Identification cards — Test methods — Part 2: Cards with magnetic stripes

Cartes d'identification — Méthodes d'essai — Partie 2: Cartes à bandeau magnétique

General Information

Status
Withdrawn
Publication Date
19-Dec-1998
Withdrawal Date
19-Dec-1998
Current Stage
9599 - Withdrawal of International Standard
Completion Date
07-Apr-2006
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Relations

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Standard
ISO/IEC 10373-2:1998 - Identification cards -- Test methods
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Standard
ISO/IEC 10373-2:1998 - Cartes d'identification -- Méthodes d'essai
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Standards Content (Sample)

INTERNATIONAL ISO/IEC
STANDARD 10373-2
First edition
1998-12-15
Identification cards — Test methods —
Part 2:
Cards with magnetic stripes
Cartes d'identification — Méthodes d'essai —
Partie 2: Cartes à bande magnétique
Reference number
B C
ISO/IEC 10373-2:1998(E)

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ISO/IEC 10373-2:1998(E)
Contents
1 Scope .1
2 Normative references .1
3 Terms and definitions .2
4 Default items applicable to the test methods .4
4.1 Test environment.4
4.2 Pre-conditioning .4
4.3 Selection of test methods .4
4.4 Default tolerance.5
4.5 Total measurement uncertainty .5
5 Test methods.5
5.1 Magnetic stripe area warpage.5
5.1.1 Apparatus .5
5.1.2 Procedure .6
5.1.3 Test report .7
5.2 Height and surface profile of the magnetic stripe.7
5.2.1 Apparatus .7
5.2.2 Procedure .8
5.2.3 Expression of results .9
5.2.4 Test report .11
5.3 Surface roughness of the magnetic stripe.11
5.3.1 Procedure .12
5.3.2 Test report .12
5.4 Wear test for magnetic stripe .12
5.4.1 Apparatus .12
©  ISO/IEC 1998
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic
or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
ISO/IEC Copyright Office • Case postale 56 • CH-1211 Genève 20 • Switzerland
Printed in Switzerland
ii

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©
ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
5.4.2 Procedure . 12
5.4.3 Test report . 13
5.5 Amplitude measurements. 13
5.5.1 Calibration reference. 14
5.5.2 Apparatus . 14
5.5.3 Procedure . 18
5.5.4 Test report . 20
5.6 Flux transition spacing variation . 20
5.6.1 Apparatus . 21
5.6.2 Procedure . 21
5.6.3 Test report . 21
5.7 Magnetic stripe adhesion. 21
5.7.1 Apparatus . 21
5.7.2 Procedure . 22
5.7.3 Test report . 22
5.8 Static magnetic characteristics. 22
5.8.1 Apparatus . 22
5.8.2 Procedure . 23
5.8.3 Report . 27
iii

---------------------- Page: 3 ----------------------
©
ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) and IEC (the International Electrotechnical Commission)
form the specialized system for worldwide standardization. National bodies that are members of ISO or IEC
participate in the development of International Standards through technical committees established by the
respective organization to deal with particular fields of technical activity. ISO and IEC technical committees
collaborate in fields of mutual interest. Other international organizations, governmental and non-governmental, in
liaison with ISO and IEC, also take part in the work.
In the field of information technology, ISO and IEC have established a joint technical committee, ISO/IEC JTC 1.
Draft International Standards adopted by the joint technical committee are circulated to national bodies for voting.
Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the national bodies casting a vote.
International Standard ISO/IEC 10373-2 was prepared by Joint Technical Committee ISO/IEC JTC 1, Information
technology, Subcommittee SC 17, Identification cards and related devices.
ISO/IEC 10373 consists of the following parts, under the general title Identification cards — Test methods:
— Part 1: General characteristics tests
— Part 2: Cards with magnetic stripes
— Part 3: Integrated circuit(s) cards
— Part 5: Optical memory cards
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INTERNATIONAL STANDARD  ISO/IEC ISO/IEC 10373-2:1998(E)
Identification cards — Test methods —
Part 2:
Cards with magnetic stripes
1 Scope
ISO/IEC 10373 defines test methods for characteristics of identification cards according to the definition given in
ISO/IEC 7810. Each test method is cross-referenced to one or more base standards, which may be ISO/IEC 7810
or one or more of the supplementary standards that define the information storage technologies employed in
identification cards applications.
NOTE 1 - Criteria for acceptability do not form part of ISO/IEC 10373 but will be found in the International Standards mentioned
above.
NOTE 2 - Test methods described in ISO/IEC 10373 are intended to be performed separately. A given card is not required to
pass through all the tests sequentially.
This part of ISO/IEC 10373 defines test methods which are specific to magnetic stripe technology. ISO/IEC 10373-1,
General characteristics, defines test methods which are common to one or more card technologies and other parts
deal with other technology-specific tests.
2 Normative references
The following standards contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions of this part of
ISO/IEC 10373. At the time of publication, the editions indicated were valid. All standards are subject to revision,
and parties to agreements based on this part of ISO/IEC 10373 are encouraged to investigate the possibility of
applying the most recent editions of the standards listed below. Members of IEC and ISO maintain registers of
currently valid International Standards.
ISO 1302:1992, Technical drawings - Method of indicating surface texture.
ISO 2409:1992, Paints and varnishes - Cross-cut test.
ISO 3274:1996, Geometric Product Specification (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics
of contact (stylus) instruments.
ISO 4288:1996, Geometric Product Specification (GPS) - Surface texture: Profile method - Rules and procedures
for the assessment of surface texture.
ISO/IEC 7810:1995, Identification cards - Physical characteristics.
ISO/IEC 7811-2:1995, Identification cards - Recording technique - Part 2: Magnetic stripe.
ISO/IEC 7811-4:1995, Identification cards - Recording technique - Part 4: Location of read-only magnetic tracks -
Track 1 and 2.
ISO/IEC 7811-5:1995, Identification cards - Recording technique - Part 5: Location of read-write magnetic track -
Track 3.
ISO/IEC 7811-6:1996, Identification cards - Recording technique - Part 6: Magnetic stripe - High coercivity.
1

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
3 Terms and definitions
For the purposes of this part of ISO/IEC 10373, the following terms and definitions apply.
3.1
test method
method for testing characteristics of identification cards for the purpose of confirming their compliance with
International Standards
3.2
testably functional
has survived the action of some potentially destructive influence to the extent that:
a) any magnetic stripe present on the card shows a relationship between signal amplitudes before and after
exposure that is in accordance with the base standard
1
b) any integrated circuit(s) present in the card continues to show an Answer to Reset response which conforms
to the base standard
c) any contacts associated with any integrated circuit(s) present in the card continue to show electrical resistance
and impedance which conform to the base standard
d) any optical memory present in the card continue to show optical characteristics which conform to the base
standard
3.3
warpage
deviation from flatness
3.4
flux transitions per millimetre
ft/mm
the linear recording density applied to a track on a magnetic stripe
3.5
recording
creating a track of flux reversals according to a test method given in this standard, with the values of all applicable
test parameters specified
3.6
encoding
creating a track of flux reversals whose spacing is modified, according to the F/2F coding scheme, to represent data
3.7
surface roughness
surface topology of an area of surface, qualified in the international standards by reference to various resolution
determinants and methods of calculation
3.8
amplitude measurements (of a magnetic stripe)
measurement of readback signal amplitude, resolution, and erasure according to a test method given in this
standard, with the values of all applicable test parameters specified

1
This part of ISO/IEC 10373 does not define any test to establish the complete functioning of integrated circuit(s) cards. The
test methods require only that the minimum functionality (testably functional) be verified. This may, in appropriate
circumstances, be supplemented by further, application specific functionality criteria which are not available in the general
case.
2

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
3.9
flux transition spacing variation
deviation from nominal of measured values of the distance between adjacent flux transitions along a line parallel to
the centre-line of the encoded track
3.10
magnetic stripe adhesion
strength of the bond between the magnetic stripe and the card
3.11
normal use
use as an Identification Card (see clause 4 of ISO/IEC 7810:1995), involving equipment processes appropriate to
the card technology and storage as a personal document between equipment processes
3.12
static saturation M(H) loop
a normal hysteresis loop for which the magnetic field strength is cycled between the extremes -H to +H at such
max max
a low rate of change that the loop is not influenced by the rate of change (see IEC 50(221))
3.13
coercivity
H' = H'
cM cJ
the continuously applied magnetic field which reduces the magnetisation to zero from a previously saturated state in
the opposite direction (see IEC 50(221)). The quantity of interest is that which is measured parallel to the
longitudinal axis of the stripe
3.14
remanent coercivity
(H )
r
the applied magnetic field which when removed returns the material to a zero magnetisation state from a previously
saturated state in the opposite direction. The quantity of interest is that which is measured parallel to the longitudinal
axis of the stripe.
3.15
oersted
Oe
Gaussian cgs unit of magnetic field strength which is commonly used in the magnetic recording industry. Although
there is no longer a normative relationship, one oersted may be taken to be equivalent to 79,578 A/m (see annex A
(informative) of ISO 31-5:1992)
3.16
static demagnetisation
S
160
+
the reduction in magnetisation under the influence of an opposing magnetic field; characterised by (M - M (-
r
160)) ÷ M; the average slope of the "demagnetisation" quadrant of the static saturation M(H) loop between
r
magnetic field strength values of H = 0 and H = -160 kA/m
3.17
squareness
SQ
M /M(H ) the ratio of the value of magnetisation (M) at zero magnetic field strength (H =0) to that at H obtained
r max max
from the static saturation M(H) loop
3.18
longitudinal squareness
SQ

the squareness of the medium measured parallel to the longitudinal axis of the magnetic stripe
3

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
3.19
perpendicular squareness
SQ

the squareness of the medium measured perpendicular to the plane of the magnetic stripe
3.20
switching field distribution
SFD
the difference between the field values at the intercept of the static saturation M(H) loop with M(H) = +0,5 M and
r
M(H) = -0,5 M , divided by the coercivity, i.e.:
r
    ÷
SFD = ( H - H ) H'
2 1 cM
where
M(-H ) = +0,5M
1 r
 
M(- H ) = -0,5 M
2 r
NOTE - Other definitions of SFD are commonly used that will give different results.
3.21
angle of maximum squareness
ΘΘ(SQ )
max
the angle between the direction at which the maximum value of squareness is found and the longitudinal axis of the
magnetic stripe
3.22
resolution
the average signal amplitude at 20 ft/mm (500 ftpi) divided by the average signal amplitude at 8 ft/mm (200 ftpi),
multiplied by 100, expressed as a percentage
4 Default items applicable to the test methods
4.1 Test environment
Unless otherwise specified, testing shall take place in an environment of temperature 23°C ± 3°C (73°F ± 5°F) and
of relative humidity 40% to 60%.
4.2 Pre-conditioning
Where pre-conditioning is required by the test method, the identification cards to be tested shall be conditioned to
the test environment for a period of 24 h before testing.
4.3 Selection of test methods
Unless otherwise specified, tests shall be applied according to the attributes of the card to be tested, as shown in
table 1.
4

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
Table 1 — Selection of tests according to features present
Card Mag
Test method has stripe
Mag is
stripe encoded
5.1 Card warpage - mag stripe area
5.2 Height and surface profile of the magnetic stripe
5.3 Surface roughness of the magnetic stripe
5.4 Wear test for magnetic stripe

5.5 Amplitude measurements
5.6 Flux transition spacing variation
5.7 Magnetic stripe adhesion
a
5.8 Static magnetic characteristics
a
Static magnetic characteristics are an informative part of the base standard.
Consequently, the associated tests are not mandatory.
4.4 Default tolerance
Unless otherwise specified, a default tolerence of ± 5% shall be applied to the quantity values given to specify the
characteristics of the test equipment (e.g. linear dimensions) and the test method procedures (e.g. test equipment
adjustments).
4.5 Total measurement uncertainty
The total measurement uncertainty for each quantity determined by these test methods shall be stated in the test
report.
5 Test methods
5.1 Magnetic stripe area warpage
The purpose of this test is to measure the degree of warpage of a card test sample in the area of the magnetic
stripe (see ISO/IEC 7810:1995).
The method is applicable to both embossed and unembossed cards.
5.1.1 Apparatus
The apparatus is shown in figure 1. It comprises:
a) a level rigid plate whose surface roughness is not greater than 3,2 μm (130 μin) in accordance with
ISO 1302:1992. The plate shall contain an aperture to allow access for a micrometer probe;
b) a micrometer accurate to within 2,5 μm (98 μin)with a probe whose contact area is a hemisphere with a
diameter in the range of 3 mm to 8 mm (0.1 in to 0.3 in). The force exerted by the probe shall be
f = 0,6 N ± 0,3 N (0.13 lbf ± 0.07 lbf);
5

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
c) a means of applying a force F = 2,2 N (0.49 lbf) evenly distributed on the front face of the card opposite the
magnetic stripe area.
not to scale
F + f
R eference base
N 8
f
M icrom eter
(precision 2,5 μm )
M agnetic stripe area
Figure 1 — Measuring arrangement
5.1.2 Procedure
Place the sample card, front side up, on the level rigid plate. Position the magnetic stripe area to be measured over
the aperture.
The load of 2,2 N (0.49 lbf) should be increased by an amount f to compensate for the micrometer force which is
acting in the opposite direction to that force.
Apply the force F (+ f ) directly over the magnetic stripe area on the front side of the card. Wait 1 minute before
making any measurements.
Measure the card stripe area warpage at the nine positions along the stripe as shown in figure 2.
6

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
dimensions in mm
not to scale
10,00
X
+ ++++ +++ +
X
NOTE - the value of is given in table 2.
Figure 2 — Measuring points on the card
Table 2 — Position of the line of measuring points
Magnetic stripe area Dimension X (mm)
Tracks 1 and 2 8,00
Tracks 1, 2 and 3 10,70
5.1.3 Test report
The test report shall give the maximum value obtained from the set of nine measurements.
5.2 Height and surface profile of the magnetic stripe
The purpose of this test is to determine the height and flatness of the magnetic stripe of a card test sample (see
ISO/IEC 7811-2:1995 and ISO/IEC 7811-6:1996).
The location of the stripe is described in ISO/IEC 7811-4:1995 and ISO/IEC 7811-5:1995. The height of the
magnetic stripe is determined by reference to the card and the stripe surface profile.
5.2.1 Apparatus
The following items are required:
a) a profilometer (see figure 3);
b) a notched rigid metal plate as shown in figure 4. Any rigid metal can be used to construct the plate, but its
thickness shall be adjusted, according to the density of the material, to achieve a weight of 2,2 N ± 0,1 N
(0.49 lbf ± 0.02 lbf). All dimensions of the plate shall be ± 0,5 mm (0.02 in) or better.
7

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
not to scale
Figure 3 — Measuring device for the height and the profile of the magnetic stripe
not to scale
dimensions in millimetres
15,00
10,00 to 15,00
15,00
10,00 to 15,00
10,00 to 15,00
42,00
84,00
Figure 4 — Card holder plate (contact area)
5.2.2 Procedure
Hold the card to be tested under the notched rigid metal plate shown in figure 4.
Measure the height and the surface profile of the magnetic stripe and the surrounding card surface using a
measuring recording instrument.
8
22,00
22,00
22,00
27,00

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©
ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
Measure the profile at a maximum speed of 1 mm/s (0.04 in/s) using a probe having a radius of 0,38 mm to
2,54 mm (0.015 in to 0.1 in) applied with a force of 0,5 mN to 6 mN (0.0001 lbf to 0.0013 lbf).
Take three measurements on each specimen across the width of the stripe. The three locations V, X and Y are
defined as the distance of 15 mm ± 2 mm (0.59 in ± 0.08 in) from each end of the card and location X the centreline
of the card (see figure 5).
not to scale
dimensions in millimetres
YX V
15,00 ± 2,00 15,00 ± 2,00
Figure 5 — Magnetic stripe profile measurement location
The starting point for measurement along each line V,X,Y begins 1 mm min (0.04 in min) above the top edge of the
magnetic media and ends 1 mm min (0.04 in min) below the bottom edge of the magnetic media.
NOTE – In preparing the test card for the surface profile measurement, it is helpful to lightly scribe a line, using a sharp knife,
parallel to the top reference edge of the card for locating the minimum stripe width W on the profile recording.
5.2.3 Expression of results
5.2.3.1 Surface profile of the magnetic stripe
For the measurements along V, X and Y line (see figure 5), form a first basic measurement line (see figure 6 and
figure 7) by connecting the top and bottom points that define the edges of the minimum stripe width. The basic
measurement line shall lie within 10° of the chart recording direction.
The maximum vertical deviation (a) is the distance between the basic measuring line and the point on the magnetic
media furthest away from the basic measurement line. The measurement shall be made perpendicular to the chart
recording direction.
9
b = 1,00 (min)W b = 1,00 (min)

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©
ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
a = maximum vertical deviation
b = 1 mm (min)
W = minimum stripe width as specified in the relevant base standard
Figure 6 — Concave stripe profile
a = maximum vertical deviation
b = 1 mm (min)
W = minimum stripe width as specified in the relevant base standard
Figure 7 — Convex stripe profile
5.2.3.2 Height of the magnetic stripe
For the three measurements along V, X and Y, form a basic measurement line by connecting the starting and
ending points (see figure 8 and figure 9). The basic measurement line shall lie within 10º of the chart recording
direction.
The maximal vertical deviation (h) is the distance between the basic measurement line and the point on the
magnetic media furthest away from the basic measurement line. The measurement shall be made perpendicular to
the chart recording direction.
10

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©
ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
b = 1 mm (min)
h = maximum vertical deviation as specified in the relevant base standard
Figure 8 — Concave stripe profile
b = 1 mm (min)
h = maximum vertical deviation as specified in the relevant base standard
Figure 9 — Convex stripe profile
5.2.4 Test report
5.2.4.1 Surface profile of the magnetic stripe
The test report shall give the values of the three measurements of maximum vertical deviation (a) obtained along
lines V, X and Y.
5.2.4.2 Height of the magnetic stripe
The test report shall give the values of the three measurements of maximum vertical deviation (h) obtained along
lines V, X and Y.
5.3 Surface roughness of the magnetic stripe
The purpose of this test is to determine the degree of roughness of the magnetic stripe of a card test sample (see
ISO/IEC 7811-2:1995 and ISO/IEC 7811-6:1996).
11

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R 10,00
©
ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
5.3.1 Procedure
The surface roughness of the magnetic stripe shall be measured with a measuring recording instrument as shown
in figure 3. All test conditions specified in 5.2 apply except:
 probe stylus has a radius of 2 μm (79 μin) or 5 μm (197 μin);
 cutoff wavelength and roughness evaluation length shall be chosen in accordance with ISO 3274 and
ISO 4288;
 longitudinal and transverse measurements are taken on the stripe.
5.3.2 Test report
The test report shall give the centreline average R values of the magnetic stripe roughness obtained by measuring
a
in both longitudinal and transverse directions.
5.4 Wear test for magnetic stripe
The purpose of this test is to determine the signal amplitude of the magnetic stripe of a card test sample after
controlled abrasion (see ISO/IEC 7811-2:1995 and ISO/IEC 7811-6:1996).
5.4.1 Apparatus
A metal dummy head whose hardness is between 110 HV - 130 HV (Vickers scale) or its equivalent in Rockwell
scale. The required dimensions are as shown in figure 10.
A rigid flat plate capable of holding the card still.
not to scale
dimensions in mm
5,00
N4
chamfer
Figure 10 — Dimensions of the contact area of the dummy head
5.4.2 Procedure
2
Record the sample card at 20 ft/mm (500 ftpi) using a test recording current of I , read and note the signal
min
amplitude.
Fasten the card, magnetic stripe uppermost, to the flat plate so that the dummy head can traverse the length of the
stripe or alternatively, the card can move under the head (see figure 11). Take care when mounting the card on the
rigid flat plate to ensure that the card is held flat and fixed while the tests are performed.
Apply a force of 1,5 N ± 0,2 N (0.34 lbf ± 0.05 lbf)to the head and allow the head to move back and forth at a speed
of between 200 mm/sec (7.9 in/s) and 500 mm/sec (19.7 in/s) for 2 000 cycles, (1 cycle is equivalent to one forward
and one backward movement). Read the signal amplitude on the same apparatus and compare the result with the
amplitude obtained at the beginning of the test.

2
Due to an error, the base standard may specify incorrect test recording conditions.
12

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©
ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
The position of the read and write heads shall be completely contained within the area of the zone of wear from the
dummy head.
not to scale
dummy head
magnetic stripe
rigid flat plate
width of card
distance of m ovem ent
Figure 11 — Dummy head and magnetic stripe
5.4.3 Test report
The test report shall give the values of the signal amplitudes defined in the base standard, measured before and
after wear.
5.5 Amplitude measurements
The purpose of this test is to measure the signal amplitude, resolution, erasure, demagnetisation and waveform
characteristics of the magnetic stripe of a card test sample to check conformity with the appropriate base standard,
i.e.
 for checking magnetic stripes with coercivities up to about 48 kA/m (600 oersteds) for conformance to
ISO/IEC 7811-2:1995;
13
1,50 N ± 0,20 N

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ISO/IEC
ISO/IEC 10373-2:1998(E)
 for checking magnetic stripes with coercivities above 80 kA/m (1000 oersteds) for conformance to
ISO/IEC 7811-6:1996.
NOTE - demagnetisation and waveform characteristics are requirements only of ISO/IEC
...

NORME ISO/CEI
INTERNATIONALE 10373-2
Première édition
1998-12-15


Cartes d'identification — Méthodes
d'essai —
Partie 2:
Cartes à bandeau magnétique
Identification cards — Test methods —
Part 2: Cards with magnetic stripes




Numéro de référence
ISO/CEI 10373-2:1998(F)
©
ISO/CEI 1998

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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
Sommaire
Avant-propos .iv
1 Domaine d'application.1
2 Références normatives.1
3 Termes et définitions.2
4 Eléments par défaut applicables aux méthodes d'essai .4
4.1 Environnement d’essai.4
4.2 Conditionnement préalable.4
4.3 Sélection des méthodes d’essai .4
4.4 Tolérance par défaut .5
4.5 Incertitude totale de mesure.5
5 Méthodes d’essai.5
5.1 Déformation de la zone comportant le bandeau magnétique.5
5.2 Hauteur et profil de la surface du bandeau magnétique .7
5.3 Rugosité de la surface du bandeau magnétique.12
5.4 Essai d’usure du bandeau magnétique.12
5.5 Mesures d’amplitude.14
5.6 Variation de l’espacement entre les transitions de flux .21
5.7 Adhérence du bandeau magnétique.22
5.8 Caractéristiques magnétiques statiques .23

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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) et la CEI (Commission électrotechnique internationale)
forment le système spécialisé de la normalisation mondiale. Les organismes nationaux membres de l'ISO ou de la
CEI participent au développement de Normes internationales par l'intermédiaire des comités techniques créés par
l'organisation concernée afin de s'occuper des domaines particuliers de l'activité technique. Les comités
techniques de l'ISO et de la CEI collaborent dans des domaines d'intérêt commun. D'autres organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO et la CEI participent également
aux travaux. Dans le domaine des technologies de l'information, l'ISO et la CEI ont créé un comité technique mixte,
l'ISO/CEI JTC 1.
Les Normes internationales sont rédigées conformément aux règles données dans les Directives ISO/CEI, Partie 3.
La tâche principale du comité technique mixte est d'élaborer les Normes internationales. Les projets de Normes
internationales adoptés par le comité technique mixte sont soumis aux organismes nationaux pour vote. Leur
publication comme Normes internationales requiert l'approbation de 75 % au moins des organismes nationaux
votants.
L'attention est appelée sur le fait que certains des éléments de la présente partie de l'ISO/CEI 10373 peuvent faire
l'objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO et la CEI ne sauraient être tenues pour
responsables de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence.
L'ISO/CEI 10373-2 a été élaborée par le comité technique mixte ISO/CEI JTC 1, Technologies de l'information,
sous-comité SC 17, Cartes d'identification et dispositifs associés.
L'ISO/CEI 10373 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général Cartes d'identification —
Méthodes d'essai:
 Partie 1: Essais des caractéristiques générales
 Partie 2: Cartes à bandeau magnétique
 Partie 3: Cartes à circuit(s) intégré(s) à contacts et dispositifs d’interface assimilés
 Partie 5: Cartes à mémoire optique
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NORME INTERNATIONALE ISO/CEI 10373-2:1998(F)

Cartes d'identification — Méthodes d'essai —
Partie 2:
Cartes à bandeau magnétique
1 Domaine d'application
L’ISO/CEI 10373 définit les méthodes d’essai des caractéristiques des cartes d’identification conformément à la
définition donnée dans l’ISO/CEI 7810. Chaque méthode d’essai doit faire l’objet d’un renvoi à une ou plusieurs
normes de base, qui peut être l’ISO/CEI 7810, ou à une ou plusieurs normes supplémentaires qui définissent les
technologies de mise en mémoire de l’information utilisées dans les applications avec cartes d’identification.
NOTE 1 Les critères d’acceptation ne font pas partie de l’ISO/CEI 10373 mais figurent dans les Normes internationales
mentionnées ci-dessus.
NOTE 2 Les méthodes d’essai décrites dans l’ISO/CEI 10373 sont prévues pour être réalisées séparément. Il n’est pas
nécessaire qu’une carte donnée soit soumise à tous les essais les uns après les autres.
La présente partie de l’ISO/CEI 10373 définit des méthodes d’essai qui sont spécifiques à la technologie des
cartes à bandeau magnétique. L’ISO/CEI 10373-1, Caractéristiques générales, définit les méthodes d’essai
communes à une ou à plusieurs technologies des cartes, et les autres parties de l'ISO/CEI 10373 définissent les
méthodes d’essai spécifiques à d’autres technologies.
2 Références normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui en est faite, constituent des
dispositions valables pour la présente partie de l’ISO/CEI 10373. Au moment de la publication, les éditions
indiquées étaient en vigueur. Toute norme est sujette à révision et les parties prenantes des accords fondés sur la
présente partie de l’ISO/CEI 10373 sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer les éditions les plus
récentes des normes indiquées ci-après. Les membres de la CEI et de l’ISO possèdent les registres des Normes
internationales en vigueur à un moment donné.
ISO 1302:1992, Dessins techniques – Indication des états de surface.
ISO 2409:1992, Peintures et vernis – Essai de quadrillage.
ISO 3274:1996, Spécification géométrique des produits (GPS) – État de surface: Méthode du profil –
Caractéristiques nominales des appareils à contact (palpeur).
ISO 4288:1996, Spécification géométrique des produits (GPS) – État de surface : Méthode du profil – Règles et
procédures pour l'évaluation de l'état de surface.
ISO/CEI 7810:1995, Cartes d'identification – Caractéristiques physiques.
ISO/CEI 7811-2:1995, Cartes d'identification – Technique d'enregistrement – Partie 2: Raie magnétique.
ISO/CEI 7811-4:1995, Cartes d’identification – Technique d’enregistrement – Partie 4: Position des pistes
magnétiques pour lecture uniquement – Pistes 1 et 2.
ISO/CEI 7811-5:1995, Cartes d’identification – Technique d’enregistrement – Partie 5: Position de piste
magnétique enregistrement-lecture – Piste 3.
ISO/CEI 7811-6:1996, Cartes d'identification – Technique d'enregistrement – Partie 6: Bandeau magnétique –
Haute coercitivité.
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
3 Termes et définitions
Pour les besoins de la présente partie de l'ISO/CEI 10373, les termes et les définitions suivants s'appliquent.
3.1
méthode d’essai
méthode pour déterminer les caractéristiques des cartes d'identification afin de confirmer leur conformité aux
Normes internationales
3.2
fonctionnel après essai
qui a résisté à l'action d'une influence potentiellement destructive dans la mesure où:
a) tout bandeau magnétique présent sur la carte donne une relation entre les amplitudes du signal avant et après
exposition conforme à la norme de base;
1)
b) tout circuit intégré présent sur la carte continue à donner une réponse à la réinitialisation qui est conforme à
la norme de base;
c) tout contact associé à un circuit intégré présent sur la carte continue à montrer une résistance électrique et
une impédance qui sont conformes à la norme de base;
d) toute mémoire optique présente sur la carte continue à montrer des caractéristiques physiques conformes à la
norme de base.
3.3
déformation
écart de planéité
3.4
transitions de flux par millimètre
ft/mm
densité d’enregistrement linéaire appliquée à une piste de bandeau magnétique
3.5
enregistrement
création, à partir des valeurs spécifiées de tous les paramètres d’essai applicables, d’une piste avec des inversions
de flux conformément à une méthode d’essai donnée dans la présente norme
3.6
codage
création d’une piste avec des inversions de flux dont l’espacement est modifié, conformément au schéma de
codage F/2F, pour représenter les données
3.7
rugosité de la surface
topologie d’une zone de surface qualifiée dans les Normes internationales par référence à différentes de résolution
et aux méthodes de calcul

1) La présente partie de l'ISO/CEI 10373 ne définit aucun essai permettant de contrôler le fonctionnement complet des cartes
à circuit(s) intégré(s). Les méthodes d'essai ne vérifient que la fonctionnalité minimale (fonctionnalité après essai). Il peut, dans
certaines circonstances, être nécessaire d’ajouter d’autres critères de fonctionalité, spécifiques d'une application donnée, qui
n’existent pas dans le cas général.
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
3.8
mesures d’amplitude (d’un bandeau magnétique)
mesure de l’amplitude, de la résolution et de l’effacement du signal de lecture conformément à une méthode
d’essai donnée dans la présente norme, à partir des valeurs spécifiées de tous les paramètres d’essai
3.9
variation de l’espacement entre les transitions de flux
écart par rapport à la valeur nominale des valeurs mesurées de la distance entre des transitions de flux adjacentes
le long d’une ligne parallèle à l’axe de la piste codée
3.10
adhérence du bandeau magnétique
force de liaison entre le bandeau magnétique et la carte
3.11
utilisation normale
utilisation en tant que carte d'identification (voir article 4 de l'ISO/CEI 7810:1995), impliquant des processus sur
équipements appropriés à la technologie de la carte et un stockage en tant que document personnel entre ces
processus
3.12
cycle statique à saturation M(H)
cycle d’hystérésis normal pour lequel le champ magnétique varie entre les extrêmes –H et +H à une vitesse
max. max.
assez faible pour ne pas influer sur le cycle [voir CEI 50(221)]
3.13
coercitivité
H’ = H’
cM cJ
valeur du champ magnétique appliqué en continu, nécessaire pour ramener à une valeur nulle l’aimantation d’une
substance à l’état préalablement saturé dans la direction opposée [voir CEI 50(221)], la grandeur considérée étant
celle qui est mesurée parallèlement à l’axe longitudinal du bandeau
3.14
coercitivité rémanente
(H )
r
valeur du champ magnétique dont le retrait ramène à une valeur nulle l’aimantation d’une substance à l’état
préalablement saturé dans la direction opposée, la grandeur considérée étant celle qui est mesurée parallèlement
à l’axe longitudinal du bandeau
3.15
Oersted
Oe
unité CGS de Gauss de champ magnétique généralement utilisée dans l’industrie de l’enregistrement magnétique;
bien qu’il n’y ait plus de relation normative, un oersted peut être considéré comme équivalent à 79,578 A/m [voir
l’annexe A (informative) de l’ISO 31-5:1992]
3.16
démagnétisation statique
S
160
réduction de l’aimantation sous l’influence d’un champ magnétique opposé; cette grandeur est caractérisée par le
+
quotient de [M – M (- 160)] par M, la pente moyenne du quadrant de démagnétisation du cycle statique à
r r
saturation M(H) entre les valeurs de champ magnétique H = 0 et H = -160 kA/m
3.17
rectangularité
SQ
rapport M / M (H ) entre la valeur de l’aimantation (M) à une valeur nulle du champ magnétique (H = 0) et la
r
max.
valeur de l’aimantation à H obtenue à partir du cycle statique à saturation M(H)
max.
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3.18
rectangularité parallèle
SQ

rectangularité du bandeau magnétique, mesurée parallèlement à son axe longitudinal
3.19
rectangularité perpendiculaire
SQ
⊥⊥
⊥⊥
rectangularité du bandeau magnétique, mesurée perpendiculairement à son plan
3.20
qualité du basculement de l’aimantation
SFD
quotient de la différence entre les valeurs de champ à l’ordonnée à l’origine du cycle statique à saturation M(H)
pour M(H) = +0,5 M et M(H) = -0,5 M , par la coercitivité, soit:
r r
SFD = (H  - H ) ÷ H
2 1 cM

M(-H ) = + 0,5 M
1 r
M(-H ) = + 0,5 M
2 r
NOTE D’autres définitions de SFD couramment utilisées donnent des résultats différents.
3.21
angle de rectangularité maximale
θθθθ (SQ )
max.
angle formé par la direction pour laquelle la rectangularité est maximale et l’axe longitudinal du bandeau
magnétique
3.22
résolution
quotient de l’amplitude moyenne du signal à 20 ft/mm (500 ftpi) par l’amplitude moyenne du signal à 8 ft/mm
(200 ftpi), multiplié par 100 et exprimé sous forme de pourcentage
4 Éléments par défaut applicables aux méthodes d'essai
4.1 Environnement d’essai
Sauf spécification contraire, les essais doivent avoir lieu dans les conditions ambiantes suivantes: température
de 23 °C ± 3 °C (73 °F ± 5 °F) et humidité relative de 40 % à 60 %.
4.2 Conditionnement préalable
Lorsque le conditionnement préalable est requis par la méthode d'essai, les cartes d'identification à essayer
doivent être conditionnées dans l'environnement d'essai pendant une période de 24 h avant les essais.
4.3 Sélection des méthodes d’essai
Sauf spécification contraire, les essais doivent être réalisés en fonction des attributs de la carte à essayer,
conformément au Tableau 1.
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
Tableau 1 — Sélection des essais en fonction des caractéristiques présentes
Méthode d'essai Carte avec Bandeau
bandeau magn. codé
magn.
5.1 Déformation de la carte — zone du bandeau 3
magnétique
5.2 Hauteur et profil de la surface du bandeau 3
magnétique
5.3 Rugosité de la surface du bandeau magnétique 3
5.4 Essai d’usure du bandeau magnétique 3
5.5 Mesures d’amplitude 3 3
5.6 Variation de l’espacement entre les transitions de flux 3
5.7 Adhérence du bandeau magnétique 3
a
3
5.8 Caractéristiques magnétiques statiques
a
Les caractéristiques magnétiques statiques forment une partie informative de la norme de base.
Par conséquent, les essais associés ne sont pas exigés.
4.4 Tolérance par défaut
Sauf spécification contraire, une tolérance par défaut de ± 5 % doit être appliquée aux valeurs des grandeurs
données pour indiquer les caractéristiques de l'équipement d'essai (dimensions linéaires, par exemple) et les
modes opératoires de méthode d'essai (étalonnage de l'équipement d'essai, par exemple).
4.5 Incertitude totale de mesure
L'incertitude totale de la mesure pour chaque grandeur déterminée par ces méthodes d'essai doit être énoncée
dans le rapport d'essai.
5 Méthodes d’essai
5.1 Déformation de la zone comportant le bandeau magnétique
L’objet de cet essai consiste à mesurer le degré de déformation d’une carte échantillon dans la zone du bandeau
magnétique (voir l’ISO/CEI 7810:1995).
La méthode s’applique à la fois aux cartes estampées et aux cartes non estampées.
5.1.1 Appareillage
L’appareillage est représenté à la Figure 1. Il comprend:
a) une plaque rigide et plane dont la rugosité de surface ne dépasse pas 3,2 µm (130 µin) conformément à
l’ISO 1302:1992. La plaque doit comporter une ouverture pour permettre l’introduction de la pointe de contact
du micromètre;
b) un micromètre dont la précision est de 2,5 µm (98 µin) doté d’une pointe dont la zone de contact est
hémisphérique et d’un diamètre compris entre 3 mm et 8 mm (0,1 in et 0,3 in). La force exercée doit être
f = 0,6 N ± 0,3 N (0,13 lbf ± 0,07 lbf);
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
c) un dispositif permettant d’exercer une force F = 2 ,2 N (0,49 lbf) également répartie sur la face de la carte
opposée à la zone comportant le bandeau magnétique.
Pas à l’échelle
F + f
1
N8
f
3
2

Légende
1 Base de référence
2 Zone du bandeau magnétique
3 Micromètre (précision 2,5 µm)
Figure 1 — Disposition pour la mesure
5.1.2 Mode opératoire
Placer la carte échantillon, recto sur le dessus, sur la plaque rigide et plane. Positionner la zone comportant le
bandeau magnétique sur l’ouverture.
Il convient d’augmenter la charge de 2,2 N (O,49 lbf) d’une quantité f pour compenser la force du micromètre qui
agit dans le sens opposé.
Exercer la force F ( + f ) sur le recto de la carte directement dans la zone comportant le bandeau magnétique.
Attendre 1 min avant d’effectuer les mesures.
Mesurer la déformation de la zone comportant le bandeau magnétique en neuf positions différentes le long du
bandeau, comme représenté à la Figure 2.
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Dimensions en millimètres
Pas à l’échelle
10,00
X
+ ++++ +++ +

NOTE La valeur de X est donnée dans le Tableau 2.
Figure 2 — Points de mesure sur la carte
Tableau 2 — Position de la zone comportant les points de mesure
Zone du bandeau magnétique Dimension X (mm)
Pistes 1 et 2 8,00
Pistes 1, 2 et 3 10,70
5.1.3 Rapport d’essai
Le rapport d’essai doit donner la valeur maximale obtenue à partir de l’ensemble des neuf mesures.
5.2 Hauteur et profil de la surface du bandeau magnétique
L’objet de cet essai consiste à déterminer la hauteur et la planéité du bandeau magnétique d’une carte échantillon
(voir l’ISO/CEI 7811-2:1995 et l’ISO/CEI 7811-6:1996).
L’emplacement du bandeau est décrit dans l’ISO/CEI 7811-4:1995 et l’ISO/CEI 7811-5:1995. La hauteur du
bandeau magnétique est définie par référence à la carte et au profil de surface du bandeau.
5.2.1 Appareillage
Les éléments suivants sont requis:
a) un profilomètre (voir Figure 3);
b) une plaque en métal rigide et évidée comme représenté à la Figure 4. Tout métal rigide peut être utilisé pour la
plaque, mais son épaisseur doit être ajustée, en fonction de la masse volumique du matériau, pour donner un
poids de 2,2 N ± 0,1 N (0,49 lbf ± 0,002 lbf). Toutes les dimensions de la plaque doivent être exactes à
± 0,5 mm (0,002 in) près ou davantage.
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    4
       3
5
6
           2
       1
7

Légende
1 Carte
2 Bandeau magnétique
3 Capteur
4 Appareil de mesure et d’enregistrement
5 Direction de mesure
6 Pointe de contact
7 Plaque support de la carte
Figure 3 — Dispositif de mesure de la hauteur et du profil du bandeau magnétique
Dimensions en millimètres
Pas à l’échelle
15,00
10,00 à 15,00
15,00
10,00 à 15,00
10,00 à 15,00
42,00
84,00

Figure 4 — Plaque support de la carte (surface de contact)
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22,00
22,00

22,00

27,00

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5.2.2 Mode opératoire
Placer la carte soumise à l’essai sous la plaque en métal rigide percée, comme représenté à la Figure 4.
Mesurer la hauteur et le profil de surface du bandeau magnétique ainsi que la surface contiguë de la carte à l’aide
d’un instrument de mesure et d’enregistrement.
Mesurer le profil à une vitesse maximale de 1 mm/s (0,04 in/s) à l’aide d’une pointe de contact dont le rayon est
compris entre 0,38 mm et 2,54 mm (0,015 in et 0,1 in) et exerçant une force comprise entre 0,5 mN et 6 mN
(0,0001 lbf à 0,0013 lbf).
Effectuer trois mesures sur la largeur du bandeau de chaque échantillon. Les trois emplacements V, X et Y sont
définis à une distance de 15 mm ± 2 mm (0,59 in ± 0,08 in)de chaque extrémité de la carte et l’emplacement X se
trouve sur l’axe de la carte (voir Figure 5).
Dimensions en millimètres
Pas à l’échelle
YX V
15,00 ± 2,00 15,00 ± 2,00

Figure 5 — Emplacement des mesures de profil du bandeau magnétique
La mesure le long de chaque ligne V, X et Y commence à 1 mm (0,04 in) au minimum au-dessus du bord
supérieur du matériau magnétique et se termine à 1 mm (0,04 in) au minimum sous le bord inférieur du matériau
magnétique.
NOTE Lors de la préparation de la carte échantillon pour la mesure du profil de surface, il est utile de tracer légèrement un
trait, à l’aide d’une lame affûtée, parallèlement au bord de référence supérieur de la carte pour localiser la largeur de bandeau
minimale W sur l’enregistrement du profil.
5.2.3 Expression des résultats
5.2.3.1 Profil de la surface du bandeau magnétique
Pour les mesures sur les droites V, X et Y (voir Figure 5), tracer une première ligne de mesure de référence (voir
Figures 6 et 7) reliant les points supérieur et inférieur qui définissent les bords de la largeur de bandeau minimale.
La ligne de mesure de référence doit former un angle de 10° au maximum par rapport à la ligne d’enregistrement
graphique de référence.
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b = 1,00 (min) W b = 1,00 (min)

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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
On entend par écart vertical maximal (a) la distance entre la ligne de mesure de référence et le point le plus
éloigné sur le matériau magnétique. La mesure doit être effectuée perpendiculairement à ligne d’enregistrement
graphique de référence.
           1
2

Légende
a = Écart vertical maximal
b = 1 mm (min)
W = Largeur minimale de bandeau comme indiqué dans la norme de base appropriée
1 Zone du bandeau magnétique
2 Ligne d’enregistrement graphique de référence
Figure 6 — Profil de bandeau concave
           1
2

Légende
a = Déviation verticale maximale
b = 1 mm (min)
W = Largeur minimale de bandeau comme indiqué dans la norme de base appropriée
1 Zone du bandeau magnétique
2 Ligne d’enregistrement graphique de référence
Figure 7 — Profil de bandeau convexe
5.2.3.2 Hauteur du bandeau magnétique
Pour les trois mesures le long des droites V, X et Y, tracer une ligne de mesure de référence reliant les points de
départ et d’arrivée (voir Figures 8 et 9). La ligne de mesure de référence doit former un angle de 10° au maximum
avec la ligne d’enregistrement graphique de référence.
On entend par écart vertical (h) la distance entre la ligne de mesure de référence et le point le plus éloigné de la
ligne de référence sur le matériau magnétique. La mesure doit être effectuée perpendiculairement à la ligne
d’enregistrement graphique de référence.
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
           1
                    2

Légende
b = 1 mm (min.)
h = Écart vertical maximal comme indiqué dans la norme de base appropriée
1 Zone du bandeau magnétique
2 Ligne de mesure de référence
Figure 8 — Profil de bandeau concave
            1
2

Légende
b = 1 mm (min.)
h = Écart vertical maximal comme indiqué dans la norme de base appropriée
1 Zone du bandeau magnétique
2 Ligne d’enregistrement graphique de référence
Figure 9 — Profil de bandeau convexe
5.2.4 Rapport d’essai
5.2.4.1 Profil de surface du bandeau magnétique
Le rapport d’essai doit donner les valeurs des trois mesures de l’écart vertical maximal (a) obtenu le long des
droites V, X et Y.
5.2.4.2 Hauteur du bandeau magnétique
Le rapport d’essai doit donner les valeurs des trois mesures de l’écart vertical maximal (h) obtenu le long des
droites V, X et Y.
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
5.3 Rugosité de la surface du bandeau magnétique
L’objet de cet essai consiste à déterminer la valeur de rugosité du bandeau magnétique d’une carte échantillon
(voir l’ISO/CEI 7811-2:1995 et l’ISO/CEI 7811-6:1996).
5.3.1 Mode opératoire
Mesurer la rugosité de la surface du bandeau magnétique à l’aide d’un instrument de mesure et d’enregistrement,
comme représenté à la Figure 3. Respecter toutes les conditions d’essai indiquées en 5.2 à l’exception de ce qui
suit:
 un palpeur à pointe de contact d’un rayon de 2 µm (79 µin) ou 5 µm (197 µin);
 la longueur d’onde de coupure et la longueur de mesure de la rugosité doivent être choisies conformément à
l’ISO 3274 et l’ISO 4288;
 les mesures longitudinales et transversales sont faites sur le bandeau.
5.3.2 Rapport d’essai
Le rapport d’essai doit donner les valeurs moyennes de rugosité R sur l’axe du bandeau magnétique obtenues par
a
des mesures dans le sens longitudinal et transversal.
5.4 Essai d’usure du bandeau magnétique
L’objet de cet essai consiste à déterminer l’amplitude du signal du bandeau magnétique d’une carte échantillon
après une abrasion contrôlée (voir l’ISO/CEI 7811-2:1995 et l’ISO/CEI 7811-6:1996).
5.4.1 Appareillage
Une tête fictive en métal d’une dureté comprise entre 110 HV et 130 HV (échelle de Vickers) ou son équivalent sur
l’échelle de Rockwell. Les dimensions requises sont illustrées à la Figure 10.
Une plaque rigide et plane permettant de maintenir la carte immobile.
Dimensions en millimètres
Pas à l’échelle
5,0
R
N
1

Légende
1 Chanfrein
Figure 10 — Dimensions de la zone de contact de la tête fictive
5.4.2 Mode opératoire
2)
Enregistrer la carte échantillon à 20 ft/mm (500 ftpi)à l’aide d’un courant d’enregistrement d’essai I , lire et
min.
noter l’amplitude du signal.

2) En raison d’une erreur, la norme de base risque d’indiquer des conditions d’enregistrement d’essai incorrectes.
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ISO/CEI 10373-2:1998(F)
Fixer la carte à la plaque, le bandeau magnétique sur le dessus, de sorte que la tête fictive puisse parcourir la
longueur du bandeau ou que la carte puisse bouger sous la tête (voir Figure 11). Effectuer le montage de la carte
sur la plaque rigide plane avec soin et s’assurer que la carte est
...

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