IEC 60793-1-43:2001
(Main)Optical fibres - Part 1-43: Measurement methods and test procedures - Numerical aperture
Optical fibres - Part 1-43: Measurement methods and test procedures - Numerical aperture
Establishes requirements for measuring the numerical aperture of category A1 graded-index multimode fibre, and its light-gathering ability. This is used to predict lauching efficiency, joint loss at splices, and micro/macrobending perfprmance.
Fibres optiques - Partie 1-43: Méthodes de mesure et procédures d'essai - Ouverture numérique
Etablit des prescriptions pour mesurer l'ouveture numérique d'une fibre multimodale à gradient d'indice catégorie A1, et sa capacité à capter la lumière. Il est utilisé pour prévoir l'efficacité de l'injection, les pertes aux épissures et la tenue aux micorcourbures et aux macrocourbures.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60793-1-43
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2001-07
Fibres optiques –
Partie 1-43:
Méthodes de mesure et procédures d'essai –
Ouverture numérique
Optical fibres –
Part 1-43:
Measurement methods and test procedures –
Numerical aperture
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60793-1-43:2001
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60793-1-43
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2001-07
Fibres optiques –
Partie 1-43:
Méthodes de mesure et procédures d'essai –
Ouverture numérique
Optical fibres –
Part 1-43:
Measurement methods and test procedures –
Numerical aperture
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M
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– 2 – 60793-1-43 © CEI:2001
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4
INTRODUCTION.8
1 Domaine d’application.10
2 Références normatives .10
3 Vue d'ensemble de la méthode .10
4 Méthode d'essai de référence .12
5 Appareillage .12
5.1 Système d'entrée.12
5.1.1 Source de lumière.12
5.1.2 Optique d'entrée .12
5.1.3 Support de l'extrémité d'entrée de la fibre et alignement.12
5.1.4 Extracteur de modes de gaine.12
5.2 Dispositif de sortie et détection .12
5.2.1 Méthode 1 – Balayage angulaire (voir figure 1).14
5.2.2 Méthode 2 – Balayage angulaire (voir figure 2).14
5.2.3 Méthode 3 – Balayage du diagramme du champ spatial (voir figure 3) .14
5.2.4 Détecteur optique .20
6 Echantillonnage et échantillons à l’essai .20
6.1 Longueur de l'échantillon à l’essai.20
6.2 Face d'extrémité de l'échantillon à l’essai.20
7 Procédure.20
8 Calculs .22
8.1 Valeur théorique maximale en fonction du champ lointain.22
8.2 Angle de l'intensité à 5 %, θ .22
8.3 Ouverture numérique, ON .22
ff
9 Résultats .22
9.1 Informations à fournir pour chaque mesure .22
9.2 Informations à fournir sur demande.22
10 Informations à mentionner dans la spécification .24
Figure 1 – Méthode 1 – Balayage angulaire .16
Figure 2 – Méthode 2 – Balayage angulaire .16
Figure 3 – Méthode 3 – Balayage du diagramme en champ spatial .18
60793-1-43 © IEC:2001 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
INTRODUCTION.9
1 Scope.11
2 Normative references.11
3 Overview of method .11
4 Reference test method.13
5 Apparatus.13
5.1 Input system .13
5.1.1 Light source.13
5.1.2 Input optics.13
5.1.3 Fibre input end support and alignment.13
5.1.4 Cladding mode stripper .13
5.2 Output system and detection.13
5.2.1 Technique 1 – Angular scan (see figure 1) .15
5.2.2 Technique 2 – Angular scan (see figure 2) .15
5.2.3 Technique 3 – Scan of the spatial field pattern (see figure 3).15
5.2.4 Optical detector .21
6 Sampling and specimens .21
6.1 Specimen length.21
6.2 Specimen end face .21
7 Procedure.21
8 Calculations.23
8.1 Far field versus maximum theoretical value.23
8.2 Five per cent intensity angle, θθ .23
θθ
8.3 Numerical aperture, NA .23
ff
9 Results .23
9.1 Information to be provided with each measurement.23
9.2 Information available upon request .23
10 Specification information.25
Figure 1 – Technique 1 – Angular scan.17
Figure 2 – Technique 2 – Angular scan.17
Figure 3 – Technique 3 – Scan of the spatial field pattern .19
– 4 – 60793-1-43 © CEI:2001
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
FIBRES OPTIQUES –
Partie 1-43: Méthodes de mesure et procédures d’essai –
Ouverture numérique
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.