EN 60444-5:1997

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and error correction

Gives methods for determining the best representations of modes in quartz crystal resonators by linear equivalent circuits.

Messung von Schwingquarz-Kennwerten - Teil 5: Meßverfahren zur Bestimmung der elektrischen Ersatzschaltungsparameter von Schwingquarzen mit automatischer Netzwerkanalysatortechnik und Fehlerkorrektur

Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 5: Méthodes pour la détermination des paramètres électriques équivalents utilisant des analyseurs automatiques de réseaux et correction des erreurs

Fournit des méthodes permettant de déterminer les meilleures représentations de modes dans les résonateurs à quartz par des circuits équivalents linéaires.

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent analyser techniques and error correction (IEC 60444-5:1995)

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 16-Apr-1997
• Withdrawal Date: 30-Nov-1997
• ICS: 31.140 - Piezoelectric devices
• Technical Committee: CLC/SR 49 - Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection
• Drafting Committee: IEC/TC 49 - IEC_TC_49
• Parallel Committee: IEC/TC 49 - IEC_TC_49
• Current Stage: 6060 - Document made available - Publishing
• Start Date: 17-Apr-1997
• Completion Date: 17-Apr-1997
• Ref Project: SIST EN 60444-5:2002 - Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and error correction

Standards Content (Sample)

SLOVENSKI STANDARD
SIST EN 60444-5:2002
01-september-2002
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 5: Methods for the
determination of equivalent analyser techniques and error correction (IEC 60444-
5:1995)
Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 5: Methods for the determination
of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and
error correction
Messung von Schwingquarz-Kennwerten -- Teil 5: Meßverfahren zur Bestimmung der
elektrischen Ersatzschaltungsparameter von Schwingquarzen mit automatischer
Netzwerkanalysatortechnik und Fehlerkorrektur
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz -- Partie 5: Méthodes pour la
détermination des paramètres électriques équivalents utilisant des analyseurs
automatiques de réseaux et correction des erreurs
Ta slovenski standard je istoveten z: EN 60444-5:1997
ICS:
31.140 3LH]RHOHNWULþQHLQ Piezoelectric and dielectric
GLHOHNWULþQHQDSUDYH devices
SIST EN 60444-5:2002 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

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SIST EN 60444-5:2002
NORME CEI
IEC
INTERNATIONALE
444-5
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1995-03
Mesure des paramètres des résonateurs
à quartz
Partie 5:
Méthodes pour la détermination des paramètres
électriques équivalents utilisant des analyseurs
automatiques de réseaux et correction des erreurs
Measurement of quartz crystal unit parameters —
Part 5:
Methods for the determination of equivalent
electrical parameters using automatic network
analyzer techniques and error correction
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Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or util ized in
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Suisse
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Commission Electrotechnique Internationale
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International Electrotechnical Commission
PRICE CODE
IEC Me*nyHapoaslaa 3neKrporexHH4ecKaa IioMHCCHa
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•
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SIST EN 60444-5:2002
444-5 ©IEC:1995 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD 5
Clause
1 Scope 7
2 Introduction 7
2.1 General 7
2.2 Methods of admittance measurement 9
2.3 Admittance analysis and estimation of equivalent circuit parameters 13
2.4 Normative references 13
3 Measurement procedures 15
3.1 General 15
3.2 Environmental control 15
3.3 Calibration 15
3.4 Level of drive 15
3.5 Co measurements 15
3.6 Choice of measurement frequencies 17
3.7 Data collection 17
3.8 Data correction 19
3.9 Admittance calculation 19
3.10 Admittance analysis an
d estimation of the equivalent circuit parameters 19
4 Choice of admittance measurement method 19
4.1 General 19
4.2 Advantages and disadvantages of the one-port S-parameter reflection method 19
4.3 Advantages and disadvantages of the two-port S-parameter tr ansmission method 21
4.4 Advantages and disadvantages of the direct tr ansmission method 21
5 Calibration techniques 23
5.1 S-parameter method 23
5.2 Direct transmission method 23
Verification of calibration 5.3 23
6 Low-frequency measurements 25
7 Admittance analysis and estimation of the equivalent circuit parameters 25
7.1 General least-squares fitting method 25
7.2 Linear least-squares fitting procedure 27
7.3 Circle-fitting method 33
7.4 Two-point iterative method 37
8 Measurement errors, instrumentation and test fixtures 41
8.1 General comments 41
8.2 Measurement conditions 41
8.3 Reproducibility 43
d
8.4 Measurement an test fixtures 43
Figures 49
Annexes
A Calibration 71
B Low-frequency measurement 93
C Bibliography 100

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SIST EN 60444-5:2002
444-5 ©IEC:1995 – 5
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
MEASUREMENT OF QUARTZ CRYSTAL UNIT PARAMETERS —
Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters
using automatic network analyzer techniques and error correction
FOREWORD
1)
The MC (Internati
onal Electrotechnical Commission) is a world-wide organization for standardization co
...