Photography — Density measurements — Part 4: Geometric conditions for reflection density

Photographie — Mesurage des densités — Partie 4: Conditions géométriques pour la densité instrumentale par réflexion

General Information

Status
Withdrawn
Publication Date
31-Oct-1983
Withdrawal Date
31-Oct-1983
Current Stage
9599 - Withdrawal of International Standard
Completion Date
11-May-1995
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ISO 5-4:1983 - Photography -- Density measurements
English language
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ISO 5-4:1983 - Photographie -- Mesurage des densités
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Standards Content (Sample)

International Standard 514
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATlON*ME~YHAPOAHAR OPrAHH3ALlHR Il0 CTAHAAPTH3AUWH.ORGANlSATlON INTERNATIONALE DE NORMALISATION
Photography - Density measurements -
LL
Part 4: Geometric conditions for reflection density
Photographie - Mesurage des densités - Partie 4: Conditions géométriques pour la densité instrumentale par rkflexion
First edition - 1983-11-01
UDC 771.534.531.6 Ref. No. IS0 5/4-1983 (E)
w
-
Descriptors : photography, density measurement, reflection, geometric characteristics.
P
s
Price based on 4 pages

---------------------- Page: 1 ----------------------
Foreword
IS0 (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of
(IS0 member bodies). The work of developing International
national standards bodies
Standards is carried out through IS0 technical committees. Every member body
interested in a subject for which a technical committee has been authorized has the
right to be represented on that committee. International organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to
the member bodies for approval before their acceptance as International Standards by
the IS0 Council.
International Standard IS0 5/4 was developed by Technical Committee ISO/TC 42,
Photography, and was circulated to the member bodies in December 1982.
It has been approved by the member bodies of the following countries:
Australia Germany, F.R. Poland
Belgium
Hungary United Kingdom
China
Italy USA
Czechoslovakia Japan USSR
France Netherlands
No member body expressed disapproval of the document.
O International Organization for Standardization, 1983
Printed in Switzerland

---------------------- Page: 2 ----------------------
IS0 5/4-1983 (E)
I N TE R N AT1 O N A L STA N DAR D
Photography - Density measurements -
Part 4 : Geometric conditions for reflection density
1 Scope and field of application
O Introduction
This part of IS0 5 specifies the geometric conditions for
This International Standard defines the geometric conditions
measuring reflection density of photographic materials.
for reflection density measurements. These conditions corres-
pond approximately to practical situations for viewing
reflection-type photographs or graphic reproductions. This
2 References
calls specifically for illuminating the print at angles between 40
and 50° to the normal to the surface and viewed along the nor-
IS0 511, Photography Density measurements - Part I:
A-
mal. These conditions tend to reduce surface glare and maxi-
Terms, symbols, and notations.1)
mize the density range of the image. This is sometimes referred
to as annular 45O : Oo (or Oo : 45O) reflection densitometry.
Such illuminations and viewing is generally used for critical
viewing such as in judging prints submitted for Competition or
exhibition.
3 Definitions
The geometric conditions specified here are intended to
3.1 reflectance factor IR): The ratio of the measured
simulate 45O illumination for viewing or photographing a
reflected flux from the specimen, Ge, to the measured reflected
sample. There may be some engineering advantages in design-
flux from a perfect-reflecting and perfect-diffusing material,
ing a measuring instrument with normal illumination and 45O
GeA, located in place of the specimen.
collection. Reversing the geometry, in this way, has no known
effect on the measured values, so both geometric arrange-
ments are included in this International Standard. @e
R =-
@eA
This International Standard specifies illumination at all azimuth
angles. These measurements are not sensitive to directional
3.2 reflection density (or reflectance factor densitys)) (DR) :
reflections from textured surfaces. It does not cover those
The logarithm to the base 10 of the reciprocal of the reflectance
situations where light has been deliberately polarized.
factor, R.
1
Although intended primarily for use in the measurement of the
reflection characteristics of processed photographic materials,
this International Standard is also applicable to the measure-
ment of these characteristics for other materials.
4 IS0 standard reflection density
It is important to recognize that this International Standard
4.1 Influx and efflux geometry
specifies that the surface behind the specimen shall be spec-
trally non-selective, diffuse-reflecting, and has an IS0 reflec-
Annular reflection measurements may be made with an annular
tion density above 1,50. Some reflection density standards
illuminator and a normal directional receiver, or a normal direc-
have generally specified backing materials with much lower
tional illuminator and an annular receiver. These modes shall be
reflection density.
known as the "annular influx mode" and the "annular efflux
mode", respectively. The annular influx mode is illustrated in
The spectral conditions for measuring reflection density are the figure. The annular efflux mode would be illustrated by the
described in Part 3 of this International Standard. figure if the arrows showing flux direction were reversed.
At present at the stage of draft. (Revision of IS0 5-1974 and ISO/DIS 6136.)
1)
At present at the stage of draft. (Revision of IS0 5-1974.)
2)
The International Commission on Illumination (CIE) proposes to designate the measurement referred to as "reflection density" in this International
3)
Standard as "Reflectance Factor Density".
1

---------------------- Page: 3 ----------------------
IS0 5/4-1983 (E)
Y
Z
X
Y\ \ \\ I I/
Efflux
I
Influx'
Figure - Geometry of the annular influx mode
texture and diffraction would have to be considered. For non-
These modes can be described geometrically in terms of an an-
uniform specimens, the size of the sampling aperture should be
nular distribution and a normally directed distribution. The
specified.
distribution may be a distribution of radiance or a distribution of
sensitivity, depending on the mode. The distribution of sen-
sitivity includes the effect of all of the optical components in
4.3 Irradiated area
the receiver.
The irradiated area of the specimen shall be greater than the
4.2 Sampling aperture
sampling aperture, and its boundary shall lie at least 2 mm
beyond the boundary of the sampling aperture. Ideally, the irra-
Geometric aspects of the optical system of an instrument limit
diance should be uniform over the irradiated area. The variation
the measurement to a well-defined region of the specimen
of the irradiance shall be measured with a photodetector having
plane, called the "sampling aperture". The sampling aperture
an aperture similar in shape to, but one quarter the size of, the
shall be determined by the angular field of sensitivity of the
sampling aperture. The irradiance measured at any point in the
receiver. If a mechanical aperture is used in the plane of the
90 YO of the maximum value.
irradiated area shall be at least
specimen, its area shall be greater than the sampling aperture,
Lack of uniformity is immaterial when uniform specimens are
and its boundary shall lie at least 2 mm beyond the boundary of
measured, but can be an important source of error in
the sampling aperture.
measurements on a non-uniform specimen.
The sensitivity of the receiver to radiation from each point in
4.4 Annular distribution
the sampling aperture and its surrounding area should ideally
be constant from point to point within the sampling aperture
The angular distribution of influx radiance or the angular
and zero at all points i
...

Norme internationale 514
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANOARDIZATlON*MEXLlYHAPO/lHAR OPrAHHJAUHR Il0 CTAH/lAPTW3AUHH.ORGANlSATlON INTERNATIONALE DE NORMALISATION
Photographie - Mesurage des densités -
-
Partie 4: Conditions géométriques pour la densité
instrumentale par réflexion
Photography - Density measurements - Part 4: Geometric conditions for reflection density
Première édition - 1983-11-01
- CDU ï71.534.531.6 Réf. no : IS0 5/4-1983 (FI
U
I
Descripteurs : photographie, mesurage de densité, réflexion, caractéristique géométrique.
2
c
Prix basé sur 4 pages

---------------------- Page: 1 ----------------------
Avant-propos
L‘ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale
d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de I’ISO). L‘élaboration
des Normes internationales est confiée aux comités techniques de I’ISO. Chaque
comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité technique
correspondant. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouverne-
mentales, en liaison avec I’ISO, participent également aux travaux.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis
aux comités membres pour approbation, avant leur acceptation comme Normes inter-
nationales par le Conseil de I’ISO.
La Norme internationale IS0 5/4 a été élaborée par le comité technique ISO/TC 42,
Photographie, et a été soumise aux comités membres en décembre 1982.
Les comités membres des pays suivants l’ont approuvée:
Allemagne, R.F. Hongrie Royaume-Uni
Australie Italie
Tchécoslovaquie
Belgique Japon URSS
Chine Pays-Bas
USA
France Pologne
Aucun comité membre ne l’a désapprouvée.
O Organisation internationale de normalisation, 1983 O
Imprimé en Suisse

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NORME INTERNATIONALE IS0 5/4-1983 (F)
Photographie - Mesurage des densités -
Partie 4 : Conditions géométriques pour la densité
instrumentale par réflexion
II est important de noter que la présente Norme internationale
O Introduction
spécifie que la surface derrière l'échantillon doit être spectrale-
ment neutre, diffusante par réflexion et doit avoir une densité
La présente Norme internationale définit les conditions géomé-
IS0 supérieure à 1.50. Quelques étalons de densité par
.- triques pour les mesures de la densité instrumentale par
réflexion ont des supports d'échantillons mal définis, ayant une
réflexion. Ces conditions correspondent approximativement à
densité par réflexion beaucoup plus faible.
celles utilisées en pratique pour examiner des photographies ou
des reproductions graphiques sur support opaque. Elles consis-
tent essentiellement à éclairer le document sous des angles
1 Objet et domaine d'application
compris entre 40' et 50° par rapport à la normale à la surface et
à l'examiner selon cette normale. Ces conditions tendent à
La présente partie de 1'1S0 5 spécifie les conditions géométri-
réduire les réflexions parasites sur la surface et à augmenter au
ques pour les mesures de la densité instrumentale par réflexion,
maximum l'intervalle de densité de l'image. Ceci est parfois
sur les produits photographiques.
appelé densitométrie par réflexion annulaire 45' : 0' (ou
Oo : 45O). Ces conditions d'éclairage et d'examen sont généra-
lement employées pour des examens critiques tels que le juge-
2 Références
ment des tirages soumis pour un concours ou une exposition.
Y
IS0 5&, Photographie - Mesure des densités -[Parle 7:
-.*
Les conditions géométriques définies ci-après permettent de Termes, symboles et notations. 1)
simuler l'éclairage à 45O utilisé pour examiner ou photographier
r--
un échantillon. Il peut y avoir certains avantages techniques à
ds-y%.P?wam &'-- .+ Partie 3:
utiliser un appareil de mesure avec un éclairage perpendiculaire Conditions spectrales. 2)
à 45O. Cette inversion de la configuration géomé-
et une mesure
trique n'a pas d'effet sur les résultats de la mesure, aussi les
3 Définitions
deux types de géométrie sont-ils inclus dans la présente Norme
internationale.
3.1 facteur de luminance élargi, par réflexion, R: Rap-
port du flux instrumental @@ réfléchi par l'échantillon (mesuré
La présente Norme internationale prévoit un éclairage sous
avec un instrument de géométrie donnée) au flux instrumental
tous les azimuts. Ces mesures ne sont pas sensibles aux
QéA réfléchi par un diffuseur parfait par réflexion, remplacant
réflexions directionnelles dues à la texture des surfaces. Elle ne
l'échantillon.
couvre pas les cas où la lumière a été volontairement polarisée.
@Q
R =-
Bien qu'étant destinée principalement à la mesure des caracté-
@@A
ristiques par réflexion des produits photographiques traités, la
présente Norme internationale est aussi applicable à la mesure
3.2 densité instrumentale par réflexion (ou densité du
de ces caractéristiques sur tout autre matériau plan.
facteur de réflectance3)) DR: Logarithme base 10 de l'inverse
R.
du facteur de luminance élargi par réflexion,
Les conditions spectrales pour la mesure des densités par
1
réflexion sont décrites dans la partie 3 de la présente Norme
DR = log~o- =
- lOg1oR
internationale. R
1) Actuellement au stade de projet. (Révision de l'lSO/5-1974 et IÇO/DIS 6136.)
2) Actuellement au stade de projet. (Révision de I'ISO 5-1974).
3) La Commission internationale de l'éclairage (CIE) suggère de désigner la mesure ((densité par réflexion)) de la présente Norme internationale par
((densité du facteur de réflectance ».
1

---------------------- Page: 3 ----------------------
IS0 5/4-1983 (FI
Y
Z
X
1
Flux émergent
Flux incident’
Figure - Caractéristiques géométriques du mode à flux incident annulaire
petite source émettant un rayonnement constant, placée en dif-
4 Densité instrumentale par réflexion,
férents points de la fenêtre de champ et de la zone environ-
normalisée IS0
nante. La surface de cette source doit être égale au dixième de
celle de la fenêtre de champ.
4.1 Géométrie des flux incident et émergent
La réponse pour toute position de la source à l’intérieur de la
Les mesures de réflexion annulaire peuvent être faites soit au
fenêtre de champ ne doit pas être inférieure à 90 % de la
moyen d’un dispositif d‘éclairage annulaire et d‘un récepteur
réponse maximale. La réponse pour toute position de la source
directionnel sur la normale à la surface, soit au moyen d‘un dis-
dans la zone environnante ne doit pas être supérieure à 0,l %
positif d’éclairage directionnel sur la normale et d‘un récepteur
de la même réponse maximale.
annulaire. Ces conditions opératoires sont désignées respecti-
à flux incident annulaire)) et
vement sous les noms de ((mode
Les dimensions maximales de la fenêtre de champ dépendent
((mode à flux émergent annulaire)). Le premier est représenté
des dimensions du système optique du récepteur utilisé pour la
sur la figure. Le deuxième serait représenté sur la figure en
mesure du facteur de luminance élargi par réflexion ou de la
inversant le sens des flèches qui indiquent la direction des flux.
densité instrumentale par réflexion. La fenêtre de champ peut
avoir des dimensions quelconques pourvu que les conditions
-
Au point de vue géométrique, ces modes se définissent en ter-
angulaires définies en 4.4 et 4.5 soient remplies pour tous ses
mes de distribution annulaire et de distribution dirigée suivant la
points, mais elle ne doit pas être petite à tel point qu’intervien-
normale à la surface. Suivant le mode adopté, il s‘agira d‘une
nent la granularité, la texture du spécimen et la diffraction.
distribution de luminances ou d’une distribution de sensibilités.
Cette dernière comprend l‘action de tous les composants opti-
Pour des échantillons non uniformes, la dimension de la fenêtre
ques du récepteur.
de champ devrait être spécifiée.
4.2 Fenêtre de champ
4.3 Surface éclairée
Dans un appareil, la géométrie du système optique limite les
mesures à une zone bien définie du plan de l’échantillon appe-
La surface éclairée de l‘échantillon doit être plus grande que la
lée ((fenêtre de champ)). Elle doit être délimitée par le champ
fenêtre de champ d‘au moins 2 mm dans toutes les directions.
angulaire de sensibilité du récepteur. Si l’on utilise une fenêtre
Idéalement, l’éclairement doit être uniforme sur toute la surface
matérielle sur le plan de l’échantillon, sa surface doit être supé-
éclairée. Les variations d’éclairement doivent être mesurées
rieure à celle de la fenêtre de champ et son bord se trouver à
avec un photodétecteur d
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.