IEC TR 62284:2003

Effective area measurements of single-mode optical fibres - Guidance

Applies to the methods for measuring the effective area of single mode optical fibres. Three methods of measuring effective area are found in the body of the document. The three methods are: direct far-field (DFF);variable aperture in the far-field (VAMFF); near-field (NF). The reference method, used to resolve disputes, is method A, direct far-field.

Mesures de l'aire efficace des fibres optiques unimodales - Guide d'application

Applies to the methods for measuring the effective area of single mode optical fibres. Three methods of measuring effective area are found in the body of the document. The three methods are: direct far-field (DFF);variable aperture in the far-field (VAMFF); near-field (NF). The reference method, used to resolve disputes, is method A, direct far-field.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 20-Jan-2003
• ICS: 33.180.10 - Fibres and cables
• Technical Committee: SC 86A - Fibres and cables
• Drafting Committee: WG 1 - TC 86/SC 86A/WG 1
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 31-Oct-2002
• Completion Date: 21-Jan-2003

Standards Content (Sample)

RAPPORT CEI
TECHNIQUE IEC
TR 62284
TECHNICAL
Première édition
REPORT
First edition
2003-01
Mesures de l'aire efficace des fibres optiques
unimodales –
Guide d'application
Effective area measurements of single-mode
optical fibres –
Guidance
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC/TR 62284:2003
Numérotation des publications Publication numbering
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sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
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amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
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ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables
de faire des recherches en utilisant de nombreux you to search by a variety of criteria including text
critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
les nouvelles publications, les publications rempla- replaced publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
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est aussi disponible par courrier électronique. is also available by email. Please contact the
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RAPPORT CEI
TECHNIQUE IEC
TR 62284
TECHNICAL
Première édition
REPORT
First edition
2003-01
Mesures de l'aire efficace des fibres optiques
unimodales –
Guide d'application
Effective area measurements of single-mode
optical fibres –
Guidance
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W
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– 2 – TR 62284  CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 6
1 Domaine d’application et objet . 8
2 Documents de référence.10
3 Appareillage .10
3.1 Source de lumière .10
3.2 Dispositifs optiques d'entrée .10
3.3 Extracteur de modes de gaine .10
3.4 Filtre de mode d'ordre élevé .10
3.5 Ordinateur .10
4 Echantillonnage et éprouvettes .10
4.1 Longueur d'éprouvette .10
4.2 Faces d’extrémités de l'éprouvette.12
5 Procédure.12
6 Calculs ou interprétation des résultats .12
6.1 Champ proche .12
6.2 Champ lointain direct.12
6.3 Ouverture variable dans le champ lointain .12
7 Documentation.14
7.1 Informations à fournir pour chaque mesure.14
7.2 Informations à fournir sur demande .14
Annexe A Spécificité de mesure de la méthode du champ lointain direct.16
Annexe B Ouverture variable dans la spécificité de mesure de la méthode
du champ lointain.24
Annexe C Spécificité de mesure de la méthode du champ proche .32
Annexe D Données d'échantillons et calculs .38
Annexe E Comparaison entre le présent rapport technique et
les recommandations UIT.44
Annexe F Traitement des lobes latéraux dans les données de champ lointain .46
Annexe G Méthode pour calculer l'aire efficace
à partir des données d'ouvertures variables .48
Annexe H Liste Fortran des sous-programmes qui réalisent la solution désirée
du problème de programmation quadratique .72
Figure A.1 – Montage d’essai pour la mesure du champ lointain direct.16
Figure B.1 – Montage d’essai pour l'ouverture variable de la mesure du champ lointain .24
Figure B.2 – Montage de mesure .26
Figure C.1 – Montage d’essai de la méthode du champ proche .32
Figure D.1 – Intensité en champ lointain .38
Figure D.2 – Intensité en champ proche .38
Figure F.1 – Tracé de champ lointain type affichant des lobes latéraux.46
Figure G.1 – Géométrie de mesure de la méthode d'ouverture variable.50
Figure G.2 – Système de coordonnées utilisé pour évaluer le champ de diffraction.50

TR 62284  IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 7
1 Scope and object . 9
2 Reference documents .11
3 Apparatus .11
3.1 Light source.11
3.2 Input optics .11
3.3 Cladding mode stripper .11
3.4 High-order mode filter .11
3.5 Computer.11
4 Sampling and specimens .11
4.1 Specimen length .11
4.2 Specimen end faces.13
5 Procedure .13
6 Calculation or interpretation of results .13
6.1 Near-field.13
6.2 Direct far-field.13
6.3 Variable aperture in the far-field .13
7 Documentation.15
7.1 Information to be reported with each measurement .15
7.2 Information that should be available upon request .15
Annex A Direct far-field method measurement specifics.17
Annex B Variable aperture in the far-field method measurement specifics .25
Annex C Near-field method measurement specifics .33
Annex D Sample data and calculations .39
Annex E Comparison between this technical report and ITU recommendations.45
Annex F Treatment of side lobes in far-field data .47
Annex G Method for computing effective area from variable aperture data .49
Annex H Fortran listing of the subroutines that perform the desired solution of
the quadratic programming problem.73
Figure A.1 – Test set-up for the direct far-field measurement .17
Figure B.1 – Test set-up for the variable aperture in the far-field measurement .25
Figure B.2 – Apparatus set-up measurements.27
Figure C.1 – Near-field method test set-up.33
Figure D.1 – Far-field intensity.39
Figure D.2 – Near-field intensity.39
Figure F.1 – Typical far-field plot displaying side lobes.47
Figure G.1 – Measurement geometry of the variable aperture method .51
Figure G.2 – Co-ordinate system used to evaluate the diffraction field.51

– 4 – TR 62284  CEI:2003
r
Figure G.3 – Coordonnée
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