IEC 60191-1:2018

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices

IEC 60191-1:2018 gives guidelines on the preparation of outline drawings of discrete devices, including discrete surface-mounted semiconductor devices with lead count less than 8.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) the Scope has been extended to include surface-mounted semiconductor devices with a lead count less than 8;
b) a definition of the term "stand-off" has been added;
c) the methods for locating the datum have been extended to be suitable for SMD-packages;
d) the visual identification of terminal position one for automatic handling has been clarified;
e) the rules for the drawing of terminals have been clarified;
f) Table A.1 has been completed with symbols specifically for SMD-packages;
g) Annex B "Standardization philosophy" has been deleted;
h) a normative Annex with special rules for SMD-packages has been added;
i) the examples of semiconductor device drawings have been aligned to state-of-the-art packages including SMD-packages.

Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs - Partie 1: Règles générales pour la préparation des dessins d’encombrement des dispositifs discrets

L’IEC 60191-1:2018 donne des lignes directrices pour la préparation des dessins d’encombrement des dispositifs discrets, comprenant les dispositifs discrets à semiconducteurs pour montage en surface dont le nombre de connexions est inférieur à 8.
Il convient également de se référer à l’IEC 60191-6 pour la préparation des dessins d’encombrement des dispositifs discrets pour montage en surface dont le nombre de connexions est supérieur ou égal à 8.
L’objectif principal de ces dessins consiste à indiquer l’espace à octroyer aux dispositifs dans un équipement, ainsi que d’autres caractéristiques dimensionnelles exigées pour assurer une interchangeabilité mécanique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:  
le domaine d’application a été étendu pour couvrir les dispositifs à semiconducteurs pour montage en surface dont le nombre de connexions est inférieur à 8;
une définition du terme "élévation" a été ajoutée;
les méthodes de positionnement de la référence spécifiée ont été étendues pour englober les boîtiers des composants pour montage en surface (CMS);
l’identification visuelle de la position de broche no 1, dans le cadre des procédures de manipulation automatique, a été clarifiée;
les règles de représentation des broches ont été clarifiées;
le Tableau A.1 a été complété avec des symboles spécifiquement destinés aux boîtiers CMS;
l’Annexe B "Concept de normalisation" a été supprimée;
une annexe normative avec des règles spécifiques aux boîtiers CMS a été ajoutée;
les exemples de dessins de dispositifs à semiconducteurs ont été alignés sur l’état de l’art des boîtiers, en englobant les boîtiers CMS.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 22-Jan-2018
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 31.080.01 - Semiconductor devices in general
• Technical Committee: SC 47D - Semiconductor devices packaging
• Drafting Committee: WG 2 - TC 47/SC 47D/WG 2
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 16-Feb-2018
• Completion Date: 23-Jan-2018

Standards Content (Sample)

IEC 60191-1
®

Edition 3.0 2018-01
INTERNATIONAL
STANDARD



Mechanical standardization of semiconductor devices –
Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
IEC 60191-1:2018-01(en)

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– 2 – IEC 60191-1:2018  IEC 2018
CONTENTS
FOREWORD . 4
1 Scope . 6
2 Normative references . 6
3 Terms and definitions . 7
4 General rules for all drawings . 8
4.1 Drawing layout . 8
4.2 Dimensions and tolerances . 9
4.3 Methods for locating the datum . 10
4.4 Numbering of terminals . 11
4.4.1 General .
...

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INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE


Mechanical standardization of semiconductor devices –
Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices

Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs –
Partie 1: Règles générales pour la préparation des dessins d’encombrement
des dispositifs discrets

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