IEC 61290-5-2:2003

Optical amplifiers - Test methods - Part 5-2: Reflectance parameters - Electrical spectrum analyser method

Applies to optical amplifiers (OFAs) using active fibres, containing rare-earth dopants, presently commercially available. The object is to establish uniform requirements for accurate and reliable measurements, by means of the electrical spectrum analyser test method, of the following OFA parameters, as defined in IEC 61291-1: a) input reflectance; b) output reflectance.

Amplificateurs optiques - Méthodes d'essai - Partie 5-2: Paramètres du facteur de réflexion - Méthode de l'analyseur de spectre électrique

S'applique aux amplificateurs à fibres optiques (AFO) utilisant des fibres actives, dopés aux terres rares, qui sont actuellement disponibles sur le marché. L'objet de la présente partie de la CEI 61290 est d'établir des prescriptions uniformes pour des mesures précises et fiables, à l'aide de la méthode d'essai de l'analyseur de spectre électrique, des paramètres des AFO suivants, selon les définitions de la CEI 61291-1: a)réflexion à l'entrée; b)réflexion en sortie

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 02-Oct-2003
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 33.180.30 - Optic amplifiers
• Technical Committee: SC 86C - Fibre optic systems and active devices
• Drafting Committee: WG 3 - TC 86/SC 86C/WG 3
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 15-Jan-2004
• Completion Date: 03-Oct-2003

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61290-5-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-10
Amplificateurs optiques –
Méthodes d'essai –
Partie 5-2:
Paramètres du facteur de réflexion –
Méthode de l'analyseur de spectre électrique
Optical amplifiers –
Test methods –
Part 5-2:
Reflectance parameters –
Electrical spectrum analyser method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61290-5-2:2003
Numérotation des publications Publication numbering
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devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
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respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
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constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
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ligne sont également disponibles sur les nouvelles issued publications, withdrawn and replaced
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61290-5-2
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-10
Amplificateurs optiques –
Méthodes d'essai –
Partie 5-2:
Paramètres du facteur de réflexion –
Méthode de l'analyseur de spectre électrique
Optical amplifiers –
Test methods –
Part 5-2:
Reflectance parameters –
Electrical spectrum analyser method
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N
Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
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For price, see current catalogue

– 2 – 61290-5-2  CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4
1 Domaine d'application et objet. 8
2 Références normatives . 8
3 Abréviations. 8
4 Appareillage.10
5 Echantillon d'essai .14
6 Procédure .14
6.1 Facteur de réflexion d'entrée.14
6.1.1 Généralités .14
6.1.2 Etalonnage.16
6.1.3 Mesure du facteur de réflexion d'entrée de l'AFO.20
6.2 Facteur de réflexion de sortie.20
6.2.1 Généralités .20
6.2.2 Etalonnage.22
6.2.3 Mesure du facteur de réflexion de sortie de l'AFO.24
7 Calcul .26
8 Résultats d’essai.26
Bibliographie .28
Figure 1 – Configurations pour méthodes de mesure de l’analyseur de spectre
électrique pour facteur de réflexion d'AFO .10
Figure 2 – Configurations pour déterminer la mesure de la perte d'insertion
du contrôleur de polarisation, du coupleur optique et de l'isolateur optique.16
Figure 3 – Mesure de la puissance d'entrée de l'AFO.18
Figure 4 – Mesure du facteur de réflexion inhérent du montage d'essai.18
Figure 5 – Mesure de la perte du coupleur optique.20
Figure 6 – Mesure de la puissance de la sonde d'entrée .22
Figure 7 – Mesure du facteur de réflexion inhérent du montage d'essai.24
Figure 8 – Mesure de la puissance du signal d'entrée de l'AFO .24

61290-5-2  IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5
1 Scope and object . 9
2 Normative references. 9
3 Abbreviated terms. 9
4 Apparatus .11
5 Test sample .15
6 Procedure .15
6.1 Input reflectance .15
6.1.1 General.15
6.1.2 Calibration .17
6.1.3 OFA input reflectance measurement.21
6.2 Output reflectance .21
6.2.1 General.21
6.2.2 Calibration .23
6.2.3 OFA output reflectance measurement.25
7 Calculation.27
8 Test results.27
Bibliography .29
Figure 1 – Configurations for electrical spectrum analyser measurement methods
for OFA reflectance .11
Figure 2 – Configurations for determining polarization controller, optical branching
device and optical isolator insertion loss measurement .17
Figure 3 – Measurement of OFA input power .19
Figure 4 – Measurement of inherent reflectance of test set-up .19
Figure 5 – Measurement of the loss of the optical branching device .21
Figure 6 – Measurement of input probe power .23
Figure 7 – Measurement of the inherent reflectance of the test set-up.25
Figure 8 – Measurement OFA input signal power .25

– 4 – 61290-5-2  CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
AMPLIFICATEURS OPTIQUES – MÉTHODES D’ESSAI –
Partie 5-2: Paramètres du facteur de réflexion –
Méthode de l’analyseur de spectre électrique
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes d
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