measuring coil .41
12.3 Measurement of residual and eddy current loss.41
12.4 Measurement of the hysteresis loss .43
13 Total harmonic distortion .45
13.1 Specimen .45
13.2 Measuring instrument and circuit.45
13.3 Measuring procedure .45
13.4 A value and winding conditions for THD measurement.47
L F
13.5 Material characteristics – THD .47
F
14 Curie temperature.49
15 Normalized impedance, parallel conductivity, and insertion loss.49
15.1 General .49
15.2 Measuring procedure .49
15.3 Normalized impedance .51
15.4 Parallel conductivity.51

– 4 – 62044-2  CEI:2005
Annexe A (informative) Désaccommodation.52
Annexe B (informative) Conditions de mesure pour les essais de THD .56

Figure 1 – Représentation par l’illustration de l’effet de la fréquence de résonance
propre sur la valeur de l’inductance mesurée.22
Figure 2 – Circuit de mesure THD .44
F
Figure 3 – Point de Curie .48
Figure B.1 – Induction en fonction du nombre de spires.56
Figure B.2 – Facteur de correction de circuit (CCF) en fonction du nombre de spires .60

Tableau 1 – Relation des spires d’essai à la structure magnétique, la fréquence d’essai
et le facteur d’inductance A .24
L
Tableau 2 – Spécimen de valeur A et conditions d’enroulement pour la mesure de
L
THD .46
F
62044-2  IEC:2005 – 5 –
Annex A (informative) Disaccommodation.53
Annex B (informative) Measurement conditions for THD testing .57

Figure 1 – Pictorial representation of the effect of self-resonant frequency on the
value of measured inductance.23
Figure 2 – THD measuring circuit .45
F
Figure 3 – Curie temperature .49
Figure B.1 – Flux density as a function of number of turns .57
Figure B.2 – Circuit correction factor (CCF) as a function of number of turns.61

Table 1 – Relationship of test turns to magnetic structure, test frequency and
inductance factor A .25
L
Table 2 – Specimen of A value and winding conditions for THD measurement .47
L F
– 6 – 62044-2  CEI:2005
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
NOYAUX EN MATÉRIAUX MAGNÉTIQUES DOUX –
MÉTHODES DE MESURE –
Partie 2: Propriétés magnétiques à niveau d’excitation faible

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 62044-2 a été établie par le comité d'études 51 de la CEI:
Composants magnétiques et ferrites.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
51/804/FDIS 51/816/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le Tableau ci-dessus donne toute information sur le vote
ayant abouti à l'approbation de cette norme.

62044-2  IEC:2005 – 7 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
CORES MADE OF SOFT MAGNETIC MATERIALS –
MEASURING METHODS –
Part 2: Magnetic properties at low excitation level

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 62044-2 has been prepared by IEC technical committee 51:
Magnetic components and ferrite materials.
The text of this standard is based on the following documents:
FDIS Report on voting
51/804/FDIS 51/816/RVD
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.

– 8 – 62044-2  CEI:2005
Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.
La CEI 62044 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Noyaux en
matériaux magnétiques doux – Méthodes de mesure
Partie 1: Spécification générique
Partie 2: Propriétés magnétiques à niveau d’excitation faible
Partie 3: Propriétés magnétiques à niveau élevé d'excitation
Cette norme, ainsi que les CEI 62044-1 (2002) et CEI 62044-3 (2000), annulent et remplacent
la CEI 60367-1 (1982), son amendement 1 (1984), son amendement 2 (1992), la CEI 60367-2
(1974), son amendement 1 (1983), et la CEI 60367-2A (1976).
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant la date de
maintenance indiquée sur le site web de la CEI sous «http://webstore.iec.ch» dans les
données relatives à la publication recherchée. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
62044-2  IEC:2005 – 9 –
This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives, Part 2.
IEC 62044 consists of the following parts, under the general title Cores made of soft magnetic
materials – Measuring methods:
Part 1: Generic specification
Part 2: Magnetic properties at low excitation level
Part 3: Magnetic properties at high excitation level
This standard, together with IEC 62044-1 (2002) and IEC 62044-3 (2000), cancels and
replaces IEC 60367-1 (1982), its amendment 1 (1984), its amendment 2 (1992), IEC 60367-2
(1974), its amendment 1 (1983) and IEC 60367-2A (1976).
The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
the maintenance result date indicated on the IEC web site under "http://webstore.iec.ch" in
the data related to the specific publication. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
– 10 – 62044-2  CEI:2005
NOYAUX EN MATÉRIAUX MAGNÉTIQUES DOUX –
MÉTHODES DE MESURE –
Partie 2: Propriétés magnétiques à niveau d’excitation faible

1 Domaine d’application et objet
La présente partie de la CEI 62044 s’applique aux noyaux magnétiques, principalement en
oxydes magnétiques ou en poudres métalliques, utilisés à faible niveau d’excitation dans des
inductances et transformateurs pour le matériel de télécommunications et les dispositifs
électroniques utilisant des techniques analogues.
Certaines des méthodes décrites dans la présente norme peuvent également être adaptées
aux noyaux magnétiques utilisés dans d’autres composants.
La présente partie de la CEI 62044 donne des lignes directrices pour la rédaction des parties
des spécifications pour les noyaux magnétiques qui concernent les méthodes de mesure pour
les propriétés magnétiques et électriques. La présente partie de la CEI 62044 est limitée aux
principes généraux à suivre pour diverses méthodes d’essais possibles et elle expose les
facteurs à prendre en compte lors de la décision sur la description de la méthode d’essai à
inclure dans la spécification.
NOTE Toutes les formules de la présente partie de la CEI 62044 utilisent les unités SI de base. Lorsque des
multiples ou des sous-multiples sont utilisés, il convient que la puissance appropriée de 10 soit introduite. Le
facteur de conversion pour les inductances et les facteurs d’inductance est le suivant: 1 H = 10 nH.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références
non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60205, Calcul des paramètres effectifs des pièces ferromagnétiques
CEI 60401-3:2003, Termes et nomenclature pour noyaux en matériaux ferrites magnétique-
ment doux – Partie 3: Lignes directrices relatives au format des données figurant dans les
catalogues des fabricants de noyaux pour transformateurs et inductances
CEI 62044-1:2002, Noyaux en matériaux magnétiques doux – Méthodes de mesure – Partie
1: Spécification générique
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions suivants s’appliquent.

62044-2  IEC:2005 – 11 –
CORES MADE OF SOFT MAGNETIC MATERIALS –
MEASURING METHODS –
Part 2: Magnetic properties at low excitation level

1 Scope and object
This part of IEC 62044 applies to magnetic cores, mainly made of magnetic oxides or metallic
powders, used at low excitation level in inductors and transformers for telecommunication
equipment and electronic devices employing similar techniques.
Some of the methods described in this part of IEC 62044 may also be suitable for magnetic
cores used in other components.
This part of IEC 62044 gives guidance for the drafting of those parts of specifications for
magnetic cores that are concerned with measuring methods for magnetic and electric core
properties. This part of IEC 62044 is limited to the general principles to be followed for
various possible test methods and sets out the factors to be taken into account when deciding
on the description of the test method to be included in the specification.
NOTE All the formulae in this part of IEC 62044 use basic SI units. When multiples or submultiples are used, the
appropriate power of 10 should be introduced. The conversion factor for inductances and inductance factors is as
follows: 1 H = 10 nH.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document.
For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition
of the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60205, Calculation of the effective parameters of magnetic piece parts
IEC 60401-3:2003, Terms and nomenclature for cores made of magnetically soft ferrites –
Part 3: Guidelines on the format of data appearing in manufacturers’ catalogues of
transformer and inductor cores
IEC 62044-1:2002, Cores made of soft magnetic materials – Measuring methods – Part 1:
Generic specification
3 Terms and definitions
For the purposes of this part of IEC 62044, the following terms and definitions apply.

– 12 – 62044-2  CEI:2005
3.1
distorsion harmonique totale (magnétique)
THD
distorsion de la forme d’onde provoquée par une relation non linéaire entre la densité de flux
magnétique et la force de champ magnétique dans le noyau en ferrite exprimée comme suit:
THD = 20lg()V /V (1)
m f
où
∞
= V (2)
∑ n
V
m
n=1
ème
V est l’amplitude du n composant harmonique de la quantité et V est l’amplitude du
n f
composant fondamental de la quantité
3.2
facteur de distorsion harmonique totale (magnétique)
THD
F
expression mathématique utilisée pour l’évaluation des caractéristiques de matériaux
magnétiques et donnée par:
 V /V 
m f
 
THD = 20lg (3)
F
 
µ / CCF
 ea 
où
∞
V = V (4)
m n
∑
n=1
ème
V est l’amplitude du n composant harmonique de la quantité et V est l’amplitude du
n f
composant fondamental de la quantité.
CCF = 1 1+()3ω ⋅ L R (5)
1 s
NOTE 1 CCF désigne le Facteur de Correction de Circuit et est donné dans l’approximation pour la troisième
harmonique, qui est valable pour des mesures sans polarisation à courant continu appliquée. L est l’inductance
primaire. R est la résistance totale de source (50 Ω).
s
NOTE 2 µ est la perméabilité d'amplitude effective.
ea
4 Symboles
Les symboles normalisés suivants sont utilisés dans la présente norme.
t temps
T température en °C
T point de Curie
C
L inductance propre
L inductance propre à température
T
L inductance vue à faible excitation à courant alternatif
measured
Z impédance vue à faible excitation à courant alternatif
measured
62044-2  IEC:2005 – 13 –
3.1
(magnetic) Total Harmonic Distortion
THD
distortion of voltage waveform caused by non-linear relation between the magnetic flux
density and the magnetic field strength in a ferrite core and expressed by:
THD = 20lg(V /V) (1)
m f
where
∞
V = V (2)
m ∑ n
n=1
th
V is the amplitude of the n harmonic component of the quantity and V is the amplitude of
n f
the fundamental component of the quantity
3.2
(magnetic) Total Harmonic Distortion Factor
THD
F
mathematical expression used for the evaluation of characteristics of magnetic materials and
given by:
 
V /V
m f
 
THD = 20lg (3)
F
 
µ / CCF
 ea 
where
∞
V = V (4)
m ∑ n
n=1
th
V is the amplitude of the n harmonic component of the quantity and V is the amplitude of
n f
the fundamental component of the quantity
CCF = 1/ 1+()3ωL / R (5)
1 s
NOTE 1 CCF stands for the Circuit Correction Factor and is given in the approximation for the third harmonic,
which is valid for measurements without applied d.c. bias. L is primary inductance. R is total source resistance
1 s
(50 Ω).
NOTE 2 µ is the effective amplitude permeability.
ea
4 Symbols
The following standard symbols are used in this standard.
t time
T temperature in °C
T curie temperature
C
L self-inductance
L self-inductance at temperature
T
L inductance seen at low a.c. excitation
measured
Z impedance seen at low a.c. excitation
measured
– 14 – 62044-2  CEI:2005
R partie imaginaire d’impédance vue à faible excitation à courant alternatif
measured
–6
µ constante magnétique: 0,4 π × 10 H/m
µ perméabilité relative complexe (mesurée en mode inductance série)
r
µ perméabilité initiale
i
µ perméabilité effective
e
µ identique à µ
r,s r
µ perméabilité relative complexe (mesurée en mode inductance parallèle)
r,p
µ′ partie réelle de perméabilité relative complexe (mesurée en mode inductance
r
série)
µ′ identique à µ′
r,s r
µ′ partie réelle de perméabilité relative complexe (mesurée en mode inductance
r,p
parallèle)
µ″ partie imaginaire de perméabilité relative complexe (mesurée en mode inductance
r
série)
µ″ identique à µ″
r,s r
µ″ partie imaginaire de perméabilité relative complexe (mesurée en mode inductance
r,p
parallèle)
µ perméabilité initiale à température
T
µ perméabilité d’amplitude effective
ea
N nombre de spires de bobines de mesure
C constante de noyau définie dans la CEI 60205
A section transversale efficace
e
l longueur de trajet magnétique efficace
e
ω fréquence angulaire
f fréquence
f extrémité inférieure de la bande de fréquence
L
U valeur efficace de la tension sinusoïdale
V amplitude de tension de la racine carrée de la somme quadratique des amplitudes
m
sur toutes les harmoniques
V amplitude de tension à la fréquence fondamentale
f
THD distorsion harmonique totale (magnétique)
THD facteur de distorsion harmonique totale (magnétique)
F
CCF facteur de correction de circuit (pour le calcul de THD )
F
∧
B
induction de crête: identique à la l’induction à courant alternatif
A facteur d’inductance
L
l longueur d’entrefer efficace
g
A zone d’entrefer efficace
g
α coefficient de température de perméabilité
µ
α facteur de température
F
62044-2  IEC:2005 – 15 –
R imaginary part of impedance seen at low a.c. excitation
measured
–6
µ magnetic constant: 0,4 π × 10 H/m
µ complex relative permeability (measured in series inductance mode)
r
µ initial permeability
i
µ effective permeability
e
µ same as µ
r,s r
µ complex relative permeability (measured in parallel inductance mode)
r,p
µ′ real part of complex relative permeability (measured in series inductance mode)
r
µ′ same as µ′
r,s r
µ′ real part of complex relative permeability (measured in parallel inductance
r,p
mode)
µ″ imaginary part of complex relative permeability (measured in series inductance
r
mode)
µ″ same as µ″
r,s r
µ″ imaginary part of complex relative permeability (measured in parallel
r,p
inductance mode)
µ initial permeability at temperature
T
µ effective amplitude permeability
ea
N number of turns of measuring coil
C core constant defined in IEC 60205
A effective cross-sectional area
e
l effective magnetic path length
e
ω angular frequency
f frequency
f lower end of frequency band
L
U r.m.s. value of sinusoidal voltage
V voltage amplitude of the square root of the quadratic sum of the amplitudes
m
over all harmonics
V voltage amplitude at the fundamental frequency
f
THD (magnetic) total harmonic distortion
THD (magnetic) total harmonic distortion factor
F
CCF circuit correction factor (for THD calculation)
F
∧
B peak flux density: same as a.c. flux density
A inductance factor
L
l effective air-gap length
g
A effective gap area
g
α temperature coefficient of permeability
µ
α temperature factor
F
– 16 – 62044-2  CEI:2005
tan δ angle de perte pour tangente
tan δ angle de perte pour tangente pour noyau à entrefer
e
(tan δ/µ) facteur de perte par hystérésis
h
η constante d’hystérésis du matériau
B
Z (f) impédance normalisée
N
g (f) conductivité parallèle
p
R (f) résistance parallèle
p
a (f) perte d’insertion du fait de la contribution du noyau
c
D désaccommodation
D facteur de désaccommodation
F
5 Conditions d’environnement
Les conditions d’environnement doivent être conformes à l’Article 3 de la CEI 62044-1.
6 Précautions générales pour les méthodes concernant les mesures de
perméabilité
6.1 Paramètres concernés
La perméabilité effective d’un noyau dépend de nombreux facteurs, parmi lesquels on peut
citer l’histoire magnétique, la durée, la température, le champ, la pression mécanique, la
fréquence du courant de mesure, la géométrie du noyau et la position de la bobine de
mesure. Diverses méthodes décrites dans la présente norme choisissent un de ces facteurs à
la fois, par exemple la durée ou la température, et il convient que des précautions au cours
de ces mesures visent à l’élimination de l’influence de tous les autres facteurs. Par exemple,
il convient qu’un dispositif de fixation fasse de sorte que la pression demeure constante en
temps et avec la température, de manière à ce que le résultat de mesure ne soit pas
influencé par le changement de pression.
6.2 Montage de noyaux constitués de plus d’une partie
Le montage des noyaux doit être conforme à la CEI 62044-1.
7 Précautions générales concernant la mesure des pertes à faible induction
7.1 Pertes contributives
A faible induction (c’est-à-dire dans le domaine de Rayleigh), la perte mesurée sur un noyau
au moyen d’une bobine ou d’un autre dispositif d’accouplement est due à un certain nombre
de causes, dont certaines peuvent être inhérentes au noyau lui-même, certaines encore au
dispositif d’accouplement et d’autres à la connexion entre le dispositif d’accouplement et
l’instrument de mesure. Pour les mesures avec les bobines, on peut distinguer les pertes
contributives suivantes: la perte de noyau; la perte de noyau courant continu; les pertes dues
à l’effet de peau et l’effet de proximité; la perte diélectrique dans la bobine; la perte dans les
fils de connexion et la perte de tout composant associé (par exemple le condensateur
résonant).
Il convient d’essayer d’isoler la perte de noyau de la perte totale mesurée, soit par une
correction soit par le choix des conditions de manière à rendre négligeables les autres pertes
contributives. La perte de bobine à courant continu et la perte dans tout composant associé
peuvent être mesurées séparément; les autres pertes contributives peuvent être soit
calculées soit déterminées de manière expérimentale.

62044-2  IEC:2005 – 17 –
tan δ tangent loss angle
tan δ tangent loss angle for gapped core
e
(tan δ/µ) hysteresis loss factor
h
η hysteresis material constant
B
Z (f) normalized impedance
N
g (f) parallel conductivity
p
R (f) parallel resistance
p
a (f) insertion loss due to core contribution
c
D disaccommodation
D disaccommodation factor
F
5 Environmental conditions
The environmental conditions shall comply with Clause 3 of IEC 62044-1.
6 General precautions for methods involving permeability measurements
6.1 Parameters involved
The effective permeability of a core depends upon many factors, among which are the
magnetic history, time, temperature, field strength, mechanical pressure, frequency of
measuring current, core geometry and position of the measuring coil. Various methods
described in this standard single out one of these factors at a time, for example, time or
temperature, and precautions during these measurements should be directed towards
eliminating the influence of all other factors. For example, a clamping device should be such
that the pressure remains constant in time and with temperature, so that the measuring result
is not influenced by changing pressure.
6.2 Mounting of cores consisting of more than one part
The mounting of cores shall be in accordance with IEC 62044-1.
7 General precautions for loss measurement at low flux density
7.1 Contributory losses
At low flux density (i.e. within the Rayleigh region), the loss measured on a core by means of
a coil or other coupling device is due to a number of causes; some may be inherent in the
core itself, some in the coupling device and some in the connection between the coupling
device and the measuring instrument. For measurements with coils, the following contributory
losses can be distinguished: core loss; d.c. coil loss; Iosses due to skin effect and proximity
effect; dielectric loss in the coil; Ioss in connecting wires and loss in any associated
component (for example, resonating capacitor).
An attempt should be made to isolate the core loss from the total loss measured, either by
correction or by
...