IEC TS 61994-1:2003

Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection - Glossary - Part 1: Piezoelectric and dielectric resonators

Specifies the terms and definitions for piezoelectric and dielectric resonators representing the present state-of-the-art, which are intended for use in the standards and documents of IEC technical committee 49.

Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence - Glossaire - Partie 1: Résonateurs piézoélectriques et diélectriques

Spécifie les termes et définitions pour les résonateurs piézoélectriques et diélectriques présentant l'état actuel de la technique, destinés à être utilisés dans les normes et documents du comité d'études 49 de la CEI.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 20-Jul-2003
• ICS: 31.140 - Piezoelectric devices
• Technical Committee: TC 49 - Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
• Drafting Committee: WG 11 - TC 49/WG 11
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Start Date: 30-Aug-2007
• Completion Date: 26-Oct-2025

Relations

• Revised: IEC TS 61994-1:2007 - Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection - Glossary - Part 1: Piezoelectric and dielectric resonators
• Effective Date: 05-Sep-2023

Overview

IEC TS 61994-1:2003 is a Technical Specification published by the International Electrotechnical Commission (IEC) that provides a comprehensive glossary for piezoelectric and dielectric resonators. These devices play a crucial role in frequency control and selection within electrical and electronic systems. This part specifically defines the terms and concepts related to these resonators, reflecting the current state-of-the-art technology as recognized by IEC Technical Committee 49. It serves as a foundational reference to ensure clarity and uniformity in standards and documents relating to frequency control components.

Key Topics

• Terminology for Resonators
  The document specifies precise terms and definitions that describe piezoelectric and dielectric resonators. This includes parameters such as frequency tolerance, mode of vibration, resonator types, and performance criteria.

• State-of-the-Art Technology
  Definitions reflect modern advances and current technological understanding, ensuring that standards remain relevant and up to date.

• Standardization Framework
  The glossary supports the consistency and transparency of IEC standards across related publications by Technical Committee 49.

• Normative References
  The specification references other important IEC standards that complement its scope, including:

  • IEC 60050(561): International Electrotechnical Vocabulary related to piezoelectric frequency stabilization devices
  • IEC 60122-1: Generic specifications for quartz crystal resonators
  • IEC 60642: Specifications for piezoceramic resonators and devices
  • IEC 61019-1 and IEC 61338-1: Acoustic wave and dielectric resonator standards

Applications

• Frequency Control in Electronics
  Piezoelectric and dielectric resonators defined in this specification are widely used for precise frequency control in oscillators, filters, and timing devices essential for communication systems, navigation, and signal processing.

• Quality Assurance and Testing
  Using standardized terminology enables manufacturers and engineers to communicate specifications clearly, ensuring product quality and interoperability.

• Research and Development
  The glossary aids R&D teams by providing clear definitions that support component design, testing methods, and innovation in piezoelectric and dielectric devices.

• International Standard Adoption
  Harmonization of terms assists national and regional bodies in adopting IEC standards, facilitating global trade and technological cooperation.

Related Standards

• IEC 61994 Series
  IEC TS 61994 is divided into parts covering a variety of piezoelectric and dielectric devices:

  • Part 1: Piezoelectric and dielectric resonators
  • Part 2: Piezoelectric and dielectric filters
  • Part 3: Piezoelectric and dielectric oscillators
  • Part 4-1: Piezoelectric and dielectric materials – Synthetic quartz crystal
  • Part 4-2: Piezoelectric and dielectric materials – Piezoelectric ceramics (under consideration)

• IEC 60050 (Electrotechnical Vocabulary)
  Provides standardized definitions that support the clarity of technical terminology across the electrotechnical field.

• IEC 60122 and IEC 60642
  These standards specify generic requirements and test methods for quartz resonators and ceramic piezoelectric resonators, respectively.

• IEC 61019 and IEC 61338 Series
  Dedicated to surface acoustic wave resonators and guided mode dielectric resonators, providing complementary technical information.

---

By adopting IEC TS 61994-1, industries and professionals can ensure common understanding and consistent terminology around piezoelectric and dielectric resonators, supporting global standardization and facilitating advancements in frequency control technologies. Key SEO keywords integrated include: piezoelectric resonators, dielectric resonators, frequency control devices, IEC standards, technical glossary, frequency selection, piezoelectric devices, dielectric devices, and international standardization.

Standards Content (Sample)

SPÉCIFICATION CEI
TECHNIQUE IEC
TS 61994-1
TECHNICAL
Première édition
SPECIFICATION
First edition
2003-07
Dispositifs piézoélectriques et diélectriques
pour la commande et le choix de la fréquence –
Glossaire –
Partie 1:
Résonateurs piézoélectriques et diélectriques
Piezoelectric and dielectric devices
for frequency control and selection –
Glossary –
Part 1:
Piezoelectric and dielectric resonators

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC/TS 61994-1:2003
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
recherches en utilisant de nombreux critères, variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations en line information is also available on recently
ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
publications, les publications remplacées ou retirées, publications, as well as corrigenda.
ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available
nible par courrier électronique. Veuillez prendre by email. Please contact the Customer Service
contact avec le Service client (voir ci-dessous) Centre (see below) for further information.
pour plus d’informations.
• Service clients • Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette If you have any questions regarding this
publication ou avez besoin de renseignements publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service contact the Customer Service Centre:
clients:
Email: [e-mail] Email: [e-mail]
Tél: [phone] Tel: [phone]
Fax: [phone] Fax: [phone]
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SPÉCIFICATION CEI
TECHNIQUE IEC
TS 61994-1
TECHNICAL
Première édition
SPECIFICATION
First edition
2003-07
Dispositifs piézoélectriques et diélectriques
pour la commande et le choix de la fréquence –
Glossaire –
Partie 1:
Résonateurs piézoélectriques et diélectriques
Piezoelectric and dielectric devices
for frequency control and selection –
Glossary –
Part 1:
Piezoelectric and dielectric resonators

 IEC 2003 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les photocopying and microfilm, without permission in writing from
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CODE PRIX
R
Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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For price, see current catalogue

– 2 – TS 61994-1  CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

___________
DISPOSITIFS PIÉZOÉLECTRIQUES ET DIÉLECTRIQUES

POUR LA COMMANDE ET LE CHOIX DE LA FRÉQUENCE –

GLOSSAIRE –
Partie 1: Résonateurs piézoélectriques et diélectriques

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de
la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec
l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux
organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Publication de la CEI peuvent faire

l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La tâche principale des comités d’études de la CEI est l’élaboration des Normes
internationales. Exceptionnellement, un comité d’études peut proposer la publication d’une
spécification technique
• lorsqu’en dépit de maints efforts, l’accord requis ne peut être réalisé en faveur de la
publication d’une Norme internationale, ou
• lorsque le sujet en question est encore en cours de développement technique ou quand,
pour une raison quelconque, la possibilité d’un accord pour la publication d’une Norme
internationale peut être envisagée pour l’avenir, mais pas dans l’immédiat.
La CEI 61994-1 qui est une spécification technique, a été établie par le comité d'études 49
de la CEI: Dispositifs piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la
fréquence.
TS 61994-1  IEC:2003 – 3 –
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

___________
PIEZOELECTRIC AND DIELECTRIC DEVICES

FOR FREQUENCY CONTROL AND SELECTION –

GLOSSARY –
Part 1: Piezoelectric and dielectric resonators

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to
technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this
preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also
participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization
(ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with an IEC Publication.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
The main task of IEC technical committees is to prepare International Standards. In
exceptional circumstances, a technical committee may propose the publication of a technical
specification when
• the required support cannot be obtained for the publication of an International Standard,
despite repeated efforts, or
• the subject is still under technical development or where, for any other reason, there is the
future but no immediate possibility of an agreement on an International Standard.
IEC 61994-1, which is a technical specification, has been prepared by IEC technical committee 49:
Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection.

– 4 – TS 61994-1  CEI:2003
Le texte de cette spécification technique est issu des documents suivants:

Projet d’enquête Rapport de vote

49/569/DTS 49/595/RVC
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant

abouti à l'approbation de cette spécification technique.

Cette publication a été rédigée selon les Directives ISO/CEI, Partie 2.

La CEI 61994 comprend les parties suivantes présentées sous le titre général Dispositifs
piézoélectriques et diélectriques pour la commande et le choix de la fréquence – Glossaire:
Partie 1: Résonateurs piézoélectriques et diélectriques;
Partie 2: Filtres piézoélectriques et diélectriques;
Partie 3: Oscillateurs piézoélectriques et diélectriques ;
Partie 4-1: Matériaux piézoélectriques et diélectriques – Cristal de quartz synthétique;

Partie 4-2: Matériaux piézoélectriques et diélectriques – Céramiques piézoélectriques .
Le comité a décidé que le contenu de cette publication ne sera pas modifié avant 2006. A cette
date, la publication sera
• transformée en Norme internationale;
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
___________
A l’étude.
TS 61994-1  IEC:2003 – 5 –
The text of this technical specification is based on the following documents:

Enquiry request Report on voting

49/569/DTS 49/595/RVC
Full information on the voting for the approval of this technical standard can be found in the

report on voting indicated above.

This publication has been drafted in accordance with ISO/IEC Directives, Part 2.

IEC 61994 consists of the following parts under the general title Piezoelectric and dielectric
devices for frequency control and selection – Glossary:
Part 1: Piezoelectric and dielectric resonators;
Part 2: Piezoelectric and dielectric filters;
Part 3: Piezoelectric and dielectric oscillators ;
Part 4-1: Piezoelectric and dielectric materials – Synthetic quartz crystal;
Part 4-2: Piezoelectric and dielectric materials – Piezoelectric ceramics .
The Committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until
2006. At this date, the publication will be
• transformed into an International Standard;
• reconfirmed;
• withdrawn;
• replaced by a revised edition, or
• amended.
___________
Under consideration.
– 6 – TS 61994-1  CEI:2003
DISPOSITIFS PIÉZOÉLECTRIQUES ET DIÉLECTRIQUES

POUR LA COMMANDE ET LE CHOIX DE LA FRÉQUENCE –

GLOSSAIRE –
Partie 1: Résonateurs piézoélectriques et diélectriques

1 Domaine d'application
La présente partie de la CEI 61994 spécifie les termes et définitions pour les résonateurs
piézoélectriques et diélectriques présentant l’état actuel de la technique, destinés à être
utilisés dans les normes et documents du comité d’études 49 de la CEI.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l'application du présent
document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour les références non
datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
CEI 60050(561):1991, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) – Chapitre 561:
Dispositifs piézoélectriques pour la stabilisation des fréquences et le filtrage
Amendement 1 (1995)
CEI 60122-1:2002, Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité – Partie 1: Spécification
générique
CEI 60642:1979, Résonateurs et dispositifs en céramique piézoélectrique pour la commande et
le choix de la fréquence – Chapitre I: Valeurs et conditions normalisées – Chapitre II:
Conditions de mesure et d'essais
CEI 61019-1-1:1996, Résonateurs à ondes acoustiques de surface (OAS) – Partie 1: Informa-
tions générales, valeurs normalisées et conditions d’essai – Section 1: Informations générales
et valeurs normalisées
CEI 61338-1-1:1996, Résonateurs diélectriques à modes guidés – Partie 1: Informations
générales et conditions d’essai – Section 1: Informations générales

3 Termes et définitions
Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61994, les termes et définitions suivants
s’appliquent.
3.1
tolérance de calage
écart maximal admissible de la fréquence de fonctionnement d’un résonateur piézoélectrique
et sa fréquence nominale à la température de référence dans des conditions spécifiées
[VEI 561-02-16, modifiée]
TS 61994-1  IEC:2003 – 7 –
PIEZOELECTRIC AND DIELECTRIC DEVICES

FOR FREQUENCY CONTROL AND SELECTION –

GLOSSARY –
Part 1: Piezoelectric and dielectric resonators

1 Scope
This part of IEC 61994 specifies the terms and definitions for piezoelectric and dielectric
resonators representing the present state-of-the-art, which are intended for use in the
standards and documents of IEC technical committee 49.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For
dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of
the referenced document (including any amendments) applies.
IEC 60050(561):1991, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Chapter 561: Piezo-
electric devices for frequency control and selection
Amendment 1 (1995)
IEC 60122-1:2002, Quartz crystal units of assessed quality – Part 1: Generic specification
IEC 60642:1979, Piezoelectric ceramic resonator and resonator units for frequency control and
selection – Chapter I: Standard values and conditions – Chapter II: Measuring and test
conditions
IEC 61019-1-1:1996, Surface acoustic wave (SAW) resonators – Part 1: General information,
standard values and test conditions – Section 1: General information and standard values
IEC 61338-1-1:1996, Waveguide type dielectric resonators – Part 1: General information and
test conditions – Section 1: General information
3 Terms and definitions
For the purposes of this part of IEC 61994, the following definitions apply.
3.1
adjustment tolerance
the maximum permissible deviation of the working frequency of a piezoelectric resonator from
the nominal frequency at the reference temperature under specified conditions
[IEV 561-02-16, modified]
– 8 – TS 61994-1  CEI:2003
3.2
tolérance de vieillissement
écart maximal admissible de la fréquence de fonctionnement d’un résonateur piézoélectrique

par rapport à sa fréquence initiale qui est observée en fonction du temps dans des conditions

spécifiées
[VEI 561-02-17, modifiée]
3.3
vieillissement – variation à long terme des paramètres

relation qui existe entre des paramètres quelconques (par exemple, fréquence de résonance)

et le temps
[CEI 61019-1-1]
3.4
apodisation (suppression parasite pour les résonateurs à OAS)
pondération produite par modification du recouvrement des doigts le long d’un transducteur
interdigité pour supprimer les modes parasites
[VEI 561-06-18, modifiée]
3.5
fréquence d’antirésonance
f
a
fréquence la plus haute des deux fréquences d’un résonateur piézoélectrique vibrant seul dans
des conditions spécifiées, auxquelles ce résonateur est équivalent à une résistance pure
[VEI 561-02-10]
3.6
barre de raccordement
conducteur commun reliant chacun des doigts d’un transducteur entre eux et destiné à
connecter le résonateur au circuit externe
[VEI 561-06-15, modifiée]
3.7
rapport de capacités
r
rapport entre la capacité parallèle C et la capacité dynamique C
0 1
[CEI 61019-1-1]
3.8
fréquence centrale pour un résonateur à OAS à deux portes
f
c
moyenne arithmétique des deux fréquences pour lesquelles l’affaiblissement relatif par rapport
à l'affaiblissement d’insertion minimal atteint une valeur spécifiée
[CEI 61019-1-1]
TS 61994-1  IEC:2003 – 9 –
3.2
ageing tolerance
the maximum permissible deviation of the working frequency of a piezoelectric resonator from

its initial frequency which is observed with the passage of time under specified conditions

[IEV 561-02-17, modified]
3.3
ageing – long term parameter variation

the relationship which exists between any parameter (for example resonance frequency) and

time
[IEC 61019-1-1]
3.4
apodisation (spurious suppression for SAW resonators)
weighting produced by the change in finger overlap over the length of the IDT to suppress the
transverse spurious modes
[IEV 561-06-18, modified]
3.5
anti-resonance frequency
f
a
the higher of two frequencies of a piezoelectric resonator vibrating alone, under specified
conditions, at which the electrical impedance of the resonator is resistive
[IEV 561-02-10]
3.6
bus bar
common electrode of a SAW resonator which connects individual fingers together and also
connects the resonator to an external circuit
[IEV 561-06-15, modified]
3.7
capacitance ratio
r
the ratio of the parallel capacitance C to the motional capacitance C
0 1
[IEC 61019-1-1]
3.8
centre frequency of a two-port SAW resonator
f
c
the arithmetic mean of two frequencies at which the attenuation relative to the minimum
insertion attenuation reaches a specified value
[IEC 61019-1-1]
– 10 – TS 61994-1  CEI:2003
3.9
capacité effective sous contrainte (d’un résonateur piézoélectrique en céramique)
capacité d’un résonateur piézoélectrique en céramique, mesurée à une fréquence très

supérieure à toute résonance importante

[VEI 561-02-35]
NOTE La valeur de cette capacité est souvent déterminée indirectement, car une mesure directe est perturbée par
la présence de facteurs tels que les inductances des fils.

3.10
résonateur diélectrique coaxial

résonateur diélectrique caractérisé par un mode TEM, dont la distribution du champ est établie
selon un guide coaxial à structure de longueur finie
[CEI 61338-1-1]
3.11
résonateur diélectrique coplanaire
résonateur diélectrique caractérisé par une distribution du champ en mode TEM. Sa structure
est un guide de ligne coplanaire de longueur finie
[CEI 61338-1-1]
3.12
coefficient du couplage de matériel de l’OAS
est défini comme une racine carrée du module dédoublé de variation relative de la vitesse.
La variation relative de vitesse est produite en court-circuitant le potentiel de surface à partir
de l’état à circuit ouvert.
[CEI 61019-1-1, modifiée]
3.13
cristal (lame)
matière piézoélectrique taillée selon une forme géométrique, des dimensions et une orientation
données par rapport aux axes cristallographiques du cristal
[CEI 60122-1, modifiée]
3.14
lame vibrante de quartz
élément de quartz monté qui vibre lorsqu’un champ électrique alternatif existe entre les
électrodes
[CEI 60122-1]
3.15
résonateur à quartz
lame vibrante montée dans une enveloppe fermée
[CEI 60122-1]
3.16
tension de claquage en courant continu
la plus basse tension en courant continu causant la destruction du résonateur
[CEI 61019-1-1]
TS 61994-1  IEC:2003 – 11 –
3.9
clamped capacitance (of a piezoelectric ceramic resonator)
the capacitance of a piezoelectric ceramic resonator measured at a frequency well above any

pronounced resonance
[IEV 561-02-35]
NOTE In practice, the value of the capacitance is often indirectly determined, because a direct measurement is
affected by the presence of factors such as lead inductance.

3.10
coaxial dielectric resonator
dielectric resonator characterised by a TEM mode field distribution with a coaxial waveguide
structure of finite length
[IEC 61338-1-1]
3.11
coplanar resonator
dielectric resonator characterised by a TEM mode field distribution. The structure is a coplanar-
line waveguide of finite length
[IEC 61338-1-1]
3.12
coupling coefficient of SAW material
SAW electromechanical coupling coefficient is defined as the square root of twice the modulus
of relative velocity change. Relative velocity change is that produced by short circuiting the
surface potential from the open-circuit condition.
[IEC 61019-1-1, modified]
3.13
crystal element
piezoelectric material cut to a given geometric shape, size and orientation with respect to the
crystallographic axes of the crystal
[IEC 60122-1]
3.14
crystal resonator
mounted crystal element that vibrates when an alternating electric field is applied between the
electrodes
[IEC 60122-1, modified]
3.15
crystal unit
a crystal resonator mounted in an enclosure
[IEC 60122-1]
3.16
d.c. breakdown voltage
the lowest d.c. voltage which causes the destruction of the resonator
[IEC 61019-1-1]
– 12 – TS 61994-1  CEI:2003
3.17
matériau diélectrique
matériau qui possède principalement des caractéristiques diélectriques

[CEI 61338-1-1]
3.18
résonateur diélectrique
résonateur utilisant des diélectriques à forte constante diélectrique et dont la structure est

constituée d’un diélectrique de longueur finie

[CEI 61338-1-1]
3.19
support diélectrique
élément qui supporte le résonateur diélectrique. Il est généralement employé avec les
résonateurs en mode TE et possède une faible constante diélectrique.
01δ
[CEI 61338-1-1]
3.20
influence du niveau d’excitation
DLD
déviation permissible de la fréquence de résonance due au niveau d’excitation. L’effet des
changements des conditions du niveau d’excitation sur la résistance de résonance du
résonateur à cristal.
[CEI 60122-1]
3.21
électrode (d’un résonateur piézoélectrique)
plaque ou film électriquement conducteur en contact avec, ou à proximité d’un cristal,
permettant d’appliquer à ce cristal un champ électrique ou de polarisation
[CEI 60122-1, modifiée]
3.22
facteur de couplage électromécanique des résonateurs
combinaison des constantes élastiques, diélectriques et piézoélectriques qui apparaît
naturellement dans l’expression de l’impédance du résonateur. Un facteur différent est lié à
chaque famille particulière de mode de vibration. Ce facteur est étroitement lié à l’écart relatif
entre les fréquences d’un résonateur et permet une mesure pratique de la transduction
piézoélectrique.
On peut aussi considérer le facteur de couplage comme la racine carrée du rapport entre le
travail électrique ou mécanique qui peut être accompli et l’énergie totale qui peut être stockée
à partir d’une source de puissance mécanique ou électrique, pour un ensemble particulier de
conditions aux limites.
[CEI 60642]
3.23
enveloppe
enveloppe de dimensions et de matériau spécifiques, protégeant le ou les résonateurs et
fournissant les moyens de connexion électrique au circuit
[VEI 561-01-12, modifiée, CEI 60122-1, modifiée, CEI 60642, modifiée]

TS 61994-1  IEC:2003 – 13 –
3.17
dielectric material
material which predominantly exhibits dielectric properties

[IEC 61338-1-1]
3.18
dielectric resonator
resonator using dielectrics with a high dielectric constant and the structure of which is a

dielectric waveguide of finite length

[IEC 61338-1-1]
3.19
dielectric support
element supporting a dielectric resonator. The support is generally used for TE mode
01δ
resonators and has a low dielectric constant.
[IEC 61338-1-1]
3.20
drive level dependency
DLD
the permissible deviation of resonance frequency due to variation of the level of drive. The
effect of changes in drive level conditions upon the resonance resistance of the crystal unit.
[IEC 60122-1, modified]
3.21
electrode (of piezoelectric resonator)
an electrically conductive plate in proximity to or film in contact with a face of a crystal or
ceramic element by means of which a polarizing or driving field is applied to the element
[IEC 60122-1, modified]
3.22
electromechanical coupling factor of resonators
a certain combination of elastic, dielectric and piezoelectric constants which appears naturally
in the expression of impedance of a resonator. A different factor arises in each particular family
of mode of vibration. The factor is closely related to the relative frequency spacing and is a
convenient measure of piezoelectric transduction.
Alternatively, the coupling factor may be interpreted as the square root of the ratio of the

electrical or mechanical work which can be accomplished to the total energy stored from a
mechanical or electrical power source for a particular set of boundary conditions.
[IEC 60642]
3.23
enclosure
an enclosure of specific outline dimensions and material with a defined method of sealing
protecting the resonator and providing means of electrical connections to the circuit
[IEV 561-01-12, modified, IEC 60122-1, modified, IEC 60642, modified]

– 14 – TS 61994-1  CEI:2003
3.24
circuit équivalent
circuit électrique présentant la même impédance qu’un résonateur piézoélectrique au voisinage

immédiat d’une résonance
NOTE Il comprend des éléments en série L , C , R en parallèle avec C dans lequel L , C et R représentent
1 1 1 0 1 1 1
respectivement l’inductance, la capacité et la résistance dynamiques etC la capacité parallèle.
[VEI 561-02-07]
3.25
facteur de qualité externe
Q
e
facteur de qualité dû à la perte d’énergie dans le circuit externe, en excluant l’énergie dissipée
par le résonateur
[CEI 61338-1-1]
3.26
facteur de mérite
M
valeur donnée par Q /r , indiquant l’activité du résonateur
[CEI 60122-1, CEI 61019-1-1]
3.27
décalage relatif de fréquence de résonance à la charge
f − f C
L r 1
D = ≅
L
f 2(C +C )
r 0 L
où
f est la fréquence de résonance;
r
f est la fréquence de résonance à la charge;
L
C est la capacité dynamique;
C est la capacité parallèle;
C est la capacité de charge.
L
[CEI 60122-1, modifiée]
3.28
plage de décalage de fréquence relative
indication du changement disponible de fréquence de résonance pour un changement
particulier de la capacité de charge, divisé par la fréquence de résonance du résonateur seul
[CEI 60122-1, modifiée]
3.29
capacité libre (d’un résonateur en céramique)
capacité d’un résonateur mesurée à une fréquence très inférieure à la plus basse résonance
[VEI 561-02-34, modifiée]
NOTE Les capacités parasites entre les bornes d’un résonateur sont incorporées dans la capacité libre.

TS 61994-1  IEC:2003 – 15 –
3.24
equivalent circuit
the electrical circuit which has the same impedance as a piezoelectric resonator in the

immediate neighbourhood of resonance

NOTE It consists of series elements L , C , R in parallel with C , where L , C , R represent the motional
1 1 1 0 1 1 1
inductance, capacitance and resistance respectively and C the shunt capacitance.
[IEV 561-02-07, modified]
3.25
external quality factor
Q
e
quality factor due to the energy loss in the external circuit, excluding the energy dissipated in
the resonator
[IEC 61338-1-1, modified]
3.26
figure of merit
M
the value given by Q /r , which indicates the activity of the resonator
[IEC 60122-1, IEC 61019-1-1]
3.27
fractional load resonance frequency offset
f − f C
L r 1
D = ≅
L
f 2(C +C )
r 0 L
where
f is the resonance frequency;
r
f is the load resonance frequency;
L
C is the motional capacitance;
C is the shunt capacitance;
C is the load capacitance.
L
[IEC 60122-1, modified]
3.28
fractional pulling range
a statement of the available change in resonance frequency over a particular change of load
capacitance, divided by the resonance frequency of the device alone
[IEC 60122-1, modified]
3.29
free capacitance (of a ceramic resonator)
the capacitance of a ceramic resonator measured at a frequency well below the lowest
resonance frequency
[IEV 561-02-34, modified]
NOTE Stray capacitance between resonator terminals is included in free capacitance.

– 16 – TS 61994-1  CEI:2003
3.30
fréquence de l’admittance maximale (impédance minimale)
f
m
fréquence à laquelle le résonateur présente l’admittance maximale au voisinage le plus proche
de la fréquence de résonance
[CEI 61019-1-1, CEI 60122-1, modifiée]

3.31
fréquence d’admittance minimale (impédance maximale)

f
n
fréquence à laquelle le résonateur présente l’admittance minimale au voisinage le plus proche
de la fréquence de résonance
[CEI 60122-1, modifiée]
3.32
gamme de décalage de fréquence relative
indication d’un changement disponible de la fréquence de résonance sous les conditions
particulières de la capacité de charge
[CEI 60122-1, modifiée]
3.33
tolérance de fréquence
écart maximal admissible entre la fréquence caractéristique spécifiée et sa valeur spécifiée
produit par une cause déterminée ou par une combinaison de causes
[CEI 60122-1, modifiée, CEI 60642]
3.34
gamme de fréquences
gamme dans laquelle chaque fréquence peut être prescrite comme la fréquence nominale d’un
résonateur (dispositif)
[CEI 60642]
3.35
résonateur cristallin sur le mode fondamental
résonateur à cristal dans lequel le résonateur est conçu pour fonctionner à la plus basse
fréquence d’un mode de vibration donné

[CEI 60122-1, modifiée]
3.36
mode fondamental
mode le plus bas dans une famille donnée de vibration
[CEI 60642]
3.37
résonateur demi-onde
résonateur caractérisé par tout mode guidé dont la distribution du champ va selon une onde
stationnaire de la moitié de la longueur d’onde du mode TEM
[CEI 61338-1-1]
TS 61994-1  IEC:2003 – 17 –
3.30
frequency of maximum admittance (minimum impedance)
f
m
the frequency at which the resonator exhibits a maximum admittance in the immediate
neighbourhood of resonance
[IEC 61019-1-1, IEC 60122-1, modified]

3.31
frequency of minimum admittance (maximum impedance)

f
n
the frequency at which the resonator exhibits a minimum admittance in the immediate
neighbourhood of resonance
[IEC 60122-1, modified]
3.32
frequency pulling range
a statement of the available change in resonance frequency over a particular change of load
capacitance
[IEC 60122-1, modified]
3.33
frequency tolerance
the maximum permissible deviation of a specified characteristic frequency from the specified
value due to a specific cause, or a combination of causes
[IEC 60122-1, modified, IEC 60642]
3.34
frequency range
range where any frequency can be assigned as nominal frequency of a resonator (unit)
[IEC 60642]
3.35
fundamental crystal unit
a crystal resonator designed to operate at the lowest order of a given mode
[IEC 60122-1]
3.36
fundamental mode
the lowest mode in a given family of vibration
[IEC 60642]
3.37
half wavelength resonator
a resonator characterised by any guided mode field distribution with standing wave of a half
wavelength of TEM mode
[IEC 61338-1-1]
– 18 – TS 61994-1  CEI:2003
3.38
résonateur diélectrique en mode hybride
résonateur diélectrique caractérisé par une distribution du champ en mode hybride. Le mode

hybride est le mode qui possède des composantes axiales des deux champs électrique et

magnétique.
[CEI 61338-1-1]
3.39
capacité d’entrée (résonateur à OAS à deux portes)

C
entrée
capacité qui shunte la porte d’entrée du circuit équivalent du résonateur
[CEI 61019-1-1]
3.40
affaiblissement d’insertion (résonateur à OAS à deux portes)
rapport logarithmique de la puissance transmise à l’impédance de charge avant et après
l’insertion du résonateur
[CEI 61019-1-1]
3.41
transducteur interdigité
TID
transducteur à onde acoustique de surface (OAS) constitué par une structure conductrice en
forme de peigne déposée sur les faces d’un substrat piézoélectrique transformant l’énergie
électrique en énergie acoustique ou réciproquement
[VEI 561-06-09, modifiée]
3.42
niveau d’excitation
mesure des conditions de fonctionnement imposées au résonateur s’exprimant par la
puissance dissipée. Dans les cas spéciaux, le niveaux d’excitation peut être exprimé par
le courant dans le résonateur ou la tension aux bornes du résonateur.
NOTE Dans les cas spéciaux, le niveau d'excitation peut être exprimé par le courant dans le résonateur ou la
tension aux bornes du résonateur.
[CEI 61019-1-1]
3.43
capacité de charge
C
L
capacité externe effective associée au résonateur et qui détermine la fréquence de résonance
à la charge f
L
[CEI 60122-1, modifiée]
3.44
résistance de résonance avec capacité de charge
R
L
résistance équivalente d’un résonateur piézoélectrique en série avec une capacité de charge,
définie à la fréquence de résonance avec capacité de charge f
L
[VEI 561-02-30]
TS 61994-1  IEC:2003 – 19 –
3.38
hybrid mode dielectric resonator
dielectric resonator characterised by a hybrid mode field distribution. Hybrid mode is the mode

which has axial components both of the electric and magnetic fields.

[IEC 61338-1-1]
3.39
input capacitance (2-port SAW resonator)

C
input
the capacitance which shunts the input port of the resonator equivalent circuit

[IEC 61019-1-1]
3.40
insertion attenuation (2-port SAW resonator)
the logarithmic ratio of the power delivered to the load impedance before and after insertion of
the resonator
[IEC 61019-1-1]
3.41
interdigital transducer
IDT
SAW transducer made of a comb-like conductive structure deposited on a piezoelectric
substrate transforming electrical energy into acoustic energy or vice versa
[IEV 561-06-09, modified]
3.42
level of drive
a measure of the operating conditions imposed upon the resonator expressed in terms of
power dissipated
NOTE In special cases, the level of drive may be specified in terms of resonator current or voltage.
[IEC 61019-1-1]
3.43
load capacitance
C
L
the effective external capacitance associated with the resonator, which determines the load

resonance frequency f
L
[IEC 60122-1, modified]
3.44
load resonance resistance
R
L
the equivalent resistance of a piezoelectric resonator in series with a stated load capacitance
at the load resonance frequency f
L
[IEV 561-02-30, modified]
– 20 – TS 61994-1  CEI:2003
3.45
fréquence de résonance avec capacité de charge

f
L
une des deux fréquences d’un résonateur piézoélectrique associé, dans des conditions

spécifiées, à une capacité de charge en série ou en parallèle, à laquelle la combinaison est
équivalente à une résistance pure

[VEI 561-02-12, CEI 60122-1, modifiée]

NOTE La fréquence qui est la plus basse des deux fréquences lorsque la capacité de charge est en série et est la
plus élevée lorsqu’elle est en parallèle.

3.46
plage de décalage de la fréquence de résonance à la charge
Δf ≅ f − f
L L r
où
f est la fréquence de résonance;
r
f est la fréquence de résonance avec capacité de charge.
L
[CEI 60122-1, modifiée]
3.47
facteur de qualité en charge
Q
L
facteur de qualité réel pour le circuit entier, incluant toutes les pertes d’énergie du résonateur
et du circuit externe
[CEI 61338-1-1, modifiée]
3.48
charge massique (résonateur à OAS)
perturbation dans la propagation de l’OAS provoquée par la masse du revêtement de la
surface du substrat
[CEI 61019-1-1]
3.49
réseau des bandes métalliques
discontinuité périodique réalisée par des bandes métalliques électriquement à circuit ouvert ou
court-circuitées produisant des perturbations électriques et de la charge massique

[CEI 61019-1-1]
3.50
résonateur en ligne à microruban
résonateur diélectrique caractérisé par la distribution de champ en mode TEM. Sa structure est
un guide de ligne à microruban de longueur finie.
[CEI 61338-1-1]
3.51
mode de vibration
configuration du mouvement dans un corps vibrant, résultant de contraintes appliquées à ce
corps, de la fréquence de l’oscillation et des conditions aux limites

TS 61994-1  IEC:2003 – 21 –
3.45
load resonance frequency
f
L
one of the two frequencies of a piezoelectric resonator in association with a series or parallel
load capacitance, under specified conditions, at which the electrical impedance of the
combination is resistive
[IEV 561-02-12, IEC 60122-1, modified]

NOTE This frequency is the lower of the two frequencies when the load capacitance is in series and the higher
when it is in parallel.
3.46
load resonance frequency offset
Δf ≅ f − f
L L r
where
f is the resonance frequency;
r
f is the load resonance frequency.
L
[IEC 60122-1, modified]
3.47
loaded quality factor
Q
L
actual quality factor for an entire circuit, including all energy losses both in the resonator and in
the external circuit
[IEC 61338-1-1, modified]
3.48
mass loading (SAW resonator)
a perturbation in the SAW propagation caused by the mass of an overlay on the substrate
surface
[IEC 61019-1-1]
3.49
metal strip array
a periodic discontinuity realised by electrically short- or open-circuit metal strips providing
electrical and mass-loaded perturbations

[IEC 61019-1-1]
3.50
microstripline resonator
dielectric resonator characterised by a TEM mode field distribution. The structure is a
microstripline waveguide of finite length.
[IEC 61338-1-1]
3.51
mode of vibration
the pattern of motion in a vibrating body resulting from stresses applied to the body, the
frequency of oscillation and the existing boundary conditions

– 22 – TS 61994-1  CEI:2003
NOTE Les modes de vibration les plus généralement utilisés sont:

1) pour les résonateurs en cristal

– les modes de flexion
– les modes de torsion
– les modes d’extension
– les modes de cisaillement plan

– les modes de cisaillement d’épaisseur

2) pour les résonateurs en céramique

– les modes radiaux
– les modes de cisaillement d’épaisseur.

[VEI 561-02-01, modifiée]
3.52
ca
...