ISO 9358:1994
(Main)Optics and optical instruments — Veiling glare of image forming systems — Definitions and methods of measurement
Optics and optical instruments — Veiling glare of image forming systems — Definitions and methods of measurement
Adopts both the veiling glare index (VGI) and the glare spread function (GSF) as measures of the veiling glare characteristics of optical and electrooptical imaging systems. Laboratory measurement techniques are described in general terms and recommendations are made regarding the performance of the main subunits of the equipment. The measurement techniques described are chiefly valid for the visual spectral range. Also gives guidelines for the operation of measuring equipment such that accurate results can be achieved.
Optique et instruments d'optique — Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie — Définitions et méthodes de mesure
La présente Norme internationale adopte à la fois l'indice de la lumière parasite diffuse (VGI) et la fonction de diffusion de la lumière parasite diffuse (GSF) comme mesures des caractéristiques de la lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie optiques et électro-optiques. Elle décrit les techniques de mesure en laboratoire en termes généraux et donne des recommandations en ce qui concerne les performances des principaux sous-ensembles de l'équipement. Les techniques de mesure décrites dans la présente Norme internationale sont surtout valables pour le domaine spectral visuel. Pour les domaines spectraux adjacents, des modifications de ces techniques pourront s'avérer nécessaires. La présente Norme internationale donne les méthodes normalisées de spécification des conditions d'essai et d'expression des résultats alors que pour faciliter une comparaison réciproque des chiffres de l'indice VGI, elle spécifie les conditions d'essai normalisées. La présente Norme internationale a également pour objet de fournir des lignes directrices pour l'utilisation de l'appareillage de mesure de manière à obtenir des résultats aussi précis que possible. La présente Norme internationale considère comme valables les résultats de mesures de l'indice de la lumière parasite diffuse effectuées au moyen d'un appareillage qui n'est pas strictement conforme aux configurations décrites, à condition que la méthode de mesure soit essentiellement similaire (c'est-à-dire qu'elle permette la mesure du rapport de la luminance énergétique dans l'ima 292ge de la tache noire à la luminance énergétique du champ lumineux environnant) et à condition que les résultats des essais puissent être corrélés avec l'exactitude nécessaire aux résultats obtenus avec un équipement strictement conforme à la présente Norme internationale.
General Information
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INTERNATIONAL
ISO
STANDARD
9358
First edition
1994-07-15
Optics and Optical instruments - Veiling
glare of image-forming Systems -
Definitions and methods of measurement
lt ins trumen Urniere parasite diffuse des
Optique e ts d’optique - L
d ‘imagerie - Definitions et methodes de mesure
systemes
Reference number
ISO 9358:1994(E)
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ISO 9358: 1994(E)
Foreword
ISO (the international Organization for Standardization) is a worldwide
federation of national Standards bodies (ISO member bodies). The work
of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Esch member body interested in a subject for
which a technical committee has been established has the right to be
represented on that committee. International organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
(1 EC) on all matters of electrotechnical standardization.
Draft International Standards adopted by the technical committees are
circulated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.
International Standard ISO 9358 was prepared by Technical Committee
ISO/TC 172, Optics and Optical instruments, Subcommittee SC 1, Funda-
mental s tandards.
0 ISO 1994
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced
or utilized in any form or by any means, electronie or mechanical, including photocopying and
microfilm, without Permission in writing from the publisher.
international Organkation for Standardization
Case Postale 56 l CH-l 211 Geneve 20 l Switzerland
Printed in Switzerland
ii
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0 ISO
ISO 9358: 1994(E)
Introduction
The image plane of an Optical or electrooptical imaging System normally
receives not only the image forming radiation, but also stray (unwanted)
radiation which tan reduce image contrast.
This unwanted radiation is referred to as “veiling glare”. In lens Systems
it usually arises from one or more of the following Causes:
internal multiple reflections between the lens surfaces;
a)
scatter from the surfaces of the lens elements due to scratches and
b)
other imperfections in the polish, dir? and dust, fingerprints, grease,
poor antireflection coatings and faulty reflective coatings on mirrors;
bulk scatter from the interior of the glass and from bubbles and striae;
d
scatter from Optical cements;
d)
scatter and reflections from ground edges of the lens elements, from
e)
internal lens mounts and from the internal surfaces of the lens barrel;
reflections from the surfaces of diaphragms and shutter blades;
fluorescence of the glass Optical cements.
I ne veiling glare of lens on its own tan be considerably different from the
veiling glare of a lens System and Camera body combination. In the latter
case, reflection of part of the image-forming radiation from the
photosensitive material in combination with further reflections and scatter
from the lens System and Camera body contribute significantly to the
veiling glare.
In electrooptical devices, veiling glare arises from similar Causes. For in-
stance, in an image intensifier tube glare tan arise from:
a) radiation transmitted through the photocathode being scattered and
reflected by internal structures back onto the photocathode;
b) radiation emitted from the Phosphor going back to the photocathode;
c) in tubes with microchannel plates some electrons incident on the input
face tan be back-scattered from this face before returning to it with
the primary electrons.
For the purposes of this International Standard, it is important to differen-
tiate between veiling glare which originates from radiation incident on the
entrance pupil or input face of an Optical or electrooptical System and other
factors which may Cause a reduction in contrast and which may therefore
influence a measurement of veiling glare.
. . .
Ill
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CJ ISO
ISO 9358:1994(E)
Examples of these are:
a) radiation entering a System through leaks in the casing or body of the
System;
radiation from internal sources in a System such as LEDs;
b)
c) reflection of ambient radiation from projection screens or CRT dis-
Play%
dark current in electrooptical devices;
d)
fog in photographic emulsions.
4
There a re two principle 1 methods of measuring veiling glare, namely the
integral (or black patch) and the analytical (or gla re spread function).
In the integral method, the target Object is a small black area surrounded
by an extended uniform Source. The veiling glare index (VGI) is specified
as the ratio of the irradiance in the image of the black area to the irradiance
in the image of th
...
NORME
ISO
INTERNATIONALE
9358
Première édition
3 994-07-l 5
Optique et instruments d’optique -
Lumière parasite diffuse des systèmes
d’imagerie -
Définitions et méthodes de
mesure
Op tics and op tical instruments - Veiling glare of image-forming
systems - Definitions and methods of measurement
Numéro de référence
ISO 9358: 1994(F)
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ISO 9358:1994( F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une féderation
mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de
I’ISO). L’elaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de I’ISO. Chaque comite membre interesse par une
étude a le droit de faire partie du comité technique crée à cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent egalement aux travaux. L’ISO colla-
bore etroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptes par les comités techniques
sont soumis aux comites membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des co-
mites membres votants.
La Norme internationale ISO 9358 a été elaboree par le comité technique
lSO/rC 172, Optique et instruments d’optique, sous-comite SC 1, Nor-
mes fondamentales.
0 60 1994
Droits de reproduction reserves. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publi-
cation ne peut être reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun pro-
cedé, electronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord
6crit de I’bditeur.
Organisation internationale de normalisation
Case Postale 56 l CH-121 1 Geneve 20 l Suisse
Imprimé en Suisse
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ISO 9358: 1994(F)
Introduction
Le plan image d’un système d’imagerie optique ou électro-optique reçoit
normalement non seulement le rayonnement formant l’image mais
également un rayonnement parasite (indésirable) susceptible de réduire le
contraste de l’image.
Ce rayonnement parasite constitue ce qu’on appelle ((lumiere parasite
diffuse)). Dans les systémes de lentilles, il resulte généralement d’une ou
plusieurs des causes suivantes:
a) réflexions internes multiples entre les surfaces des lentilles;
b) diffusion à partir des surfaces des lentilles due à des rayures ou autres
imperfections de polissage, à des impuretés ou de la poussiére, des
traces de doigts, de la graisse, un traitement optique de mauvaise
qualité et à des revêtements refléchissants defectueux sur les miroirs;
c) diffusion générale provenant de I’interieur du verre, de bulles et de
stries;
d) diffusion due aux adhésifs d’optique;
e) diffusion et réflexions provenant des bords dépolis des lentilles, des
montures internes des lentilles et des surfaces internes du tube
d’objectif;
f) réflexions provenant des surfaces des diaphragmes et des lamelles
d’obturateur;
g)
fluorescence du verre ou des adhesifs d’optique.
La lumiere parasite diffuse d’une lentille seule peut differer conside-
rablement de celle qui résulte d’une combinaison de systéme de
lentilles/chambre d’appareil de prise de vues. Dans ce dernier cas, la re-
flexion d’une partie du rayonnement de formation d’image issu du maté-
riau photosensible combinee aux reflexions et a la dispersion provenant
du système de lentilles et de la chambre contribuent de maniere non ne-
gligeable au phénoméne de lumière parasite diffuse.
Dans les dispositifs électro-optiques, la lumiere parasite diffuse resulte de
causes similaires. Par exemple, dans un amplificateur d’image, la lumière
parasite diffuse peut resulter des causes suivantes:
a)
le rayonnement traversant la photocathode est diffuse et renvoyé vers
la photocathode par les structures internes;
b) le rayonnement émis par le phosphore est renvoyé vers la
photocathode;
. . .
III
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0 ISO
ISO 9358: 1994(F)
c) dans les tubes à galettes de microcanaux, certains electrons incidents
sur la face d’entrée peuvent être rétrodiffusés à partir de cette face
avant d’y revenir avec les électrons primaires.
Aux fins de la présente Norme internationale, il est important de faire la
différence entre la lumiére parasite diffuse qui resulte du rayonnement
incident sur la pupille d’entree ou la face d’entree d’un systéme optique
ou électro-optique, et d’autres facteurs susceptibles d’entraîner une ré-
duction du contraste et, par conséquent, d’avoir une incidence sur la me-
sure de la lumiere parasite diffuse.
Quelques exemples:
rayonnem ent pénétrant dans un système par des interstices du boîtier
a)
ou de la c hambre du systèm e;
b) rayonnement Amis par des sources internes dans le cas d’un système
a diodes électrol
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NORME
ISO
INTERNATIONALE
9358
Première édition
3 994-07-l 5
Optique et instruments d’optique -
Lumière parasite diffuse des systèmes
d’imagerie -
Définitions et méthodes de
mesure
Op tics and op tical instruments - Veiling glare of image-forming
systems - Definitions and methods of measurement
Numéro de référence
ISO 9358: 1994(F)
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ISO 9358:1994( F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une féderation
mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de
I’ISO). L’elaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de I’ISO. Chaque comite membre interesse par une
étude a le droit de faire partie du comité technique crée à cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent egalement aux travaux. L’ISO colla-
bore etroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptes par les comités techniques
sont soumis aux comites membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des co-
mites membres votants.
La Norme internationale ISO 9358 a été elaboree par le comité technique
lSO/rC 172, Optique et instruments d’optique, sous-comite SC 1, Nor-
mes fondamentales.
0 60 1994
Droits de reproduction reserves. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publi-
cation ne peut être reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun pro-
cedé, electronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord
6crit de I’bditeur.
Organisation internationale de normalisation
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Imprimé en Suisse
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ISO 9358: 1994(F)
Introduction
Le plan image d’un système d’imagerie optique ou électro-optique reçoit
normalement non seulement le rayonnement formant l’image mais
également un rayonnement parasite (indésirable) susceptible de réduire le
contraste de l’image.
Ce rayonnement parasite constitue ce qu’on appelle ((lumiere parasite
diffuse)). Dans les systémes de lentilles, il resulte généralement d’une ou
plusieurs des causes suivantes:
a) réflexions internes multiples entre les surfaces des lentilles;
b) diffusion à partir des surfaces des lentilles due à des rayures ou autres
imperfections de polissage, à des impuretés ou de la poussiére, des
traces de doigts, de la graisse, un traitement optique de mauvaise
qualité et à des revêtements refléchissants defectueux sur les miroirs;
c) diffusion générale provenant de I’interieur du verre, de bulles et de
stries;
d) diffusion due aux adhésifs d’optique;
e) diffusion et réflexions provenant des bords dépolis des lentilles, des
montures internes des lentilles et des surfaces internes du tube
d’objectif;
f) réflexions provenant des surfaces des diaphragmes et des lamelles
d’obturateur;
g)
fluorescence du verre ou des adhesifs d’optique.
La lumiere parasite diffuse d’une lentille seule peut differer conside-
rablement de celle qui résulte d’une combinaison de systéme de
lentilles/chambre d’appareil de prise de vues. Dans ce dernier cas, la re-
flexion d’une partie du rayonnement de formation d’image issu du maté-
riau photosensible combinee aux reflexions et a la dispersion provenant
du système de lentilles et de la chambre contribuent de maniere non ne-
gligeable au phénoméne de lumière parasite diffuse.
Dans les dispositifs électro-optiques, la lumiere parasite diffuse resulte de
causes similaires. Par exemple, dans un amplificateur d’image, la lumière
parasite diffuse peut resulter des causes suivantes:
a)
le rayonnement traversant la photocathode est diffuse et renvoyé vers
la photocathode par les structures internes;
b) le rayonnement émis par le phosphore est renvoyé vers la
photocathode;
. . .
III
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ISO 9358: 1994(F)
c) dans les tubes à galettes de microcanaux, certains electrons incidents
sur la face d’entrée peuvent être rétrodiffusés à partir de cette face
avant d’y revenir avec les électrons primaires.
Aux fins de la présente Norme internationale, il est important de faire la
différence entre la lumiére parasite diffuse qui resulte du rayonnement
incident sur la pupille d’entree ou la face d’entree d’un systéme optique
ou électro-optique, et d’autres facteurs susceptibles d’entraîner une ré-
duction du contraste et, par conséquent, d’avoir une incidence sur la me-
sure de la lumiere parasite diffuse.
Quelques exemples:
rayonnem ent pénétrant dans un système par des interstices du boîtier
a)
ou de la c hambre du systèm e;
b) rayonnement Amis par des sources internes dans le cas d’un système
a diodes électrol
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Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.