ISO 23243:2020
(Main)Non-destructive testing — Ultrasonic testing with arrays — Vocabulary
Non-destructive testing — Ultrasonic testing with arrays — Vocabulary
This document defines terms used in ultrasonic testing with arrays. This includes phased array technology and signal processing technology using arrays, e. g. the full-matrix capture (FMC) (3.3.1.28) and the total focusing technique (TFM) (3.3.1.35).
Essais non destructifs — Contrôle à l’aide de réseaux ultrasonores — Vocabulaire
Le présent document définit les termes utilisés pour le contrôle à l'aide de réseaux ultrasonores. Ceci inclut la technologie multiélément et la technologie de traitement du signal à l'aide de réseaux, par exemple l'acquisition de la matrice complète (FMC) (3.3.1.28) et la technique de focalisation en tous points (FTP) (3.3.1.35).
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INTERNATIONAL ISO
STANDARD 23243
First edition
2020-11
Non-destructive testing — Ultrasonic
testing with arrays — Vocabulary
Essais non destructifs — Contrôle à l’aide de réseaux ultrasonores —
Vocabulaire
Reference number
ISO 23243:2020(E)
©
ISO 2020
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ISO 23243:2020(E)
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Published in Switzerland
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ISO 23243:2020(E)
Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
3.1 Terms related to sound . 1
3.2 Terms related to the test equipment . 1
3.2.1 Probes. 1
3.2.2 Instruments .10
3.3 Terms related to testing .11
3.3.1 Testing techniques .11
3.3.2 Signals, presentations and indications .16
3.3.3 Evaluation of indications .19
Bibliography .20
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ISO 23243:2020(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www .iso .org/
iso/ foreword .html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 135, Non-destructive testing, Subcommittee
SC 3, Ultrasonic testing, in collaboration with the European Committee for Standardization (CEN)
Technical Committee CEN/TC 138, Non-destructive testing, in accordance with the Agreement on
technical cooperation between ISO and CEN (Vienna Agreement).
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
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ISO 23243:2020(E)
Introduction
This document follows a structure similar to that in ISO 5577 but only takes into account terms related
to ultrasonic arrays.
The general terms already defined in ISO 5577 are also valid for ultrasonic arrays.
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INTERNATIONAL STANDARD ISO 23243:2020(E)
Non-destructive testing — Ultrasonic testing with arrays —
Vocabulary
1 Scope
This document defines terms used in ultrasonic testing with arrays. This includes phased array
technology and signal processing technology using arrays, e. g. the full-matrix capture (FMC) (3.3.1.28)
and the total focusing technique (TFM) (3.3.1.35).
2 Normative references
There are no normative references in this document.
3 Terms and definitions
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at http:// www .electropedia .org/
3.1 Terms related to sound
3.1.1
main lobe
main beam
sound beam in the intended direction, typically with the highest pressure within the sound field
Note 1 to entry: This applies to conventional and array probes (3.2.1.3).
3.1.2
side lobe
part of the sound field which corresponds to a local maximum in the far field, deviating from the
direction of the main lobe (3.1.1) and typically lower in amplitude
Note 1 to entry: This applies to conventional and array probes (3.2.1.3).
3.1.3
grating lobe
parasitic replication of the main lobe (3.1.1) caused by spatial undersampling (low ratio between
wavelength and pitch (3.2.1.16)), deviating from the direction of the main lobe and possibly of similar
amplitude
Note 1 to entry: This applies to array probes (3.2.1.3) only.
3.2 Terms related to the test equipment
3.2.1 Probes
3.2.1.1
array
piezoelectric plate divided into several elements (3.2.1.2), which are acoustically and electrically
separated
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ISO 23243:2020(E)
3.2.1.2
array element
element
smallest part of the array (3.2.1.1) acting as a transducer
Note 1 to entry: See Figure 1.
Key
1 array element
2 wedge
α wedge angle
β natural refracted beam angle (3.2.1.26)
Figure 1 — Wedge and array with relevant parameters
3.2.1.3
array probe
probe with an array (3.2.1.1) of elements (3.2.1.2) for transmitting and/or receiving
3.2.1.4
arrangement of the array
spatial distribution of all the elements (3.2.1.2) in an array (3.2.1.1)
3.2.1.5
linear array
1-D-linear array
array (3.2.1.1) of elements (3.2.1.2) arranged in a single straight line allowing steering in one
direction (primary axis (3.2.1.18)) and focusing in the depth direction
Note 1 to entry: See Figure 2.
2 © ISO 2020 – All rights reserved
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ISO 23243:2020(E)
Key
X primary axis
Figure 2 — Linear array; 1-D-linear array
3.2.1.6
annular array
array (3.2.1.1) of ring-shaped elements (3.2.1.2) arranged concentrically allowing focusing in the depth
direction
Note 1 to entry: See Figure 3.
Figure 3 — Annular array
3.2.1.7
sectorial annular array
annular array (3.2.1.6) with the rings divided into sectors allowing steering in two directions and
focusing in the depth direction
Note 1 to entry: See Figure 4 and Figure 5.
Figure 4 — Sectorial annular array
© ISO 2020 – All rights reserved 3
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ISO 23243:2020(E)
Figure 5 — Partial sectorial annular array
3.2.1.8
1-D-curved array
array (3.2.1.1) arranged on a complete or partial cylinder, where the major transmitting axis is radial
Note 1 to entry: See Figure 6 and Figure 7.
Figure 6 — 1-D-curved array covering a complete circle
Figure 7 — 1-D-curved array covering part of a circle
4 © ISO 2020 – All rights reserved
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ISO 23243:2020(E)
3.2.1.9
convex array
1-D-curved array (3.2.1.8) typically used for the testing of tubes from the inside
3.2.1.10
concave array
1-D-curved array (3.2.1.8) typically used for the testing of tubes from the outside
3.2.1.11
dual-array probe
probe with separate arrays (3.2.1.1) for transmitting and receiving
Note 1 to entry: See Figure 8.
Figure 8 — Example of a dual-array probe
3.2.1.12
2-D-array
matrix array
array (3.2.1.1) of elements (3.2.1.2) arranged in a rectangular pattern allowing steering in both
directions (primary axis (3.2.1.18) and secondary axis (3.2.1.19)) and focusing in the depth direction
Note 1 to entry: See Figure 9 and Figure 10.
Key
X primary axis
Y secondary axis
Figure 9 — Example of a 2-D-matrix array
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ISO 23243:2020(E)
Key
X primary axis
Y secondary axis
Figure 10 — Axes of a 2-D-matrix array
3.2.1.13
sparse array
array (3.2.1.1) with a limited number of elements (3.2.1.2) distributed over a relatively large area, with
irregular distances between the elements, for example according to a Poisson-disk distribution
3.2.1.14
width of an element
dimension of the element (3.2.1.2) along the primary axis of an array (3.2.1.18)
Note 1 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
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ISO 23243:2020(E)
Key
a width of an element
b length of an element (3.2.1.15)
c pitch (3.2.1.16)
d space/gap between elements (3.2.1.17)
X primary axis
Figure 11 — Linear array
3.2.1.15
length of an element
dimension of the element (3.2.1.2) along the secondary axis of an array (3.2.1.19)
Note 1 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
3.2.1.16
pitch
distance between the same edges or between centres of two adjacent elements (3.2.1.2)
Note 1 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
3.2.1.17
space between elements
gap between elements
distance between two adjacent elements (3.2.1.2)
Note 1 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
3.2.1.18
primary axis of an array
primary axis
active direction
main axis for beam steering parallel to the width of the elements (3.2.1.14)
Note 1 to entry: See Figure 10 and Figure 11.
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ISO 23243:2020(E)
3.2.1.19
secondary axis of an array
secondary axis
passive direction
axis perpendicular to the primary axis (3.2.1.18)
Note 1 to entry: See Figure 10.
Note 2 to entry: Typically the term "passive direction" is only used for 1-D linear arrays (3.2.1.5) and 1-D curved
arrays (3.2.1.8).
3.2.1.20
reference point on the wedge
coordinates of the point on the wedge which is used to position a defined point of the array (3.2.1.1)
Note 1 to entry: Typically the distances from the reference point to the wedge contact surface and to the front of
the wedge are used.
3.2.1.21
active aperture
group of active elements (3.2.1.2) operated together when transmitting and/or receiving
3.2.1.22
elementary aperture
active aperture (3.2.1.21) made of only one element (3.2.1.2)
3.2.1.23
virtual probe
active aperture (3.2.1.21) operated with one delay law (3.2.2.12)
3.2.1.24
virtual source aperture
VSA
group of active elements (3.2.1.2) operated together during transmission using a delay law (3.2.2.12)
chosen to mimic a source at a virtual point
3.2.1.25
sensitivity curve of an array
representation of the sensitivity of each element (3.2.1.2) successively connected to the same channel
(3.2.2.1)
Note 1 to entry: Typically a flat reflector much larger than the aperture of the array (3.2.1.1) is used.
3.2.1.26
natural refracted beam angle
angle between the refracted beam axis and the normal to the interface without electronic beam steering
(3.3.1.13)
Note 1 to entry: See Figure 1.
Note 2 to entry: The natural refracted beam angle corresponds to the nominal probe angle (see ISO 5577) of a
conventional probe.
3.2.1.27
natural refracted beam
beam in the direction of the natural refracted beam angle (3.2.1.26)
[SOURCE: ISO 18563-3:2015, 3.6]
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ISO 23243:2020(E)
3.2.1.28
plane of natural refraction
deflection plane (3.2.1.29) without skewing (3.2.1.32) and without tilting (3.2.1.35)
Note 1 to entry: See Figure 12 a) and b).
a) Steering angle b) Skew angle c) Tilt angle
Key
1 plane of natural refraction (3.2.1.28)
2 test object
3 steering angle (3.2.1.30)
4 skew angle (3.2.1.33)
5 tilt angle (3.2.1.36)
6 deflection plane (3.2.1.29)
Figure 12 — Definitions of angles
3.2.1.29
deflection plane
plane in which electronic scanning (3.3.1.20) is performed
Note 1 to entry: See Figure 12.
3.2.1.30
steering angle
angle between the beam axis and the projection of the normal to the test surface on the deflection plane
(3.2.1.29)
Note 1 to entry: See Figure 12 a).
3.2.1.31
steering range
range of steering angles (3.2.1.30)
3.2.1.32
skewing
rotating the deflection plane (3.2.1.29) by a certain angle around the normal to the surface of the test object
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ISO 23243:2020(E)
3.2.1.33
skew angle
angle on the test surface between the deflection plane (3.2.1.29) and the plane of natural refraction
(3.2.1.28)
Note 1 to entry: See Figure 12 b).
Note 2 to entry: If the plane of natural refraction (3.2.1.28) at the test surface corresponds to the probe axis, then
the skew angle (3.2.1.33) corresponds to the squint angle as defined in ISO 5577 (the angle between the probe
axis and the projection of the beam axis on the test surface).
3.2.1.34
skewing range
range of skew angles (3.2.1.33)
3.2.1.35
tilting
rotation of the deflection plane (3.2.1.29) around its trace on the test surface
3.2.1.36
tilt angle
angle between the deflection plane (3.2.1.29) and the normal to the test surface
Note 1 to entry: See Figure 12 c).
3.2.1.37
tilting range
range of tilt angles (3.2.1.36)
3.2.1.38
dead element
element (3.2.1.2) which is no longer able to be active
3.2.2 Instruments
3.2.2.1
channel
electronic device of the test instrument for transmitting (transmitting channel) and/or receiving a
signal (receiving channel)
3.2.2.2
multi-channel instrument
test instrument with more than one channel (3.2.2.1)
3.2.2.3
phased array instrument
multi-channel instrument (3.2.2.2) capable to apply delay laws (3.2.2.12) for the operation of array
probes (3.2.1.3)
3.2.2.4
FMC instrument
multi-channel instrument (3.2.2.2) capable to collect full
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 23243
Première édition
2020-11
Essais non destructifs — Contrôle
à l’aide de réseaux ultrasonores —
Vocabulaire
Non-destructive testing — Ultrasonic testing with arrays —
Vocabulary
Numéro de référence
ISO 23243:2020(F)
©
ISO 2020
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ISO 23243:2020(F)
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2020
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2020 – Tous droits réservés
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ISO 23243:2020(F)
Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
3.1 Termes relatifs au son . 1
3.2 Termes relatifs à l’appareillage de contrôle . 2
3.2.1 Traducteurs . 2
3.2.2 Appareils .10
3.3 Termes relatifs aux contrôles .11
3.3.1 Techniques de contrôle .11
3.3.2 Signaux, présentations et indications .16
3.3.3 Évaluation des indications.19
Bibliographie .20
© ISO 2020 – Tous droits réservés iii
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ISO 23243:2020(F)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir www .iso .org/ avant -propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 135, Essais non destructifs, sous-
comité SC 3, Contrôle par ultrasons, en collaboration avec le comité technique CEN/TC 138, Essais non
destructifs, du Comité européen de normalisation (CEN) conformément à l’Accord de coopération
technique entre l’ISO et le CEN (Accord de Vienne).
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
iv © ISO 2020 – Tous droits réservés
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ISO 23243:2020(F)
Introduction
Le présent document a une structure similaire à celle de l’ISO 5577, mais il ne prend en compte que les
termes relatifs aux réseaux ultrasonores.
Les termes généraux déjà définis dans l’ISO 5577 sont également valables pour les réseaux ultrasonores.
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NORME INTERNATIONALE ISO 23243:2020(F)
Essais non destructifs — Contrôle à l’aide de réseaux
ultrasonores — Vocabulaire
1 Domaine d’application
Le présent document définit les termes utilisés pour le contrôle à l’aide de réseaux ultrasonores. Ceci
inclut la technologie multiélément et la technologie de traitement du signal à l’aide de réseaux, par
exemple l’acquisition de la matrice complète (FMC) (3.3.1.28) et la technique de focalisation en tous
points (FTP) (3.3.1.35).
2 Références normatives
Le présent document ne contient aucune référence normative.
3 Termes et définitions
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse http:// www .electropedia .org/
3.1 Termes relatifs au son
3.1.1
lobe principal
faisceau principal
faisceau acoustique dans la direction prévue, généralement avec la pression la plus élevée dans le
champ ultrasonore
Note 1 à l'article: S’applique aux traducteurs conventionnels et aux traducteurs multiéléments (3.2.1.3).
3.1.2
lobe latéral
partie du champ ultrasonore qui correspond à un maximum local dans le champ lointain, s’écartant de
la direction du lobe principal (3.1.1) et généralement de plus faible amplitude
Note 1 à l'article: S’applique aux traducteurs conventionnels et aux traducteurs multiéléments (3.2.1.3).
3.1.3
lobe de réseau
réplications parasites du lobe principal (3.1.1) causées par un sous-échantillonnage spatial (faible
rapport entre la longueur d’onde et le pas (3.2.1.16)), s’écartant de la direction du lobe principal et
pouvant avoir une amplitude similaire
Note 1 à l'article: S’applique uniquement aux traducteurs multiéléments (3.2.1.3).
© ISO 2020 – Tous droits réservés 1
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ISO 23243:2020(F)
3.2 Termes relatifs à l’appareillage de contrôle
3.2.1 Traducteurs
3.2.1.1
réseau
plaque piézo-électrique divisée en plusieurs éléments (3.2.1.2) qui sont séparés acoustiquement et
électriquement
3.2.1.2
élément de réseau
élément
plus petite partie du réseau (3.2.1.1) agissant comme un transducteur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 1.
Légende
1 élément de réseau
2 sabot
α angle de sabot
β angle naturel de réfraction du faisceau (3.2.1.26)
Figure 1 — Sabot et réseau avec les paramètres appropriés
3.2.1.3
traducteur multiélément
traducteur avec un réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) pour l’émission et/ou la réception
3.2.1.4
arrangement du réseau
distribution spatiale de tous les éléments (3.2.1.2) dans un réseau (3.2.1.1)
2 © ISO 2020 – Tous droits réservés
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ISO 23243:2020(F)
3.2.1.5
réseau linéaire
réseau linéaire 1-D
réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) disposés selon une ligne droite unique, permettant la déflexion dans
une direction (axe primaire (3.2.1.18)) et la focalisation dans la direction de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 2.
Légende
X axe primaire
Figure 2 — Réseau linéaire ; réseau linéaire 1-D
3.2.1.6
réseau annulaire
réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) en forme d’anneaux disposés de manière concentrique, permettant
la focalisation dans la direction de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 3.
Figure 3 — Réseau annulaire
3.2.1.7
réseau annulaire sectorisé
réseau annulaire (3.2.1.6) dont les anneaux sont divisés en secteurs, permettant la déflexion dans deux
directions et la focalisation dans la direction de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 4 et la Figure 5.
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ISO 23243:2020(F)
Figure 4 — Réseau annulaire sectorisé
Figure 5 — Réseau annulaire sectorisé partiel
3.2.1.8
réseau courbe 1-D
réseau (3.2.1.1) disposé sur un cylindre complet ou partiel, dans lequel le principal axe d’émission
est radial
Note 1 à l'article: Voir la Figure 6 et la Figure 7.
Figure 6 — Réseau courbe 1-D couvrant un cercle complet
4 © ISO 2020 – Tous droits réservés
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ISO 23243:2020(F)
Figure 7 — Réseau courbe 1-D couvrant une partie d’un cercle
3.2.1.9
réseau convexe
réseau courbe 1-D (3.2.1.8) généralement utilisé pour contrôler des tubes depuis l’intérieur
3.2.1.10
réseau concave
réseau courbe 1-D (3.2.1.8) généralement utilisé pour contrôler des tubes depuis l’extérieur
3.2.1.11
traducteur à double réseau
traducteur avec des réseaux (3.2.1.1) séparés pour l’émission et la réception
Note 1 à l'article: Voir la Figure 8.
Figure 8 — Exemple d’un traducteur à double réseau
3.2.1.12
réseau 2-D
réseau matriciel
réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) disposés selon un motif rectangulaire, permettant la déflexion dans
deux directions (axe primaire (3.2.1.18) et axe secondaire (3.2.1.19)) et la focalisation dans la direction
de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 9 et la Figure 10.
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ISO 23243:2020(F)
Légende
X axe primaire
Y axe secondaire
Figure 9 — Exemple de réseau matriciel 2-D
Légende
X axe primaire
Y axe secondaire
Figure 10 — Axes d’un réseau matriciel 2-D
3.2.1.13
réseau irrégulier
réseau (3.2.1.1) composé d’un nombre limité d’éléments (3.2.1.2) distribués sur une zone relativement
grande, avec des distances irrégulières entre les éléments, par exemple sous la forme d’une distribution
en disques de Poisson
3.2.1.14
largeur d’un élément
dimension de l’élément (3.2.1.2) le long de l’axe primaire d’un réseau (3.2.1.18)
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
6 © ISO 2020 – Tous droits réservés
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ISO 23243:2020(F)
Légende
a largeur d’un élément
b longueur d’un élément (3.2.1.15)
c pas (3.2.1.16)
d espace/écart inter-éléments (3.2.1.17)
X axe primaire
Figure 11 — Réseau linéaire
3.2.1.15
longueur d’un élément
dimension de l’élément (3.2.1.2) le long de l’axe secondaire d’un réseau (3.2.1.19)
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
3.2.1.16
pas
distance entre les mêmes bords ou entre les centres de deux éléments (3.2.1.2) adjacents
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
3.2.1.17
espace inter-éléments
écart inter-éléments
distance entre deux éléments (3.2.1.2) adjacents
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
3.2.1.18
axe primaire d’un réseau
axe primaire
direction active
axe principal pour la déflexion du faisceau, parallèle à la largeur des éléments (3.2.1.14)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 10 et la Figure 11.
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ISO 23243:2020(F)
3.2.1.19
axe secondaire d’un réseau
axe secondaire
direction passive
axe perpendiculaire à l’axe primaire (3.2.1.18)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 10.
Note 2 à l'article: Généralement, le terme « direction passive » n’est utilisé que pour les réseaux linéaires 1-D
(3.2.1.5) et les réseaux courbes 1-D (3.2.1.8).
3.2.1.20
point de référence sur le sabot
coordonnées du point qui est utilisé pour positionner un point défini du réseau (3.2.1.1) sur le sabot
Note 1 à l'article: Généralement, les distances entre le point de référence, la surface de contact du sabot et l’avant
du sabot sont utilisées.
3.2.1.21
ouverture active
groupe d’éléments (3.2.1.2) actifs pilotés ensemble lors de l’émission et/ou de la réception
3.2.1.22
ouverture élémentaire
ouverture active (3.2.1.21) constituée d’un seul élément (3.2.1.2)
3.2.1.23
traducteur virtuel
ouverture active (3.2.1.21) pilotée avec une loi de retards (3.2.2.12)
3.2.1.24
ouverture à source virtuelle
VSA
groupe d’éléments (3.2.1.2) actifs pilotés ensemble lors de l’émission à l’aide d’une loi de retards (3.2.2.12)
choisie pour simuler une source à un point virtuel
3.2.1.25
courbe de sensibilité d’un réseau
représentation de la sensibilité de chaque élément (3.2.1.2) successivement connecté à la même voie
(3.2.2.1)
Note 1 à l'article: Généralement, un réflecteur plan beaucoup plus grand que l’ouverture du réseau (3.2.1.1) est
utilisé.
3.2.1.26
angle naturel de réfraction du faisceau
angle entre l’axe du faisceau réfracté et la normale à l’interface sans déflexion électronique du faisceau
(3.3.1.13)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 1.
Note 2 à l'article: L’angle naturel de réfraction du faisceau correspond à l’angle nominal du traducteur
(voir l’ISO 5577) d’un traducteur conventionnel.
3.2.1.27
faisceau réfracté naturel
faisceau dans la direction de l’angle naturel de réfraction du faisceau (3.2.1.26)
[SOURCE: ISO 18563-3:2015, 3.6]
8 © ISO 2020 – Tous droits réservés
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ISO 23243:2020(F)
3.2.1.28
plan de réfraction naturelle
plan de déflexion (3.2.1.29) sans biais (3.2.1.32) et sans inclinaison (3.2.1.35)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 a) et b).
a) Angle de déflexion b) Angle de biais c) Angle d’inclinaison
Légende
1 plan de réfraction naturelle (3.2.1.28)
2 objet contrôlé
3 angle de déflexion (3.2.1.30)
4 angle de biais (3.2.1.33)
5 angle d’inclinaison (3.2.1.36)
6 plan de déflexion (3.2.1.29)
Figure 12 — Définitions des angles
3.2.1.29
plan de déflexion
plan dans lequel le balayage électronique (3.3.1.20) est réalisé
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12.
3.2.1.30
angle de déflexion
angle entre l’axe du faisceau et la projection de la normale à la surface de contrôle sur le plan de déflexion
(3.2.1.29)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 a).
3.2.1.31
plage de déflexion
plage des angles de déflexion (3.2.1.30)
3.2.1.32
biais
rotation du plan de déflexion (3.2.1.29) selon un certain angle autour de la normale à la surface de l’objet
contrôlé
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ISO 23243:2020(F)
3.2.1.33
angle de biais
angle sur la surface de contrôle entre le plan de déflexion (3.2.1.29) et le plan de réfraction naturelle
(3.2.1.28)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 b).
Note 2 à l'article: Si le plan de réfraction naturelle (3.2.1.28) sur la surface de contrôle correspond à l’axe du
traducteur, alors l’angle de biais (3.2.1.33) correspond à l’angle de bigle tel que défini dans l’ISO 5577 (l’angle
entre l’axe du traducteur et la projection de l’axe du faisceau sur la surface de contrôle).
3.2.1.34
plage de biais
plage des angles de biais (3.2.1.33)
3.2.1.35
inclinaison
rotation du plan de déflexion (3.2.1.29) autour de sa trace sur la surface de contrôle
3.2.1.36
angle d’inclinaison
angle entre le plan de déflexion (3.2.1.29) et la normale à la surface de contrôle
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 c).
3.2.1.37
plage d’inclinaison
plage des angles d’inclinaison (3.2.1.36)
3.2.1.38
élément mort
élément (3.2.1.2) qui n’est plus capable d’être actif
3.2.2 Appareils
3.2.2.1
voie
dispositif électronique de l’appareil de contrôle utilisé pour l’émission (voie d’émission) et/ou la
réception (voie de réception)
3.2.2.2
appareil multivoie
appareil de contrôle comportant plus d’une voie (3.2.2.1)
3.2.2.3
appareil multiélément
appareil multivoie (3.2.2.2) capable d’appliquer des lois de retards (3.2.2.12) pour le fonctionnement des
traducteurs multiéléments (3.2.1.3)
3.2.2.4
appareil FMC
appareil multivoie (3.2.2.2) capable de recueillir les données d’acquisition de la matrice complète (FMC)
(3.3.1.28)
3.2.2.5
appareil FTP
appareil multivoie (3.2.2.2) capable de réaliser un traitement selon la technique de focalisation en tous
points (FTP) (3.3.1.35)
10 © ISO 2020 – Tous droits réservés
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ISO 23243:2020(F)
3.2.2.6
apodisation de tension
application de différentes tensions au
...
FINAL
INTERNATIONAL ISO/FDIS
DRAFT
STANDARD 23243
ISO/TC 135/SC 3
Non-destructive testing — Ultrasonic
Secretariat: DIN
testing with arrays — Vocabulary
Voting begins on:
20200820
Voting terminates on:
20201015
ISO/CEN PARALLEL PROCESSING
RECIPIENTS OF THIS DRAFT ARE INVITED TO
SUBMIT, WITH THEIR COMMENTS, NOTIFICATION
OF ANY RELEVANT PATENT RIGHTS OF WHICH
THEY ARE AWARE AND TO PROVIDE SUPPOR TING
DOCUMENTATION.
IN ADDITION TO THEIR EVALUATION AS
Reference number
BEING ACCEPTABLE FOR INDUSTRIAL, TECHNO
ISO/FDIS 23243:2020(E)
LOGICAL, COMMERCIAL AND USER PURPOSES,
DRAFT INTERNATIONAL STANDARDS MAY ON
OCCASION HAVE TO BE CONSIDERED IN THE
LIGHT OF THEIR POTENTIAL TO BECOME STAN
DARDS TO WHICH REFERENCE MAY BE MADE IN
©
NATIONAL REGULATIONS. ISO 2020
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ISO/FDIS 23243:2020(E)
COPYRIGHT PROTECTED DOCUMENT
© ISO 2020
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be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting
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CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
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Phone: +41 22 749 01 11
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Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2020 – All rights reserved
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ISO/FDIS 23243:2020(E)
Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
3.1 Terms related to sound . 1
3.2 Terms related to the test equipment . 1
3.2.1 Probes. 1
3.2.2 Instruments .10
3.3 Terms related to testing .12
3.3.1 Testing techniques .12
3.3.2 Signals, presentations and indications .16
3.3.3 Evaluation of indications .19
Bibliography .20
© ISO 2020 – All rights reserved iii
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ISO/FDIS 23243:2020(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and nongovernmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www .iso .org/
iso/ foreword .html.
This document was prepared by the European Committee for Standardization (CEN) TechnicalCommittee
CEN/TC 138, Non-destructive testing, in collaboration with ISO Technical Committee ISO/TC 135, Non-
destructive testing, in accordance with the Agreement on technical cooperation between ISO and CEN
(Vienna Agreement).
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
iv © ISO 2020 – All rights reserved
---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO/FDIS 23243:2020(E)
Introduction
This document follows a structure similar to that in ISO 5577 but only takes into account terms related
to ultrasonic arrays.
The general terms already defined in ISO 5577 are also valid for ultrasonic arrays.
© ISO 2020 – All rights reserved v
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FINAL DRAFT INTERNATIONAL STANDARD ISO/FDIS 23243:2020(E)
Non-destructive testing — Ultrasonic testing with arrays —
Vocabulary
1 Scope
This document defines terms used in ultrasonic testing with arrays. This includes phased array
technology and signal processing technology using arrays, e. g. the full-matrix capture (FMC) (3.3.1.28)
and the total focusing technique (TFM) (3.3.1.35).
2 Normative references
There are no normative references in this document.
3 Terms and definitions
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at http:// www .electropedia .org/
3.1 Terms related to sound
3.1.1
main lobe
main beam
sound beam in the intended direction, typically with the highest pressure within the sound field
Note 1 to entry: This applies to conventional and array probes (3.2.1.3).
3.1.2
side lobe
part of the sound field which corresponds to a local maximum in the far field, deviating from the
direction of the main lobe (3.1.1) and typically lower in amplitude
Note 1 to entry: This applies to conventional and array probes (3.2.1.3).
3.1.3
grating lobe
parasitic replication of the main lobe (3.1.1) caused by spatial undersampling (low ratio between
wavelength and pitch (3.2.1.16)), deviating from the direction of the main lobe and possibly of similar
amplitude
Note 1 to entry: This applies to array probes (3.2.1.3) only.
3.2 Terms related to the test equipment
3.2.1 Probes
3.2.1.1
array
piezoelectric plate divided into several elements (3.2.1.2), which are acoustically and electrically
separated
© ISO 2020 – All rights reserved 1
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ISO/FDIS 23243:2020(E)
3.2.1.2
array element
element
smallest part of the array (3.2.1.1) acting as a transducer
Note 1 to entry: See Figure 1.
Key
1 array element
2 wedge
α wedge angle
β natural refracted beam angle (3.2.1.26)
Figure 1 — Wedge with relvant parameters
3.2.1.3
array probe
probe with an array (3.2.1.1) of elements (3.2.1.2) for transmitting and/or receiving
3.2.1.4
arrangement of the array
spatial distribution of all the elements (3.2.1.2) in an array (3.2.1.1)
3.2.1.5
linear array
1-D-linear array
array (3.2.1.1) of elements (3.2.1.2) arranged in a single straight line allowing steering in one
direction (X) and focusing in the depth direction
Note 1 to entry: See Figure 2.
2 © ISO 2020 – All rights reserved
---------------------- Page: 7 ----------------------
ISO/FDIS 23243:2020(E)
Key
X primary axis
Figure 2 — Linear array; 1-D-linear array
3.2.1.6
annular array
array (3.2.1.1) of ringshaped elements (3.2.1.2) arranged concentrically allowing focusing in the depth
direction
Note 1 to entry: See Figure 3.
Figure 3 — Annular array
3.2.1.7
sectorial annular array
annular array (3.2.1.6) with the rings divided into sectors allowing steering in two directions and
focusing in the depth direction
Note 1 to entry: See Figure 4 and Figure 5.
Figure 4 — Sectorial annular array
© ISO 2020 – All rights reserved 3
---------------------- Page: 8 ----------------------
ISO/FDIS 23243:2020(E)
Figure 5 — Partial sectorial annular array
3.2.1.8
1-D-curved array
array (3.2.1.1) arranged on a complete or partial cylinder, where the major transmitting axis is radial
Note 1 to entry: See Figure 6 and Figure 7.
Figure 6 — 1-D-curved array covering a complete circle
Figure 7 — 1-D-curved array covering part of a circle
4 © ISO 2020 – All rights reserved
---------------------- Page: 9 ----------------------
ISO/FDIS 23243:2020(E)
3.2.1.9
convex array
1-D-curved array (3.2.1.8) typically used for the testing of tubes from the inside
3.2.1.10
concave array
1-D-curved array (3.2.1.8) typically used for the testing of tubes from the outside
3.2.1.11
dual-array probe
probe with separate arrays (3.2.1.1) for transmitting and receiving
Note 1 to entry: See Figure 8.
Figure 8 — Schematic of a dual-array probe
3.2.1.12
2-D-array
matrix array
array (3.2.1.1) of elements (3.2.1.2) arranged in a rectangular pattern allowing steering in both
directions (X and Y) and focusing in the depth direction
Note 1 to entry: See Figure 9 and Figure 10.
Key
X primary axis
Y secondary axis
Figure 9 — Example of a 2-D-matrix array
© ISO 2020 – All rights reserved 5
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ISO/FDIS 23243:2020(E)
Key
X primary axis
Y secondary axis
Figure 10 — Axes of a 2-D-matrix array
3.2.1.13
sparse array
array (3.2.1.1) with a limited number of elements (3.2.1.2) distributed over a relatively large area, with
irregular distances between the elements, for example as a Poisson-disk distribution
3.2.1.14
width of an element
dimension of the element (3.2.1.2) along the primary axis of an array (3.2.1.18)
Note 1 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
6 © ISO 2020 – All rights reserved
---------------------- Page: 11 ----------------------
ISO/FDIS 23243:2020(E)
Key
a width of an element
b length of an element (3.2.1.15)
c pitch (3.2.1.16)
d space/gap between elements (3.2.1.17)
X primary axis
Figure 11 — Linear array
3.2.1.15
length of an element
Note 1 to entry: dimension of the element (3.2.1.2) along the secondary axis of an array (3.2.1.19)
Note 2 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
3.2.1.16
pitch
distance between the same edges or between centres of two adjacent elements (3.2.1.2)
Note 1 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
3.2.1.17
space between elements
gap between elements
distance between two adjacent elements (3.2.1.2)
Note 1 to entry: For linear arrays (3.2.1.5) see Figure 11.
3.2.1.18
primary axis of an array
active direction
main axis for beam-steering parallel to the width of the elements (3.2.1.14)
Note 1 to entry: See Figure 10.
3.2.1.19
secondary axis of an array
passive direction
axis perpendicular to the primary axis (3.2.1.18)
Note 1 to entry: See Figure 10.
© ISO 2020 – All rights reserved 7
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ISO/FDIS 23243:2020(E)
Note 2 to entry: Typically the term passive direction is only used for 1-D linear arrays (3.2.1.5) and 1-D curved
arrays (3.2.1.8).
3.2.1.20
reference point on the wedge
coordinates of the point on the wedge which is used to position a defined point of the array (3.2.1.1)
Note 1 to entry: Typically the distances from the reference point to the wedge contact surface and to the front of
the wedge are used.
3.2.1.21
active aperture
group of active elements (3.2.1.2) operated together when transmitting and/or receiving
3.2.1.22
elementary aperture
active aperture (3.2.1.21) made of only one element (3.2.1.2)
3.2.1.23
virtual probe
active aperture (3.2.1.21) operated with one delay law (3.2.2.12)
3.2.1.24
virtual source aperture
VSA
group of active elements (3.2.1.2) operated together during transmission using a delay law (3.2.2.12)
chosen to mimic a source at a virtual point
3.2.1.25
sensitivity curve of an array
representation of the sensitivity of each element (3.2.1.2) successively connected to the same channel
(3.2.2.1)
Note 1 to entry: Typically a flat reflector much larger than the aperture of the array (3.2.1.1) is used.
3.2.1.26
natural refracted beam angle
angle between the refracted beam axis and the normal to the interface without electronic beam-
steering
Note 1 to entry: See Figure 1.
Note 2 to entry: The natural refracted beam angle corresponds to the nominal probe angle (see ISO 5577) of a
conventional probe.
3.2.1.27
natural refracted beam
beam in the direction of the natural refracted beam angle (3.2.1.26)
[SOURCE: ISO 185633:2015, 3.6]
3.2.1.28
plane of natural refraction
deflection plane (3.2.1.29) without skewing (3.2.1.32) and without tilting (3.2.1.35)
Note 1 to entry: See Figure 12 a) and b).
3.2.1.29
deflection plane
plane in which electronic scanning (3.3.1.20) is performed
Note 1 to entry: See Figure 12.
8 © ISO 2020 – All rights reserved
---------------------- Page: 13 ----------------------
ISO/FDIS 23243:2020(E)
3.2.1.30
steering angle
angle between the beam axis and the projection of the normal to the test surface on the deflection plane
(3.2.1.29)
Note 1 to entry: See Figure 12 a).
3.2.1.31
steering range
range of steering angles (3.2.1.30)
3.2.1.32
skewing
rotating the deflection plane (3.2.1.29) by a certain angle around the normal to the surface of the test object
3.2.1.33
skew angle
angle on the test surface between the deflection plane (3.2.1.29) and the plane of natural refraction
(3.2.1.28)
Note 1 to entry: See Figure 12 b).
Note 2 to entry: If the plane of natural refraction (3.2.1.28) at the test surface corresponds to the probe axis, then
the skew angle (3.2.1.33) corresponds to the squint angle as defined in ISO 5577 (the angle between the probe
axis and the projection of the beam axis on the test surface).
3.2.1.34
skewing range
range of skew angles (3.2.1.33)
3.2.1.35
tilting
rotation of the deflection plane (3.2.1.29) around its trace on the test surface
3.2.1.36
tilt angle
angle between the deflection plane (3.2.1.29) and the normal to the test surface
Note 1 to entry: See Figure 12 c).
3.2.1.37
tilting range
range of tilt angles (3.2.1.36)
Note 1 to entry: See Figure 12.
a) Steering angle
© ISO 2020 – All rights reserved 9
---------------------- Page: 14 ----------------------
ISO/FDIS 23243:2020(E)
b) Skew angle
c) Tilt angle
Key
1 plane of natural refraction (3.2.1.28)
2 test object
3 steering angle (3.2.1.30)
4 skew angle (3.2.1.33)
5 tilt angle (3.2.1.36)
6 deflection plane (3.2.1.29)
Figure 12 — Definitions of angles
3.2.1.38
dead element
element (3.2.1.2) which is no longer able to be active
3.2.2 Instruments
3.2.2.1
c
...
PROJET
NORME ISO/FDIS
FINAL
INTERNATIONALE 23243
ISO/TC 135/SC 3
Essais non destructifs — Contrôle
Secrétariat: DIN
à l’aide de réseaux ultrasonores —
Début de vote:
2020-08-20 Vocabulaire
Vote clos le:
Non-destructive testing — Ultrasonic testing with arrays —
2020-10-15
Vocabulary
LES DESTINATAIRES DU PRÉSENT PROJET SONT
INVITÉS À PRÉSENTER, AVEC LEURS OBSER-
VATIONS, NOTIFICATION DES DROITS DE PRO-
TRAITEMENT PARALLÈLE ISO/CEN
PRIÉTÉ DONT ILS AURAIENT ÉVENTUELLEMENT
CONNAISSANCE ET À FOURNIR UNE DOCUMEN-
TATION EXPLICATIVE.
OUTRE LE FAIT D’ÊTRE EXAMINÉS POUR
ÉTABLIR S’ILS SONT ACCEPTABLES À DES FINS
INDUSTRIELLES, TECHNOLOGIQUES ET COM-
Numéro de référence
MERCIALES, AINSI QUE DU POINT DE VUE
ISO/FDIS 23243:2020(F)
DES UTILISATEURS, LES PROJETS DE NORMES
INTERNATIONALES DOIVENT PARFOIS ÊTRE
CONSIDÉRÉS DU POINT DE VUE DE LEUR POSSI-
BILITÉ DE DEVENIR DES NORMES POUVANT
SERVIR DE RÉFÉRENCE DANS LA RÉGLEMENTA-
©
TION NATIONALE. ISO 2020
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Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
3.1 Termes relatifs au son . 1
3.2 Termes relatifs à l’appareillage de contrôle . 2
3.2.1 Traducteurs . 2
3.2.2 Appareils .11
3.3 Termes relatifs aux contrôles .12
3.3.1 Techniques de contrôle .12
3.3.2 Signaux, présentations et indications .16
3.3.3 Évaluation des indications.20
Bibliographie .21
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ISO/FDIS 23243:2020(F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l’ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les éventuelles appellations commerciales utilisées dans le présent document sont données pour
information à l’intention des utilisateurs et ne constituent pas une approbation ou une recommandation.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion
de l’ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/ iso/ fr/ avant -propos .html.
Le présent document a été élaboré par le comité technique CEN/TC 138, Essais non destructifs, du Comité
européen de normalisation (CEN) en collaboration avec le comité technique ISO/TC 135, Essais non
destructifs, conformément à l’Accord de coopération technique entre l’ISO et le CEN (Accord de Vienne).
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
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ISO/FDIS 23243:2020(F)
Introduction
Le présent document a une structure similaire à celle de l’ISO 5577, mais il ne prend en compte que les
termes relatifs aux réseaux ultrasonores.
Les termes généraux déjà définis dans l’ISO 5577 sont également valables pour les réseaux ultrasonores.
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PROJET FINAL DE NORME INTERNATIONALE ISO/FDIS 23243:2020(F)
Essais non destructifs — Contrôle à l’aide de réseaux
ultrasonores — Vocabulaire
1 Domaine d’application
Le présent document définit les termes utilisés pour le contrôle à l’aide de réseaux ultrasonores. Ceci
inclut la technologie multiélément et la technologie de traitement du signal à l’aide de réseaux, par
exemple l’acquisition de la matrice complète (FMC) (3.3.1.28) et la technique de focalisation en tous
points (FTP) (3.3.1.35).
2 Références normatives
Le présent document ne contient aucune référence normative.
3 Termes et définitions
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes :
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse http:// www .electropedia .org/
3.1 Termes relatifs au son
3.1.1
lobe principal
faisceau principal
faisceau acoustique dans la direction prévue, généralement avec la pression la plus élevée dans le
champ ultrasonore
Note 1 à l'article: S’applique aux traducteurs conventionnels et aux traducteurs multiéléments (3.2.1.3).
3.1.2
lobe latéral
partie du champ ultrasonore qui correspond à un maximum local dans le champ lointain, s’écartant de
la direction du lobe principal (3.1.1) et généralement de plus faible amplitude
Note 1 à l'article: S’applique aux traducteurs conventionnels et aux traducteurs multiéléments (3.2.1.3).
3.1.3
lobe de réseau
réplications parasites du lobe principal (3.1.1) causées par un sous-échantillonnage spatial (faible
rapport entre la longueur d’onde et le pas (3.2.1.16)), s’écartant de la direction du lobe principal et
pouvant avoir une amplitude similaire
Note 1 à l'article: S’applique uniquement aux traducteurs multiéléments (3.2.1.3).
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3.2 Termes relatifs à l’appareillage de contrôle
3.2.1 Traducteurs
3.2.1.1
réseau
plaque piézo-électrique divisée en plusieurs éléments (3.2.1.2) qui sont séparés acoustiquement et
électriquement
3.2.1.2
élément de réseau
élément
plus petite partie du réseau (3.2.1.1) agissant comme un transducteur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 1.
Légende
1 élément de réseau
2 sabot
α angle de sabot
β angle naturel de réfraction du faisceau (3.2.1.26)
Figure 1 — Sabot avec les paramètres appropriés
3.2.1.3
traducteur multiélément
traducteur avec un réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) pour l’émission et/ou la réception
3.2.1.4
arrangement du réseau
distribution spatiale de tous les éléments (3.2.1.2) dans un réseau (3.2.1.1)
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3.2.1.5
réseau linéaire
réseau linéaire 1-D
réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) disposés selon une ligne droite unique, permettant la déflexion dans
une direction (X) et la focalisation dans la direction de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 2.
Légende
X axe primaire
Figure 2 — Réseau linéaire ; réseau linéaire 1-D
3.2.1.6
réseau annulaire
réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) en forme d’anneaux disposés de manière concentrique, permettant
la focalisation dans la direction de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 3.
Figure 3 — Réseau annulaire
3.2.1.7
réseau annulaire sectorisé
réseau annulaire (3.2.1.6) dont les anneaux sont divisés en secteurs, permettant la déflexion dans deux
directions et la focalisation dans la direction de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 4 et la Figure 5.
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Figure 4 — Réseau annulaire sectorisé
Figure 5 — Réseau annulaire sectorisé partiel
3.2.1.8
réseau courbe 1-D
réseau (3.2.1.1) disposé sur un cylindre complet ou partiel, dans lequel le principal axe d’émission
est radial
Note 1 à l'article: Voir la Figure 6 et la Figure 7.
Figure 6 — Réseau courbe 1-D couvrant un cercle complet
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Figure 7 — Réseau courbe 1-D couvrant une partie d’un cercle
3.2.1.9
réseau convexe
réseau courbe 1-D (3.2.1.8) généralement utilisé pour contrôler des tubes depuis l’intérieur
3.2.1.10
réseau concave
réseau courbe 1-D (3.2.1.8) généralement utilisé pour contrôler des tubes depuis l’extérieur
3.2.1.11
traducteur à double réseau
traducteur avec des réseaux (3.2.1.1) séparés pour l’émission et la réception
Note 1 à l'article: Voir la Figure 8.
Figure 8 — Représentation schématique d’un traducteur à double réseau
3.2.1.12
réseau 2-D
réseau matriciel
réseau (3.2.1.1) d’éléments (3.2.1.2) disposés selon un motif rectangulaire, permettant la déflexion dans
deux directions (X et Y) et la focalisation dans la direction de la profondeur
Note 1 à l'article: Voir la Figure 9 et la Figure 10.
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Légende
X axe primaire
Y axe secondaire
Figure 9 — Exemple de réseau matriciel 2-D
Légende
X axe primaire
Y axe secondaire
Figure 10 — Axes d’un réseau matriciel 2-D
3.2.1.13
réseau irrégulier
réseau (3.2.1.1) composé d’un nombre limité d’éléments (3.2.1.2) distribués sur une zone relativement
grande, avec des distances irrégulières entre les éléments, par exemple sous la forme d’une distribution
en disques de Poisson
3.2.1.14
largeur d’un élément
dimension de l’élément (3.2.1.2) le long de l’axe primaire d’un réseau (3.2.1.18)
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
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Légende
a largeur d’un élément
b longueur d’un élément (3.2.1.15)
c pas (3.2.1.16)
d espace/écart inter-éléments (3.2.1.17)
X axe primaire
Figure 11 — Réseau linéaire
3.2.1.15
longueur d’un élément
dimension de l’élément (3.2.1.2) le long de l’axe secondaire d’un réseau (3.2.1.19)
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
3.2.1.16
pas
distance entre les mêmes bords ou entre les centres de deux éléments (3.2.1.2) adjacents
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
3.2.1.17
espace inter-éléments
écart inter-éléments
distance entre deux éléments (3.2.1.2) adjacents
Note 1 à l'article: Pour les réseaux linéaires (3.2.1.5), voir la Figure 11.
3.2.1.18
axe primaire d’un réseau
direction active
axe principal pour la déflexion du faisceau, parallèle à la largeur des éléments (3.2.1.14)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 10.
3.2.1.19
axe secondaire d’un réseau
direction passive
axe perpendiculaire à l’axe primaire (3.2.1.18)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 10.
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ISO/FDIS 23243:2020(F)
Note 2 à l'article: Généralement, le terme « direction passive » n’est utilisé que pour les réseaux linéaires 1-D
(3.2.1.5) et les réseaux courbes 1-D (3.2.1.8).
3.2.1.20
point de référence sur le sabot
coordonnées du point qui est utilisé pour positionner un point défini du réseau (3.2.1.1) sur le sabot
Note 1 à l'article: Généralement, les distances entre le point de référence, la surface de contact du sabot et l’avant
du sabot sont utilisées.
3.2.1.21
ouverture active
groupe d’éléments (3.2.1.2) actifs pilotés ensemble lors de l’émission et/ou de la réception
3.2.1.22
ouverture élémentaire
ouverture active (3.2.1.21) constituée d’un seul élément (3.2.1.2)
3.2.1.23
traducteur virtuel
ouverture active (3.2.1.21) pilotée avec une loi de retards (3.2.2.12)
3.2.1.24
ouverture à source virtuelle
VSA
groupe d’éléments (3.2.1.2) actifs pilotés ensemble lors de l’émission à l’aide d’une loi de retards (3.2.2.12)
choisie pour simuler une source à un point virtuel
3.2.1.25
courbe de sensibilité d’un réseau
représentation de la sensibilité de chaque élément (3.2.1.2) successivement connecté à la même voie
(3.2.2.1)
Note 1 à l'article: Généralement, un réflecteur plan beaucoup plus grand que l’ouverture du réseau (3.2.1.1) est
utilisé.
3.2.1.26
angle naturel de réfraction du faisceau
angle entre l’axe du faisceau réfracté et la normale à l’interface sans déflexion électronique du faisceau
Note 1 à l'article: Voir la Figure 1.
Note 2 à l'article: L’angle naturel de réfraction du faisceau correspond à l’angle nominal du traducteur
(voir l’ISO 5577) d’un traducteur conventionnel.
3.2.1.27
faisceau réfracté naturel
faisceau dans la direction de l’angle naturel de réfraction du faisceau (3.2.1.26)
[SOURCE: ISO 18563-3:2015, 3.6]
3.2.1.28
plan de réfraction naturelle
plan de déflexion (3.2.1.29) sans biais (3.2.1.32) et sans inclinaison (3.2.1.35)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 a) et b).
3.2.1.29
plan de déflexion
plan dans lequel le balayage électronique (3.3.1.20) est réalisé
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12.
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ISO/FDIS 23243:2020(F)
3.2.1.30
angle de déflexion
angle entre l’axe du faisceau et la projection de la normale à la surface de contrôle sur le plan de déflexion
(3.2.1.29)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 a).
3.2.1.31
plage de déflexion
plage des angles de déflexion (3.2.1.30)
3.2.1.32
biais
rotation du plan de déflexion (3.2.1.29) selon un certain angle autour de la normale à la surface de l’objet
contrôlé
3.2.1.33
angle de biais
angle sur la surface de contrôle entre le plan de déflexion (3.2.1.29) et le plan de réfraction naturelle
(3.2.1.28)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 b).
Note 2 à l'article: Si le plan de réfraction naturelle (3.2.1.28) sur la surface de contrôle correspond à l’axe du
traducteur, alors l’angle de biais (3.2.1.33) correspond à l’angle de bigle tel que défini dans l’ISO 5577 (l’angle
entre l’axe du traducteur et la projection de l’axe du faisceau sur la surface de contrôle).
3.2.1.34
plage de biais
plage des angles de biais (3.2.1.33)
3.2.1.35
inclinaison
rotation du plan de déflexion (3.2.1.29) autour de sa trace sur la surface de contrôle
3.2.1.36
angle d’inclinaison
angle entre le plan de déflexion (3.2.1.29) et la normale à la surface de contrôle
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12 c).
3.2.1.37
plage d’inclinaison
plage des angles d’inclinaison (3.2.1.36)
Note 1 à l'article: Voir la Figure 12.
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a) Angle de déflexion
b) Angle de biais
c) Angle d’inclinaison
Légende
1 plan de réfraction naturelle (3.2.1.28)
2 objet contrôlé
3 angle de déflexion (3.2.1.30)
4 angle de biais (3.2.1.33)
5 angle d’inclinaison (3.2.1.36)
6 plan de déflexion (3.2.1.29)
Figure 12 — Définitions des angles
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ISO/FDIS 23243:2020(F)
3.2.1.38
élément mort
élément (3.2.1.2) qui n’est plus capable d’être actif
3.2.2 Appareils
3.2.2.1
voie
dispositif électronique de l’appareil de contrôle utilisé pour l’émission (voie d’émission) et/ou la
réception (voie de réception)
3.2.2.2
appareil multivoie
appareil de contrôle comport
...
Questions, Comments and Discussion
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