Optical fibres - Part 1-49: Measurement methods and test procedures - Differential mode delay

Describes a method for characterizing the modal structure of a graded-index multimode fibre. The information is useful for assessing the bandwidth performance of a fibre when used with laser sources. Applies only to multimode, graded-index glass-core (category A1) fibres. The test method is commonly used in production and research facilities, however is not easily accomplished in the field.

Fibres optiques - Partie 1-49: Méthodes de mesure et procédures d'essai - Retard différentiel de mode

Décrit une méthode de caractérisation de la structure modale d'une fibre multimodale à gradient d'indice. Cette information est utile pour évaluer les performances de largeur de bande d'une fibre lorsqu'elle est utilisée avec des sources lasers. S'applique uniquement aux fibres multimodales à cur en verre à gradient d'indice (catégorie A1). Cette méthode d'essai est généralement utilisée dans les installations de production et de recherche et n'est pas facilement réalisée sur le terrain

General Information

Status
Published
Publication Date
30-Mar-2003
Technical Committee
Current Stage
DELPUB - Deleted Publication
Completion Date
26-Jun-2006
Ref Project

Relations

Buy Standard

Standard
IEC 60793-1-49:2003 - Optical fibres - Part 1-49: Measurement methods and test procedures - Differential mode delay Released:3/31/2003 Isbn:2831869196
English and French language
35 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)


NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60793-1-49
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-03
Fibres optiques –
Partie 1-49:
Méthodes de mesure et procédures d'essai –
Retard différentiel de mode
Optical fibres –
Part 1-49:
Measurement methods and test procedures –
Differential mode delay
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60793-1-49:2003
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.
courrier électronique. Veuillez prendre contact
Please contact the Customer Service Centre (see
avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
below) for further information.
d’informations.
• Service clients
• Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette
If you have any questions regarding this
publication ou avez besoin de renseignements
publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service
contact the Customer Service Centre:
clients:
Email: custserv@iec.ch
Email: custserv@iec.ch
Tél: +41 22 919 02 11
Tel: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
Fax: +41 22 919 03 00
.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
60793-1-49
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-03
Fibres optiques –
Partie 1-49:
Méthodes de mesure et procédures d'essai –
Retard différentiel de mode
Optical fibres –
Part 1-49:
Measurement methods and test procedures –
Differential mode delay
 IEC 2003 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les photocopying and microfilm, without permission in writing from
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. the publisher.
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch  Web: www.iec.ch
CODE PRIX
Q
Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 60793-1-49  CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT PROPOS . 4

1 Domaine d’application. 8

2 Références normatives . 8

3 Termes et définitions . 8

4 Appareillage .10

4.1 Source optique .10

4.2 Stabilité .10

4.3 Système d’injection.10
4.4 Système de détection .12
4.5 Equipement de calcul .14
5 Echantillonnage et échantillons d’essai.14
5.1 Echantillon d’essai.14
5.2 Faces d’extrémités d'échantillons d’essai .14
5.3 Longueur d'échantillon d’essai.14
5.4 Emballage de l’échantillon d’essai .14
5.5 Positionnement de l’échantillon d’essai.14
6 Procédure.14
6.1 Régler et mesurer la réponse du système.14
6.2 Régler le système de détection.16
6.3 Mesurer l’échantillon d’essai.16
7 Calculs et interprétation des résultats .18
7.1 Retard différentiel de mode (DMD) .18
7.2 Normalisation de la longueur .18
8 Documentation.18
8.1 Informations requises pour chaque mesure.18
8.2 Informations nécessairement disponibles.20
9 Informations relatives à la spécification .20
Annexe A (informative) Comparaison entre cette norme et les recommandations UIT .22
Annexe B (normative) Limitation de la largeur spectrale de la source.24
Annexe C (informative) Discussion des détails de mesure.30

Figure C.1 – Données DMD idéales .30
Tableau B.1 – Dispersion attendue la plus élevée pour les fibres disponibles sur le
marché de la catégorie A.1.28

60793-1-49  IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5

1 Scope . 9

2 Normative references. 9

3 Definitions . 9

4 Apparatus . 9

4.1 Optical source .11

4.2 Stability .11

4.3 Launch system .11
4.4 Detection system .13
4.5 Computational equipment .15
5 Sampling and specimens .15
5.1 Test sample.15
5.2 Specimen endfaces .15
5.3 Specimen length.15
5.4 Specimen packaging.15
5.5 Specimen positioning.15
6 Procedure.15
6.1 Adjust and measure system response.15
6.2 Adjust detection system.17
6.3 Measure the test sample.17
7 Calculations and interpretation of results .19
7.1 Differential Mode Delay (DMD) .19
7.2 Length normalization .19
8 Documentation.19
8.1 Report the following information for each test .19
8.2 Information to be available upon request .21
9 Specification information.21
Annex A (informative) Comparison between this Standard and ITU recommendations.23
Annex B (normative) Source spectral width limitation .25
Annex C (informative) Discussion of measurement details .31

Bibliography.35
Figure C.1 – Idealized DMD data .31
Table B.1 – Highest expected dispersion for commercially available category A.1 fibres .29

– 4 – 60793-1-49  CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
FIBRES OPTIQUES –
Partie 1-49: Méthodes de mesure et procédures d’essai –

Retard différentiel de mode
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), s
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.