Information technology — Radio frequency identification device conformance test methods — Part 3: Test methods for air interface communications at 13,56 MHz

ISO/IEC TR 18047-3:2011 defines test methods for determining the conformance of radio frequency identification devices (tags and interrogators) for item management with the specifications given in ISO/IEC 18000-3, but does not apply to the testing of conformity with regulatory or similar requirements. The test methods require only that the mandatory functions, and any optional functions which are implemented, be verified. This can, in appropriate circumstances, be supplemented by further, application-specific functionality criteria that are not available in the general case. ISO/IEC TR 18047-3:2011 includes the following interrogator and tag conformance parameters: mode-specific conformance parameters including nominal values and tolerances; parameters that apply directly affecting system functionality and inter-operability. ISO/IEC TR 18047-3:2011 does not include the following: parameters that are already included in regulatory test requirements; high-level data encoding conformance test parameters (these are specified in ISO/IEC 15962).

Technologies de l'information — Méthodes d'essai de conformité du dispositif d'identification de radiofréquence — Partie 3: Méthodes d'essai pour des communications d'une interface d'air à 13,56 MHz

General Information

Status
Withdrawn
Publication Date
29-May-2011
Current Stage
9599 - Withdrawal of International Standard
Completion Date
04-Mar-2022
Ref Project

Relations

Buy Standard

Technical report
ISO/IEC TR 18047-3:2011
English language
50 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview
Technical report
ISO/IEC TR 18047-3:2011 - Information technology -- Radio frequency identification device conformance test methods
English language
41 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)

ТЕХНИЧЕСКИЙ ISO/IEC
ОТЧЕТ TR
18047-3
Второе издание
2011-06-01


Информационные технологии. Методы
тестирования соответствия устройств
радиочастотной идентификации.
Часть 3.
Методы тестирования для
радиоинтерфейсов связи на 13,56 МГц
Information technology — Radio frequency identification device
conformance test methods —
Part 3: Test methods for air interface communications at 13,56 MHz


Ответственность за подготовку русской версии несёт GOST R

(Российская Федерация) в соответствии со статьёй 18.1 Устава ISO
Ссылочный номер
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
©
ISO/IEC 2011

---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)

ДОКУМЕНТ ЗАЩИЩЕН АВТОРСКИМ ПРАВОМ


©  ISO/IEC 2011
Все права сохраняются. Если не указано иное, никакую часть настоящей публикации нельзя копировать или использовать в
какой-либо форме или каким-либо электронным или механическим способом, включая фотокопии и микрофильмы, без
письменного согласия ISO или IDF, полученного по адресу, приведенному ниже.
ISO copyright office
Case postale 56 • CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
Опубликовано в Швейцарии

ii © ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
Содержание Страница
Предисловие .iv
Введение .v
1  Область применения .1
2  Нормативные ссылки .1
3  Термины и определения .2
4  Символы и сокращения .2
5  Тесты на соответствие для ISO/IEC 18000-3 — 13,56 МГц.3
5.1  Общие положения .3
5.2  Начальные условия (по умолчанию) методов тестирования .3
5.2.1  Условия испытаний .3
5.2.2  Подготовка к тестированию .3
5.2.3  Допустимые отклонения.3
5.2.4  Побочная индуктивность.3
5.2.5  Общая погрешность измерения .3
5.3  Тесты соответствия для ISO/IEC 18000-3, Режим 1.4
5.3.1  Общие положения .4
5.3.2  Аппаратура и схемы тестирования .4
5.3.3  Функциональный тест – метка.8
5.3.4  Функциональный тест – считыватель .9
5.4  Тесты соответствия для ISO/IEC 18000-3, Режим 2.10
5.4.1  Общие положения .10
5.4.2  Аппаратура и схемы тестирования .11
5.4.3  Функциональный тест – метка.12
5.4.4  Функциональный тест – считыватель .13
5.5  Тесты соответствия для ISO/IEC 18000-3, Режим 3 (обязательная часть) .14
5.5.1  Общие положения .14
5.5.2  Аппаратура тестирования и схема испытаний.14
5.5.3  Функциональный тест – метка.18
5.5.4  Функциональный тест – считыватель .20
Приложение A (нормативное) Параметры испытаний для меток меньших или равных
ISO/IEC 7810 ID-1.22
Приложение B (нормативное) Указания для RFID-меток больших размеров, чем ISO/IEC 7810
ID-1.25
Приложение C (нормативное) Антенна тестового считывателя .29
Приложение D (информативное) Настройка антенны тестового считывателя .32
Приложение E (нормативное) Чувствительная рамка.34
Приложение F (нормативное) Эталонная метка для тестирования мощности считывателя.36
Приложение G (информативное) Эталонная метка для теста нагрузочной модуляции.38
Приложение H (информативное) Программа для оценки диапазона (на языке С) .39
Библиография.43

© ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются iii

---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
Предисловие
ISO (Международная организация по стандартизации) и IEC (Международная электротехническая
комиссия) образуют специализированную систему всемирной стандартизации. Национальные органы,
которые являются членами ISO и IEC, принимают участие в разработке международных стандартов
через технические комитеты, созданные соответствующей организацией для решения конкретных
задач технической деятельности. Технические комитеты ISO и IEC сотрудничают в областях,
представляющих общий интерес. Другие международные организации, правительственные и
неправительственные, связанные с ISO и IEC, также принимают участие в работе. В области
информационных технологий, ISO и IEC учредили Совместный технический комитет, ISO/IEC JTC 1.
Международные стандарты разрабатываются в соответствии с правилами, приведенными в
Директивах ISO/IEC, Часть 2.
В исключительных случаях, когда совместный технический комитет собрал данные, отличные от того,
что обычно публикуются в качестве международного стандарта ("состояние искусства", например), он
может принять решение об опубликовании технического отчета. Технический отчет является
информативным по своему характеру и должен пересматриваться каждые пять лет в том же порядке,
что и международный стандарт.
Следует обратить внимание на то, что некоторые элементы этого документа могут быть объектом
патентных прав. ISO и IEC не несет ответственность за идентификацию какого-либо или всех таких
патентных прав.
ISO/IEC TR 18047-3 был подготовлен Объединенным Техническим Комитетом ISO/IEC JTC 1,
Информационные технологии, Подкомитет SC 31, Автоматическая идентификация и методы сбора
данных.
Это второе издание отменяет и заменяет первое издание (ISO/IEC TR 18047-3:2004), которое было
технически пересмотрено. Оно также включает Техническую поправку ISO/IEC TR 18047-3:2004/Cor.1: 2007.
ISO/IEC TR 18047-3 был подготовлен Объединенным Техническим Комитетом ISO/IEC JTC 1,
Информационные технологии, Подкомитет SC 31, Автоматическая идентификация и методы сбора
данных.
⎯ Часть 2. Методы тестирования для радиоинтерфейса связи ниже 135 кГц
⎯ Часть 3. Методы тестирования для радиоинтерфейса связи на 13,56 МГц
⎯ Часть 4. Методы тестирования для радиоинтерфейса связи на 2,45 ГГц
⎯ Часть 6. Методы тестирования для радиоинтерфейса связи от 860 МГц до 960 МГц
⎯ Часть 7. Методы тестирования для активного радиоинтерфейса на частоте 433 МГц
iv © ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
Введение
ISO/IEC 18000 определяет радиоинтерфейсы для радиочастотной идентификации (RFID) устройств,
используемых в приложениях управления объектами. ISO/IEC 18000-3 определяет радиоинтерфейсы
для устройств, работающих на 13,56 МГц в промышленности, науке и медицине (ISM) и используется в
этих приложениях.
Целью ISO/IEC TR 18047 является обеспечение методов тестирования на соответствие различных
частей стандарта ISO/IEC 18000.
Каждая часть ISO/IEC TR 18047 содержит все измерения, которые должны быть применены к изделию
для того, чтобы установить, удовлетворяет ли он требованиям соответствующей части ISO/IEC 18000.
По ISO/IEC TR 18047-3 каждое изделие должно быть оценено в соответствии с процедурами,
определенными для Режима 1, Режима 2 или Режима 3.
© ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются v

---------------------- Page: 5 ----------------------
ТЕХНИЧЕСКИЙ ОТЧЕТ ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)

Информационные технологии. Методы тестирования
оборудования на соответствие радиочастотной
идентификации.
Часть 3.
Методы тестирования радиоинтерфейса связи на 13,56 MГц
1 Область применения
Эта часть ISO/IEC TR 18047 определяет методы тестирования (проверки) для определения
соответствия устройств радиочастотной идентификации (радиочастотных меток и
опрашивающих/считывающих устройств) для управления изделиями (устройствами) в соответствии со
спецификациями, приведенными в ISO/IEC 18000-3, но она (эта часть ISO/IEC TR 18047) не
применяется для проверки соответствия нормативным или каким-то подобным требованиям.
Методы тестирования требуют проверки только обязательных функций и некоторых дополнительных
функций, которые реализованы. В соответствующих обстоятельствах, это может быть дополнено
позже специализированными функциональными критериями, которые не учитываются в общем случае.
Эта часть стандарта ISO/IEC TR 18047 включает в себя следующие параметры соответствия
считывателя и метки:
⎯ специализированные соответствия параметров для разных режимов, в том числе номинальные
значения и отклонения;
⎯ параметры, которые непосредственно влияют на функциональность системы и взаимодействие
внутри системы.
Эта часть стандарта ISO/IEC TR 18047 не включает следующее:
⎯ параметры, которые уже включены в требования к тестам;
⎯ параметры высокоуровневого кодирования данных для тестов проверки соответствия (они
определены в ISO/IEC 15962).
Раздел 5 описывает все необходимые тесты соответствия, в то время как Ошибка! Источник ссылки
не найден. применим только к Режиму 1, Ошибка! Источник ссылки не найден. относится только к
Режиму 2 и 5.5 относятся только к Режиму 3.
2 Нормативные ссылки
Следующие документы, на которые мы ссылаемся, обязательны для применения этого документа. Для
датированных документов применяется только данная редакция. Для недатированных документов
применяется последняя их редакция (включая все изменения).
ISO/IEC 7810, Идентификационные карты. Физические характеристики
© ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются 1

---------------------- Page: 6 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
ISO/IEC 18000-1, Информационные технологии. Радиочастотная идентификация объектов. Часть 1.
Ссылки для стандартизации архитектуры и значения параметров
ISO/IEC 18000-3, Информационные технологии. Радиочастотная идентификация объектов. Часть 3.
Параметры радиочастотной связи на частоте 13,56 МГц
ISO/IEC 19762 (все части), Информационные технологии. Технологии автоматической
идентификации и сбора данных (AIDC). Гармонизированный словарь
3 Термины и определения
Для целей данного документа применимы термины и определения, описанные в ISO/IEC 19762 (все
части).
4 Символы и сокращения
ar ширина контрольной метки
asp расстояние
br высота контрольной метки
ca ширина калибровочной рамки
cb высота калибровочной рамки
co угловой радиус калибровочной рамки
dis дистанция между антенной тестового считывателя и чувствительными рамками
DUT тестируемое оборудование
fc частота рабочего поля
fs частота поднесущей
H максимальная мощность поля антенны считывателя
max
H минимальная мощность поля антенны считывателя
min
lx длина соединительного кабеля блока тестового считывателя
lya ширина тестового считывателя и печатной платы чувствительной рамки
lyb высота тестового считывателя и печатной платы чувствительной рамки
lyd диаметр рамки тестового считывателя
lyw ширина дорожки рамки тестового считывателя
nr количество оборотов эталонной метки
oa ширина калибровочной рамки
ob высота калибровочной рамки
2 © ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 7 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
PCB печатная плата
rs угловой радиус чувствительной рамки
sa ширина чувствительной рамки
sb высота чувствительной рамки
sr интервал между дорожками эталонной метки
wr ширина дорожки эталонной метки
5 Тесты на соответствие для ISO/IEC 18000-3 — 13,56 МГц
5.1 Общие положения
Эта часть ISO/IEC TR 18047 определяет серии тестов для определения соответствия считывателей и
меток. Результаты этих тестов следует сравнивать со значениями параметров определенных в
ISO/IEC 18000-3, чтобы определить соответствие тестируемого считывателя и тестируемой метки.
Если иначе не определено, тесты в этой части ISO/IECTR 18047 должны применяться только к RFID
меткам и считывателям, указанным в ISO/IEC 18000-3 Режиме 1, Режиме 2 и Режиме 3.
5.2 Начальные условия (по умолчанию) методов тестирования
5.2.1 Условия испытаний
Если иначе не определено, тесты должны проводиться при температуре 23 °C +/- 3 °C (73 °F +/- 5 °F) и
относительной влажности от 40 % до 60 %.
5.2.2 Подготовка к тестированию
Там, где требуется подготовка к тестированию, контрольные метки, которые будут тестироваться,
должны быть подготовлены к условиям испытаний за 24 часа до начала тестирования.
5.2.3 Допустимые отклонения
Если иначе не определено, допустимые отклонения в +/- 5% могут применяться к количественным
показателям для определения особенностей тестового оборудования (например, линейные
измерения) и процедуры тестирования (поправка на тестовое оборудование).
5.2.4 Побочная индуктивность
Резисторы и конденсаторы должны иметь незначительную индуктивность.
5.2.5 Общая погрешность измерения
Общая погрешность измерений для каждой размерности, определенной этими методами тестирования,
должны отражаться в отчете.
ПРИМЕЧАНИЕ Первичная информация дана в ISO/IEC Guide 98-3:2008.
© ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются 3

---------------------- Page: 8 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
5.3 Тесты соответствия для ISO/IEC 18000-3, Режим 1
5.3.1 Общие положения
Тесты соответствия для ISO/IEC 18000-3, Режим 1, описаны независимо от размера метки. Для тестов
меток меньших или равных ID-1 (как определено в ISO/IEC7810) все измерения приведены в
Приложение A, в то время как Приложение B применяется для меток большего размера.
5.3.2 Аппаратура и схемы тестирования
Эта часть определяет аппаратуру и схемы тестирования для проверки метки или считывателя
согласно базовому стандарту ISO/IEC 18000-3. Аппаратура тестирования включает:
• калибровочная рамка (см. 5.3.2.1)
• блок тестового считывателя (см. 5.3.2.2)
• эталонная метка (см. 5.3.2.4)
• цифровой осциллограф (см. 5.3.2.5).
Они описаны в следующих пунктах.
5.3.2.1 Калибровочная рамка
Этот пункт описывает размер, толщину и характеристики калибровочной рамки.
5.3.2.1.1 Размер калибровочной рамки
Печатная плата калибровочной рамки состоит из области, высота и ширина которой обозначены на
Рисунке 1 – Пример калибровочной рамки, содержащей однослойную намотку концентрическую с
линией контура рамки

Рисунок 1 — Пример калибровочной рамки
5.3.2.1.2 Толщина и материал основы калибровочной рамки
Толщина печатной платы должна быть 0,76 мм +/- 10 %. Она должна состоять из подходящего
изоляционного материала, такого как FR4 или эквивалентного.
4 © ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 9 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
5.3.2.1.3 Характеристики рамки
Рамка на печатной плате калибровочной рамки должна иметь 1 слой. Внешний размер рамки должен
быть таким, как показано на Рисунке 1 с угловыми радиусами co.
Рамка выполнена в виде петли на плате с покрытием из меди 35 мкм. Ширина дорожки составляет
500 мкм +/- 20 %. Размер контактов должен быть 1,5 мм × 1,5 мм.
Щуп осциллографа с высоким входным сопротивлением (например, > 1 МОм, < 14 пФ), должен быть
использован для измерения напряжения разомкнутой петли. Резонансная частота всей установки
(калибровочная рамка, соединительные провода и щуп осциллографа) должна быть выше 60 МГц.
5.3.2.2 Блок тестового считывателя
Блок тестового считывателя для нагрузочной модуляции состоит из антенны считывателя и двух
чувствительных рамок: чувствительной рамки А и чувствительной рамки В. Испытательная установка
показана на рисунке 2 – Пример испытательной установки. Чувствительные рамки расположены так,
что сигнал от одной рамки находится в противофазе к другой. Потенциометр P1 (50 Ом) служит для
точной регулировки точки равновесия, когда чувствительные рамки не нагружены меткой или другой
магнитной связью. Емкостная нагрузка зонда, в том числе его паразитная емкость, должна быть
меньше чем 14 пФ.
ВАЖНО Емкость соединений и зонда осциллографа должны быть сведены к минимуму для обеспечения
воспроизводимости.

ПРИМЕЧАНИЕ Значения параметров, приведенные в Таблице А.2, даны для тестируемых
считывателей равных ID-1 или меньше.
Рисунок 2 — Пример испытательной установки
© ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются 5

---------------------- Page: 10 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
5.3.2.2.1 Антенна тестового считывателя
Антенна тестового считывателя должна иметь диаметр и конструкцию соответствующую рисункам в
Приложение C. Наладка антенны может быть произведена с помощью процедуры, приведенной в
Приложение D.
5.3.2.2.2 Чувствительная рамка
Размеры и конструкция чувствительной рамки должны соответствовать рисункам Приложение E.
5.3.2.3 Блок тестового считывателя
Чувствительные рамки и антенна тестового считывателя должны быть установлены параллельно друг
другу. Чувствительные рамки и рамка антенны должны быть соосными и расстояние между активными
проводниками должно быть, как показано на Рисунке 3 — Блок тестового считывателя. Расстояние
между рамкой в тестируемом устройстве и рамкой в антенне тестового считывателя должно
соответствовать расстоянию между калибровочной рамкой и рамкой антенны тестового считывателя.

ПРИМЕЧАНИЕ 1 Воздушное расстояние «asp air» позволяет избежать паразитных эффектов, таких как сбой
настроек при более близких расстояниях или неопределенные результаты из-за шума и других внешних условий.
ПРИМЕЧАНИЕ 2 Значения параметров, приведенные в Таблице А.2, даны для тестового считывателя ID-1 и
меньше.
Рисунок 3 — Блок тестового считывателя
5.3.2.4 Эталонные метки
Эталонные метки определяют
⎯ порядок тестирования H и H считывателем (в условиях нагрузки на метку), а также для
min max
проверки способности считывателя «возбуждать» метку
⎯ чтобы сгенерировать минимальный сигнал ответной нагрузочной модуляции.
6 © ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 11 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
5.3.2.4.1 Эталонная метка для испытания мощности считывателя
Схема для испытания мощности при тестировании приведена в Приложение F. Для того чтобы
измерить H и H , рассеиваемая мощность может быть установлена с помощью резистора R1 или
min max
R2 соответственно, как показано в разделе 5.3.4.1.2. Резонансную частоту можно регулировать с
помощью С2.
5.3.2.4.2 Эталонная метка для тестирования приема нагрузочной модуляции
Принятая схема для теста приема нагрузочной модуляции показана в Приложении G. Нагрузочная
модуляции может быть выбрана резистивная или реактивная.
Эта эталонная метка калибруется при использовании блока тестового считывателя следующим
образом:
Эталонная метка помещается на позицию тестируемого устройства (DUT). Амплитуда сигнала
нагрузочной модуляции измеряется в соответствии с разделом 5.3.3. Эта амплитуда должна
соответствовать минимальной амплитуде при всех значениях напряженности поля, в соответствии с
требованиями стандарта ISO/IEC 18000-3.
5.3.2.4.3 Размеры эталонных меток
Эталонная метка, используемая для измерений, должна быть описана в отчете испытаний. Рисунок 4 –
Пример размера эталонной метки карты ISO показывает в качестве примера размер эталонной метки
карты ISO, которая состоит из области, содержащей рамку, имеющую такую же высоту и ширину, как
определено в ISO/IEC 7810 для ID-1 типа.
Внешняя область, содержащая электрическую схему, эмулирующую необходимые функции этикетки,
добавлена для того, чтобы была возможность вставок, описанных ниже, в установки теста, но не
вызывающих никакого воздействия на тесты.

Рисунок 4 — Пример размера референсной метки карт ISO
5.3.2.4.4 Толщина контура референсной метки
Толщина активной области референсной метки должна быть 0,76 мм +/- 10 %.
5.3.2.4.5 Характеристики обмотки
Обмотка в активной области референсной метки должна иметь nr оборотов и должна быть
концентрической с областью контура.
Внешние размеры обмотки должны быть ar x br.
Обмотка выполняется в виде наложения на плату с покрытием из меди 35 мкм.
© ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются 7

---------------------- Page: 12 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
Ширина дорожек должна быть wr, расстояние между дорожками равно sr.
ПРИМЕЧАНИЕ Значения параметров указаны в Таблице А.3.
5.3.2.5 Цифровой осциллограф
Цифровой осциллограф должен быть способен осуществлять выборку из хотя бы 100 миллионов в
секунду с разрешением не менее 8 бит при оптимальном масштабировании. Осциллограф должен
быть способен выводить выбранные данные в текстовом файле, чтобы проводить математические и
другие операции используя сторонние программы. Примером программы может служить Приложение H.
5.3.3 Функциональный тест – метка
5.3.3.1 Цель
Целью теста является определение амплитуды сигнала нагрузочной модуляции метки в пределах
заданного диапазона [H и H ], как определено в базовом стандарте ISO/IEC 18000-3 и
min max
функциональности метки с модуляцией под излучаемыми полями, определенными в таблице
параметров ISO/IEC 18000-3 для метки считывателя (ссылка М1-Tag: 7).
5.3.3.2 Процедура тестирования
Шаг 1: Схема тестирования нагрузочной модуляции на Рисунке 2 — Пример тестовых установок и
комплект тестового считывателя на Рисунке 3 — Использование комплекта тестового считывателя.
Радиочастотная мощность, доставляемая сигналом генератора к антенне считывателя, должна быть
отрегулирована так, чтобы производить необходимую напряженность поля (H и H , а сигналы
min max
модуляции, определенные в ISO/IEC 18000-3, как измеряемые калибровочной обмоткой без меток.
Выход цепи испытания нагрузочной модуляции Рисунка 2 — Пример подключения испытательной
установки» к цифровому осциллографу. Потенциометр P1 50 Ом должен подстраиваться, чтобы
минимизировать остаточную несущую частоту. Этот сигнал должен быть не менее, чем на 40 дБ ниже,
чем сигнал, получаемый путем короткого замыкания одной чувствительной обмотки.
Шаг 2: Тестируемая метка должна быть расположена на месте тестируемого устройства (DUT),
концентрически с чувствительной рамкой А. Радиочастотный накопитель для антенны тестового
считывателя должен быть настроен на необходимую напряженность поля.
ВАЖНО Следует проявлять осторожность, чтобы применить соответствующий метод синхронизации для
модуляции нагрузкой малой амплитуды.
Два поднесущих цикла выборки сигналов модуляции должны быть преобразованы по преобразованию
Фурье. Должно быть использовано дискретное преобразование Фурье с масштабирование так, что бы
в результате получить чистые синусоидальные результаты сигналы на пике магнитуд. Чтобы свести к
минимуму переходные эффекты, цикл с немодулированной поднесущей должен быть исключен. В
случае двух поднесущих частот эта процедура повторяется для второй поднесущей частоты.
Получаемые амплитуды верхней боковой полосы fc + fs1 (и fc + fs2, если присутствуют обе) и нижней
боковой полосы fc - fs1 (и fc - fs2, если есть) должны превышать значение указанное в ISO/IEC 18000-3.
Соответствующая последовательность команд, как это определено в ISO/IEC 18000-3, должна
направляться на считыватель для получения сигнала или ответа нагрузочной модуляции от метки.
8 © ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются

---------------------- Page: 13 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
5.3.3.3 Отчет по тестированию
Отчет по тестированию должен содержать измеренные значения амплитуды верхней боковой полосы
fc + fs1 (и fc + fs2, если присутствуют обе) и нижней боковой полосы fc - fs1 (и fc - fs2, если есть) и
применяемые поля и модуляции. Оценка проходит/не проходит определяется значениями в таблице
параметров ISO/IEC 18000-3 для метки и считывателя (ссылка M1-Tag:7)
5.3.4 Функциональный тест – считыватель
5.3.4.1 Напряженность поля и передача мощности в считывателе
5.3.4.1.1 Цель
Тест определяет напряженность поля, производимую считывателем с помощью его антенны на
рабочей частоте в соответствии со стандартом ISO/IEC 18000-3. Тестовая процедура в разделе
5.3.4.1.2 также используется для определения того, что поле генерируемое антенной не превышает
значений, указанных в ISO/IEC 18000-3 (ссылки M1-Int:3 для H и M1-Int:3a для H ).
max min
Тест использует эталонную метку, описанную в Приложение F, чтобы определить может ли
считыватель предоставить достаточно мощности для метки, расположенной в области действия.
5.3.4.1.2 Процедура тестирования
Процедура тестирования для H :
max
1) Настроить эталонную метку на 13,56 MГц.
ПРИМЕЧАНИЕ Резонансная частота эталонной метки измеряется с использованием анализатора
импеданса или LCR-метра, подсоединенного к калибровочной рамке. Рамка эталонной метки должна
быть расположена на расстоянии 10 мм от калибровочной рамки, так чтобы оси двух катушек совпадали.
Резонансная частота — это частота, на которой резистивная часть измеряемого комплексного
сопротивления максимальна.
2) Поставить переключатель J1 в положение b, чтобы активировать R2.
3) Внести эталонную метку концентрически с антенной в обозначенную область действия
тестируемого считывателя с максимальной скоростью 1 см/с.
4) Напряжение постоянного тока (V ) на резисторе R3 (Приложение F) измеряется вольтметром
dc
с высоким сопротивлением и не должно превышать 3 В, при этом резистор R2 установлен
параллельно рамке L и напряженность поля равна H .
max
Процедура тестирования для H :
min
1) Настроить эталонную метку на 13,56 МГц.
2) Поставить переключатель J1 в положение a, чтобы активировать R1.
3) Внести эталонную метку концентрически с антенной в обозначенную область действия
тестируемого считывателя с максимальной скоростью 1 см/с.
4) Напряжение постоянного тока (V ) на резисторе R3 (Приложение F) измеряется вольтметром
DC
с высоким сопротивлением и должно превышать 3 В, при этом резистор R1 установлен
параллельно рамке L в и напряженность поля равна H .
min
© ISO/IEC 2011 – Все права сохраняются 9

---------------------- Page: 14 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(R)
5.3.4.1.3 Отчет по тестированию
Отчет по тестированию должен содержать значения V для H .и H в заданных условиях. Оценка
DC min max
успешного/неуспешного результата определяется значениями в таблице параметров ISO/IEC 18000-3
для метки и считывателя (ссылка M1-Int:3 для H и ссылка M1-Int:3a для H ).
max min
5.3.4.2 Индекс модуляции и сигнал
5.3.4.2.1 Цель
Этот тест проводится с целью определения индекса модуляции поля считывателя, а также время
нарастания и спада, и превышения значений, определенных в ISO/IEC 18000-3 M1-Int:7d таблицы
параметров для считывателя метки (ссылки M1-Int:7, M1-Int:7d, рисунки M1-1 и M1-2) для заданной
области действия.
5.3.4.2.2 Процедура тестирования
Калибровочная рамка располагается где-либо в области действия, а индекс модуляции и
характеристики сигнала определяются индуцированным напряжением на рамке, наблюдаемым на
осциллографе.

5.3.4.2.3 Отчет по тестированию
Отчет по тестированию должен отражать измеренный показатель модуляции для поля считывателя, а
также время нарастания и спада, и превышения значений в определенной области действия. Оценка
успешного/неуспешного результата определяется значениями в таблице параметров ISO/IEC 18000-3
для метки и считывателя (ссылки M1-Int:7, M1-Int:7d, рисунки M1-1 и M1-2).
5.3.4.3 Получение нагрузочн
...

TECHNICAL ISO/IEC
REPORT TR
18047-3
Second edition
2011-06-01


Information technology — Radio
frequency identification device
conformance test methods —
Part 3:
Test methods for air interface
communications at 13,56 MHz
Technologies de l'information — Méthodes d'essai de conformité du
dispositif d'identification de radiofréquence —
Partie 3: Méthodes d'essai pour des communications d'une interface
d'air à 13,56 MHz




Reference number
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
©
ISO/IEC 2011

---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)

COPYRIGHT PROTECTED DOCUMENT


©  ISO/IEC 2011
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either ISO at the address below or
ISO's member body in the country of the requester.
ISO copyright office
Case postale 56 • CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
Published in Switzerland

ii © ISO/IEC 2011 – All rights reserved

---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
Contents Page
Foreword .iv
Introduction.v
1 Scope.1
2 Normative references.1
3 Terms and definitions .2
4 Symbols and abbreviated terms .2
5 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 — 13,56 MHz .3
5.1 General .3
5.2 Default conditions applicable to the test methods .3
5.2.1 Test environment.3
5.2.2 Pre-conditioning .3
5.2.3 Default tolerance .3
5.2.4 Spurious inductance .3
5.2.5 Total measurement uncertainty .3
5.3 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 1 .3
5.3.1 General .3
5.3.2 Test apparatus and test circuits .3
5.3.3 Functional test – tag.7
5.3.4 Functional test — interrogator.8
5.4 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 2 .10
5.4.1 General .10
5.4.2 Test apparatus and test circuits .10
5.4.3 Functional test – tag.11
5.4.4 Functional test – interrogator.12
5.5 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 3 (mandatory ASK part).13
5.5.1 General .13
5.5.2 Test apparatus and test circuits .13
5.5.3 Functional test – tag.17
5.5.4 Functional test — interrogator.18
Annex A (normative) Test setup parameters and dimensions for tags smaller than or equal to an
ISO/IEC 7810 ID-1 outline.20
Annex B (normative) Guideline for RFID tags larger than ISO/IEC 7810 ID-1 size.23
Annex C (normative) Test interrogator antenna.27
Annex D (informative) Test interrogator antenna tuning .30
Annex E (normative) Sense coil .32
Annex F (normative) Reference tag for interrogator power test.34
Annex G (informative) Reference tag for load modulation test.36
Annex H (informative) Program for evaluation of the spectrum .37
Bibliography.41

© ISO/IEC 2011 – All rights reserved iii

---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) and IEC (the International Electrotechnical
Commission) form the specialized system for worldwide standardization. National bodies that are members of
ISO or IEC participate in the development of International Standards through technical committees
established by the respective organization to deal with particular fields of technical activity. ISO and IEC
technical committees collaborate in fields of mutual interest. Other international organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO and IEC, also take part in the work. In the field of information
technology, ISO and IEC have established a joint technical committee, ISO/IEC JTC 1.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 2.
In exceptional circumstances, when the joint technical committee has collected data of a different kind from
that which is normally published as an International Standard (“state of the art”, for example), it may decide to
publish a Technical Report. A Technical Report is entirely informative in nature and shall be reviewed every
five years in the same manner as an International Standard.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent
rights. ISO and IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
ISO/IEC TR 18047-3, was prepared by Joint Technical Committee ISO/IEC JTC 1, Information technology,
Subcommittee SC 31, Automatic identification and data capture techniques.
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO/IEC TR 18047-3:2004), which has been
technically revised. It also incorporates the Technical Corrigendum ISO/IEC TR 18047-3:2004/Cor.1:2007.
ISO/IEC TR 18047 consists of the following parts, under the general title Information technology — Radio
frequency identification device conformance test methods:
⎯ Part 2: Test methods for air interface communications below 135 kHz
⎯ Part 3: Test methods for air interface communications at 13,56 MHz
⎯ Part 4: Test methods for air interface communications at 2,45 GHz
⎯ Part 6: Test methods for air interface communications at 860 MHz to 960 MHz
⎯ Part 7: Test methods for active air interface communications at 433 MHz
iv © ISO/IEC 2011 – All rights reserved

---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
Introduction
ISO/IEC 18000 defines the air interfaces for radio frequency identification (RFID) devices used in item
management applications. ISO/IEC 18000-3 defines the air interface for these devices operating in the
13,56 MHz Industrial, Scientific, and Medical (ISM) band and used in these applications.
The purpose of ISO/IEC TR 18047 is to provide test methods for conformance with the various parts of
ISO/IEC 18000.
Each part of ISO/IEC TR 18047 contains all measurements required to be made on a product in order to
establish whether it conforms to the corresponding part of ISO/IEC 18000. For ISO/IEC TR 18047-3, each
product needs to be assessed following either the procedure defined for Mode 1, for Mode 2 or for Mode 3.

© ISO/IEC 2011 – All rights reserved v

---------------------- Page: 5 ----------------------
TECHNICAL REPORT ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)

Information technology — Radio frequency identification device
conformance test methods —
Part 3:
Test methods for air interface communications at 13,56 MHz
1 Scope
This part of ISO/IEC TR 18047 defines test methods for determining the conformance of radio frequency
identification devices (tags and interrogators) for item management with the specifications given in
ISO/IEC 18000-3, but does not apply to the testing of conformity with regulatory or similar requirements.
The test methods require only that the mandatory functions, and any optional functions which are
implemented, be verified. This can, in appropriate circumstances, be supplemented by further, application-
specific functionality criteria that are not available in the general case.
This part of ISO/IEC TR 18047 includes the following interrogator and tag conformance parameters:
⎯ mode-specific conformance parameters including nominal values and tolerances;
⎯ parameters that apply directly affecting system functionality and inter-operability.
This part of ISO/IEC TR 18047 does not include the following:
⎯ parameters that are already included in regulatory test requirements;
⎯ high-level data encoding conformance test parameters (these are specified in ISO/IEC 15962).
Clause 5 describes all necessary conformance tests, while 5.3 applies to Mode 1 products only, 5.4 applies to
Mode 2 products only and 5.5 applies to Mode 3 (mandatory ASK part) only.
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For dated
references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced
document (including any amendments) applies.
ISO/IEC 7810, Identification cards — Physical characteristics
ISO/IEC 18000-1, Information technology — Radio frequency identification for item management — Part 1:
Reference architecture and definition of parameters to be standardized
ISO/IEC 18000-3, Information technology — Radio frequency identification for item management — Part 3:

Parameters for air interface communications at 13,56 MHz
ISO/IEC 19762 (all parts), Information technology — Automatic identification and data capture (AIDC)
techniques — Harmonized vocabulary
© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 1

---------------------- Page: 6 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO/IEC 19762 (all parts) apply.
4 Symbols and abbreviated terms
ar reference tag width
asp air spacing
br reference tag height
ca calibration coil width
cb calibration coil height
co calibration coil corner radius
dis distance between test interrogator antenna and sense coils
DUT device under test
fc frequency of the operating field
fs frequency of sub-carrier
H maximum field strength of the interrogator antenna field
max
H minimum field strength of the interrogator antenna field
min
lx length of test interrogator assembly connection cable
lya test interrogator and sense coil PCB width
lyb test interrogator and sense coil PCB height
lyd test interrogator coil diameter
lyw test interrogator coil track width
nr number of turns of reference tag
oa calibration coil outline width
ob calibration coil outline height
PCB printed circuit board
rs sense coil corner radius
sa sense coil width
sb sense coil height
sr reference tag track spacing
wr reference tag track width
2 © ISO/IEC 2011 – All rights reserved

---------------------- Page: 7 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
5 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 — 13,56 MHz
5.1 General
This part of ISO/IEC TR 18047 specifies a series of tests to determine the conformance of interrogators and
tags. The results of these tests shall be compared with the values of the parameters specified in
ISO/IEC 18000-3 to determine whether the interrogator-under-test or tag-under-test conforms.
Unless otherwise specified, the tests in this part of ISO/IEC TR 18047 shall be applied exclusively to RFID
tags and interrogators defined in ISO/IEC 18000-3 Mode 1, Mode 2 and Mode 3.
5.2 Default conditions applicable to the test methods
5.2.1 Test environment
Unless otherwise specified, testing shall take place in an environment of temperature 23 °C +/- 3 °C
(73 °F +/- 5 °F) and of relative humidity 40 % to 60 %.
5.2.2 Pre-conditioning
Where pre-conditioning is required by the test method, the identification tags to be tested shall be conditioned
to the test environment for a period of 24 h before testing.
5.2.3 Default tolerance
Unless otherwise specified, a default tolerance of +/- 5 % shall be applied to the quantity values given to
specify the characteristics of the test equipment (e.g. linear dimensions) and the test method procedures (e.g.
test equipment adjustments).
5.2.4 Spurious inductance
Resistors and capacitors should have negligible inductance.
5.2.5 Total measurement uncertainty
The total measurement uncertainty for each quantity determined by these test methods shall be stated in the
test report.
NOTE Basic information is given in ISO/IEC Guide 98-3:2008.
5.3 Conformance tests for ISO/IEC 18000-3 Mode 1
5.3.1 General
The conformance tests for ISO/IEC 18000-3 mode 1 are described independent of the tag size. For tests of
tags smaller or equal to ID-1 (as defined in ISO/IEC 7810) all dimensions are specified in Annex A, while
Annex B applies to larger tags.
5.3.2 Test apparatus and test circuits
This clause defines the test apparatus and test circuits for verifying the operation of a tag or an interrogator
according to the base standard, ISO/IEC 18000-3. The test apparatus includes:
• Calibration coil (see 5.3.2.1)
• Test interrogator assembly (see 5.3.2.2)
© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 3

---------------------- Page: 8 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
• Reference tag (see 5.3.2.4)
• Digital sampling oscilloscope (see 5.3.2.5).
These are described in the following clauses.
5.3.2.1 Calibration coil
This clause defines the size, thickness and characteristics of the calibration coil PCB.
5.3.2.1.1 Size of the Calibration coil
The calibration coil PCB consists of an area, which has the height and width defined in Figure 1 — Example
calibration coil containing a single turn coil concentric with the tag outline.
Outline oa x ob
connections
Coil ca x cb
1 turn

Figure 1 — Example calibration coil
5.3.2.1.2 Thickness and material of the calibration coil substrate
The thickness of the calibration coil PCB shall be 0,76 mm +/- 10 %. It shall be constructed of a suitable
insulating material such as FR4 or equivalent.
5.3.2.1.3 Coil characteristics
The coil on the calibration coil PCB shall have one turn. The outer size of the coil shall be as defined in
Figure 1 — Example calibration coil with a corner radius co.
The coil is made as a printed coil on PCB plated with 35 µm copper. Track width shall be 500 µm +/- 20 %.
The size of the connection pads shall be 1,5 mm × 1,5 mm.
A high impedance oscilloscope probe (e.g. >1 MΩ, <14 pF) shall be used to measure the open circuit voltage
in the coil. The resonant frequency of the whole set (calibration coil, connecting leads and probe) shall be
above 60 MHz.
5.3.2.2 Test interrogator assembly
The test interrogator assembly for load modulation consists of an interrogator antenna and two parallel sense
coils: sense coil A and sense coil B. The test set-up is shown in Figure 2 — Example test set-up. The sense
coils are connected such that the signal from one coil is in opposite phase to the other. The 50 Ω
potentiometer P1 serves to fine adjust the balance point when the sense coils are not loaded by a tag or any
magnetically coupled circuit. The capacitive load of the probe including its parasitic capacitance shall be less
than 14 pF.
IMPORTANT The capacitance of the connections and oscilloscope probe should be kept to a minimum for reproducibility.
4 © ISO/IEC 2011 – All rights reserved

---------------------- Page: 9 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
+ +
sense coil B
220 Ohm
- -
P1
identical length
twisted pairs of less
50 Ohm
than lx mm
220 Ohm
Interrogator
probe
antenna
+ +
sense coil A
- -
to
oscilloscope

NOTE The values for the parameters are listed in Table A.2 — Definition of test interrogator for ID-1 or smaller.
Figure 2 — Example test set-up
5.3.2.2.1 Test interrogator antenna
The test interrogator antenna shall have a diameter and a construction conforming to the drawings in Annex C.
The tuning of the antenna may be accomplished with the procedure given in Annex D.
5.3.2.2.2 Sense coils
The size and the sense coil construction shall conform to the drawings in Annex E.
5.3.2.3 Assembly of test interrogator
The sense coils and test interrogator antenna shall be assembled parallel to each other. The sense and
antenna coils shall be coaxial and the distance between the active conductors shall be as defined in
Figure 3 — Test interrogator assembly. The distance between the coil in the DUT and the coil of the test
interrogator antenna shall be equal to the distance between the calibration coil and the coil of the test
interrogator antenna.
© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 5

---------------------- Page: 10 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
  dis  dis
active
conductors
DUT
asp air
calibration coil
spacing
sense coil b
Interrogator
sense coil a
antenna

NOTE 1 The asp air spacing avoids parasitic effects such as detuning by closer spacing or ambiguous results due to
noise and other environmental effects.
NOTE 2 The values for the parameters are listed in Table A.2 — Definition of test interrogator for ID-1 or smaller.
Figure 3 — Test interrogator assembly
5.3.2.4 Reference tags
Reference tags are defined
⎯ to test H and H produced by an interrogator (under conditions of loading by a tag) and thus to
min max
test the ability of an interrogator to power a tag
⎯ to generate the minimum tag reply load modulation signal.
5.3.2.4.1 Reference tag for interrogator power
The schematic for the power test is shown in Annex F. Power dissipation can be set by the resistor R1 or R2,
in order to measure H and H respectively as defined in clause 5.3.4.1.2. The resonant frequency can be
min max
adjusted with C2.
5.3.2.4.2 Reference tag for load modulation reception test
A suggested schematic for the load modulation reception test is shown in Annex G. The load modulation can
be chosen to be resistive or reactive.
This reference tag is calibrated by using the test interrogator assembly as follows:
The reference tag is placed in the position of the DUT. The load modulation signal amplitude is measured as
described in clause 5.3.3. This amplitude should correspond to the minimum amplitude at all values of field
strength required by the base standard, ISO/IEC 18000-3.
5.3.2.4.3 Dimensions of the reference tags
The reference tag which is used for the measurements has to be described in the measurement report.
Figure 4 — Example of an ISO card sized reference tag shows as an example an ISO card sized reference
tag which consists of an area containing a coil which has the same height and width as those defined in
ISO/IEC 7810 for ID-1 type.
6 © ISO/IEC 2011 – All rights reserved

---------------------- Page: 11 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
An area external to this, containing the circuitry that emulates the required tag functions, is appended so as to
allow insertion into the test set-ups described below and so as to cause no interference to the tests.

Example outline ISO/
Coil
Circuitry

IEC 7810 ID-1 type


172 mm
Figure 4 — Example of an ISO card sized reference tag
5.3.2.4.4 Thickness of the reference tag board
The thickness of the reference tag active area shall be 0,76 mm +/- 10 %.
5.3.2.4.5 Coil characteristics
The coil in the active area of the reference tag shall have nr turns and shall be concentric with the area
outline.
The outer size of the coils shall be ar x br.
The coil is printed on PCB plated with 35 µm copper.
Track width shall be wr and spacing shall be sr.
NOTE The values for the parameters are listed in Table A.3.
5.3.2.5 Digital sampling oscilloscope
The digital sampling oscilloscope shall be capable of sampling at a rate of at least 100 million samples per
second with a resolution of at least 8 bits at optimum scaling. The oscilloscope should have the capability to
output the sampled data as a text file to facilitate mathematical and other operations such as windowing on
the sampled data using external software programs. An example of the program is shown in Annex H.
5.3.3 Functional test – tag
5.3.3.1 Purpose
The purpose of this test is to determine the amplitude of the tag load modulation signal within the operating
field range [H , H ] as specified in the base standard, ISO/IEC 18000-3 and the functionality of the tag with
min max
the modulation under emitted fields as defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for tag to interrogator link
(reference M1-Tag:7).
5.3.3.2 Test procedure
Step 1: The load modulation test circuit of Figure 2 — Example test set-up and the test interrogator assembly
of Figure 3 — Test interrogator assembly are used.
The RF power delivered by the signal generator to the test interrogator antenna shall be adjusted to produce
the required field strength (H and H ) and modulation waveforms defined in ISO/IEC 18000-3 as
min max
measured by the calibration coil without any tag. The output of the load modulation test circuit of Figure 2 —
Example test set-up is connected to a digital sampling oscilloscope. The 50 Ω potentiometer P1 shall be
trimmed to minimize the residual carrier. This signal shall be at least 40 dB lower than the signal obtained by
shorting one sense coil.
© ISO/IEC 2011 – All rights reserved 7

---------------------- Page: 12 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
Step 2: The tag under test shall be placed in the DUT position, concentric with sense coil A. The RF drive into
the test interrogator antenna shall be re-adjusted to the required field strength.
IMPORTANT Care should be taken to apply a proper synchronization method for low amplitude load modulation.
Exactly two sub-carrier cycles of the sampled modulation waveform shall be Fourier transformed. A discrete
Fourier transformation with a scaling such that a pure sinusoidal signal results in its peak magnitude shall be
used. To minimize transient effects, a sub-carrier cycle immediately following a non-modulating period must
be avoided. In case of two sub-carrier frequencies this procedure shall be repeated for the second sub-carrier
frequency.
The resulting amplitudes of the upper sideband(s) at fc + fs1 (and fc + fs2 if both are present) and the lower
sideband(s) at fc - fs1 (and fc - fs2, if present) respectively shall be above the value defined in the base
standard, ISO/IEC 18000-3.
An appropriate command sequence as defined in the base standard, ISO/IEC 18000-3 shall be sent by the
test interrogator to obtain a signal or load modulation response from the tag.
5.3.3.3 Test report
The test report shall give the measured amplitudes of the upper sideband(s) at fc + fs1 (and fc + fs2, if
present) and the lower sideband(s) at fc - fs1 (and fc - fs2, if present) and the applied fields and modulations.
The pass/fail condition is determined by the values defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for tag to
interrogator link (reference M1-Tag:7).
5.3.4 Functional test — interrogator
5.3.4.1 Interrogator field strength and power transfer
5.3.4.1.1 Purpose
This test measures the field strength produced by an interrogator with its specified antenna in its operating
volume as defined in accordance with the base standard, ISO/IEC 18000-3. The test procedure of clause
5.3.4.1.2 is also used to determine that the interrogator with its specified antenna generates a field not higher
than the value specified in ISO/IEC 18000-3 parameter table for interrogator to tag link (reference M1-Int:3 for
H and reference M1-Int:3a for H ).
max min
This test uses a reference tag as defined in Annex F to determine that a specific interrogator to be tested is
able to supply a certain power to a tag placed anywhere within the defined operating volume.
5.3.4.1.2 Test procedure
Procedure for H test:
max
1) Tune the reference tag to 13,56 MHz.
NOTE The resonant frequency of the reference tag is measured by using an impedance analyzer or a
LCR-meter connected to a calibration coil. The coil of the reference tag should be placed at a distance of 10 mm
from the calibration coil, with the axes of the two coils being congruent. The resonant frequency is that
frequency at which the resistive part of the measured complex impedance is at maximum.
2) Set Jumper J1 to position b to activate R2.
3) Sweep the reference tag coaxially with the antenna through the defined operating volume of the
interrogator under test at a maximum rate of 1 cm/s.
4) The DC voltage (V ) across resistor R3 (Annex F) is measured with a high impedance voltmeter
DC
and shall not exceed 3 V where the load resistor parallel to the coil L is set to R2 and the field

strength equals H .
max
8 © ISO/IEC 2011 – All rights reserved

---------------------- Page: 13 ----------------------
ISO/IEC TR 18047-3:2011(E)
Procedure for H test:
min
1) Tune the reference tag to 13,56 MHz.
2) Set Jumper J1 to position a to activate R1.
3) Sweep the reference tag coaxially with the antenna through the defined operating volume of the
interrogator under test at a maximum rate of 1 cm/s.
4) The DC voltage (V ) across resistor R3 is measured with a high impedance voltmeter and shall
DC
exceed 3 V where the load resistor parallel to the coil L is set to R1 and the field strength equals H .
min
5.3.4.1.3 Test report
The test report shall give the measured values for V at H and H under the defined conditions. The
DC min max
pass/fail condition is determined by the values defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for interrogator to
tag link (reference M1-Int:3 for H and reference M1-Int:3a for H ).
max min
5.3.4.2 Modulation index and waveform
5.3.4.2.1 Purpose
This test is used to determine the index of modulation of the interrogator field as well as the rise and fall times
and the overshoot values as defined in ISO/IEC 18000-3 M1-Int:7d parameter table for interrogator to tag link
(reference M1-Int:7, reference M1-Int:7d, figure M1-1 and figure M1-2) within the defined operating volume.
5.3.4.2.2 Test procedure
The calibration coil is positioned anywhere within the defined operating volume, and the modulation index and
waveform characteristics are determined from the induced voltage on the coil displayed on a suitable
oscilloscope.
5.3.4.2.3 Test report
The test report shall give the measured modulation index of the interrogator field, the rise and fall times and
the overshoot values within the defined operating volume. The pass/fail condition is determined by the values
defined in ISO/IEC 18000-3 parameter table for interrogator to tag link (reference M1-Int:7, reference
M1-Int:7d, figure M1-1 and figure M1-2).
5.3.4.3 Load modulation reception (informative only)
This is an indirect test of the ability of the interrogator
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.