ISO 7668:2010
(Main)Anodizing of aluminium and its alloys — Measurement of specular reflectance and specular gloss of anodic oxidation coatings at angles of 20 degrees, 45 degrees, 60 degrees or 85 degrees
Anodizing of aluminium and its alloys — Measurement of specular reflectance and specular gloss of anodic oxidation coatings at angles of 20 degrees, 45 degrees, 60 degrees or 85 degrees
ISO 7668:2010 specifies methods for the measurement of specular reflectance and specular gloss of flat samples of anodized aluminium using geometries of 20° (Method A), 45° (Method B), 60° (Method C) and 85° (Method D); and of specular reflectance by an additional 45° method (Method E) employing a narrow acceptance angle. The methods described are intended mainly for use with clear anodized surfaces. They can be used with colour-anodized aluminium, but only with similar colours.
Anodisation de l'aluminium et de ses alliages — Mesurage des caractéristiques de réflectivité et de brillant spéculaires des couches anodiques à angle fixe de 20 degrés, 45 degrés, 60 degrés ou 85 degrés
L'ISO 7668:2010 spécifie des méthodes de mesure de la réflectivité spéculaire et du brillant spéculaire d'échantillons plats d'aluminium anodisé sous des angles de 20° (Méthode A), 45° (Méthode B), 60° (Méthode C) et 85° (Méthode D), plus une autre méthode à 45° (Méthode E) à petit angle d'ouverture pour le mesurage de la réflectivité spéculaire. Les méthodes décrites sont principalement utilisables sur des surfaces plates anodisées claires. Elles peuvent être utilisées sur de l'aluminium anodisé coloré, mais dans ce cas, uniquement pour des couleurs semblables.
General Information
Relations
Buy Standard
Standards Content (Sample)
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 7668
Second edition
2010-11-01
Anodizing of aluminium and its alloys —
Measurement of specular reflectance
and specular gloss of anodic oxidation
coatings at angles of 20°, 45°, 60° or 85°
Anodisation de l'aluminium et de ses alliages — Mesurage des
caractéristiques de réflectivité et de brillant spéculaires des couches
anodiques à angle fixe de 20°, 45°, 60° ou 85°
Reference number
ISO 7668:2010(E)
©
ISO 2010
---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO 7668:2010(E)
PDF disclaimer
This PDF file may contain embedded typefaces. In accordance with Adobe's licensing policy, this file may be printed or viewed but
shall not be edited unless the typefaces which are embedded are licensed to and installed on the computer performing the editing. In
downloading this file, parties accept therein the responsibility of not infringing Adobe's licensing policy. The ISO Central Secretariat
accepts no liability in this area.
Adobe is a trademark of Adobe Systems Incorporated.
Details of the software products used to create this PDF file can be found in the General Info relative to the file; the PDF-creation
parameters were optimized for printing. Every care has been taken to ensure that the file is suitable for use by ISO member bodies. In
the unlikely event that a problem relating to it is found, please inform the Central Secretariat at the address given below.
COPYRIGHT PROTECTED DOCUMENT
© ISO 2010
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means,
electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from either ISO at the address below or
ISO's member body in the country of the requester.
ISO copyright office
Case postale 56 • CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2010 – All rights reserved
---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO 7668:2010(E)
Contents Page
Foreword .iv
Introduction.v
1 Scope.1
2 Terms and definitions .1
3 Principle .1
4 Apparatus and geometric conditions.2
5 Optical standards .7
5.1 Reference standards.7
5.2 Working standards.7
6 Preparation and calibration of apparatus .7
7 Measurement of specular reflectance and specular gloss .8
7.1 General .8
7.2 Measurement of specular reflectance.8
7.3 Measurement of specular gloss.8
8 Expression of results.11
8.1 General .11
8.2 Specular reflectance .11
8.3 Specular gloss .11
9 Test report.11
Annex A (normative) Specular reflectance and specular gloss of black glass.12
Bibliography.13
© ISO 2010 – All rights reserved iii
---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO 7668:2010(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies
(ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been
established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and
non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the
International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 2.
The main task of technical committees is to prepare International Standards. Draft International Standards
adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an
International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent
rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
ISO 7668 was prepared by Technical Committee ISO/TC 79, Light metals and their alloys, Subcommittee
SC 2, Organic and anodic oxidation coatings on aluminium.
This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 7668:1986), which has been technically revised.
iv © ISO 2010 – All rights reserved
---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO 7668:2010(E)
Introduction
Specular reflectance and specular gloss are not unique physical properties of a surface. They vary with the
angle of measurement, and with the aperture dimensions that define the incident and the reflected beams,
such that measurements of these properties are not independent of the apparatus being used.
The specular reflectance of most surfaces increases with the angle of measurement and accounts for the use
of reflectometers with various angles as, for example, for painted surfaces. The specular reflectance
characteristics of anodized aluminium, however, do not always behave in the normal manner and, because of
its property of double reflection, reflected light comes partly from the film surface and partly from the
underlying metal. It is advisable to measure the specular reflectance characteristics at 20°, 45°, 60°, and 85°
to obtain a complete understanding of the specular reflectance properties of the anodized surface, and careful
thought should be given to which method or methods are most relevant in any particular situation. The
specular reflectance of bright-anodized aluminium with a mirror finish is best measured using 45° or 20°
geometry.
© ISO 2010 – All rights reserved v
---------------------- Page: 5 ----------------------
INTERNATIONAL STANDARD ISO 7668:2010(E)
Anodizing of aluminium and its alloys — Measurement
of specular reflectance and specular gloss of anodic oxidation
coatings at angles of 20°, 45°, 60° or 85°
1 Scope
This International Standard specifies methods for the measurement of specular reflectance and specular gloss
of flat samples of anodized aluminium using geometries of 20° (Method A), 45° (Method B), 60° (Method C)
and 85° (Method D); and of specular reflectance by an additional 45° method (Method E) employing a narrow
acceptance angle.
The methods described are intended mainly for use with clear anodized surfaces. They can be used with
colour-anodized aluminium, but only with similar colours.
2 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
2.1
specular reflectance
ratio of the luminous flux, reflected in the specular direction for a specified source and receptor angle, to the
luminous flux of the incident light, normally expressed as a percentage
2.2
specular gloss
ratio of the luminous flux, reflected from an object in the specular direction for a specified source and receptor
angle, to the luminous flux reflected from glass with a refractive index of 1,567 in the specular direction
NOTE To set the specular gloss scale, polished black glass with a refractive index of 1,567 is assigned the value of
100 for geometries of 20°, 45°, 60° and 85° (see Table 5). The phenomenon of light reflectance by anodized aluminium is
very different to that of black glass and the choice of a black-glass standard is arbitrary and made to allow comparison of
different qualities of anodized aluminium.
3 Principle
The specular reflectance and specular gloss of anodized aluminium surfaces are measured under defined
conditions using, as required, geometries of 20°, 45°, 60° and 85°.
© ISO 2010 – All rights reserved 1
---------------------- Page: 6 ----------------------
ISO 7668:2010(E)
4 Apparatus and geometric conditions
Usual laboratory apparatus and in particular the following.
4.1 General. Approximate comparisons between surfaces of the same colour can be made, but an
accurate measurement requires the combination of light source, photoelectric cell and associated colour filters
to give a spectral sensitivity, approximating to the CIE photopic luminous efficiency function, weighted for CIE
[1]
standard illuminants C (see CIE 38:1977 ) or D65.
NOTE Since specular reflection is in general spectrally non-selective, the spectral characteristics of the light
source (4.2) and the detector (4.4) need not be critically controlled for the measurement of normal uncoloured anodized
surfaces.
4.2 Polychromatic light source and housing, with a lens that directs a parallel, or very slightly converging,
beam of light onto the surface under test.
4.3 Means for locating the specimen surface, in the correct position for measurement.
4.4 Receptor housing containing a lens, a receptor aperture and a photoelectric cell, to receive the
cone of reflected light.
4.5 Sensitivity control, for setting the photocell current to any desired value on the instrument scale or
digital indicator.
4.6 Receptor meter, capable of giving an indication proportional to the light flux passing the receptor
aperture within 1 % of the full-scale reading. Spectral corrections are not usually required (see Note to 4.1).
4.7 Geometric conditions
The incident angle, ε , which is the angle between the axis of the incident beam and the perpendicular to the
1
surface under test, shall have the following values and tolerances:
⎯ for Method A: 20° ± 0,1°;
⎯ for Method B: 45° ± 0,1°;
⎯ for Method C: 60° ± 0,1°;
⎯ for Method D: 85° ± 0,1°;
⎯ for Method E: 45° ± 0,1°.
There shall be no vignetting of rays that lie within the angles specified above.
The axis of the receptor shall, as far as possible, coincide with the mirror image of the axis of the incident
beam; the receptor angle, ε , which is the angle between the axis of the receptor and the perpendicular to the
2
surface under test, shall be for all methods such that:
|ε − ε | u 0,1°
1 2
With a flat piece of polished glass or other front-surface mirror in the test panel position, an image of the
source shall be formed at the centre of the receptor aperture. The width of the illustrated area of the test panel
shall be not less than 10 mm.
The angular dimensions of the receptor apertures shall be measured from the receptor lenses. The
dimensions and tolerances of the sources and receptors shall be as indicated in Tables 1 and 2. Figures 1, 2
and 3 give generalized illustrations of these dimensions. Table 1 gives both angles and corresponding
dimensions calculated for lenses of a focal length of 50 mm for Methods A, B, C and D. Table 2 gives the
angles and aperture dimensions for Method E. The angles are mandatory and the aperture sizes have been
calculated from the corresponding angle, δ, as 2f (tan δ /2), where f is the focal length of the receptor lens.
2 © ISO 2010 – All rights reserved
---------------------- Page: 7 ----------------------
ISO 7668:2010(E)
Table 1 — Angles and dimensions of source image and receptor apertures for Methods A,B,C and D
Perpendicular to plane
In plane of measurement
of measurement
Instrument
Method(s)
a a
characteristics
Angle δ Dimension Angle δ Dimension
1 2
degrees (°) mm degrees (°) mm
b b
Source image size 0,75(δ ) 0,65 2,5(δ ) 2,18
1α 2α
A,B,C and D
Tolerance ±0,25 ±0,22 ±0,5 ±0,44
20° Receptor aperture 1,80(δ ) 1,57 3,6(δ ) 3,14
1β 2β
A
Tolerance ±0,05 ±0,04 ±0,1 ±0,09
45° Receptor aperture 4,4(δ ) 3,84 11,7(δ ) 10,25
1β 2β
B
Tolerance ±0,1 ±0,09 ±0,2 ±0,17
60° Receptor aperture 4,4(δ ) 3,84 11,7(δ ) 10,25
1β 2β
C
Tolerance ±0,1 ±0,09 ±0,2 ±0,17
85° Receptor aperture 4,0(δ ) 3,49 6,0(δ ) 5,24
1β 2β
D
Tolerance ±0,3 ±0,26 ±0,3 ±0,26
a
Calculated for a focal length of 50 mm. For any other focal length, f, these dimensions shall be multiplied by f/50.
b
0,75° ± 0,25°, corresponding to dimensions of 0,65 mm ± 0,22 mm, i.e. the same as those in the plane of measurement, is also
recommended.
Table 2 — Angles and dimensions of circular source image and circular receptor aperture for 45°
reflectometer of Method E
a
Angle δ Dimension
Instrument characteristics
degrees (°) mm
3,44 1,5
Source image size
Tolerance ±0,23 ±0,1
3,44 1,5
45° Receptor aperture
Tolerance ±0,23 ±0,1
a
Calculated for focal length of 25,4 mm. For any other focal length, f, the aperture diameter is equal to 2f (tan δ /2).
© ISO 2010 – All rights reserved 3
---------------------- Page: 8 ----------------------
ISO 7668:2010(E)
a) In plane of measurement
b) Perpendicular to plane of measurement
Key
1 axis δ source image angles (in plane of measurement)
1α
G filament lamp δ receptor aperture angles (in plane of me
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 7668
Deuxième édition
2010-11-01
Anodisation de l'aluminium et de ses
alliages — Mesurage des caractéristiques
de réflectivité et de brillant spéculaires
des couches anodiques à angle fixe de
20°, 45°, 60° ou 85°
Anodizing of aluminium and its alloys — Measurement of specular
reflectance and specular gloss of anodic oxidation coatings at angles
of 20°, 45°, 60°or 85°
Numéro de référence
ISO 7668:2010(F)
©
ISO 2010
---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO 7668:2010(F)
PDF – Exonération de responsabilité
Le présent fichier PDF peut contenir des polices de caractères intégrées. Conformément aux conditions de licence d'Adobe, ce fichier
peut être imprimé ou visualisé, mais ne doit pas être modifié à moins que l'ordinateur employé à cet effet ne bénéficie d'une licence
autorisant l'utilisation de ces polices et que celles-ci y soient installées. Lors du téléchargement de ce fichier, les parties concernées
acceptent de fait la responsabilité de ne pas enfreindre les conditions de licence d'Adobe. Le Secrétariat central de l'ISO décline toute
responsabilité en la matière.
Adobe est une marque déposée d'Adobe Systems Incorporated.
Les détails relatifs aux produits logiciels utilisés pour la création du présent fichier PDF sont disponibles dans la rubrique General Info
du fichier; les paramètres de création PDF ont été optimisés pour l'impression. Toutes les mesures ont été prises pour garantir
l'exploitation de ce fichier par les comités membres de l'ISO. Dans le cas peu probable où surviendrait un problème d'utilisation,
veuillez en informer le Secrétariat central à l'adresse donnée ci-dessous.
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2010
Droits de reproduction réservés. Sauf prescription différente, aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni utilisée sous
quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans l'accord écrit
de l'ISO à l'adresse ci-après ou du comité membre de l'ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 56 • CH-1211 Geneva 20
Tel. + 41 22 749 01 11
Fax + 41 22 749 09 47
E-mail copyright@iso.org
Web www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2010 – Tous droits réservés
---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO 7668:2010(F)
Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction.v
1 Domaine d'application .1
2 Termes et définitions .1
3 Principe.1
4 Appareillage et conditions géométriques.2
5 Étalons optiques.7
5.1 Étalons de référence .7
5.2 Étalons de travail.7
6 Préparation et étalonnage de l'appareillage .8
7 Mesurage de la réflectivité spéculaire et du brillant spéculaire.8
7.1 Généralités .8
7.2 Mesurage de la réflectivité spéculaire.8
7.3 Mesurage du brillant spéculaire .9
8 Expression des résultats.12
8.1 Généralités .12
8.2 Réflectivité spéculaire.12
8.3 Brillant spéculaire .12
9 Rapport d'essai.12
Annexe A (normative) Réflectivité spéculaire et brillant spéculaire d'un verre noir .13
Bibliographie.14
© ISO 2010 – Tous droits réservés iii
---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO 7668:2010(F)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes nationaux de
normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est en général confiée
aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du
comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux. L'ISO collabore étroitement avec
la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les Normes internationales sont rédigées conformément aux règles données dans les Directives ISO/CEI,
Partie 2.
La tâche principale des comités techniques est d'élaborer les Normes internationales. Les projets de Normes
internationales adoptés par les comités techniques sont soumis aux comités membres pour vote. Leur
publication comme Normes internationales requiert l'approbation de 75 % au moins des comités membres
votants.
L'attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable de ne
pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence.
L'ISO 7668 a été élaborée par le comité technique ISO/TC 79, Métaux légers et leurs alliages, sous-comité
SC 2, Couches organiques et couches d'oxydation anodique sur l'aluminium.
Cette deuxième édition annule et remplace la première édition (ISO 7668:1986), qui a fait l'objet d'une
révision technique.
iv © ISO 2010 – Tous droits réservés
---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO 7668:2010(F)
Introduction
La réflectivité spéculaire et le brillant spéculaire ne sont pas des propriétés physiques uniques d'une surface.
Ils varient avec l'angle de mesure et avec les dimensions de l'ouverture définissant les faisceaux lumineux
incident et spéculaire. Leur mesurage n'est donc pas indépendant de l'appareillage utilisé.
La réflectivité spéculaire de la plupart des surfaces augmente avec l'angle de mesure, ce qui explique
l'utilisation de réflectomètres à angle variable, par exemple dans le cas des surfaces peintes. Avec
l'aluminium anodisé toutefois, les caractéristiques de réflectivité spéculaire ne suivent pas toujours la loi
normale en raison de la propriété de double réflexion de ce métal, la lumière réfléchie provenant pour partie
de la pellicule superficielle et pour partie du métal sous-jacent. Il est donc conseillé de mesurer les
caractéristiques de réflectivité spéculaire sous des angles de 20°, 45°, 60° et 85° pour arriver à une
perception complète des propriétés de réflectivité spéculaire de la surface anodisée, et de définir en
connaissance de cause la ou les méthodes les plus appropriées dans une situation donnée. La réflectivité
spéculaire de l'aluminium anodisé brillant avec un fini miroir est mesurée au mieux avec un angle de 20° ou
de 45°.
© ISO 2010 – Tous droits réservés v
---------------------- Page: 5 ----------------------
NORME INTERNATIONALE ISO 7668:2010(F)
Anodisation de l'aluminium et de ses alliages — Mesurage
des caractéristiques de réflectivité et de brillant spéculaires
des couches anodiques à angle fixe de 20°, 45°, 60° ou 85°
1 Domaine d'application
La présente Norme internationale spécifie des méthodes de mesure de la réflectivité spéculaire et du brillant
spéculaire d'échantillons plats d'aluminium anodisé sous des angles de 20° (Méthode A), 45° (Méthode B),
60° (Méthode C) et 85° (Méthode D), plus une autre méthode à 45° (Méthode E) à petit angle d'ouverture
pour le mesurage de la réflectivité spéculaire.
Les méthodes décrites sont principalement utilisables sur des surfaces plates anodisées claires. Elles
peuvent être utilisées sur de l'aluminium anodisé coloré, mais dans ce cas, uniquement pour des couleurs
semblables.
2 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions suivants s'appliquent.
2.1
réflectivité spéculaire
rapport du flux lumineux réfléchi dans la direction spéculaire pour une source et un angle de récepteur
spécifiés, au flux lumineux de la lumière incidente, généralement exprimé en pourcentage
2.2
brillant spéculaire
rapport du flux lumineux réfléchi d'un objet dans la direction spéculaire pour une source et un angle de
récepteur spécifiés, au flux lumineux réfléchi d'un verre avec un indice de réfraction de 1,567 dans la direction
spéculaire
NOTE Pour déterminer l'échelle du brillant spéculaire, on attribue à un verre noir poli avec un indice de réfraction de
1,567, la valeur 100 pour les angles de 20°, 45°, 60° et 85° (voir Tableau 5). Le phénomène de réflexion lumineuse par
l'aluminium anodisé est très différent de celui d'un verre noir et le choix d'un étalon de verre noir est arbitraire et effectué
pour permettre la comparaison de qualités différentes d'aluminium anodisé.
3 Principe
La réflectivité et le brillant spéculaires des surfaces d'aluminium anodisé se mesurent dans des conditions
définies sous des angles de 20°, 45°, 60° ou 85°, selon le cas.
© ISO 2010 – Tous droits réservés 1
---------------------- Page: 6 ----------------------
ISO 7668:2010(F)
4 Appareillage et conditions géométriques
Matériel de laboratoire courant et, en particulier, le suivant.
4.1 Généralités, il est possible de comparer de façon approximative des surfaces de même couleur, mais
un mesurage précis requiert un ensemble de conditions de source de lumière, de cellule photoélectrique et de
filtres colorés associés donnant une sensibilité spectrale correspondant approximativement à la fonction de
rendement lumineux photopique CIE pondérée en fonction des illuminants normalisés CIE C (voir
[1]
CIE 38:1977 ) ou D65.
NOTE La réflexion spéculaire étant en général non sélective du point de vue spectral, il n'est pas nécessaire, pour
mesurer des surfaces anodisées incolores normales, de contrôler de façon critique les caractéristiques spectrales de la
source lumineuse (4.2) et du détecteur (4.4).
4.2 Source lumineuse polychrome, avec un boîtier renfermant un condenseur dirigeant un faisceau
lumineux parallèle ou très légèrement convergent sur la surface à mesurer.
4.3 Système d'orientation de la surface de l'échantillon, pour le mesurage dans une position correcte.
4.4 Récepteur dont le boîtier renferme un condenseur, un diaphragme de réception et une cellule
photoélectrique, recevant le cône de lumière réfléchie.
4.5 Commande de sensibilité, permettant de régler l'intensité du courant de la cellule photoélectrique à
n'importe quelle valeur souhaitée de l'échelle de l'instrument ou de l'indicateur numérique.
4.6 Système de mesure du récepteur, pouvant donner une indication proportionnelle au flux lumineux
passant par l'ouverture du récepteur, à 1 % près de la valeur totale de l'échelle. Les corrections spectrales ne
sont normalement pas nécessaires (voir la Note de 4.1).
4.7 Conditions géométriques
L'angle incident, ε , qui est l'angle formé par l'axe du faisceau incident et la perpendiculaire à la surface
1
mesurée, doit avoir les valeurs et tolérances suivantes:
⎯ pour la Méthode A: 20° ± 0,1°;
⎯ pour la Méthode B: 45° ± 0,1°;
⎯ pour la Méthode C: 60° ± 0,1°;
⎯ pour la Méthode D: 85° ± 0,1°;
⎯ pour la Méthode E: 45° ± 0,1°.
Il ne doit pas y avoir de dégradé dans les rayons situés à l'intérieur des angles de champ spécifiés ci-dessus.
L'axe du récepteur doit, dans la mesure du possible, coïncider avec l'image inversée de l'axe du faisceau
incident. L'angle du récepteur, ε , qui est l'angle formé par l'axe du récepteur et la perpendiculaire à la surface
2
mesurée, doit être pour toutes les méthodes tel que:
εε−°u 0,1
12
Une plaque de verre poli plane ou toute autre surface de type miroir étant placée dans la position de la plaque
d'essai, l'image de la source doit se former au centre du diaphragme du récepteur. La largeur de la surface de
projection de la plaque d'essai ne doit pas être inférieure à 10 mm.
Les dimensions angulaires de l'ouverture de champ du récepteur doivent être mesurées à partir des
condenseurs du récepteur. Les dimensions et les tolérances des sources et des récepteurs doivent
correspondre aux indications des Tableaux 1 et 2. Les Figures 1, 2 et 3 donnent des illustrations générales de
2 © ISO 2010 – Tous droits réservés
---------------------- Page: 7 ----------------------
ISO 7668:2010(F)
ces dimensions. Le Tableau 1 donne à la fois les angles et les dimensions correspondantes calculées pour
des condenseurs de distance focale égale à 50 mm pour les Méthodes A, B, C et D. Le Tableau 2 donne les
angles et les dimensions d'ouverture correspondantes pour la Méthode E. Les angles sont obligatoires et les
dimensions d'ouverture ont été calculées en fonction de l'angle correspondant, δ, par la formule 2f (tan δ /2),
où f est la distance focale du condenseur du récepteur.
Tableau 1 — Angles et dimensions de l'image de la source et des ouvertures du récepteur
pour les Méthodes A, B, C et D
Perpendiculairement au plan
Dans le plan de mesure
de mesure
Caractéristiques
Méthode(s)
a a
de l'instrument
Angle δ Dimension Angle δ Dimension
1 2
degrés (°) mm degrés (°) mm
Dimension de l'image
b b
0,75(δ ) 0,65 2,5(δ ) 2,18
1α 2α
de la source
A,B,C et D
±0,25 ±0,22 ±0,5 ±0,44
Tolérance
Ouverture du récepteur
1,80(δ ) 1,57 3,6(δ ) 3,14
1β 2β
à 20°
A
±0,05 ±0,04 ±0,1 ±0,09
Tolérance
Ouverture du récepteur
4,4(δ ) 3,84 11,7(δ ) 10,25
1β 2β
à 45°
B
±0,1 ±0,09 ±0,2 ±0,17
Tolérance
Ouverture du récepteur
4,4(δ ) 3,84 11,7(δ ) 10,25
1β 2β
à 60°
C
±0,1 ±0,09 ±0,2 ±0,17
Tolérance
Ouverture du récepteur
4,0(δ ) 3,49 6,0(δ ) 5,24
1β 2β
à 85°
D
±0,3 ±0,26 ±0,3 ±0,26
Tolérance
a
Calculée pour une distance focale de 50 mm. Pour toute autre distance focale, f, multiplier ces dimensions per f /50.
b
On peut également utiliser 0,75° ± 0,25°, correspondant aux dimensions de 0,65 mm ± 0,22 mm, c'est-à-dire la même valeur que
celle retenue dans le plan de mesure.
Tableau 2 — Angles et dimensions de l'image de la source circulaire et de l'ouverture du récepteur
circulaire pour le réflectomètre à angle de 45°, dans le cas de la Méthode E
a
Angle δ Dimension
Caractéristiques
de l'instrument
degrés (°) mm
Dimension de l'image de la
3,44 1,5
source
±0,23 ±0,1
Tolérance
Ouverture du récepteur à 45° 3,44 1,5
Tolérance
±0,23 ±0,1
a
Calculée pour une distance focale de 25,4 mm. Pour toute autre distance focale, f, le diamètre d'ouverture est
égal à 2f (tan δ /2).
© ISO 2010 – Tous droits réservés 3
---------------------- Page: 8 ----------------------
ISO 7668:2010(F)
a) Dans le plan de mesure
b) Perpendiculairement au plan de mesure
Légende
1 axe δ angles de l'image de la source (dans le plan de mesure)
1α
G lampe à filament δ angles d'ouverture du récepteur (dans le plan de mesure)
1β
L lentille du conde
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.