ISO/IEC 10373:1993
(Main)Identification cards — Test methods
Identification cards — Test methods
Describes test methods for the characteristics of identification cards, also integrated circuit cards, in accordance with ISO 7810, ISO 7811, ISO 7813, and ISO 7816.
Cartes d'identification — Méthodes d'essai
General Information
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Standards Content (Sample)
INTERNATIONAL
ISO/IEC
STANDARD
10373
First edition
1993-l 2-l 5
Identification cards - Test methods
Cartes d ‘identification - M6 thodes d ‘essai
Reference number
lSO/IEC 10373:1993(E)
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ISO/IEC 10373:1993(E)
Contents
1
.......................................................
Scope
.............................................. 1
Yorrnative references
2
Definitions .
.................................. 2
Default test environment and conditioning
.................................................. 2
Test methods
2
................................................
51 . Card warpage
............................................ 4
52 . Dimensions of cards
5
...................................
5.3
Embossing relief height of character
5
...........................
54 . Height and surface profile of the magnetic stripe
9
................................
55 . Surface rowhness of the masletic strke
9
Wear test foFmagnetic stripe” . .*. .
56 .
10
...............................................
57 . Delamination
12
.........................................
5.8 Resistance to chemicals
12
59 . Amplitude mcasurcments .
............ 15
5.10 Card dimensional stability and warpage with temperature and humidity
15
.........................................
5.11Adhesionorblocking
16
............................................
5.12 Bending stiffness
.............................................. 17
5.13 Flammability
17
..........................................
5.14 Light transmittance
18
...................................
5.15 Flux transition spacing variation
19
.................................
Test methods of the integrated circuit card
19
.............................
6.1 Dynamic bending stress (bending properties)
.................................. 20
6.2 Dynamic torsionA stress (torsion)
21
...........................................
6.3 Location of contacts
22
..............................................
6.4 Static electricity
24
.............................................
6.5 Ultraviolet light
24
....................................................
6.6 X-rays
........................... 25
6.7 Electrical resistance and impedance of contacts
........................................ 25
6.8 Surface profile of contacts
27
........................................
6.9 Vibrations . :
29
.........................................
6.10 Electromagnetic fields
0 ISO/IEC 1993
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be
reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including
photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher.
ISO/IEC Copyright Office l Case postale 56 l CH-1211 Genkve 20 l Switzerkmd
Printed in Switzerland
ii
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0 ISOIIEC
ISO/IEC 10373:1993(E)
Foreword
IS0 (the International Organization for Standardization) and IEC (the Interna-
tional Electrotechnical Commission) form the specialized system for worldwide
standardization. National bodies that are members of IS0 or IEC participate in
the development of International Standards through technical committees estab-
lished by the respective organization to deal with particular fields of technical
activity. IS0 and IEC technical committees collaborate in fields of mutual inter-
est. Other international organizations, governmental and non-governmental, in
liaison with IS0 and IEC, also take part in the work.
In the field of information technology, IS0 and IEC have established a joint
technical committee, ISO/IEC JTC 1. Draft International Standards adopted by
the joint technical committee are circulated to national bodies for voting. Publi-
cation as an International Standard requires approval by at least 75 % of the na-
tional bodies casting a vote.
International Standard ISO/IEC 10373 was prepared by Joint Technical Com-
mittee ISO/IEC JTC 1, Information technology, Subcommittee SC 17, Identifi-
cation cards and related devices.
. . .
111
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~~
ISO/IEC 10373:1993 (E)
INTERNATIONAL STANDARD ?s”irEc
Identification cards - Test methods
I Scope
This International Standard describes test methods for the characteristics of identification cards in accordance
with IS0 7810, IS0 7811, IS0 7813, and IS0 7816.
NOTE 1 Criteria for acceptability do not form part of this International Standard but will be found in the International Standards
mentioned above.
NOTE 2 Test methods described in this International Standard are intended to be performed separately. A given card is not required
to pass through all the tests sequentially.
2 Normative references
The following standards contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions of this
International Standard. At’ the time of publication, the editions indicated were valid. All standards are subject
to revision, and parties to agreements based on this Intemational Standard are encouraged ta investigate the
possibility of applying the most-recent editions of the standards listed below. Members of IEC and IS0
maintain registers of currently valid International StGdards.
IS0 5- 1: 1984, Density measurements - Part 1: Terms, symbols and notations.
Photography -
IS0 5-2:1991, Photography - Density measurements - Part 2: Geometric conditions for transmission
density.
IS0 5-3: 1984, Photography - Density measurements - Part 3: Spectral conditions.
IS0 10%E04: 1989, Textiles - Terts for coiow fastness - Part E04: Co/our fastness to perspiration.
Method of indicating surface texture.
IS0 1302: 1992, Technical drawings -
IS0 1817:1985, Rubber, vulcanized - Determination of the effect of liquids.
IS0 1880: 1979, Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method - Contact
(stylus) instrunlerits of progressive proJ;ie transformation - Profile recoj -ding ins f rwnen ts.
IS0 9227: 1990, Cowosion tests in artificial atmospheres - Salt spray.
Physical characteristics.
IS0 7810: 1993, Identification cards -
IS0 78 1 l- 1: 1993, Identification cards - Recording technique - Part I: Embossing.
IS0 78 1 l-2: 1993, identification cards - Recording technique - Part 2: Magnetic stripe.
IS0 78 1 l-3: 1993, Identification cards - Recording technique - Part 3: Location of embossed characters on
ID- I cards.
1
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0 ISO/IEC
IS0 78 1 l-4: 1993, Identification cards - Recording technique - Part 4: Location of read-only magnetic tracks
- Track / and 2.
Recording technique - Part 5: Location of read-write magnetic track
IS0 78 1 l-5: 1993, Identification cards -
- Track 3.
IS0 7813:1993, Identification cards - Financial transaction cards.
IS0 78 16- 1: 1987, Identification cards - Integrated circuit(s) cards with contacts - Part I: Physical character-
istics.
IS0 78 16-2: 1988, Identification cards - integrated circuit(s) cards with contacts - Part 2: Dimensions and
location of the contacts.
IEC 5 12-2: 1976, Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and meas-
uring methods - Part 2: General examination, electrical continuity and contact resistance
tests, insulation tests and voltage stress tests.
3 Definitions
For the purpose of this International Standard, the following definition applies.
3.1 Test method: Method for testing characteristics of identification cards for the purpose of confirming
their compliance with International Standards.
4 Default test environment and conditioning
Unless otherwise specified, testing shall take place in an environment of temperature 23 “C + 3 “C (73 “F
+ 5 “F) and of relative humidity 40 % to 60 %. Identification cards shall be conditioned in this same envi-
-
ronment for a period of 24 h before testing.
5 Test methods
5.1 Card warpa-ge
The purpose of this test is to measure the extent of warpage in the test sample (see IS0 7810).
Card warpage is any deformation of card flatness.
51.1 Overall card warpage of unembossed and embossed cards
minimum accuracy of 0,Ol mm.
5.1.1.1 Apparatus: A profile projector or measuring device with a
5.1.1.2 Procedure: Place the card to be tested on the level rigid plate of the measuring apparatus. The card
edges shall rest on the plate (war-page of the card in convex fom to the plate).
Read the extent of warpage on the scale magnifier at the greatest point of displacement, measured from the
front surface of the card.
5.1.1.3 Result: The extent of war-page at the greatest point of displacement (see figure 1).
2
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0 ISO/IEC
ement grid
Measur
Figure 1 - Projector apparatus view of warpage measurement
51.2 Magnetic stripe area warpage for embossed and unembossed cards
5.1.2.1 Apparatus:
a) A level rigid plate whose surface roughness is not greater than 3,2 pm in accordance with IS0 1302. The
plate shall contain an aperture to allow access for a micrometer probe, see figure 2;
b) a micrometer accurate to within 2,5 pm with a probe whose contact area is a hemisphere with a diameter
in the range of 3 mm to 8 mm. The force exerted by the probe shall be f = 0,6 N t 0,3 N;
c) a means of applying a force F = 2,2 N (0.5 lbf) evenly distributed on the front face of the card opposite
the mapetic stripe area (see figure 2).
F+f
Reference ba
(Precision 23)
Figure 2 - Measuring arrangement
NOTE 3 The load of 2,2 N should be increased by an amount f to compensate for the micrometer force which is acting in the
opposite direction to that force.
5.1.2.2 Procedure: Position the magnetic
Place the sample card, front side up, on the level rigid plate.
stripe area to be measured over the aperture. Apply the force F (+f) directly over the magnetic stripe area
on the front side of the card. Wait 1 minute before making any measurements. Measure the card stripe area
for warpage at the nine positions along the stripe as shown in figure 3.
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0 ISO/IEC
ISO/IEC 10373:1993(E)
Not to scale
Dimensions in millimetres
Figure 3 - Measuring points on the card
5.1.2.3 Result: The maximum valtie of the measurements.
5.2 Dimensions of cards
The purpose of this test is to measure the height, width and thickness of an unembossed card test sample
(see IS0 7810).
5.2.1 Thickness of card measurements
5.2.3 .I Apparatus: A micrometer with a flat anvil and spindle whose diameter is within the range of 3 mm
to8mm.
5.2.1.2 Procedure: Use the micrometer to measure the thickness of the card at four points, one in each of
the four quadrants of the card (see figure 4 for the location of the quadrants). The measurements shall be
made at locations on the card that do not include signature panels, magnetic stripes or contacts (integrated
circuit/s cards), or any other raised area. Micrometer force shall be 3,5 N to 5,9 N.
Quadrant Quadrant
1 2
!
-.--pm.- .---I-.-.
.-
+
Quadrant Quadrant
3 4
I
Figure 4 - Assignment of quadrants
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0 ISO/IEC
5.2.1.3 Result: The maximum and the minimum value of the four measurements shall be compared with
the standardized value.
5.2.2 Height and width of card measurement
5.2.2.1 Apparatus: A level horizontal rigid surface of a roughness not greater than 3,2 pm according to
IS0 1302. A profile projector with a precision of 25 pm or adequate measuring device with the same accu-
racy. A load of 2,2 N + 0,2 N.
-
5.2.2.2 Procedure: The card to be tested shall be placed on the level horizontal rigid surface and flattened
under the 2,2 N + 0,2 N load. Use the profile projector to measure the height and width of the card.
-
5.2.2.3 Result: The measurement/s obtained shall be compared with those given in IS0 7810.
5.3 Embossing relief height of character
The purpose of this test is to obtain the overall and the relief height of imprinting character surfaces in the
test sample. (see IS0 781 l-l)
The embossing relief height of a character is the extent to which the card surface is raised by embossing
action.
5.3.1 Apparatus: See “52.1 Thickness of card measurements.”
53.2 Procedure: Use the micrometer with a force of 3,5 N to 5,9 N to measure the embossed height of any
one character.
5.3.3 Result: Overall height is the direct measurement obtained from the test. Relief height is calculated by
deducting the thickness of the card, as measured in the relevant quadrant (see figure 4) from the direct meas-
urement obtained of the overall height.
5.4 Height and surface profile of the magnetic stripe
The purpose of this test is to determine the degree of height and flatness of the magnetic stripe (see IS0
781 l-2). The location of the stripe is described in IS0 7811-4 and IS0 781 l-5.
The height of the magnetic stripe is defined in relation to the card and the stripe surface profile.
5.4.1 Apparatus: Profilometer (example figure 5).
5.4.2 Procedure: The height and the surface profile of the magnetic stripe as well as the surrounding card
surface shall be measured with a measuring recording instrument.
---------------------- Page: 9 ----------------------
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ISO/IEC 10373:1993(E)
r
Transducer
Measuring
- direction
I
I I
plate
Figure 5 - Measuring device for the height and the profde of the magnetic stripe
The card to be tested is held under a notched rigid metal plate as described in figure 6. The plate applies a
force of 2,2 N + 0,l N.
-
Not to state
Dimensions in millime tr es
3500
f’d
ljl I
I I ! I
I L , 1
6
8
1 I
.
8
E
k
E
I + ,
+ .
I
t
i
10.00 to IS,00
-
42.00
rC
-I
84.00
1-
Figure 6 - Card holder plate (contact area)
NOTE 4 Any rigid metal can be used. Plate thickness depends on material to achieve 2,2 N + 0,l N. Tolerance on all dimensions of
the plate : -+ 0,5 mm.
The profde is measured at a maximum speed of 1 mm/s (0.04 in/s) with a probe having a radius of 0,38 mm
to 2,54 mm (0.015 in to 0. I in) applied with a force of 0,5 mN to 6 mN.
Three measurements are to be taken on each specimen across the width of the stripe. The three locations V,
X and Y are defined as the distance of 15 mm + 2 mm (0.59 in +‘ - 0.08 in) from each end of the card and
location X the centreline of the card (see figure 7)-
6
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0 ISO/IEC
Not to scale
Dimensions in miilime tr es
0
;
X V
z Y
&
I
I
I
!
,
!
! .
1 4
I I
I I
4
Figure 7 - Magnetic stripe profile measurement location
The starting point for measurement along each line V,X,Y begins 1 mm min (0.039 in min) above the top
edge of the magnetic media and ends 1 mm min (0.039 in min) below the bottom edge of the magnetic
media.
When a measurement .hne crosses the integrated circuit contacts zone, an alternative line along the nearest
parallel line, Z will be used which does not cross the integrated circuit contacts zone (for the measurement of
“5.4.4 Height of the magnetic stripe”).
the height of the magnetic stripe see
Example profiles are shown in figures 8 and 9. The maximum vertical deviation (a) is defined as the distance
between the basic measurement line and the point on the magnetic media furthest away from, and at a right
angle to the basic measurement line.
Magnetic stripe area
b
b
a = maximum vertical deviation
Basic measurement line
Figure 8 - Concave stripe profile
Magnetic stripe area
b
=
maximum vertical deviation
a
= 1 mm (min)
b
w = minimum stripe width as
specified in ISO/IEC 7811-2
Basic measurement line
Figure 9 - Convex stripe profile
---------------------- Page: 11 ----------------------
0 ISO/IEC
ISO/IEC10373:1993(E)
5.4.3 Surface profile of the magnetic stripe
5.4.3.1 Procedure: For the measurements along V, X and Y line (see figure 7 , a frost basic measurement
line (see figures 8 and 9) is formed by connecting the top and bottom points that define the magnetic media
cdgcs (n-hichcl-cr shows the grcatcst vxtical dimension bctwccn the measuring line and the grcatcst peak or
valley on the magnetic media). The maximum vertical deviation (a) is defmed as the distance between the
basic measuring line and the point on the magnetic media furthest away from, and at a right angle, to the
basic measurement line.
5.4.3.2 Result: All three measurements shall comply with the profde criteria for card acceptance.
5.4.4 Height of the magnetic stripe
5.4.4.1 Procedure: For the three measurements along V, X and Y (or Z line if Y line crosses integrated
circuit contacts zone) as shown in figures 10 and 11, a basic measurement line is formed by connecting the
starting and ending points (see figures 10 and 11). The maximal vertical deviation (h) is defmed as the
distance between the basic measurement line and the point on the magnetic media furthest away from, and
at a right angle to, the basic measurement line.
Magnetic stripe area
b
b = lmm(min)
maximum vertical deviation as
h=
specified in ISO/IEC 781 l-2
Basic measurement line
Figure 10 - Concave stripe profle
Magnetic stripe area b
b = lmm(min)
b
d
L +-
h = maximum vertical deviation as
spccikd in ISO/IEC 781 l-2
Basic measurement tine
Figure 11 - Convex stripe profile
wnq$ with the critcri~ i&- card acceptance.
5.4.4.2 Result: All tllc tlmx I~;~suI‘cI~~~~ slul
---------------------- Page: 12 ----------------------
0 ISO/IEC ISO/IEC10373:1993(E)
5.5 Surface roughness of the magnetic stripe
The purpose of this test is to determine the degree of roughness of the magnetic stripe (see IS0 78 1 l-2).
The surface roughness of the magnetic stripe is defmed as the surface topology or relative smoothness of the
magnetic stripe contact area.
5.5.1 Procedure: The surface roughness of the magnetic stripe shall be measured with a measuring recording
instrument as shown in figure 5. All test c;onditions spccificd in 5.3 apply csccpt:
-
probe stylus has a radius of 2,0 pm + 0,5 pm maximum;
-
-
a cutoff wavelength of 0,25 mm or 0,8 mm;
- longitudinal and transverse measurements are taken on the stripe.
5.5.2 Result: Centreline averages of the roughness R, of the magnetic stripe are obtained by measuring in
both longitudinal and transverse directions.
5.6 Wear test for magnetic stripe
The purpose of this test is to determine the signal amplitude of the magnetic stripe after controlled abrasion
(see IS0 781 l-2).
The dcftition of wear is the extent to which wear of the magnetic stripe on the card affects its performance.
5.6.1 Apparatus:
a) A metal dummy head whose hardness is between I10 I-IV - 130 HV (Vickers scale) or its equivalent in
Rockwell scale. The required dimensions are as shown in figure 12;
b) a rigid flat plate capable of holding the card still.
5.6.2 Procedure: Encode the sample card at 20 ftpmm (500 ftpi), read and note the signal amplitude.
Fasten the c;~-d, mn~notic stripe uppcrrnost, to the fl:lt plate so thnt the durnnq- head cm travcrsc the Icngth
of the stripe (or alternatively, the c&d can move under the head (see figure 13). Apply a force of 1,s LFJ
+ 0,2 N to the heid and allow the head to move back and forth at a speed of between 20 cm/set and
50 cm/set for 1 000 cycles, (1 cycle is equivalent to one forward and one backward movement). Read the
signal amplitude on the same apparatus and compare the result with the amplitude obtained at the beginning
of the test. Continue for a second sequence of one 1 000 cycles and compare the signal amplitude.
The position of the read and write heads must be completely contained within the area of the zone of wear
from the dummy head.
5.6.3 Result: LMeasuring of the signal amplitude shall be in accordarce with IS0 781 l-2.
Not to scale
Dimensions in miltime tres
5,00
7---
chamfer
Figure 12 - Dimensions of the contact area of the dummy head
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0 ISO/IEC
ISO/IEC 10373:1993(E)
Magnetic stripe area
Force applied - I,50 N *O,ZON
I I
r 1 \
I
I
I
I
I
Dummy head
I
/
c
A
11 Widthofcard ]1
1 Distance of movement 1
Figure 13 - Dummy head and magnetic stripe
5.7 Delamination
The purpose of this test is to measure the amount of peel strength required to remove the protective over-
laminate from the printed card (see IS0 7810).
Delamination is defined as the separation of adjacent layers of material in the card.
57.1 Apparatus:
a) sharp cutting knife
b) strong adhesive tape or a suitable clamp
c) tensile tester
d) gripping device
5.7.2 Procedure:
a) Cut card into 25 mm (1 in) wide sections as shown in figure 14;
i\OTE 5 In the traditional PVC cards (constructed out of a white PVC core and clear PVC over-laminate) the overlay bond in areas
of the card that do not have ink coverage will have better bond strength than areas that have ink coverage. Choose a 25 mm (1 in)
wide section that has ink coverage. This is the “weak link” in the bond strength of overlay and core.
b) using a sharp knife, cut the overlay back from the core approximately 6 mm (0.25 in);
c) apply the clamp or adhesive tape to the peeled back edge of the overlay and core as shown in figure 15;
d) place prepared specimen in the tensile tester fixture as shown in figure 16. The card must be fixed on the
apparatus;
e) operate the tensile tester according to the manufacturers instructions (30 cmimin) to determine the peel
strength in newtons per centimetre (pounds per inch).
5.7.3 Result: Peel strength is recorded and compared with the standard values.
10
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ISO/IEC 10373:1993(E)
0 ISO/IEC
Not to scale
Dimensions in mitlime tres
\
Section
Figure 14 - Card preparation
Not to scale
Dimensions in miltime tres
Apply clamp
Of
adhesive tap le
,te
bore
Figure 15 - Specimen preparation for peel tests
Gr ippef.
Figure 16 - Specimen mounted in tensile tester
11
---------------------- Page: 15 ----------------------
0 ISO/IEC
ISO/IEC 10373:1993(E)
5.8 Resistance to chemicals
The purpose of this test is to determine any adverse effects of specified chemicals to the normal use of the
card in a test sample (see IS0 78 10, and IS0 78 1 l-2).
The resistance to chemicals is defined as the extent to which card magnetic performance and appearance is
affected by exposure to commonly encountered chemicals.
58.1 Procedure: A Jiffbrcnt cad is used for each tat. Immcdiatcly after rm~w-31 fi-c>ln tlx wlution, wLth
the card in distilled water and dry it with absorbent tissue.
Short term contamination:
for 1 min in one of the solutions listed below which are kept at a temper-
Sample cards shall be submerged
ature between 20” C and 25” C.
Kinds of solutions:
a) 5% salt water
b) 5% acetic acid water
c) 5% carbonated sodium water
d) aqueous solution containing 60% of ethyl alcohol
e) sugared water ( 10% solution)
f) Fuel B (according to IS0 1817)
g) ethylene glycol (50% solution)
Long term contamination:
a) salt mist
The sample card shall be tested vertically in a cabinet in accordance with IS0 9227.
Exposure to test conditions shall be for 24 h.
b) artificial perspiration
1) alkaline solution
2) acid solution
The sample card shall be subrrierged in each solution for 24 h.
Both test solutions shall be prepared in accordance with IS0 105E04.
5.8.2 Result: Mter visual examination the results are noted; the sample card shall be submitted to magnetic
and integrated circuit functional tests,
5.9 Amplitude measurements
The purpose of this test is to measure the signal amplitude, resolution and erasure from the magnetic stripe
of the sample card after writing to, check conformity with the referenced document (see IS0 781 l-2).
Amplitude measurements are defined as the measurements of signal amplitude, resolution, and erasure.
5.9.1 Apparatus:
a) All the sequcnccs of measurements must be performed on the same equipment and under the same con-
dit ions.
b) The resolution of the reading system must be bctwccn 90 9/u an d 100 % when testing on a rcfcrcncc c;rrd
at 8 ftprnm (200 ftpi) and 20 ftpmm (500 It pi), using test recording current of lmcw = 5 I tc .
c) The ovcrail width of that portion of the read/write head in contact with the strip; shall be less than
3,2 mm.
‘I’hc radius of the head curvature ;it the gap shall be 10 mm L ‘t mm.
‘I’hc card sh3ll lx held !l;lt duhg the nicasurcnicnt. It’ scvcral heads arc used, they shall be mcchanicAly
indcpcndcnt from each other.
For other information rcfcr to table 1.
12
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0 ISO/IEC ISO/IEC 10373:1993(E)
Table 1 - Test head specification
Two heads Single head with single gap
units min, max.
min. I max.
Kead gap mm (in) 0,o 10 (0.0004) 0,O 15 (0.0006)
Read width mm (in)
1,o (0.040) 1,6 (0.063) 1,6 (0.063)
Write gap mm (inj 0,046 (0.0018) 0,056 (0.0022)
Read/Write gap mm (in)
0,018 (0.0007; 0,025 (0.001)
Write width
mm (in) 2,79 (0.110) 2,79 (0.110)
Azimuth error minutes
10
I
I
The parameters of table 1 must be measured optically.
d) The force on the head shall be the minimum amount required to achieve the ma,ximum average signal
amplitude. Set the head force for the worst case card available at the time of calibration.
e) The waveform of the write current measured with a current probe, at nominal recording densities of 8
ftpmrn (200 ftpi) and 20 ftpmm (500 ftpi), must be as follows:
Risetime
Setting time I
Stabilization time
- -
Tl
I
Tl - T2 *5%
Period
Figure 17 - Write current waveform
- Write current waveform parameters
Table 2
1
max.
Parameter
5 % of the period
Rise Time
10 % of the write current (I)
Overshoot
15 % of the period
Settling time
2 ‘T/O of stabilized write current (I)
Settling
min.
Stabilization time
30 % of the period (minimum)
1
f) The reading system must include the following:
1) Linear amplifiers without automatic gain control with noise less than 0,5 o/6 of 100 o/‘o &knmce
signal amplitude and a frequency response which is flat within + 0,2 dB wide band from frequemies
corresponding to 2,5 cycles/mm (5.0 ftpmm) to 103 cycles/mm (21 ftpmm). This range corresponds
13
---------------------- Page: 17 ----------------------
ISO/IEC 10373:1993(E) 0 ISO/IEC
to the characteristics of the bandpass of the filter described in 3) below. Outside this range the response
may not rise.
2) A means, such as a storage oscilloscope for determining the amplitudes of the signal peaks.
3) A filter with the following characteristics:
Upper and lower band edges shall consist of respectively a second order low pass filter
(slope 12 dB/octave). The respond shall be flat within 0,2 dB wide band from frequencies
corresponding to 25 cycles/mm (5,0 ftpmm) to 10,5 cycles/mm (21 ftpmm). Figure 18 defines
the band edges of the filter.
The filter response must continue downward for at least one decade after the band edges, the
response may not rise more than -40 dB outside this one decade range. Other filtering functions
outside of the one decade ranges may be used. This filter is used for all measurements except
the extra pulse ( U1,).
IO,5 cycIes/mm
2,s cycles/mm
Frequencies
(267 Cycles/in)
(63 cycles/in)
Corresponding to -
21,0 ftpmm
50 ftpmm
(533 ftpi) o.
(127 ftpi)
u I
0 dB
-3 dB
Frequencies
.
0,9 cycles/mm
30,O cycles/mm
Corresponding to --cr
(23 cycles/in) (762 cycles/in)
1,8 ftpmm 60,O ftpmm
(46 ftpi)
(1524 f tpi)
Figure 18 - ‘Filter characteristic
g) The drive must have the following qualities:
1) Transport system with an average speed variation of no more than 0,5 %,
2) Stable head pressure.
Accuracy of the measurements will be reduced if the drive does not have stable velocity and
pressure. If the drive stability is less than the required 0,5 %, the actual speed variation must
be recorded with the test results.
5.9.2 Procedure: All measurements are performed while reading in the same direction as writing. All meas-
urements will be taken after the same number of passes. This test method is valid for mater-i& up to about
4&A/m (600 oersteds).
1) To draw the saturation curve and to determine the maximum signal amplitude (LI,,) and the reference
is used with the 8 ftpmm (20 ftpi) density. For each current
current (IR), a reference card (RiU7811/2)l
amplitude the corresponding value of the average signal amplitude of the reference card is noted. Between
each reference current amplitude test the card is erased with high frequency alternating current.
2) Reference signal amplitude (U,) and test recording currents (Iti, and Im.J are calculated as follows:
1 These cards can be ordered from Physikalisch-Technische Bundesanstatt, Lab. 1.41 Bundesallee 100, D-3300
Braunschweig, Federal Republic of Germany, whilst stocks last.
This information is given for the convenience of users of this International Standard and does not constitute an
endorsement by IS0 of the product named.
14
---------------------- Page: 18 ----------------------
0 ISO/IEC ISO/IEC 10373:1993(E)
I/
max
u
R=---
a
MA4 3200 tape amplitude
a =
NBS master standard amplitude
I
reference current when L[ is 0,8 c/ R
R =
-
I
3,s 1,
min -
-
Ir
590 I,
max -
The card under test is written and read with successive parameters as described in IS0 78 1 l-2. The card
under test is alternating current erased between each step except for erasure and extra
...
NORME
ISO/CEI
INTERNATIONALE
10373
Première édition
1993-I 2-l 5
Cartes d’identification - Méthodes d’essai
Identification cards - Test methods
t
Numéro de référence
ISO/CEI 10373:1993(F)
---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
Sommaire
Page
1
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1 Domaine d’application
1
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2 Références normatives
2
.,.,.
3 Définitions
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
Environnement d’essai et conditionnement par défaut
4
2
...................................................................................................................
5 Méthodes d’essai
2
.................................................................................................
5.1 Déformation de la carte
4
...................................................................................................
5.2 Dimensions des cartes
4
......................................................................................
5.3 Hauteur du relief d’estampage
............................................ 5
5.4 Hauteur et profil de la surface de la bande magnétique
9
.........................................................
5.5 Rugosité de la surface du bandeau magnétique
9
........................................................................
5.6 Essai d’usure de la bande magnétique
10
.....................................................................................................................
5.7 Délaminage
11
..............................................................................
5.8 Résistance aux produits chimiques
11
.................................................................................................
5.9 Mesures de l’amplitude
5.10 Stabilité dimensionnelle de la carte et déformation en fonction des conditions
14
...............................................................................................
de température et d’humidité
15
.....................................................................................................................
5.11 Adhérence
15
.......................................................................................................
5.12 Rigidité à la flexion
16
...............................................................................................................
5.13 Inflammabilité
17
.........................................................................................
5.14 Transmission de la lumière
18
....................................................
5.15 Variation de l’espace entre les transitions de flux
18
...............................................................
6 Méthodes d’essai pour la carte à circuit intégré
18
...................................................
6.1 Effort de flexion dynamique (propriétés de flexion)
20
..........................................................................................
6.2 Effort de torsion dynamique
21
............................................................................................
6.3 Emplacement des contacts
22
..........................................................................................................
6.4 Électricité statique
24
......................................................................................................
6.5 Lumière ultraviolette
24
.........................................................................................................................
6.6 Rayons X
24
.......................................................
6.7 Résistance électrique et impédance des contacts
25
.......................................................................................
6.8 Profil de surface des contacts
27
........................................................................................................................
6.9 Vibrations
29
.......................................................................................
6.10 Champs électromagnétiques
0 ISO/CEI 1993
Droits de reproduction reservés. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publi-
cation ne peut être reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun pro-
cédé, électronique ou mecanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord
écrit de I’editeur.
ISO/CEI Copyright Office l Case Postale 56 l CH-l 211 Genève 20 l Suisse
Version française tirée en 1994
Imprimé en Suisse
ii
---------------------- Page: 2 ----------------------
ISOICEI 10373:1993 (F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) et
la CEI
(Commission électrotechnique internationale) forment ensemble un
système consacré à la normalisation internationale considérée comme un
tout. Les organismes nationaux membres de I’ISO ou de la CEI participent
au développement de Normes internationales par l’intermédiaire des
comités techniques créés par l’organisation concernée afin de s’occuper
des différents domaines particuliers de l’activité technique. Les comités
techniques de I’ISO et de la CEI collaborent dans des domaines d’intérêt
commun. D’autres organisations internationales, gouvernementales ou
non gouvernementales, en liaison avec I’ISO et la CEI participent
également aux travaux.
Dans le domaine des technologies de l’information, I’ISO et la CEI ont créé
un comité technique mixte, I’ISO/CEI JTC 1. Les projets de Normes
internationales adoptés par le comité technique mixte sont soumis aux
organismes nationaux pour approbation, avant leur acceptation comme
Normes internationales. Les Normes internationales sont approuvées
conformément aux procédures qui requièrent l’approbation de 75 % au
moins des organismes nationaux votants.
La Norme internationale lSO/CEI 10373 a été élaborée par le comité
technique mixte lSO/CEI JTC 1, Technologies de /‘information,
sous-comité SC 17, Cartes d’identification et dispositifs associés.
. . .
III
---------------------- Page: 3 ----------------------
Page blanche
---------------------- Page: 4 ----------------------
NORME INTERNATIONALE ISO/CEI 10373:1993 (F)
Cartes d’identification - Méthodes d’essai
1 Domaine d’application
La présente Norme internationale décrit les méthodes d’essai des caractéristiques de cartes d’identifica-
tion conformément aux normes ISO 7810, ISO 7811, ISO 7813 et ISO 7816.
NOTE 1 Les critères d’acceptation ne font pas partie de la présente Norme internationale mais figurent dans les Normes interna-
tionales mentionnées ci-dessus.
NOTE 2 Les méthodes d’essai décrites dans la présente Norme internationale sont prévues pour être réalisées séparément. II
n’est pas nécessaire qu’une carte donnée soit soumise à tous les essais les uns après les autres.
2 Références normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui en est faite, consti-
tuent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au moment de la publication, les
éditions indiquées étaient en vigueur. Toute norme est sujette à révision, et les parties prenantes des
accords fondés sur la présente Norme internationale sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer
les éditions les plus récentes des normes indiquées ci-après. Les membres de la CEI et de I’ISO possè-
dent le registre des Normes internationales en vigueur à un moment donné.
Photographie - Mesurage des densités - Partie 7 : Termes, symboles et notations.
ISO 5-1:1984,
Photographie - Mesurage des densités - Partie 2 : Conditions géométriques pour
ISO 5-2:1991,
la densité instrumentale par transmission.
Photographie - Mesurage des densités - Partie 3 : Conditions spectrales.
ISO 5-3:1984,
ISO 105-E04:1989, Textiles - Essais de solidité des teintures - Partie E04 : Solidité des teintures à la
sueur.
ISO 1302:1992, Dessins techniques - Indication des états de surface.
ISO 1817:1985, Caoutchouc vulcanisé - Détermination de l’action des liquides.
ISO 1880:1979, Instruments de mesurage de la rugosité des surfaces par la méthode du profil -
Instruments (à palpeur) avec contact à transformation progressive du profil -
Enregistreur de profil.
ISO 9227: 1990, Essais de corrosion en atmosphères artificielles - Essais aux brouillards salins.
- Caractéristiques physiques.
ISO 7810:1993, Cartes d’I’dentification
- Technique d’enregistrement - Partie 7 : Estampage.
ISO 781 l-1:1993, Cartes d?dentification
- Technique d’enregistrement - Partie 2 : Magnétique.
ISO 7811-2:1993, Cartes d’identification
- Technique d’enregistrement - Partie 3 : Position des
ISO 781 l-3:1993, Cartes d’I’den tifica tion
caractères estampés sur les cartes ID-7.
- Technique d’enregistrement - Partie 4 : Position des pis-
ISO 781 l-4:1993, Cartes d’identification
tes magnétiques pour lecture uniquement, pistes 7 et 2.
1
---------------------- Page: 5 ----------------------
ISO/CEI 10373: 1993 (F)
ISO 781 l-5:1993, Cartes d’identification - Technique d’enregistrement - Partie 5 : Position de la
piste magnétique enregistrement-lecture, piste 3.
ISO 7813:1993, Cartes d’identification - Cartes de transactions financières.
ISO 7816-1:1987, Cartes d’identification - Cartes à circuit(s) intégré(s) à con tacts - Partie 7 :
Caractéristiques physiques.
ISO 7816-2:1988, Cartes d’identification - Cartes à circuit(s) intégré(s) à contacts - Partie 2 :
Dimensions et emplacements des contacts.
CEI 512-2:1976, Composants électromécaniques pour équipements électroniques : procédures d’es-
sai de base et méthodes de mesure - Partie 2 : Examen général, essais de conti-
nuité électrique et de résistance de contact, essais d’isolement et essais de
con train te diélectrique.
3 Définitions
Pour les besoins de la présente Norme internationale, la définition suivante s’applique.
pour soumettre à essai les caractéristiques des cartes d’identification
31 . méthode d’essai : Méthode
afin de confirmer leur conformité aux Normes internationales.
4 Environnement d’essai et conditionnement par défaut
Sauf indication différente, les essais doivent avoir lieu dans un environnement d’une température de
23 OC + 3 OC (73 OF + 5 OF) et d’une humidité relative de 40 % à 60 %. Les cartes d’identification doi-
vent être conditionnées dans ce même environnement pendant 24 h avant les essais.
5 Méthodes d’essai
5.1 Déformation de la carte
L’objet de cet essai est de mesurer le degré de déformation de l’échantillon soumis à essai (voir ISO 7810).
Toute modification de la planéité de la carte constitue une déformation.
5.1.1 Déformation sur toute la surface des cartes estampées et non estampées
5.1.1.1 Appareillage : Un projecteur de profil ou un dispositif de mesure d’une précision minimale de
0,Ol mm.
Placer la carte soumise à l’essai sur la plaque rigide et plane de
5.1.1.2 Mode opératoire :
l’appareillage de mesure. Les bords de la carte doivent être appuyés sur la plaque (déformation de la
carte convexe par rapport à la plaque).
Relever le degré de déformation sur la loupe au plus grand point de déplacement, mesuré à partir de la
face du dessus de la carte.
5.1.1.3 Résultat : Le degré de déformation au plus grand point de déplacement (voir figure 1).
---------------------- Page: 6 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
Grille de mesure
Profil de la carte
Figure 1 - Image projetée de la déformation
5.1.2 Déformation de la zone de la bande magnétique pour les cartes estampées et non estampées
5.1.2.1 Appareillage :
a) une plaque rigide et plane d’une rugosité de 3,2 prn maximum conformément à I’ISO 1302. La plaque
doit comporter une ouverture pour permettre l’introduction d’une sonde de micromètre, voir figure 2 ;
b) un micromètre précis à 2,5 prn près muni d’une sonde à zone de contact en hémisphère d’un
diamètre compris entre 3 mm et 8 mm. La sonde doit exercer une force f = 0,6 N + 0,3 N ;
2,2 N (0,5 Ibf) répartie uniformément sur toute la surface (recto),
c) l’application d’une force F =
opposée à la zone de la bande magnétique (voir figure 2).
Support de référent
Zone de la bande magnétique Micromètre
(précis à 2,5 prn près)
- Disposition pour la mesure
Figure 2
NOTE 3 La charge de 2,2 N doit être augmentée de l’équivalent de f pour compenser l’effort exercé par le micromètre dans le
sens contraire.
: Placer la carte échantillon, face recto au-dessus, sur la plaque rigide et plane.
5.1.2.2 Mode opératoire
Placer la zone de la bande magnétique à mesurer sur l’ouverture. Appliquer la force F (+ f) directement
à l’emplacement de la zone de la bande magnétique sur le recto de la carte. Attendre 1 minute avant
d’effectuer les mesures. Mesurer toute déformation dans la zone de la bande aux neuf points situés le
long de la bande comme le montre la figure 3.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
10,oo
Zone de la bande Dimension
magnétique
x (mm)
Pistes 1 et 2 8,00
Pistes 1, 2 et 3 10,70
Figure 3 - Emplacements des points de mesure sur la carte
5.1.2.3 Résultat : La valeur maximale des mesures.
---------------------- Page: 7 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.2 Dimensions des cartes
L’objet de cet essai est de mesurer la hauteur, la largeur et l’épaisseur d’une carte non estampée
soumise à essai (voir ISO 7810).
5.2.1 Mesures de l’épaisseur
Un micromètre muni d’une touche fixe et d’une tige, dont le diamètre est
5.2.1.1 Appareillage :
compris entre 3 mm et 8 mm.
Utiliser le micromètre pour mesurer l’épaisseur de la carte en quatre points,
5.2.1.2 Mode opératoire :
un par quadrant de la carte (voir la figure 4 pour la disposition des quadrants). Effectuer les mesures
sur des parties de la carte ne comprenant ni panneaux de signatures, ni bandes magnétiques, ni
contacts (pour les cartes à circuit(s) intégré(s)), ni protubérance. La force du micromètre doit être
comprise entre 35 N et 5,9 N.
Quadrant Quadrant
1 2
v.-.-.-.-. .P.P.-.-.- .-
+
-t
Quadrant
Quadrant
3 4
Figure 4 - Disposition des quadrants
5.2.1.3 Résultat : Les valeurs maximale et minimale des quatre mesures doivent être comparées à la
valeur normalisée.
5.2.2 Mesures de la hauteur et de la largeur
Une surface horizontale plane et rigide d’une rugosité inférieure à 3,2 prn
5.2.2.1 Appareillage :
conformément à I’ISO 1302. Un microprojecteur de profil d’une précision de 2,5 prn ou un dispositif de
mesure adéquat de même précision. Une charge de 2,2 N + 0,2 N.
Placer la carte à soumettre à essai sur la surface rigide horizontale et plane
5.2.2.2 Mode opératoire :
et l’aplatir en appliquant la charge de 2,2 N + 0,2 N. Utiliser le microprojecteur de profil pour mesurer la
hauteur et la largeur de la carte.
Résultat : La (les) mesure(s) obtenue(s) doivent être comparées à celle(s) figurant dans I’ISO 7810.
5.2.2.3
5.3 Hauteur du relief d’estampage
L’objet de cet essai est d’obtenir la hauteur hors tout et la hauteur du relief des surfaces estampées de
la carte échantillon (voir ISO 7811-1).
La hauteur du relief d’estampage des caractères correspond au degré de bosselage de la surface de la
carte dû à l’action de I’estampage.
5.3.1 Appareillage : Voir ((5.2.1 Mesures de l’épaisseur)).
5.3.2 Mode opératoire : Utiliser le micromètre avec une force comprise entre 3,5 N et 5,9 N pour
mesurer la hauteur d’estampage d’un caractère.
5.3.3 Résultat: La hauteur hors tout est la mesure obtenue directement par l’essai. La hauteur du relief est
calculée en soustrayant l’épaisseur de la carte, mesurée dans le quadrant correspondant (voir figure 4), de
la hauteur hors tout obtenue par mesurage directe.
4
---------------------- Page: 8 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.4 Hauteur et profil de la surface de la bande magnétique
L’objet de cet essai est de déterminer la hauteur et la planéité de la bande magnétique (voir ISO 7811-2).
L’emplacement de la bande est indiqué dans I’ISO 7811-4 et I’ISO 7811-5. La hauteur de la bande
magnétique est définie en fonction de la carte et du profil de surface de la bande
5.4.1 Appareillage : Profilomètre (un exemple est donné à la figure 5).
5.4.2 Mode opératoire : Mesurer la hauteur et le profil de la surface de la bande magnétique ainsi que
de la surface contiguë avec un instrument de mesure enregistreur.
r
Transducteur, t
riI- Direction
de mesure
I
Bande magnétique /‘h, Pointe de contact
Plaque support de la carte
Figure 5 - Dispositif de mesure pour la hauteur et le profil de la bande magnétique
Placer la carte soumise à l’essai sous une plaque en métal rigide et évidée comme le montre la figure 6.
La force exercée par la plaque est de 2,2 N $r 0,l N.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
1500
- I
lS,OO 10,oo à 15,oo
171 r,o* “‘I”“i/i
c
-A A
1 ’
!
8
8 zz -
! +
1
8
N
ci k
R
! J,
\l#
1 I
I .
.
I
I I i 1
I
8400
1
I
Figure 6 - Plaque support de la carte (surface de contact)
NOTE 4 On peut utiliser n’importe quel métal rigide. L’épaisseur de la plaque dépend du matériau utilisé pour produire une force
de 2,2 N f 0,l N. Une tolérance de + 0,5 mm est admise sur toutes les dimensions de la plaque.
Mesurer le profil à une vitesse maximale de 1 mm/s (0,04 in/s) à l’aide d’une sonde dont le rayon est
compris entre 0,38 mm et 2,54 mm (0,015 in à 0,l in) et exercçant une force comprise entre 0,5 mN et 6 mN.
5
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ISO/CEI 10373:1993 (F)
Effectuer trois mesures sur la largeur de la bande de chaque éprouvette. Les trois emplacements V, X et
Y sont à une distance de 15 mm + 2 mm de chaque extrémité de la carte (0,59 in + 0,08 in) et
l’emplacement X est sur la ligne centrale de la carte (voir figure 7).
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
c
--
E
0
w
z Y X V
8
! !
! !
.
/
--.
I I f
I
f
1 -!'600*2,00 15,00~2,00 j
Emplacements des mesures pour le profil de la bande magnétique
Figure 7 -
La mesure le long de chaque ligne V, X et Y commence à 1 mm minimum (0,039 in minimum)
au-dessus du bord du matériau magnétique et finit à 1 mm minimum (0,039 in minimum) sous le bord
inférieur du matériau magnétique.
Si la ligne de mesure passe par la zone à contact du circuit intégré, utiliser une autre ligne parallèle Z, la
plus proche possible et qui ne coupe pas la zone à contacts du circuit intégré (pour la mesure de la
hauteur de la bande magnétique, voir ((5.4.4 Hauteur de la bande magnétique»).
Les figures 8 et 9 montrent des exemples de profils. On entend par déviation verticale maximale (a) la
distance entre la ligne de mesurage de référence et le point le plus éloigné du matériau magnétique,
formant un angle droit avec la ligne de mesure de référence.
Zone de la bande magnétique b
b
a = déviation verticale maximale
b= 1 mm (minimum)
w= largeur minimale de la bande
spécifiée dans I’ISO 7811-2
t
/
Ligne de mesure de référence
Figure 8 - Profil concave de la bande
Zone de la bande magnétique
6
a = déviation verticale maximale
b= 1 mm (minimum)
w= largeur minimale de la bande
spécifiée dans I’ISO 781 l-2
Ligne de mesure de référence
Figure 9 - Profil convexe de la bande
---------------------- Page: 10 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.4.3 Profil de la surface de la bande magnétique
Pour les mesures sur les droites V, X et Y (voir figure 7), tracer une première
5.4.3.1 Mode opératoire :
ligne de mesure de référence (voir figures 8 et 9) reliant les points supérieur et inférieur qui définissent
les bords du matériau magnétique (le point qui indique la plus grande dimension verticale entre la ligne
de mesure et le point le plus haut ou le point le plus bas du matériau magnétique). On entend par
déviation verticale maximale (a) la distance entre la ligne de mesure de référence et le point le plus
éloigné sur le matériau magnétique, formant un angle droit avec la ligne de mesure de référence.
5.4.3.2 Résultat : Les trois mesures doivent être conformes aux critères de profil pour l’acceptation des
cartes.
5.4.4 Hauteur de la bande magnétique
Pour les trois mesures sur les droites V, X et Y (ou la droite Z, si Y passe par
5.4.4.1 Mode opératoire :
la zone des contacts du circuit intégré), tracer une droite de mesure de référence reliant les points de
départ et d’arrivée (voir figures 10 et 11). On entend par déviation verticale maximale (h) la distance
entre la ligne de mesure de référence et le point le plus éloigné sur le matériau magnétique, formant un
angle droit avec la ligne de mesure de référence.
Zone de la bande magnétique
b
b= 1 mm (minimum)
h = déviation verticale maximale
spécifiée dans I’ISO 781 l-2
Ligne de mesure de référence
Profil concave de la bande
Figure 10 -
b
Zone de la bande magnétique
b
b= 1 mm (minimum)
h = déviation verticale maximale
spécifiée dans I’ISO 781 l-2
Ligne de mesure de référence
Figure 11 - Profil convexe de la bande
5.4.4.2 Résultat : Les trois mesures doivent être conformes aux critères d’acceptation des cartes.
7
---------------------- Page: 11 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
55 . Rugosité de la surface du bandeau magnétique
L’objet de cet essai est de déterminer le degré de rugosité de la surface de la bande magnétique (voir
ISO 781 l-2).
On entend par rugosité de la surface de la bande magnétique l’état de surface ou l’uniformité relative
de la zone de contact de la bande magnétique.
5.5.1 Mode opératoire : Mesurer la rugosité de la surface de la bande magnétique à l’aide d’un
instrument de mesure enregistreur comme le montre la figure 5. Toutes les conditions d’essai
spécifiées en 5.4 s’appliquent, à l’exception de
- palpeur de sonde d’un rayon maximum de 2,0 prn + 0,5 prn ;
- longueur d’onde de coupure de 0,25 mm ou 0,8 mm ;
- mesures longitudinales et transversales effectuées sur la bande.
5.5.2 Résultat : Les moyennes de la ligne centrale pour la rugosité Ra de la bande magnétique sont
obtenues par des mesures longitudinales et transversales.
5.6 Essai d’usure de la bande magnétique
L’objet de cet essai est de déterminer l’amplitude du signal de la bande magnétique après une abrasion
contrôlée (voir ISO 781 l-2).
On entend par usure le degré à partir duquel l’usure de la bande magnétique affecte ses performances.
5.6.1 Appareillage :
a) une tête fictive en métal d’une dureté comprise entre 110 V et 130 V (échelle de Vickers) ou son
équivalent sur l’échelle de Rockwell. Les dimensions requises sont illustrées à la figure 12 ;
b) une plaque rigide et plane permettant de maintenir la carte immobile.
: Coder la carte échantillon à 20 ftpmm (500 ftpi) ; lire et noter l’amplitude du
5.6.2 Mode opératoire
signal. Fixer la carte à la plaque, la bande magnétique au-dessus, de façon à ce que la tête fictive
puisse parcourir la longueur de la bande (ou inversement que la carte puisse bouger sous la tête
(voir figure 13). Exercer une force de 1,5 N & 0,2 N sur la tête et la laisser aller et venir à une
vitesse comprise entre 20 cm/s et 50 cm/s pendant 1 000 cycles (1 cycle correspond à un aller
retour). Lire l’amplitude du signal sur le même appareil et la comparer avec celle du début de
l’essai. Continuer avec une deuxième série de 1 000 cycles et comparer l’amplitude du signal.
Les têtes de lecture et d’écriture doivent constamment demeurer à l’intérieur de la zone d’usure de la
tête fictive.
5.6.3 Résultat : La mesure de l’amplitude du signal doit être conforme à I’ISO 7811-2.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
5,00
1 r-
Chanfrein
Figure 12 - Dimensions de la zone de contact de la tête fictive
---------------------- Page: 12 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
Zone de la bande
magnétique
Force appliquée = 1,50 N + 0,20 N
Tête fictive
l
/
nde magnétique
Distance couverte
par le mouvement
Figure 13 - Tête fictive et bande magnétique
5.7 Délaminage
L’objet de cet essai est de mesurer le degré de résistance au décollement nécessaire pour enlever la
couche de protection de la carte imprimée (voir ISO 7810).
On entend par délaminage la séparation des couches adjacentes du matériau de la carte.
5.7.1 Appareillage :
a) une lame bien affûtée ;
b) un ruban adhésif résistant ou une attache adéquate ;
c) un appareil pour essai de traction ;
d) un dispositif de serrage.
5.7.2 Mode opératoire :
a) découper la carte en sections de 25 mm (1 in) de large comme le montre la figure 1.4 ;
NOTE 5 Dans le cas de cartes PVC traitionnelles (constituées d’une partie centrale en PVC blanc et d’un revêtement laminé
en PVC transparent), la résistance à la rupture du revêtement des parties non encrées sera supérieure à celles des parties
encrées. Choisir une section encrée de 25 mm (1 inch) de large pour représenter la «liaison faible» de la jonction revêtement
et partie centrale.
b) à l’aide de la lame affûtée, séparer le revêtement de la partie centrale sur environ 6 mm (0,25 in) ;
c) fixer l’attache ou le ruban adhésif sur le bord arrière du revêtement décollé de la partie centrale
comme le montre la figure 15 ;
d) placer l’éprouvette préparée dans le dispositif de fixation de l’appareil pour l’essai de traction
comme le montre la figure 16. La carte doit être fixée à l’appareil ;
e) faire fonctionner l’appareil pour essai de traction conformément aux instructions du fabricant
(30 cm/min) pour déterminer la résistance au décollage en newtons par centimètre (en pounds
par inch).
---------------------- Page: 13 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.7.3
Résultat : La résistance au décollement est enregistrée et comparée avec les valeurs normalisées.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
Section
Figure 14 - Préparation de la carte
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
Attache
ou
ruban adhésif
Revêtement laminé
Partie centrale
1 Arrière décollé 1 ’
(
Figure 15 - Préparation de l’éprouvette pour les essais de décollement
laminé
Dispositif de set *rage
I’
Figure
16 In ,stallation de Irouvette dans l’appareil pour essai de
traction
1 eP
10
---------------------- Page: 14 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.8 Résistance aux produits chimiques
L’objet de cet essai est de déterminer les effets défavorables de produits chimiques spécifiés sur des
conditions normales d’utilisation d’une carte prélevée dans un échantillon pour essai (voir ISO 7810 et
ISO 781 l-2).
On entend par résistance aux produits chimiques le degré de détérioration de la performance
magnétique et de l’aspect de la carte suite à l’exposition à des produits chimiques courants.
re : Uti liser une nouvelle c arte pou r chaque ess ai. Im médiate
5.8.1 Mode opératoi me nt après avoir
olution d’ess ai, la laver avec de l’eau distillée et la séche
enlevé la carte de la s r avec u n ti ssu abso Irbant.
Contamination à court terme :
Les cartes échantillons doivent être immergées pendant 1 min dans l’une des solutions de la liste
ci-dessous conservées à une température comprise entre 20 OC et 25 OC.
Solutions utilisées :
a) eau salée (solution à 5 %) ;
b) solution d’acide acétique à 5 % ;
c) solution de carbonate de sodium à 5 % ;
d) solution aqueuse contenant 60 % d’alcool éthylique ;
e) eau sucrée (solution à 10 %) ;
f) liquide B (conformément à I’ISO 1817) ;
g) éthylène-glycol (solution à 50 %).
Contamination à long terme :
a) brouillard salin
La carte échantillon doit être disposée verticalement dans une étuve conformément à I’ISO 9227.
La durée de l’exposition aux conditions d’essai doit être de 24 h.
b) transpiration artificielle
1) solution alcaline
2) solution acide
La carte échantillon doit être immergée dans chaque solution pendant 24 h.
Les deux solutions d’essai doivent être préparées conformément à I’ISO 105-E04.
la carte échantillon doit ensuite être
5.8.2 Résultat : Après examen visuel, les résultats sont notés ;
soumise aux essais de fonctionnement magnétique ainsi que du circuit intégré.
5.9 Mesures de l’amplitude
L’objet de cet essai est de mesurer l’amplitude du signal, la résolution et l’effacement de la bande
magnétique de la carte échantillon après écriture pour vérification de conformité avec le document de
référence (voir ISO 7811-2). On entend par mesures de l’amplitude les mesures de l’amplitude du
signal, de l’amplitude de la résolution et de l’amplitude résiduelle après effacement (bruit).
II
---------------------- Page: 15 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.9.1 Appareillage :
a) toutes les opérations de mesure de l’amplitude doivent être effectuées sur le même matériel et
dans les mêmes conditions ;
b) la résolution du système de lecture doit être comprise entre 90 % et 100 % lors des essais sur une
carte de référence à 8 ftpmm (200 ftpi) et 20 ftpmm (500 ftpi) avec un courant d’enregistrement
d’essai de Zmax = 5 Z, ;
c) la largeur hors tout de la partie de la tête de lecture/écriture en contact avec le bandeau doit être
inférieure à 3,2 mm.
+ 10
Le rayon de la courbure de la tête à l’entrefer doit être de 10 mm 5 mm.
-
La carte doit être maintenue à plat pendant la mesure. Si plusieurs têtes sont utilisées, elles doivent être
mécaniquement indépendantes les unes des autres.
Pour plus d’informations, se référer au tableau 1.
Tableau 1 - Spécifications de la tête d’essai
Tête simple à entrefer simple
Deux têtes
maximum minimum
unités minimum m.x
...
NORME
ISO/CEI
INTERNATIONALE
10373
Première édition
1993-I 2-l 5
Cartes d’identification - Méthodes d’essai
Identification cards - Test methods
t
Numéro de référence
ISO/CEI 10373:1993(F)
---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
Sommaire
Page
1
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1 Domaine d’application
1
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2 Références normatives
2
.,.,.
3 Définitions
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
Environnement d’essai et conditionnement par défaut
4
2
...................................................................................................................
5 Méthodes d’essai
2
.................................................................................................
5.1 Déformation de la carte
4
...................................................................................................
5.2 Dimensions des cartes
4
......................................................................................
5.3 Hauteur du relief d’estampage
............................................ 5
5.4 Hauteur et profil de la surface de la bande magnétique
9
.........................................................
5.5 Rugosité de la surface du bandeau magnétique
9
........................................................................
5.6 Essai d’usure de la bande magnétique
10
.....................................................................................................................
5.7 Délaminage
11
..............................................................................
5.8 Résistance aux produits chimiques
11
.................................................................................................
5.9 Mesures de l’amplitude
5.10 Stabilité dimensionnelle de la carte et déformation en fonction des conditions
14
...............................................................................................
de température et d’humidité
15
.....................................................................................................................
5.11 Adhérence
15
.......................................................................................................
5.12 Rigidité à la flexion
16
...............................................................................................................
5.13 Inflammabilité
17
.........................................................................................
5.14 Transmission de la lumière
18
....................................................
5.15 Variation de l’espace entre les transitions de flux
18
...............................................................
6 Méthodes d’essai pour la carte à circuit intégré
18
...................................................
6.1 Effort de flexion dynamique (propriétés de flexion)
20
..........................................................................................
6.2 Effort de torsion dynamique
21
............................................................................................
6.3 Emplacement des contacts
22
..........................................................................................................
6.4 Électricité statique
24
......................................................................................................
6.5 Lumière ultraviolette
24
.........................................................................................................................
6.6 Rayons X
24
.......................................................
6.7 Résistance électrique et impédance des contacts
25
.......................................................................................
6.8 Profil de surface des contacts
27
........................................................................................................................
6.9 Vibrations
29
.......................................................................................
6.10 Champs électromagnétiques
0 ISO/CEI 1993
Droits de reproduction reservés. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publi-
cation ne peut être reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun pro-
cédé, électronique ou mecanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord
écrit de I’editeur.
ISO/CEI Copyright Office l Case Postale 56 l CH-l 211 Genève 20 l Suisse
Version française tirée en 1994
Imprimé en Suisse
ii
---------------------- Page: 2 ----------------------
ISOICEI 10373:1993 (F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) et
la CEI
(Commission électrotechnique internationale) forment ensemble un
système consacré à la normalisation internationale considérée comme un
tout. Les organismes nationaux membres de I’ISO ou de la CEI participent
au développement de Normes internationales par l’intermédiaire des
comités techniques créés par l’organisation concernée afin de s’occuper
des différents domaines particuliers de l’activité technique. Les comités
techniques de I’ISO et de la CEI collaborent dans des domaines d’intérêt
commun. D’autres organisations internationales, gouvernementales ou
non gouvernementales, en liaison avec I’ISO et la CEI participent
également aux travaux.
Dans le domaine des technologies de l’information, I’ISO et la CEI ont créé
un comité technique mixte, I’ISO/CEI JTC 1. Les projets de Normes
internationales adoptés par le comité technique mixte sont soumis aux
organismes nationaux pour approbation, avant leur acceptation comme
Normes internationales. Les Normes internationales sont approuvées
conformément aux procédures qui requièrent l’approbation de 75 % au
moins des organismes nationaux votants.
La Norme internationale lSO/CEI 10373 a été élaborée par le comité
technique mixte lSO/CEI JTC 1, Technologies de /‘information,
sous-comité SC 17, Cartes d’identification et dispositifs associés.
. . .
III
---------------------- Page: 3 ----------------------
Page blanche
---------------------- Page: 4 ----------------------
NORME INTERNATIONALE ISO/CEI 10373:1993 (F)
Cartes d’identification - Méthodes d’essai
1 Domaine d’application
La présente Norme internationale décrit les méthodes d’essai des caractéristiques de cartes d’identifica-
tion conformément aux normes ISO 7810, ISO 7811, ISO 7813 et ISO 7816.
NOTE 1 Les critères d’acceptation ne font pas partie de la présente Norme internationale mais figurent dans les Normes interna-
tionales mentionnées ci-dessus.
NOTE 2 Les méthodes d’essai décrites dans la présente Norme internationale sont prévues pour être réalisées séparément. II
n’est pas nécessaire qu’une carte donnée soit soumise à tous les essais les uns après les autres.
2 Références normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui en est faite, consti-
tuent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au moment de la publication, les
éditions indiquées étaient en vigueur. Toute norme est sujette à révision, et les parties prenantes des
accords fondés sur la présente Norme internationale sont invitées à rechercher la possibilité d’appliquer
les éditions les plus récentes des normes indiquées ci-après. Les membres de la CEI et de I’ISO possè-
dent le registre des Normes internationales en vigueur à un moment donné.
Photographie - Mesurage des densités - Partie 7 : Termes, symboles et notations.
ISO 5-1:1984,
Photographie - Mesurage des densités - Partie 2 : Conditions géométriques pour
ISO 5-2:1991,
la densité instrumentale par transmission.
Photographie - Mesurage des densités - Partie 3 : Conditions spectrales.
ISO 5-3:1984,
ISO 105-E04:1989, Textiles - Essais de solidité des teintures - Partie E04 : Solidité des teintures à la
sueur.
ISO 1302:1992, Dessins techniques - Indication des états de surface.
ISO 1817:1985, Caoutchouc vulcanisé - Détermination de l’action des liquides.
ISO 1880:1979, Instruments de mesurage de la rugosité des surfaces par la méthode du profil -
Instruments (à palpeur) avec contact à transformation progressive du profil -
Enregistreur de profil.
ISO 9227: 1990, Essais de corrosion en atmosphères artificielles - Essais aux brouillards salins.
- Caractéristiques physiques.
ISO 7810:1993, Cartes d’I’dentification
- Technique d’enregistrement - Partie 7 : Estampage.
ISO 781 l-1:1993, Cartes d?dentification
- Technique d’enregistrement - Partie 2 : Magnétique.
ISO 7811-2:1993, Cartes d’identification
- Technique d’enregistrement - Partie 3 : Position des
ISO 781 l-3:1993, Cartes d’I’den tifica tion
caractères estampés sur les cartes ID-7.
- Technique d’enregistrement - Partie 4 : Position des pis-
ISO 781 l-4:1993, Cartes d’identification
tes magnétiques pour lecture uniquement, pistes 7 et 2.
1
---------------------- Page: 5 ----------------------
ISO/CEI 10373: 1993 (F)
ISO 781 l-5:1993, Cartes d’identification - Technique d’enregistrement - Partie 5 : Position de la
piste magnétique enregistrement-lecture, piste 3.
ISO 7813:1993, Cartes d’identification - Cartes de transactions financières.
ISO 7816-1:1987, Cartes d’identification - Cartes à circuit(s) intégré(s) à con tacts - Partie 7 :
Caractéristiques physiques.
ISO 7816-2:1988, Cartes d’identification - Cartes à circuit(s) intégré(s) à contacts - Partie 2 :
Dimensions et emplacements des contacts.
CEI 512-2:1976, Composants électromécaniques pour équipements électroniques : procédures d’es-
sai de base et méthodes de mesure - Partie 2 : Examen général, essais de conti-
nuité électrique et de résistance de contact, essais d’isolement et essais de
con train te diélectrique.
3 Définitions
Pour les besoins de la présente Norme internationale, la définition suivante s’applique.
pour soumettre à essai les caractéristiques des cartes d’identification
31 . méthode d’essai : Méthode
afin de confirmer leur conformité aux Normes internationales.
4 Environnement d’essai et conditionnement par défaut
Sauf indication différente, les essais doivent avoir lieu dans un environnement d’une température de
23 OC + 3 OC (73 OF + 5 OF) et d’une humidité relative de 40 % à 60 %. Les cartes d’identification doi-
vent être conditionnées dans ce même environnement pendant 24 h avant les essais.
5 Méthodes d’essai
5.1 Déformation de la carte
L’objet de cet essai est de mesurer le degré de déformation de l’échantillon soumis à essai (voir ISO 7810).
Toute modification de la planéité de la carte constitue une déformation.
5.1.1 Déformation sur toute la surface des cartes estampées et non estampées
5.1.1.1 Appareillage : Un projecteur de profil ou un dispositif de mesure d’une précision minimale de
0,Ol mm.
Placer la carte soumise à l’essai sur la plaque rigide et plane de
5.1.1.2 Mode opératoire :
l’appareillage de mesure. Les bords de la carte doivent être appuyés sur la plaque (déformation de la
carte convexe par rapport à la plaque).
Relever le degré de déformation sur la loupe au plus grand point de déplacement, mesuré à partir de la
face du dessus de la carte.
5.1.1.3 Résultat : Le degré de déformation au plus grand point de déplacement (voir figure 1).
---------------------- Page: 6 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
Grille de mesure
Profil de la carte
Figure 1 - Image projetée de la déformation
5.1.2 Déformation de la zone de la bande magnétique pour les cartes estampées et non estampées
5.1.2.1 Appareillage :
a) une plaque rigide et plane d’une rugosité de 3,2 prn maximum conformément à I’ISO 1302. La plaque
doit comporter une ouverture pour permettre l’introduction d’une sonde de micromètre, voir figure 2 ;
b) un micromètre précis à 2,5 prn près muni d’une sonde à zone de contact en hémisphère d’un
diamètre compris entre 3 mm et 8 mm. La sonde doit exercer une force f = 0,6 N + 0,3 N ;
2,2 N (0,5 Ibf) répartie uniformément sur toute la surface (recto),
c) l’application d’une force F =
opposée à la zone de la bande magnétique (voir figure 2).
Support de référent
Zone de la bande magnétique Micromètre
(précis à 2,5 prn près)
- Disposition pour la mesure
Figure 2
NOTE 3 La charge de 2,2 N doit être augmentée de l’équivalent de f pour compenser l’effort exercé par le micromètre dans le
sens contraire.
: Placer la carte échantillon, face recto au-dessus, sur la plaque rigide et plane.
5.1.2.2 Mode opératoire
Placer la zone de la bande magnétique à mesurer sur l’ouverture. Appliquer la force F (+ f) directement
à l’emplacement de la zone de la bande magnétique sur le recto de la carte. Attendre 1 minute avant
d’effectuer les mesures. Mesurer toute déformation dans la zone de la bande aux neuf points situés le
long de la bande comme le montre la figure 3.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
10,oo
Zone de la bande Dimension
magnétique
x (mm)
Pistes 1 et 2 8,00
Pistes 1, 2 et 3 10,70
Figure 3 - Emplacements des points de mesure sur la carte
5.1.2.3 Résultat : La valeur maximale des mesures.
---------------------- Page: 7 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.2 Dimensions des cartes
L’objet de cet essai est de mesurer la hauteur, la largeur et l’épaisseur d’une carte non estampée
soumise à essai (voir ISO 7810).
5.2.1 Mesures de l’épaisseur
Un micromètre muni d’une touche fixe et d’une tige, dont le diamètre est
5.2.1.1 Appareillage :
compris entre 3 mm et 8 mm.
Utiliser le micromètre pour mesurer l’épaisseur de la carte en quatre points,
5.2.1.2 Mode opératoire :
un par quadrant de la carte (voir la figure 4 pour la disposition des quadrants). Effectuer les mesures
sur des parties de la carte ne comprenant ni panneaux de signatures, ni bandes magnétiques, ni
contacts (pour les cartes à circuit(s) intégré(s)), ni protubérance. La force du micromètre doit être
comprise entre 35 N et 5,9 N.
Quadrant Quadrant
1 2
v.-.-.-.-. .P.P.-.-.- .-
+
-t
Quadrant
Quadrant
3 4
Figure 4 - Disposition des quadrants
5.2.1.3 Résultat : Les valeurs maximale et minimale des quatre mesures doivent être comparées à la
valeur normalisée.
5.2.2 Mesures de la hauteur et de la largeur
Une surface horizontale plane et rigide d’une rugosité inférieure à 3,2 prn
5.2.2.1 Appareillage :
conformément à I’ISO 1302. Un microprojecteur de profil d’une précision de 2,5 prn ou un dispositif de
mesure adéquat de même précision. Une charge de 2,2 N + 0,2 N.
Placer la carte à soumettre à essai sur la surface rigide horizontale et plane
5.2.2.2 Mode opératoire :
et l’aplatir en appliquant la charge de 2,2 N + 0,2 N. Utiliser le microprojecteur de profil pour mesurer la
hauteur et la largeur de la carte.
Résultat : La (les) mesure(s) obtenue(s) doivent être comparées à celle(s) figurant dans I’ISO 7810.
5.2.2.3
5.3 Hauteur du relief d’estampage
L’objet de cet essai est d’obtenir la hauteur hors tout et la hauteur du relief des surfaces estampées de
la carte échantillon (voir ISO 7811-1).
La hauteur du relief d’estampage des caractères correspond au degré de bosselage de la surface de la
carte dû à l’action de I’estampage.
5.3.1 Appareillage : Voir ((5.2.1 Mesures de l’épaisseur)).
5.3.2 Mode opératoire : Utiliser le micromètre avec une force comprise entre 3,5 N et 5,9 N pour
mesurer la hauteur d’estampage d’un caractère.
5.3.3 Résultat: La hauteur hors tout est la mesure obtenue directement par l’essai. La hauteur du relief est
calculée en soustrayant l’épaisseur de la carte, mesurée dans le quadrant correspondant (voir figure 4), de
la hauteur hors tout obtenue par mesurage directe.
4
---------------------- Page: 8 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.4 Hauteur et profil de la surface de la bande magnétique
L’objet de cet essai est de déterminer la hauteur et la planéité de la bande magnétique (voir ISO 7811-2).
L’emplacement de la bande est indiqué dans I’ISO 7811-4 et I’ISO 7811-5. La hauteur de la bande
magnétique est définie en fonction de la carte et du profil de surface de la bande
5.4.1 Appareillage : Profilomètre (un exemple est donné à la figure 5).
5.4.2 Mode opératoire : Mesurer la hauteur et le profil de la surface de la bande magnétique ainsi que
de la surface contiguë avec un instrument de mesure enregistreur.
r
Transducteur, t
riI- Direction
de mesure
I
Bande magnétique /‘h, Pointe de contact
Plaque support de la carte
Figure 5 - Dispositif de mesure pour la hauteur et le profil de la bande magnétique
Placer la carte soumise à l’essai sous une plaque en métal rigide et évidée comme le montre la figure 6.
La force exercée par la plaque est de 2,2 N $r 0,l N.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
1500
- I
lS,OO 10,oo à 15,oo
171 r,o* “‘I”“i/i
c
-A A
1 ’
!
8
8 zz -
! +
1
8
N
ci k
R
! J,
\l#
1 I
I .
.
I
I I i 1
I
8400
1
I
Figure 6 - Plaque support de la carte (surface de contact)
NOTE 4 On peut utiliser n’importe quel métal rigide. L’épaisseur de la plaque dépend du matériau utilisé pour produire une force
de 2,2 N f 0,l N. Une tolérance de + 0,5 mm est admise sur toutes les dimensions de la plaque.
Mesurer le profil à une vitesse maximale de 1 mm/s (0,04 in/s) à l’aide d’une sonde dont le rayon est
compris entre 0,38 mm et 2,54 mm (0,015 in à 0,l in) et exercçant une force comprise entre 0,5 mN et 6 mN.
5
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ISO/CEI 10373:1993 (F)
Effectuer trois mesures sur la largeur de la bande de chaque éprouvette. Les trois emplacements V, X et
Y sont à une distance de 15 mm + 2 mm de chaque extrémité de la carte (0,59 in + 0,08 in) et
l’emplacement X est sur la ligne centrale de la carte (voir figure 7).
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
c
--
E
0
w
z Y X V
8
! !
! !
.
/
--.
I I f
I
f
1 -!'600*2,00 15,00~2,00 j
Emplacements des mesures pour le profil de la bande magnétique
Figure 7 -
La mesure le long de chaque ligne V, X et Y commence à 1 mm minimum (0,039 in minimum)
au-dessus du bord du matériau magnétique et finit à 1 mm minimum (0,039 in minimum) sous le bord
inférieur du matériau magnétique.
Si la ligne de mesure passe par la zone à contact du circuit intégré, utiliser une autre ligne parallèle Z, la
plus proche possible et qui ne coupe pas la zone à contacts du circuit intégré (pour la mesure de la
hauteur de la bande magnétique, voir ((5.4.4 Hauteur de la bande magnétique»).
Les figures 8 et 9 montrent des exemples de profils. On entend par déviation verticale maximale (a) la
distance entre la ligne de mesurage de référence et le point le plus éloigné du matériau magnétique,
formant un angle droit avec la ligne de mesure de référence.
Zone de la bande magnétique b
b
a = déviation verticale maximale
b= 1 mm (minimum)
w= largeur minimale de la bande
spécifiée dans I’ISO 7811-2
t
/
Ligne de mesure de référence
Figure 8 - Profil concave de la bande
Zone de la bande magnétique
6
a = déviation verticale maximale
b= 1 mm (minimum)
w= largeur minimale de la bande
spécifiée dans I’ISO 781 l-2
Ligne de mesure de référence
Figure 9 - Profil convexe de la bande
---------------------- Page: 10 ----------------------
ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.4.3 Profil de la surface de la bande magnétique
Pour les mesures sur les droites V, X et Y (voir figure 7), tracer une première
5.4.3.1 Mode opératoire :
ligne de mesure de référence (voir figures 8 et 9) reliant les points supérieur et inférieur qui définissent
les bords du matériau magnétique (le point qui indique la plus grande dimension verticale entre la ligne
de mesure et le point le plus haut ou le point le plus bas du matériau magnétique). On entend par
déviation verticale maximale (a) la distance entre la ligne de mesure de référence et le point le plus
éloigné sur le matériau magnétique, formant un angle droit avec la ligne de mesure de référence.
5.4.3.2 Résultat : Les trois mesures doivent être conformes aux critères de profil pour l’acceptation des
cartes.
5.4.4 Hauteur de la bande magnétique
Pour les trois mesures sur les droites V, X et Y (ou la droite Z, si Y passe par
5.4.4.1 Mode opératoire :
la zone des contacts du circuit intégré), tracer une droite de mesure de référence reliant les points de
départ et d’arrivée (voir figures 10 et 11). On entend par déviation verticale maximale (h) la distance
entre la ligne de mesure de référence et le point le plus éloigné sur le matériau magnétique, formant un
angle droit avec la ligne de mesure de référence.
Zone de la bande magnétique
b
b= 1 mm (minimum)
h = déviation verticale maximale
spécifiée dans I’ISO 781 l-2
Ligne de mesure de référence
Profil concave de la bande
Figure 10 -
b
Zone de la bande magnétique
b
b= 1 mm (minimum)
h = déviation verticale maximale
spécifiée dans I’ISO 781 l-2
Ligne de mesure de référence
Figure 11 - Profil convexe de la bande
5.4.4.2 Résultat : Les trois mesures doivent être conformes aux critères d’acceptation des cartes.
7
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ISO/CEI 10373:1993 (F)
55 . Rugosité de la surface du bandeau magnétique
L’objet de cet essai est de déterminer le degré de rugosité de la surface de la bande magnétique (voir
ISO 781 l-2).
On entend par rugosité de la surface de la bande magnétique l’état de surface ou l’uniformité relative
de la zone de contact de la bande magnétique.
5.5.1 Mode opératoire : Mesurer la rugosité de la surface de la bande magnétique à l’aide d’un
instrument de mesure enregistreur comme le montre la figure 5. Toutes les conditions d’essai
spécifiées en 5.4 s’appliquent, à l’exception de
- palpeur de sonde d’un rayon maximum de 2,0 prn + 0,5 prn ;
- longueur d’onde de coupure de 0,25 mm ou 0,8 mm ;
- mesures longitudinales et transversales effectuées sur la bande.
5.5.2 Résultat : Les moyennes de la ligne centrale pour la rugosité Ra de la bande magnétique sont
obtenues par des mesures longitudinales et transversales.
5.6 Essai d’usure de la bande magnétique
L’objet de cet essai est de déterminer l’amplitude du signal de la bande magnétique après une abrasion
contrôlée (voir ISO 781 l-2).
On entend par usure le degré à partir duquel l’usure de la bande magnétique affecte ses performances.
5.6.1 Appareillage :
a) une tête fictive en métal d’une dureté comprise entre 110 V et 130 V (échelle de Vickers) ou son
équivalent sur l’échelle de Rockwell. Les dimensions requises sont illustrées à la figure 12 ;
b) une plaque rigide et plane permettant de maintenir la carte immobile.
: Coder la carte échantillon à 20 ftpmm (500 ftpi) ; lire et noter l’amplitude du
5.6.2 Mode opératoire
signal. Fixer la carte à la plaque, la bande magnétique au-dessus, de façon à ce que la tête fictive
puisse parcourir la longueur de la bande (ou inversement que la carte puisse bouger sous la tête
(voir figure 13). Exercer une force de 1,5 N & 0,2 N sur la tête et la laisser aller et venir à une
vitesse comprise entre 20 cm/s et 50 cm/s pendant 1 000 cycles (1 cycle correspond à un aller
retour). Lire l’amplitude du signal sur le même appareil et la comparer avec celle du début de
l’essai. Continuer avec une deuxième série de 1 000 cycles et comparer l’amplitude du signal.
Les têtes de lecture et d’écriture doivent constamment demeurer à l’intérieur de la zone d’usure de la
tête fictive.
5.6.3 Résultat : La mesure de l’amplitude du signal doit être conforme à I’ISO 7811-2.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
5,00
1 r-
Chanfrein
Figure 12 - Dimensions de la zone de contact de la tête fictive
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ISO/CEI 10373:1993 (F)
Zone de la bande
magnétique
Force appliquée = 1,50 N + 0,20 N
Tête fictive
l
/
nde magnétique
Distance couverte
par le mouvement
Figure 13 - Tête fictive et bande magnétique
5.7 Délaminage
L’objet de cet essai est de mesurer le degré de résistance au décollement nécessaire pour enlever la
couche de protection de la carte imprimée (voir ISO 7810).
On entend par délaminage la séparation des couches adjacentes du matériau de la carte.
5.7.1 Appareillage :
a) une lame bien affûtée ;
b) un ruban adhésif résistant ou une attache adéquate ;
c) un appareil pour essai de traction ;
d) un dispositif de serrage.
5.7.2 Mode opératoire :
a) découper la carte en sections de 25 mm (1 in) de large comme le montre la figure 1.4 ;
NOTE 5 Dans le cas de cartes PVC traitionnelles (constituées d’une partie centrale en PVC blanc et d’un revêtement laminé
en PVC transparent), la résistance à la rupture du revêtement des parties non encrées sera supérieure à celles des parties
encrées. Choisir une section encrée de 25 mm (1 inch) de large pour représenter la «liaison faible» de la jonction revêtement
et partie centrale.
b) à l’aide de la lame affûtée, séparer le revêtement de la partie centrale sur environ 6 mm (0,25 in) ;
c) fixer l’attache ou le ruban adhésif sur le bord arrière du revêtement décollé de la partie centrale
comme le montre la figure 15 ;
d) placer l’éprouvette préparée dans le dispositif de fixation de l’appareil pour l’essai de traction
comme le montre la figure 16. La carte doit être fixée à l’appareil ;
e) faire fonctionner l’appareil pour essai de traction conformément aux instructions du fabricant
(30 cm/min) pour déterminer la résistance au décollage en newtons par centimètre (en pounds
par inch).
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ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.7.3
Résultat : La résistance au décollement est enregistrée et comparée avec les valeurs normalisées.
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
Section
Figure 14 - Préparation de la carte
Non à l’échelle
Dimensions en millimètres
Attache
ou
ruban adhésif
Revêtement laminé
Partie centrale
1 Arrière décollé 1 ’
(
Figure 15 - Préparation de l’éprouvette pour les essais de décollement
laminé
Dispositif de set *rage
I’
Figure
16 In ,stallation de Irouvette dans l’appareil pour essai de
traction
1 eP
10
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ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.8 Résistance aux produits chimiques
L’objet de cet essai est de déterminer les effets défavorables de produits chimiques spécifiés sur des
conditions normales d’utilisation d’une carte prélevée dans un échantillon pour essai (voir ISO 7810 et
ISO 781 l-2).
On entend par résistance aux produits chimiques le degré de détérioration de la performance
magnétique et de l’aspect de la carte suite à l’exposition à des produits chimiques courants.
re : Uti liser une nouvelle c arte pou r chaque ess ai. Im médiate
5.8.1 Mode opératoi me nt après avoir
olution d’ess ai, la laver avec de l’eau distillée et la séche
enlevé la carte de la s r avec u n ti ssu abso Irbant.
Contamination à court terme :
Les cartes échantillons doivent être immergées pendant 1 min dans l’une des solutions de la liste
ci-dessous conservées à une température comprise entre 20 OC et 25 OC.
Solutions utilisées :
a) eau salée (solution à 5 %) ;
b) solution d’acide acétique à 5 % ;
c) solution de carbonate de sodium à 5 % ;
d) solution aqueuse contenant 60 % d’alcool éthylique ;
e) eau sucrée (solution à 10 %) ;
f) liquide B (conformément à I’ISO 1817) ;
g) éthylène-glycol (solution à 50 %).
Contamination à long terme :
a) brouillard salin
La carte échantillon doit être disposée verticalement dans une étuve conformément à I’ISO 9227.
La durée de l’exposition aux conditions d’essai doit être de 24 h.
b) transpiration artificielle
1) solution alcaline
2) solution acide
La carte échantillon doit être immergée dans chaque solution pendant 24 h.
Les deux solutions d’essai doivent être préparées conformément à I’ISO 105-E04.
la carte échantillon doit ensuite être
5.8.2 Résultat : Après examen visuel, les résultats sont notés ;
soumise aux essais de fonctionnement magnétique ainsi que du circuit intégré.
5.9 Mesures de l’amplitude
L’objet de cet essai est de mesurer l’amplitude du signal, la résolution et l’effacement de la bande
magnétique de la carte échantillon après écriture pour vérification de conformité avec le document de
référence (voir ISO 7811-2). On entend par mesures de l’amplitude les mesures de l’amplitude du
signal, de l’amplitude de la résolution et de l’amplitude résiduelle après effacement (bruit).
II
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ISO/CEI 10373:1993 (F)
5.9.1 Appareillage :
a) toutes les opérations de mesure de l’amplitude doivent être effectuées sur le même matériel et
dans les mêmes conditions ;
b) la résolution du système de lecture doit être comprise entre 90 % et 100 % lors des essais sur une
carte de référence à 8 ftpmm (200 ftpi) et 20 ftpmm (500 ftpi) avec un courant d’enregistrement
d’essai de Zmax = 5 Z, ;
c) la largeur hors tout de la partie de la tête de lecture/écriture en contact avec le bandeau doit être
inférieure à 3,2 mm.
+ 10
Le rayon de la courbure de la tête à l’entrefer doit être de 10 mm 5 mm.
-
La carte doit être maintenue à plat pendant la mesure. Si plusieurs têtes sont utilisées, elles doivent être
mécaniquement indépendantes les unes des autres.
Pour plus d’informations, se référer au tableau 1.
Tableau 1 - Spécifications de la tête d’essai
Tête simple à entrefer simple
Deux têtes
maximum minimum
unités minimum m.x
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.