IEC 62358:2004

Ferrite cores - Standard inductance factor (AL) and its tolerance

Provides standard inductance factors (AL) and their tolerances for Pot, RM, ETD, EE, EP, EL and low-profile ferrite cores. Is recommended for users and manufacturers.

Noyaux de ferrite - Inductance spécifique normalisée (AL) et tolérances associées

Fournit les inductances spécifiques normalisées (AL) ainsi que les tolérances associées des circuits magnétiques en pots, des noyaux carrés (RM), des noyaux ETD, des noyaux EE, des noyaux EP, des noyaux EL, des noyaux faible hauteur et des noyaux BMP en ferrites. Est recommandé aussi bien aux utilisateurs qu'aux fabricants.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 11-May-2004
• ICS: 29.100.10 - Magnetic components
• Technical Committee: TC 51 - Magnetic components, ferrite and magnetic powder materials
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Completion Date: 12-Oct-2012

Relations

• Revised: IEC 62358:2012 - Ferrite cores - Standard inductance factor for gapped cores and its tolerance
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2004-05
Noyaux de ferrite –
Inductance spécifique normalisée (A )
L
et tolérances associées
Ferrite cores –
Standard inductance factor (A )
L
and its tolerance
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62358:2004
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
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nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables
de faire des recherches en utilisant de nombreux you to search by a variety of criteria including text
critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
les nouvelles publications, les publications rempla- replaced publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
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(http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) (http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2004-05
Noyaux de ferrite –
Inductance spécifique normalisée (A )
L
et tolérances associées
Ferrite cores –
Standard inductance factor (A )
L
and its tolerance
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– 2 – 62358  CEI:2004
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4

INTRODUCTION.8

1 Domaine d’application.10

2 Références normatives.10

3 Méthode de mesure.10

4 Valeur d’A et de ses tolérances.10
L
4.1 Tolérances.10
4.2 Noyau EE.10
4.3 Noyau ETD.10
4.4 Noyau EP.12
4.5 Noyau RM.12
4.6 Noyau EL.12
4.7 Circuit magnétique en pot.12
4.8 Noyau faible hauteur .12

Annexe A (informative) Dimensions des noyaux EE et E à pôle central cylindrique, en
plus des dimensions normalisées CEI des Tableaux 2 et 3 .30
Annexe B (informative) Valeurs des paramètres effectifs .36

Figure A.1 – Dimensions des noyaux EE .30
Figure A.2 – Dimensions des noyaux ETD et E à pôle central cylindrique .34

Tableau 1 – Tolérances en fonction de la lettre code .10
Tableau 2 – A et ses tolérances pour les noyaux EE .14
L
Tableau 3 – A et ses tolérances pour les noyaux ETD et noyaux E à pôle central
L
cylindrique .18
Tableau 4 – A et ses tolérances pour les noyaux EP .20
L
Tableau 5 – A et ses tolérances pour les noyaux RM.20
L
Tableau 6 – A et ses tolérances pour les noyaux EL.22
L
Tableau 7 – A et ses tolérances pour les circuits magnétiques en pot .24
L
Tableau 8 – A et ses tolérances pour les noyaux ER de faible hauteur .26
L
Tableau 9 – A et ses tolérances pour les noyaux E-I de faible hauteur .26
L
Tableau 10 – A et ses tolérances pour les noyaux E de faible hauteur.28
L
Tableau 11 – A et ses tolérances pour les noyaux RM de faible hauteur.28
L
Tableau A.1 – Dimensions des noyaux EE en plus des dimensions normalisées CEI
du Tableau 2.30
Tableau A.2 – Dimensions des noyaux E à pôle central cylindrique en plus des
dimensions normalisées CEI du Tableau 3.34
Tableau B.1 – Valeurs des paramètres effectifs des noyaux EE en plus des
dimensions normalisées CEI du Tableau 2.36
Tableau B.2 –Valeurs des paramètres effectifs des noyaux E à pôle central cylindrique
en plus des dimensions normalisées CEI du Tableau 3.38

62358  IEC:2004 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

INTRODUCTION.9

1 Scope.11

2 Normative references.11

3 Measuring method.11

4 A value and its tolerance.11
L
4.1 Tolerance.11
4.2 EE core.11
4.3 ETD core.11
4.4 EP core.13
4.5 RM core.13
4.6 EL core.13
4.7 Pot core.13
4.8 Low-profile core.13

Annex A (informative) Dimensions of EE and round centre-pole E cores in addition to
IEC standard sizes in Tables 2 and 3.31
Annex B (informative) Effective parameter values .37

Figure A.1 – Dimensions of EE cores.31
Figure A.2 – Dimensions of ETD and round centre pole E cores .35

Table 1 – Tolerance versus letter code .11
Table 2 – A and its tolerance for EE cores.15
L
Table 3 – A and its tolerance for ETD and round centre pole E cores .19
L
Table 4 – A and its tolerance for EP cores.21
L
Table 5 – A and its tolerance for RM cores .21
L
Table 6 – A and its tolerance for EL cores .23
L
Table 7 – A and its tolerance for pot cores .25
L
Table 8 – A and its tolerance for low-profile ER cores.27
L
and its tolerance for low-profile E-I cores.27
Table 9 – A
L
Table 10 – A and its tolerance for low-profile E cores .29
L
and its tolerance for low-profile RM cores .29
Table 11 – A
L
Table A.1 – Dimensions of EE cores in addition to IEC standard sizes in Table 2 .31
Table A.2 – Dimensions of round centre pole E cores in addition to IEC standard sizes
in Table 3 .35
Table B.1 – Effective parameter values of EE cores in addition to IEC standard sizes
in Table 2 .37
Table B.2 – Effective parameter values of round centre pole E cores in addition to IEC
standard sizes in Table 3 .39

– 4 – 62358  CEI:2004
COMMISSIO
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