Geometrical product specifications (GPS) -- Surface texture: Areal

This document defines classes of geometrical defects that might be present on the surfaces of material measures and calibration specimens conforming to ISO 5436-1 and ISO 25178-70, and defines terms for ways of responding to these defects. This document is applicable as follows: a) to help customers and users of material measures for surface metrology specify their nominal features (ideal geometrical properties) when obtaining them from manufacturers and suppliers; b) to enable users of material measures to formulate their own rules and policies for responding to the occurrence of defects in such a way as to minimize the uncertainty of their own measurements; NOTE Such policies are required in ISO/IEC 17025:2017, 7.2.1.1, 7.2.1.3, 7.3.1 and 7.8.5 c) and d), for example. c) to enable calibration laboratories and their customers to agree on a common policy on how to treat defects on a material measure that has been sent for calibration; d) to educate users of material measures about the different significance and importance of different kinds of defect; e) for other GPS standards which make reference to the issue of selection of measuring locations, or selection of areas to be measured or avoided in measurement.

Spécification géométrique des produits (GPS) -- État de surface: surfacique

Le présent document traite des défauts géométriques pouvant ętre présents sur les surfaces des mesures matérialisées et des échantillons d'étalonnage conformes ŕ l'ISO 5436-1 et ŕ l'ISO 25178-70 et définit les termes désignant les maničres de répondre ŕ ces défauts. Le présent document est applicable comme suit: a) pour aider les clients et les utilisateurs de mesures matérialisées en métrologie de surface ŕ spécifier leurs éléments nominaux (propriétés géométriques idéales) en cas d'obtention de ces mesures auprčs des fabricants et des fournisseurs; b) pour permettre aux utilisateurs de mesures matérialisées de formuler leurs propres rčgles et politiques pour répondre ŕ l'occurrence de défauts de maničre ŕ réduire le plus possible l'incertitude de leurs propres mesurages; NOTE Ces politiques sont par exemple requises dans l'ISO/IEC 17025:2017, 7.2.1.1, 7.2.1.3, 7.3.1 et 7.8.5 c) et d). c) pour permettre aux laboratoires d'étalonnage et ŕ leurs clients de convenir d'une politique commune sur la maničre de traiter les défauts présents sur une mesure matérialisée ayant été envoyée en vue d'ętre étalonnée; d) pour former les utilisateurs de mesures matérialisées ŕ la signification et ŕ l'importance variable des différents types de défauts; e) pour les autres normes GPS qui font référence ŕ la question du choix des emplacements de mesure ou du choix des zones ŕ mesurer ou des zones ŕ éviter lors du mesurage.

General Information

Status
Published
Publication Date
16-May-2019
Current Stage
6060 - International Standard published
Start Date
03-Apr-2019
Completion Date
17-May-2019
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ISO 25178-73:2019 - Geometrical product specifications (GPS) -- Surface texture: Areal
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Standards Content (sample)

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 25178-73
First edition
2019-05
Geometrical product specifications
(GPS) — Surface texture: Areal —
Part 73:
Terms and definitions for surface
defects on material measures
Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface:
surfacique —
Partie 73: Termes et définitions pour les défauts de surface sur les
mesures matérialisées
Reference number
ISO 25178-73:2019(E)
ISO 2019
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ISO 25178-73:2019(E)
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be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting

on the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address

below or ISO’s member body in the country of the requester.
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Published in Switzerland
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ISO 25178-73:2019(E)
Contents Page

Foreword ........................................................................................................................................................................................................................................iv

Introduction ..................................................................................................................................................................................................................................v

1 Scope ................................................................................................................................................................................................................................. 1

2 Normative references ...................................................................................................................................................................................... 1

3 Terms and definitions ..................................................................................................................................................................................... 1

3.1 General terms and definitions ................................................................................................................................................... 1

3.2 Terms and definitions for classes of defects .................................................................................................................. 2

3.3 Terms and definitions for ways of responding to defects .................................................................................. 3

Annex A (informative) Stains and discolorations .................................................................................................................................... 5

Annex B (informative) Relation to the GPS matrix model .............................................................................................................. 6

Bibliography ................................................................................................................................................................................................................................ 7

© ISO 2019 – All rights reserved iii
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ISO 25178-73:2019(E)
Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards

bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out

through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical

committee has been established has the right to be represented on that committee. International

organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.

ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of

electrotechnical standardization.

The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are

described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the

different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the

editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/directives).

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of

patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of

any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or

on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/patents).

Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not

constitute an endorsement.

For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and

expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the

World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www .iso

.org/iso/foreword .html.

This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 213, Dimensional and geometrical product

specifications and verification.
A list of all parts in the ISO 25178 series can be found on the ISO website.

Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A

complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/members .html.
iv © ISO 2019 – All rights reserved
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ISO 25178-73:2019(E)
Introduction
0.1 General

This document is a geometrical product specification (GPS) standard and is to be regarded as a general

GPS standard (see ISO 14638). It influences chain link F of the chain of standards on profile surface

texture, areal surface texture and surface imperfections.

The ISO GPS masterplan given in ISO 14638 gives an overview of the ISO GPS system of which this

document is a part. The fundamental rules of ISO GPS given in ISO 8015 apply to this document.

The default decision rules given in ISO 14253-1 apply to specifications made in accordance with this

document, unless otherwise stated.

For more detailed information on the relation of this document to the GPS matrix model, see Annex B.

This document is based on the premise that a material measure has a real geometrical surface which

is a realization of an ideal or nominal surface, which in turn can in most cases be regarded as a simple

mathematical concept: for example a plane, a sphere, a step function or a sinusoidal shape. In each

case there will be an associated precisely known quantity, which is used when the material measure is

measured by a surface texture-measuring instrument in one or more operations during the calibration

and set-up of that instrument.

Any portion of the measuring surface of the material measure at which the real surface deviates from

the ideal nominal surface is therefore more or less undesirable, and is here denoted by the term defect.

0.2 Relationship to ISO 8785

ISO 8785 was intended to apply to all types of surface, whether functional or otherwise. Examples

of functional surfaces are: brake disks, cylinder linings, optical lens and mirror surfaces, fluid pipe

couplings, marine propeller blades and artificial hip joints. In each case, the surface has to perform one

or more definite jobs and, consequently, the choice of method of manufacture and the type of surface

geometry, together with a certain range of parameter values which are specified for it, are usually a

compromise between conflicting requirements which might not all be perfectly fulfilled. The functional

surface can then be measured in order to find out how closely it matches the parameter values which

have been specified.

However, this is not the same as determining how well the surface functions. In many cases it is not

obvious exactly what the ideal profile shape from the point of view of best function would be. Therefore,

it is possible that a surface which deviates from the specified profile in some places actually performs

better than one which has no deviations. For this reason, ISO 8785 used the general term imperfections,

which does not suggest undesirability, in preference to the term defects, which does suggest this.

Unlike ISO 8785, this document does not deal with any classes of defect, other than geometrical, that

might appear upon the surfaces of material measures. Examples of other classes of defect are: unwanted

variations in such physical properties as:
— surface hardness;
— surface colour;
— electrical properties.

For the purposes of this document, no instance of such an unwanted variation in a physical property

is considered to be a defect unless it coincides spatially with the area of a geometrical defect. For

information on variations in surface colour, see Annex A.
0.3 Relationship to ISO 5436-1 and ISO 25178-70

The material measures and calibration specimens which are described in ISO 5436-1 and ISO 25178-70

are not functional surfaces as described in 0.2. Material measures exist only in order to be measured;

© ISO 2019 – All rights reserved v
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ISO 25178-73:2019(E)

there are no physical jobs which they have to do. They are physical representations of a mathematically

simple shape, which is therefore the ideal shape and which can be specified precisely.

Any deviation from this ideal shape is therefore undesirable, and so the term defect is preferable to the

term imperfection. It is possible for a single calibration specimen to be used in two or more different

applications, but for each application there exists a theoretically ideal shape, although certain features

of the ideal might be more important in one application than in the other.

For example, a sinusoidal roughness specimen can be used to check Ra or RSm parameter values. In

the first application it is more important that the sinusoidal specimen exhibits uniformity of amplitude

(peak height) than uniformity of wavelength (peak spacing), but in the second application it is the

other way around. The fact that the calibration specimen can be used in two different applications does

not make it a functional surface; it is still a measurement standard which exists only in order to be

measured.
0.4 Defining defects by reference to geometrical shape rather than cause

ISO 8785:1998, Clause 4, contains several descriptions of surface imperfections in terms which make

reference to the cause of the imperfection, instead of just their geometrical shape. This can create the

following difficulties when applying these descriptions in practice:

a) the possibility of confusion, in cases where a feature has the shape of one type of imperfection, but

has the cause of a different one;

b) in many cases, particularly with very small features at the limits of visibility, the cause might be

unknown and hard to discover;
c) it becomes more difficult to translate the terms into other languages.

In this document the emphasis is on geometrical shape, and three terms will be defined corresponding

to the cases in which the deviation is upwards from the surface (outward defect, 3.2.6), downwards into

the surface (inward defect, 3.2.7) or neither upward nor downward (neutral defect, 3.2.8). However,

there is one exception: it is necessary to define one special type of defect (negative defect, 3.2.9) which

sometimes appears on material measures that have been manufactured by one of the widely-used

methods of replication and which appears on such a replicated material measure as the result of a

corresponding defect on the surface of the mother mould (often called a negative), which produced the

replica.
0.5 Terms for ways of responding to defects

Consistent with the general idea that defects are undesirable, this document contains a section which

defines terms for all possible responses to the presence of defects. It does not specify which of these

responses should be applied in any particular situation, it simply defines terms and names for them, and

thus enables users, manufacturers, calibration metrologists and writers of other standards documents

to state their own policies and procedures clearly and unambiguously.

0.6 Defect as a portion of the surface rather than a property of the whole surface

A defect is a geometrical feature limited by natural boundaries (in the language of ISO 8015:2011, 5.4

and ISO 22432:2011, 3.2), that is non-ideal and real (ISO 22432:2011, 3.2.2). In this document a defect

is considered to be a portion of the physical surface of a geometrical measurement standard, rather

than a property of the whole surface. This is necessary in order to distinguish between three common

responses to the presence of defects on a measurement standard, responses which are easily confused

with each other if they are not precisely defined. They are:

— first, to remove the defect (by either physically cutting it off the measuring area or else discarding

data points in the software);
— second, to avoid the defect (by redefining the limits of the measuring area);

— third, to repair the defect (by either reworking or cleaning the specimen, or else retouching data in

the software).
vi © ISO 2019 – All rights reserved
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ISO 25178-73:2019(E)

In the absence of strict definitions for the terms remove, avoid and repair, the widely-used term remove is

ambiguous. However, it is important to distinguish between repairing and removing defects as defined

in this document, because many users of specimens and writers of procedures and policies will want to

forbid one of these while allowing or requiring the other to be done.
0.7 Parties involved: manufacturer, customer, user

Typically, in the case of material measures used in surface texture measurement, the manufacturer of

the material measures will sell them to a customer who simply acts as a distributor, by selling them on,

or including them as accessories, to end users who will ultimately use them to check surface measuring

instruments. Each of these three parties plays a different role in the identification and handling of

defects, and for this reason all three terms are used here.

0.8 Inapplicability of the definitions presented in this document to the case of functional surfaces

The statements in 0.6 make it difficult to extend the application of the new definitions to the case of

functional surfaces. In most instances it is not possible to remove defects from functional surfaces or to

avoid them; instead, the only option is to repair them or modify them. For example, the scratched part

of a lens cannot be removed from the lens, or the corroded part of a ship propeller from the propeller.

Removing or avoiding defects (as here defined) is only possible in the case of geometrical measurement

standards, where the extent of the measuring area can be redefined or have parts cut away from it.

0.9 Normative and non-normative aspects of this document

All of the definitions presented in 3.2 are normative insofar as this document specifies the vocabulary

which is to be used whenever reference is made to geometrical defects on the surfaces of material

measures.
In addition, 3.3 is normative. O
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 25178-73
Première édition
2019-05
Spécification géométrique des
produits (GPS) — État de surface:
surfacique —
Partie 73:
Termes et définitions pour les
défauts de surface sur les mesures
matérialisées
Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal —
Part 73: Terms and definitions for surface defects on material
measures
Numéro de référence
ISO 25178-73:2019(F)
ISO 2019
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ISO 25178-73:2019(F)
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
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Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette

publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,

y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut

être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.

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Publié en Suisse
ii © ISO 2019 – Tous droits réservés
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ISO 25178-73:2019(F)
Sommaire Page

Avant-propos ..............................................................................................................................................................................................................................iv

Introduction ..................................................................................................................................................................................................................................v

1 Domaine d’application ...................................................................................................................................................................................1

2 Références normatives ...................................................................................................................................................................................1

3 Termes et définitions .......................................................................................................................................................................................1

3.1 Termes et définitions généraux ................................................................................................................................................ 2

3.2 Termes et définitions des classes de défauts ................................................................................................................ 2

3.3 Termes et définitions des manières de répondre aux défauts ....................................................................... 4

Annexe A (informative) Taches et décolorations .....................................................................................................................................5

Annexe B (informative) Relation avec le modèle de matrice GPS...........................................................................................6

Bibliographie ..............................................................................................................................................................................................................................7

© ISO 2019 – Tous droits réservés iii
---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO 25178-73:2019(F)
Avant-propos

L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes

nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est

en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude

a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,

gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.

L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui

concerne la normalisation électrotechnique.

Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont

décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents

critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été

rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www

.iso .org/directives).

L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de

droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable

de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant

les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de

l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de

brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/brevets).

Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données

pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un

engagement.

Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions

spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion

de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles

techniques au commerce (OTC), voir www .iso .org/avant -propos.

Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 213, Spécifications et vérification

dimensionnelles et géométriques des produits.

Une liste de toutes les parties de la série ISO 25178 se trouve sur le site web de l’ISO.

Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent

document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes

se trouve à l’adresse www .iso .org/fr/members .html.
iv © ISO 2019 – Tous droits réservés
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ISO 25178-73:2019(F)
Introduction
0.1 Généralités

Le présent document, qui traite de la spécification géométrique des produits (GPS), est à considérer

comme une norme GPS générale (voir l’ISO 14638). Il influence le maillon F des chaînes de normes

concernant l’état de surface du profil, l’état de surface surfacique et les défauts de surface.

Le schéma directeur ISO/GPS indiqué dans l’ISO 14638 donne une vue d’ensemble du système ISO/

GPS dont fait partie le présent document. Les règles fondamentales de l’ISO/GPS fournies dans

l’ISO 8015 s’appliquent au présent document. Les règles de décision par défaut indiquées dans

l’ISO 14253-1 s’appliquent aux spécifications élaborées conformément au présent document, sauf

indication contraire.

Pour de plus amples informations sur la relation du présent document avec la matrice GPS, voir

l’Annexe B.

Le présent document repose sur l’hypothèse qu’une mesure matérialisée possède une surface

géométrique réelle qui est une réalisation d’une surface idéale ou nominale, celle-ci pouvant à son

tour être considérée, dans la plupart des cas, comme un concept mathématique simple: par exemple

un plan, une sphère, une fonction en escalier ou une forme sinusoïdale. Dans chaque cas, il y aura une

grandeur associée connue avec précision, qui sera utilisée lorsque la mesure matérialisée sera mesurée

par un instrument de mesure de l’état de surface surfacique, en une ou plusieurs opérations, pendant

l’étalonnage et la configuration de l’instrument.

Toute portion de la surface de mesure de la mesure matérialisée sur laquelle la surface réelle s’écarte

de la surface nominale idéale est donc plus ou moins indésirable, et est notée ici comme étant un défaut.

0.2 Relation de l’ISO 8785

L’ISO 8785 était destinée à s’appliquer à tous les types de surfaces, qu’il s’agisse de surfaces fonctionnelles

ou autres. Exemples de surfaces fonctionnelles: disques de frein, revêtements de tambour, lentilles

optiques et surfaces de miroir, raccordements de tubes de fluide, pales d’hélices marines, prothèses

de hanche artificielle. Dans chaque cas, la surface doit réaliser une ou plusieurs tâches définies et, par

conséquent, le choix de la méthode de fabrication et le type de géométrie de la surface associés à une

certaine plage de valeurs des paramètres qui sont spécifiées pour cette surface sont généralement un

compromis entre des exigences en conflit qui peuvent ne pas être toutes entièrement satisfaites. La

surface fonctionnelle peut alors être mesurée afin de déterminer dans quelle mesure les valeurs des

paramètres sont proches de celles qui ont été spécifiées.

Toutefois, cela n’équivaut pas à déterminer la bonne performance de la surface. Dans de nombreux

cas, il n’est pas évident de déterminer ce que pourrait être la forme du profil idéal du point de vue

de la meilleure fonction. Par conséquent, il est possible qu’une surface qui s’écarte du profil spécifié à

certains endroits ait une meilleure performance qu’une surface qui ne présente aucun écart. C’est la

raison pour laquelle l’ISO 8785 utilisait le terme général d’imperfection, qui ne suggère pas un aspect

indésirable, de préférence au terme défaut qui lui le suggère.

Contrairement à l’ISO 8785, le présent document ne traite pas des classes de défaut autres que les

défauts géométriques pouvant apparaître sur les surfaces des mesures matérialisées. Exemples d’autres

classes de défaut: les variations indésirables des propriétés physiques, telles que:

— la dureté de la surface;
— la couleur de la surface;
— des propriétés électriques.

Pour les besoins du présent document, aucun exemple de ce type de variation indésirable d’une

propriété physique n’est considéré comme un défaut à moins qu’elle ne coïncide spatialement avec la

© ISO 2019 – Tous droits réservés v
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ISO 25178-73:2019(F)

zone d’un défaut géométrique. Pour plus d’informations sur les variations de couleur de la surface, voir

l’Annexe A.
0.3 Relation avec l’ISO 5436-1 et l’ISO 25178-70

Les mesures matérialisées et les échantillons d’étalonnage qui sont décrits dans l’ISO 5436-1 et

l’ISO 25178-70 ne sont pas des surfaces fonctionnelles au sens décrit en 0.2. Les mesures matérialisées

existent uniquement pour être mesurées, elles n’ont aucune tâche physique à réaliser. Ce sont des

représentations physiques d’une forme mathématiquement simple, qui est donc la forme idéale et qui

peut être spécifiée de manière précise.

Tout écart par rapport à cette forme idéale est donc indésirable et, de ce fait, le terme défaut est

préférable au terme imperfection. Il est possible qu’un échantillon d’étalonnage individuel soit

utilisé pour au moins deux applications différentes mais pour chaque application il existe une forme

théoriquement idéale, bien que certains éléments de la forme idéale puissent être plus importants pour

une application que pour une autre.

Par exemple, une éprouvette de rugosité sinusoïdale peut être utilisée pour contrôler les valeurs des

paramètres Ra ou RSm. Pour la première application, il est plus important que l’éprouvette sinusoïdale

présente une uniformité d’amplitude (hauteur de pic) qu’une uniformité de longueur d’onde (espacement

des pics), mais pour la seconde application, c’est le contraire. Le fait que l’échantillon d’étalonnage puisse

être utilisé pour deux applications différentes n’en fait pas pour autant une surface fonctionnelle; cet

échantillon reste un étalon de mesure qui existe uniquement pour être mesuré.

0.4 Définition des défauts par référence à la forme géométrique plutôt qu’à la cause

L’ISO 8785:1998, Article 4 contient plusieurs descriptions des imperfections de surface dans des termes

qui font référence à la cause de l’imperfection au lieu de simplement renvoyer à leur forme géométrique.

Cela peut créer les types de difficultés suivantes en cas d’application de ces descriptions dans la

pratique:

a) la possibilité de confusion, dans les cas où un élément a la forme d’un type d’imperfection, mais

dont la cause est différente;

b) dans de nombreux cas, en particulier pour de très petits éléments aux limites de la visibilité, la

cause peut être inconnue et difficile à déterminer;
c) cela rend plus difficile la traduction des termes dans d’autres langues.

Dans le présent document, l’accent est mis sur la forme géométrique, et trois termes seront définis

selon que l’écart sera situé vers le haut au-dessus de la surface (défaut externe, 3.2.6) ou vers le bas à

l’intérieur de la surface (défaut interne, 3.2.7), ou ni l’un ni l’autre (défaut neutre, 3.2.8). Il y a toutefois

une exception: il est nécessaire de définir un type spécial de défaut (défaut négatif, 3.2.9) qui apparaît

parfois sur les mesures matérialisées qui ont été réalisées par une des méthodes largement utilisées de

réplication et qui apparaît sur ce type de mesure matérialisée répliquée suite à un défaut correspondant

présent sur la surface du moule mère (souvent appelé un négatif ) ayant servi à produire la réplique.

0.5 Termes concernant la manière de répondre aux défauts

En accord avec l’idée générale que les défauts sont indésirables, le présent document contient une section

qui définit les termes désignant toutes les réponses possibles à la présence de défauts. Il ne spécifie

pas laquelle de ces réponses il convient d’appliquer dans une situation donnée; il définit simplement

les termes et les noms qui s’y rapportent, et permet aux utilisateurs, aux fabricants, aux métrologues

d’étalonnage et aux rédacteurs d’autres documents normatifs d’établir leurs propres politiques et

procédures de manière claire et non ambiguë.

0.6 Défaut comme portion de la surface plutôt que comme propriété qui se rapporte à la

surface entière

Dans le langage de l’ISO 8015:2011, 5.4 et de l’ISO 22432:2011, 3.2, un défaut est un élément géométrique

limité par des frontières naturelles, qui est non idéal et réel (ISO 22432:2011, 3.2.2). Dans le présent

vi © ISO 2019 – Tous droits réservés
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ISO 25178-73:2019(F)

document, un défaut est considéré comme une portion de la surface physique d’un étalon de mesure

géométrique, plutôt que comme une propriété qui se rapporte à la surface entière. Cela est nécessaire

pour distinguer trois réponses communes à la présence de défauts sur un étalon de mesure, réponses

qui sont facilement confondues les unes avec les autres si elles ne sont pas précisément définies. Ces

réponses sont les suivantes:

— premièrement, éliminer le défaut (soit en le découpant physiquement de la zone de mesure, soit en

rejetant les points de données dans le logiciel);

— deuxièmement, éviter le défaut (en redéfinissant les limites de la zone de mesure);

— troisièmement, réparer le défaut (soit en remaniant ou en nettoyant l’éprouvette, soit en retouchant

les données dans le logiciel).

En l’absence de définition stricte des termes éliminer, éviter et réparer, le terme éliminer qui est largement

utilisé est ambigu. Il est toutefois important de distinguer la réparation et l’élimination des défauts

comme défini dans le présent document, car de nombreux utilisateurs d’éprouvettes et rédacteurs de

procédures et de politiques voudront proscrire l’un de ces termes tout en autorisant ou en exigeant

l’autre.
0.7 Parties concernées: fabricant, client, utilisateur

Généralement, dans le cas des mesures de matériaux utilisées dans la mesure de l'état de surface, le

fabricant des mesures de matériaux les vendent à un client qui agit simplement en tant que distributeur,

en les revendant,ou en les incluant comme accessoires, aux utilisateurs finaux qui les utiliseront à terme

pour vérifier les instruments de mesure de surface. Chacune de ces trois parties joue un rôle différent

dans l'identification et le traitement des défauts, et c'est pour cette raison que les trois termes sont

utilisés ici.

0.8 Inapplicabilité des définitions présentées dans le présent document dans le cas des surfaces

fonctionnelles

Les précisions indiquées en 0.6 rendent difficile l’extension de l’application des nouvelles définitions

au cas des surfaces fonctionnelles. Dans la plupart des cas, il est impossible d’éliminer les défauts des

surfaces fonctionnelles ou de les éviter: à la place, la seule option possible est de les réparer ou de les

modifier. Par exemple, la partie rayée d’une lentille ne peut pas être éliminée de la lentille ou la partie

corrodée d’une hélice de bateau ne peut pas être éliminée de l’hélice. Il n’est possible d’éliminer ou

d’éviter les défauts (tels que définis ici) que dans le cas d’étalons de mesure géométriques, pour lesquels

l’étendue de la zone de mesure peut être redéfinie ou dont des parties peuvent être découpées.

0.9 Aspects normatifs et non normatifs du présent document
Toutes les défi
...

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