ISO 25178-3:2012

Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 3: Specification operators

This part of ISO 25178 specifies the complete specification operator for surface texture (scale limited surfaces) by areal methods.

Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Surfacique — Partie 3: Opérateurs de spécification

La présente partie de l'ISO 25178 spécifie l'opérateur de spécification complet pour l'état de surface (surfaces à échelle limitée) par des méthodes surfaciques.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 26-Jun-2012
• ICS: 17.040.20 - Properties of surfaces
• Technical Committee: ISO/TC 213 - Dimensional and geometrical product specifications and verification
• Drafting Committee: ISO/TC 213/WG 16 - Areal and profile surface texture
• Current Stage: 9093 - International Standard confirmed
• Completion Date: 17-Apr-2023

Standards Content (Sample)

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 25178-3
First edition
2012-07-01
Geometrical product specifications
(GPS) — Surface texture: Areal —
Part 3:
Specification operators
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:
Surfacique —
Partie 3: Opérateurs de spécification
Reference number
ISO 25178-3:2012(E)
©
ISO 2012

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ISO 25178-3:2012(E)
COPYRIGHT PROTECTED DOCUMENT
© ISO 2012
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
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member body in the country of the requester.
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Published in Switzerland
ii © ISO 2012 – All rights reserved

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ISO 25178-3:2012(E)
Contents Page
Foreword .iv
Introduction . v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Complete specification operator . 2
4.1 General . 2
4.2 Method of extraction . 2
4.3 Association method . 6
4.4 Filtration . 6
4.5 Definition area . 7
5 General information . 7
Annex A (informative) Decision tree for complete specification operator . 8
Annex B (normative) Default attribute values for parameters from ISO 25178-2 . 9
Annex C (normative) Default units for parameters from ISO 25178-2 . 11
Annex D (informative) Relationship with surface texture profile parameters .14
Annex E (informative) Relation to the GPS matrix model .16
Bibliography .18
© ISO 2012 – All rights reserved iii

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ISO 25178-3:2012(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies
(ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been
established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and
non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International
Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 2.
The main task of technical committees is to prepare International Standards. Draft International Standards
adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an
International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent
rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
ISO 25178-3 was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product
specifications and verification.
ISO 25178 consists of the following parts, under the general title Geometrical product specifications (GPS) —
Surface texture: Areal:
— Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters
— Part 3: Specification operators
— Part 6: Classification of methods for measuring surface texture
— Part 70: Physical measurement standards
— Part 71: Software measurement standards
— Part 601: Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
— Part 602: Nominal characteristics of non-contact (confocal chromatic probe) instruments
— Part 603: Nominal characteristics of non-contact (phase-shifting interferometric microscopy) instruments
— Part 604: Nominal characteristics of non-contact (coherence scanning interferometry) instruments
— Part 701: Calibration and measurement standards for contact (stylus) instruments
The following parts are under preparation:
— Part 1: Indication of surface texture
— Part 605: Nominal characteristics of non-contact (point autofocus probe) instruments
— Part 606: Nominal characteristics of non-contact (focus variation) instruments
iv © ISO 2012 – All rights reserved

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ISO 25178-3:2012(E)
Introduction
This part of ISO 25178 is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general
GPS standard (see ISO/TR 14638). It influences the chain link 3 of the chains of standards on areal surface texture.
The ISO/GPS Masterplan given in ISO/TR 14638 gives an overview of the ISO/GPS system of which this
document is a part. The fundamental rules of ISO/GPS given in ISO 8015 apply to this document and the
default decision rules given in ISO 14253-1 apply to specifications made in accordance with this document,
unless otherwise indicated.
For more detailed information on the relation of this part of ISO 25178 to the GPS matrix model, see Annex E.
This part of ISO 25178 specifies the specification operators according to ISO 17450-2.
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INTERNATIONAL STANDARD ISO 25178-3:2012(E)
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture:
Areal —
Part 3:
Specification operators
1 Scope
This part of ISO 25178 specifies the complete specification operator for surface texture (scale limited surfaces)
by areal methods.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this standard. For dated references,
only the cited editions apply. For undated references, the latest edition of the referenced document (including
any amendments) applies.
ISO 14406:2010, Geometrical Product Specifications (GPS) — Extraction
ISO 14660-1:1999, Geometrical Product Specifications (GPS) — Geometrical features — Part 1: General
terms and definitions
ISO/TS 16610-1:2006, Geometrical Product Specifications (GPS) — Filtration — Part 1: Overview and
basic concepts
ISO 16610-21:2011, Geometrical product specifications (GPS) — Filtration — Part 21: Linear profile filters:
Gaussian filters
ISO 17450-1:2011, Geometrical Product Specifications (GPS) — General concepts — Part 1: Model for
geometrical specification and verification
1)
ISO 17450-2:— , Geometrical Product Specifications (GPS) — General concepts — Part 2: Basic tenets,
specifications, operators, uncertainties and ambiguities
ISO 25178-2:2012, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 2: Terms.
definitions and surface texture parameters
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given ISO 14660-1, ISO 16610-1, ISO/TS 14406,
ISO 17450-1, ISO 17450-2 and ISO 25178-2 and the following apply.
3.1
lateral period limit
spatial period of a sinusoidal profile at which the optical response falls to 50 %
NOTE The lateral period limit depends on the heights of surface features and the optical method used to probe the surface.
1) To be published.
© ISO 2012 – All rights reserved 1

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ISO 25178-3:2012(E)
4 Complete specification operator
4.1 General
The complete specification operator (see ISO 17450-2) consists of all the operations required for an unambiguous
specification. It consists of a full set of unambiguous specification operations in an unambiguous order. For
areal surface texture, the complete specification operator defines the type of surface, method of extraction,
association method and filtration for surface texture by areal methods.
If form error is to be included in the measurand, then a S-F surface shall be specified; otherwise, an S-L
surface shall be specified.
4.2 Method of extraction
4.2.1 Evaluation area
4.2.1.1 General
The evaluation area consists of a rectangular portion of the surface over which an extraction is made.
The orientation of the evaluation area shall be controlled by the specification.
NOTE 1 If the nesting index is the same in orthogonal directions, then the orientation does not matter.
NOTE 2 The orientation of the evaluation area is typically influenced by the form; this means that the sides of the
rectangular area are parallel/orthogonal to the nominal geometry (e.g. cylinder axis, sides of a rectangular flat, etc.).
4.2.1.2 S-F surface
For an S-F surface, if not otherwise specified, the evaluation area shall be a square.
If the F-operation is a filtration operation, then the length of the sides of the square evaluation area is the same
length as the filter “nesting index”.
If the F-operation is an association operation, then the length of the side of the square evaluation area is used
as a substitute for the F-operation nesting index value. This chosen value for the F-operation nesting index is
used for all subsequent operations.
The value of the nesting index for the F-operation is normally chosen from the following series:
...; 0,1 mm; 0,2 mm; 0,25 mm; 0,5 mm; 0,8 mm; 1,0 mm; 2,0 mm; 2,5 mm; 5,0 mm; 8,0 mm; 10 mm; ...
NOTE 1 An example of an F-operation with a nesting index is a spline filter. The total least squares fit of the nominal
form is an example of an F-operation without a predefined nesting index.
NOTE 2 The value of the F-operation nesting index is typically chosen to be five times the scale of the coarsest
structure of interest.
4.2.1.3 S-L surface
For an S-L surface, if not otherwise specified, the evaluation area shall be a square whose sides are the same
length as the L-filter nesting index value.
The value of the nesting index for the L-filter is normally chosen from the following series:
...., 0,1 mm; 0,2 mm; 0,25 mm; 0,5 mm; 0,8 mm; 1,0 mm; 2,0 mm;2,5 mm; 5,0 mm; 8,0 mm; 10 mm; ...
NOTE The value of the L-filter nesting index is typically five times the scale of the coarsest structure of interest.
2 © ISO 2012 – All rights reserved

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ISO 25178-3:2012(E)
4.2.2 Type of surface
The default surface is the mechanical surface (see ISO 14406) obtained with a radius chosen in accordance
with the F-operation or L-filter and S-filter nesting index values given in Tables 1 and 2.
© ISO 2012 – All rights reserved 3

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ISO 25178-3:2012(E)
Table 1 — Relationships between the F-operation or L-filter and S-filter nesting index values and the
bandwidth ratio
F-operation or S-filter nesting index Approximate bandwidth ratio between
L-filter nesting value the
index value F-operation or L-filter and S-filter
nesting index values
mm mm
…   …    …
   0,001    100:1
   0,000 5    200:1
0,1
   0,000 2    500:1
   0,000 1   1 000:1
   0,002    100:1
   0,001    200:1
0,2
   0,000 5    400:1
   0,000 2   1 000:1
   0,002 5    100:1
0,25   0,000 8    300:1
   0,000 25   1 000:1
   0,005    100:1
   0,002    250:1
0,5
   0,001    500:1
   0,000 5   1 000:1
   0,008    100:1
0,8   0,002 5    300:1
   0,000 8   1 000:1
   0,01    100:1
   0,005    200:1
1
   0,002    500:1
   0,001   1 000:1
   0,02    100:1
   0,01    200:1
2
   0,005    400:1
   0,002   1 000:1
   0,025    100:1
2,5   0,008    300:1
   0,002 5   1 000:1
   0,05    100:1
   0,02    250:1
5
   0,01     500:1
   0,005   1 000:1
   0,08     100:1
8   0,025    300:1
   0,008   1 000:1
…   …    …
4 © ISO 2012 – All rights reserved

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ISO 25178-3:2012(E)
4.2.3 S-filter
4.2.3.1 General
The default S-filter is an areal Gaussian filter. The value of the S-filter nesting index (cut-off) (see ISO/TS 16610-
1) in the x-direction/y-direction is normally chosen from the following series:
...., 0,000 5 mm; 0,000 8 mm; 0,001 mm; 0,002 mm; 0,002 5 mm; 0,005 mm; 0,008 mm; 0,01 mm; ...
4.2.3.2 S-filter relationships for mechanical surfaces
For mechanical surfaces, the maximum values for the sampling distance and sphere radius are calculated from
the value of the S-filter nesting index, as given in Table 2.
Table 2 — Relationships between S-filter nesting index value, sampling distance and sphere radius
for mechanical surface
S-filter nesting index value Maximum sampling Maximum sphere
distance radius
mm mm mm
   .   .   .
   0,000 1   0,000 02   0,000 07
   0,000 2   0,000 04   0,000 14
   0,000 25   0,000 05   0,000 2
   0,000 5   0,000 1   0,000 35
   0,000 8   0,000 15   0,000 5
   0,001   0,000 2   0,000 7
   0,002   0,000 4   0,001 4
   0,002 5   0,000 5   0,002
   0,005   0,001   0,003 5
   0,008   0,001 5   0,005
   0,01   0,002   0,007
   0,02   0,004   0,014
   0,025   0,005   0,02
   0,050   0,01   0,035
   0,08   0,015   0,05
   0,1   0,02   0,07
   0,2   0,04   0,14
   0,25   0,05   0,2
   .   .   .
NOTE 1 Starting with the value of the S-filter nesting index, the maximum sampling distance is calculated as a 5:1 ratio;
the maximum sphere ratio is calculated as an approximately 1,4:1 ratio with the S-filter nesting index value. These ratios
are consistent with those contained in ISO 3274:1996.
NOTE 2 The maximum sampling distances in Table 2 are considered ideal and may not be attainable for a given
surface and instrument type combination.
4.2.3.3 S-filter relationships for optical surfaces
For optical surfaces (electromagnetic surfaces), the maximum values for the sampling distance and l
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 25178-3
Première édition
2012-07-01
Spécification géométrique des produits
(GPS) — État de surface: Surfacique —
Partie 3:
Opérateurs de spécification
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal —
Part 3: Specification operators
Numéro de référence
ISO 25178-3:2012(F)
©
ISO 2012

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ISO 25178-3:2012(F)
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2012
Droits de reproduction réservés. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous
quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord écrit
de l’ISO à l’adresse ci-après ou du comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
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Tel. + 41 22 749 01 11
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Publié en Suisse
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ISO 25178-3:2012(F)
Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction . v
1 Domaine d’application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions .1
4 Opérateur de spécification complet .2
4.1 Généralités .2
4.2 Méthode d’extraction .2
4.3 Méthode d’association .6
4.4 Filtrage .6
4.5 Domaine de définition .7
5 Informations générales .7
Annexe A (informative) Arbre de décision de l’opérateur de spécification complet .8
Annexe B (normative) Valeurs d’attribut par défaut des paramètres de l’ISO 25178-2 .9
Annexe C (normative) Unités par défaut des paramètres de l’ISO 25178-2.11
Annexe D (informative) Relation avec les paramètres de profil de l’état de surface .13
Annexe E (informative) Relation avec la matrice GPS .15
Bibliographie .17
© ISO 2012 – Tous droits réservés iii

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ISO 25178-3:2012(F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes nationaux de
normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité
technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales,
en liaison avec l’ISO participent également aux travaux. L’ISO collabore étroitement avec la Commission
électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les Normes internationales sont rédigées conformément aux règles données dans les Directives ISO/CEI, Partie 2.
La tâche principale des comités techniques est d’élaborer les Normes internationales. Les projets de Normes
internationales adoptés par les comités techniques sont soumis aux comités membres pour vote. Leur publication
comme Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des comités membres votants.
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de droits
de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir
identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence.
L’ISO 25178-3 a été élaborée par le comité technique ISO/TC 213, Spécifications et vérification dimensionnelles
et géométriques des produits.
L’ISO 25178 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface: Surfacique:
— Partie 2: Termes, définitions et paramètres d’états de surface
— Partie 3: Opérateurs de spécification
— Partie 6: Classification des méthodes de mesurage de l’état de surface
— Partie 70: Étalons de mesure physiques
— Partie 71: Étalons logiciels
— Partie 601: Caractéristiques nominales des instruments à contact (à palpeur)
— Partie 602: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à capteur confocal chromatique)
— Partie 603: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (microscopes interférométriques à
glissement de franges)
— Partie 604: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à interférométrie par balayage à
cohérence)
— Partie 701: Étalonnage et étalons de mesure pour les instruments à contact (à palpeur)
Les parties suivantes sont en cours d’élaboration:
— Partie 1: Indication des états de surface
— Partie 605: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à capteur autofocus à point)
— Partie 606: Caractéristiques nominales des instruments sans contact (à variation focale)
iv © ISO 2012 – Tous droits réservés

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ISO 25178-3:2012(F)
Introduction
La présente partie de l’ISO 25178 est une norme de spécification géométrique des produits (GPS) qui doit être
considérée comme une norme GPS générale (voir l’ISO/TR 14638). Elle influence le maillon de la chaîne 3 de
toutes les chaînes de normes relatives à l’état de surface.
Le schéma directeur ISO/GPS de l’ISO/TR 14638 donne une vue d’ensemble du système ISO/GPS, dont
le présent document fait partie. Les principes fondamentaux du système ISO/GPS donnés dans l’ISO 8015
s’appliquent au présent document et les règles de décision par défaut données dans l’ISO 14253-1 s’appliquent
aux spécifications faites conformément au présent document, sauf indication contraire.
Pour de plus amples informations sur les relations de la présente partie de l’ISO 25178 avec la matrice GPS,
voir l’Annexe E.
La présente partie de l’ISO 25178 spécifie les opérateurs de spécification conformément à l’ISO 17450-2.
© ISO 2012 – Tous droits réservés v

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NORME INTERNATIONALE ISO 25178-3:2012(F)
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de
surface: Surfacique —
Partie 3:
Opérateurs de spécification
1 Domaine d’application
La présente partie de l’ISO 25178 spécifie l’opérateur de spécification complet pour l’état de surface (surfaces
à échelle limitée) par des méthodes surfaciques.
2 Références normatives
Les documents de référence suivants sont indispensables pour l’application de la présente norme. Pour les
références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les références non datées, la dernière édition du
document de référence s’applique (y compris les éventuels amendements).
ISO 14406:2010, Spécification géométrique des produits (GPS) — Extraction
ISO 14660-1:1999, Spécification géométrique des produits (GPS) — Éléments géométriques — Partie 1:
Termes généraux et définitions
ISO/TS 16610-1:2006, Spécification géométrique des produits (GPS) — Filtrage — Partie 1: Vue d’ensemble
et concepts de base
ISO 16610-21:2011, Spécification géométrique des produits (GPS) — Filtrage — Partie 21: Filtres de profil
linéaires: Filtres gaussiens
ISO 17450-1:2011, Spécification géométrique des produits (GPS) — Concepts généraux — Partie 1: Modèle
pour la spécification et la vérification géométriques
1)
ISO 17450-2:—
, Spécification géométrique des produits (GPS) — Concepts généraux — Partie 2: Principes
de base, spécifications, opérateurs, incertitudes et ambiguïtés
ISO 25178-2:2012, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Surfacique — Partie 2:
Termes, définitions et paramètres d’états de surface
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l’ISO 14660-1, l’ISO/TS 16610-1,
l’ISO 14406, l’ISO 17450-1 l’ISO 17450-2 et l’ISO 25178-2 ainsi que les suivants s’appliquent.
3.1
période latérale limite
période spatiale d’un profil sinusoïdal pour lequel la réponse optique descend à 50 %
NOTE La période latérale limite dépend des hauteurs des éléments de la surface et de la méthode utilisée pour
palper celle-ci.
1) À publier.
© ISO 2012 – Tous droits réservés 1

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ISO 25178-3:2012(F)
4 Opérateur de spécification complet
4.1 Généralités
L’opérateur de spécification complet (voir l’ISO 17450-2) comprend toutes les opérations requises pour une
spécification non ambiguë. Il comprend un ensemble complet d’opérations de spécification non ambiguës
dans un ordre non ambigu. Dans le cas de l’état de surface surfacique, l’opérateur de spécification complet
définit le type de surface, la méthode d’extraction, la méthode d’association et le filtrage de l’état de surface
par des méthodes surfaciques.
Si une erreur de forme doit être comprise dans le mesurande, une surface S-F doit être spécifiée; sinon, une
surface S-L doit être spécifiée.
4.2 Méthode d’extraction
4.2.1 Domaine d’évaluation
4.2.1.1 Généralités
Le domaine d’évaluation comprend une partie rectangulaire de la surface sur laquelle est réalisée une extraction.
L’orientation du domaine d’évaluation doit être contrôlée par la spécification.
NOTE 1 Dans le cas d’un indice d’imbrication identique pour les directions orthogonales, l’orientation n’a pas d’influence.
NOTE 2 L’orientation de la surface d’évaluation est en général influencée par la forme, ce qui veut dire que les côtés de
la surface rectangulaire sont parallèles/orthogonaux à la géométrie nominale (par exemple l’axe d’un cylindre, les côtés
d’une plaque rectangulaire, etc.)
4.2.1.2 Surface S-F
Dans le cas d’une surface S-F, sauf spécification contraire, le domaine d’évaluation doit être un carré.
Si l’opération F est une opération de filtrage, alors la longueur du côté de la surface d’évaluation carrée doit
être la même que «l’indice d’imbrication» du filtre.
Si l’opération F est une opération d’association, alors la longueur du côté de la surface d’évaluation carrée est
utilisée comme substitut de la valeur de l’indice d’imbrication de l’opération F. Cette valeur choisie de l’indice
d’imbrication de l’opération F est utilisée pour toutes les opérations subséquentes.
La valeur de l’indice d’imbrication de l’opération F est normalement choisie dans la série suivante:
...; 0,1 mm; 0,2 mm; 0,25 mm; 0,5 mm; 0,8 mm; 1,0 mm; 2,0 mm; 2,5 mm; 5,0 mm; 8,0 mm; 10 mm; ...
NOTE 1 Le filtre spline est un exemple d’opération F avec indice d’imbrication. L’ajustement complet aux moindres
carrés de la forme nominale est un exemple d’opération F sans indice d’imbrication prédéfini.
NOTE 2 La valeur de l’indice d’imbrication de l’opération F est généralement choisie pour être à cinq fois l’échelle de
la structure la plus grossière considérée.
4.2.1.3 Surface S-L
Dans le cas d’une surface S-L, sauf spécification contraire, le domaine d’évaluation doit être un carré dont les
côtés doivent avoir la même longueur que la valeur de l’indice d’imbrication du filtre L.
La valeur de l’indice d’imbrication par défaut du filtre L est normalement choisie dans la série suivante:
...., 0,1 mm; 0,2 mm; 0,25 mm; 0,5 mm; 0,8 mm; 1,0 mm; 2,0 mm; 2,5 mm; 5,0 mm; 8,0 mm; 10 mm; ...
NOTE La valeur de l’indice d’imbrication du filtre L est généralement égale à cinq fois l’échelle de la structure la plus
grossière considérée.
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ISO 25178-3:2012(F)
4.2.2 Type de surface
La surface par défaut est la surface mécanique (voir l’ISO 14406) obtenue avec un rayon choisi conformément
aux valeurs de l’indice d’imbrication de l’opération F ou du filtre L et du filtre S données dans les Tableaux 1 et 2.
4.2.3 Filtre S
4.2.3.1 Généralités
Le filtre S par défaut est un filtre gaussien surfacique. La valeur par défaut de l’indice d’imbrication du filtre S
(coupure) (voir l’ISO/TS 16610-1) dans la direction x ou la direction y est normalement choisie dans la série suivante:
...., 0,000 5 mm; 0,000 8 mm; 0,001 mm; 0,002 mm; 0,002 5 mm; 0,005 mm; 0,008 mm; 0,01 mm; ...
Tableau 1 — Relation entre les valeurs de l’indice d’imbrication de l’opération F ou
du filtre L et du filtre S, et le rapport de bande passante
Rapport approximatif de bande
Valeur de l’indice
Valeur de l’indice passante entre les valeurs
d’imbrication de
d’imbrication de l’indice d’imbrication de
l’opération F ou
du filtre S l’opération F ou du filtre L et
du filtre L
du filtre S
mm mm
… … …
0,001 100:1
0,000 5 200:1
0,1
0,000 2 500:1
0,000 1 1 000:1
0,002 100:1
0,001 200:1
0,2
0,000 5 400:1
0,000 2 1 000:1
0,002 5 100:1
0,25 0,000 8 300:1
0,000 25 1 000:1
0,005 100:1
0,002 250:1
0,5
0,001 500:1
0,000 5 1 000:1
0,008 100:1
0,8 0,002 5 300:1
0,000 8 1 000:1
0,01 100:1
0,005 200:1
1
0,002 500:1
0,001 1 000:1
0,02 100:1
0,01 200:1
2
0,005 400:1
0,002 1 000:1
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ISO 25178-3:2012(F)
Tableau 1 (suite)
Rapport approximatif de bande
Valeur de l’indice
Valeur de l’indice passante entre les valeurs
d’imbrication de
d’imbrication de l’indice d’imbrication de
l’opération F ou
du filtre S l’opération F ou du filtre L et
du filtre L
du filtre S
mm mm
0,025 100:1
2,5 0,008 300:1
0,002 5 1 000:1
0,05 100:1
0,02 250:1
5
0,01 500:1
0,005 1 000:1
0,08 100:1
8 0,025 300:1
0,008 1 000:1
… … …
4.2.3.2 Relation du filtre S pour les surfaces mécaniques
Pour les surfaces mécaniques, les valeurs maximales de la distance d’échantillonnage et du rayon de la
sphère sont calculées à partir de la valeur de l’indice d’imbrication du filtre S comme indiqué dans le Tableau 2.
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Tableau 2 — Relation entre la valeur de l’indice d’imbrication du filtre S, la distance
d’échantillonnage et le rayon de la sphère pour les surfaces mécaniques
Valeur de l’indice Distance maximale Rayon maximal
d’imbrication du filtre S d’échantillonnage de la sphère
mm mm mm
... ... ...
0,000 1 0,000 02 0,000 07
0,000 2 0,000 04 0,000 14
0,000 25 0,000 05 0,000 2
0,000 5 0,000 1 0,000 35
0,000 8 0,000 15 0,000 5
0,001 0,000 2 0,000 7
0,002 0,000 4 0,001 4
0,002 5 0,000 5 0,002
0,005 0,001 0,003 5
0,008 0,001 5 0,005
0,01 0,002 0,007
0,02 0,004 0,014
0,025 0,005 0,02
0,050 0,01 0,035
0,08 0,015 0,05
0,1 0,02 0,07
0,2 0,04 0,14
0,25 0,05 0,2
... ... ...
NOTE 1 À partir de la valeur de l’indice d’imbrication du filtre S, la distance maximale de l’échantillonnage est calculée
comme un rapport de 5:1, le rapport maximal de la sphère est calculé comme approchant un rapport 1,4:1 par rapport à
la valeur de l’indice d’imbrication du filtre S. Ces rapports sont cohérents avec ceux donnés dans l’ISO 3274:1996.
NOTE 2 Les distances maximales d’échantillonnage dans le Tableau 2 sont considérées comme idéales et peuvent ne
pas être atteintes pour une surface donnée et une combinaison type d’instruments.
4.2.3.3 Relation du filtre S pour les surfaces optiques
Pour les surfaces optiques (surfaces électromagnétiques), les valeurs maximales de la distance
d’échantillonnage et de la période latérale limite sont fonction de la valeur de l’indice d’imbrication du filtre S
comme indiqué dans le Tableau 3.
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ISO 25178-3:2012(F)
Tableau 3 — Relations entre la valeur de l’indice d’imbrication du filtre S, la distance
d’échantillonnage et la pér
...