IEC 61747-1:1998
(Main)Liquid crystal and solid-state display devices - Part 1: Generic specification
Liquid crystal and solid-state display devices - Part 1: Generic specification
Defines general procedures for quality assessment to be used in the IECQ system and gives general rules for measuring methods of electrical and optical characteristics, rules for climatic and mechanical tests, and rules for endurance tests.
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides et à semiconducteurs - Partie 1: Spécification générique
Définit des procédures générales portant sur l'évaluation qualité à mettre en oeuvre dans le cadre du système IECQ et établit des règles générales concernant les méthodes de mesure des caractéristiques électriques et optiques, les essais climatiques et mécaniques et les essais d'endurance.
General Information
Relations
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Standards Content (Sample)
NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61747-1
INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Première édition
First edition
1998-04
Dispositifs d’affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61747-1: 1998
Numéros des publications Numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication
publication de base incorporant l’amendement 1, et la incorporating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de Information relating to the date of the reconfirmation of
reconfirmation de la publication sont disponibles dans the publication is available in the IEC catalogue.
le Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à des questions à l’étude et Information on the subjects under consideration and
des travaux en cours entrepris par le comité technique work in progress undertaken by the technical
qui a établi cette publication, ainsi que la liste des committee which has prepared this publication, as well
publications établies, se trouvent dans les documents ci- as the list of publications issued, is to be found at the
dessous: following IEC sources:
• «Site web» de la CEI* • IEC web site*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Catalogue en ligne)* (On-line catalogue)*
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
Disponible à la fois au «site web» de la CEI* et Available both at the IEC web site* and as a
comme périodique imprimé printed periodical
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.
NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61747-1
INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Première édition
First edition
1998-04
Dispositifs d’affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
IEC 1998 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in
copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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Telefax: +41 22 919 0300 e-mail: inmail@iec.ch IEC web site http: //www.iec.ch
CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE V
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue
– 2 – 61747-1 CEI:1998
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 6
Articles
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives. 8
3 Terminologie . 10
3.1 Concepts physiques . 10
3.2 Termes généraux . 16
3.3 Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques. 18
4 Aspects techniques . 22
4.1 Ordre de priorité. 22
4.2 Unités, symboles et terminologie, unités et symboles. 22
4.3 Plages préférentielles de température, d’humidité et de pression . 22
4.4 Marquage. 22
4.4.1 Identification des dispositifs. 22
4.4.2 Traçabilité des dispositifs . 24
4.4.3 Conditionnement . 24
4.5 Catégories de qualité assurée . 24
4.6 Sélection. 24
4.7 Traitement . 26
5 Procédures d’évaluation qualité . 26
5.1 Admissibilité à l’homologation. 26
5.1.1 Première étape de fabrication. 26
5.2 Informations commerciales confidentielles. 26
5.3 Constitution des lots de contrôle. 26
5.4 Dispositifs à structure similaire. 26
5.5 Octroi d’homologation . 28
5.6 Contrôle de conformité à la qualité . 28
5.6.1 Division en groupes et sous-groupes . 28
5.6.2 Prescriptions de contrôle . 32
5.6.3 Procédure complémentaire pour contrôle restreint . 34
5.6.4 Prescriptions d’échantillonnage pour petits lots. 34
5.6.5 Registre certifié des lots acceptés (RCLA). 34
5.6.6 Remise de dispositifs soumis à des essais destructifs ou
non destructifs . 34
5.6.7 Remises différées . 36
5.6.8 Procédures complémentaires de remise . 36
61747-1 IEC:1998 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 7
Clause
1 Scope . 9
2 Normative references . 9
3 Terminology . 11
3.1 Physical concepts . 11
3.2 General terms . 17
3.3 Terms related to ratings and characteristics . 19
4 Technical aspects . 23
4.1 Order of precedence . 23
4.2 Terminology, units and symbols. 23
4.3 Preferred values of temperature, humidity and pressure . 23
4.4 Marking. 23
4.4.1 Device identification . 23
4.4.2 Device traceabillity . 25
4.4.3 Packing. 25
4.5 Categories of assessed quality. 25
4.6 Screening . 25
4.7 Handling . 27
5 Quality assessment procedures. 27
5.1 Eligibility for qualification approval. 27
5.1.1 Primary stage of manufacture. 27
5.2 Commercially confidential information . 27
5.3 Formation of inspection lots . 27
5.4 Structurally similar devices. 27
5.5 Granting of qualification approval . 29
5.6 Quality conformance inspection. 29
5.6.1 Division into groups and subgroups . 29
5.6.2 Inspection requirements . 33
5.6.3 Supplementary procedure for reduced inspection. 35
5.6.4 Sampling requirements for small lots . 35
5.6.5 Certified records of released lots (CRRL). 35
5.6.6 Delivery of devices subjected to destructive or non-destructive tests. 35
5.6.7 Delayed deliveries . 37
5.6.8 Supplementary procedure for deliveries . 37
– 4 – 61747-1 CEI:1998
Articles Pages
5.7 Procédures statistiques d’échantillonnage . 36
5.7.1 Plans d’échantillonnage NQA . 36
5.7.2 Plans d’échantillonnage NQT. 36
5.8 Essais d’endurance. 36
5.9 Essais d’endurance avec taux de défaillance spécifié . 36
5.9.1 Généralités . 36
5.9.2 Choix des prélèvements . 36
5.9.3 Défaillance . 38
5.9.4 Durée de l’essai d’endurance et taille du prélèvement. 38
5.9.5 Procédure à suivre si le nombre de défaillances observées excède
les critères d’acceptation. 38
5.10 Procédures d’essai accélérées . 40
5.11 Agréments de savoir-faire . 40
6 Procédures d’essai et de mesure. 40
6.1 Conditions atmosphériques normales pour mesures électriques et optiques. 40
6.2 Examen physique. 40
6.2.1 Examen visuel. 40
6.2.2 Dimensions . 40
6.2.3 Permanence du marquage. 40
6.3 Mesures électriques et optiques .
...
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61747-1
INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Edition 1.1
2003-05
Edition 1:1998 consolidée par l'amendement 1:2003
Edition 1:1998 consolidated with amendment 1:2003
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61747-1:1998+A1:2003
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permet (http://www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enables
de faire des recherches en utilisant de nombreux you to search by a variety of criteria including text
critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
les nouvelles publications, les publications rempla- replaced publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published • IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues This summary of recently issued publications
(http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm) (http://www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)
est aussi disponible par courrier électronique. is also available by email. Please contact the
Veuillez prendre contact avec le Service client Customer Service Centre (see below) for further
(voir ci-dessous) pour plus d’informations. information.
• Service clients • Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette If you have any questions regarding this
publication ou avez besoin de renseignements publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service contact the Customer Service Centre:
clients:
Email: custserv@iec.ch Email: custserv@iec.ch
Tél: +41 22 919 02 11 Tel: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00 Fax: +41 22 919 03 00
.
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INTERNATIONALE IEC
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INTERNATIONAL
QC 720000
STANDARD
Edition 1.1
2003-05
Edition 1:1998 consolidée par l'amendement 1:2003
Edition 1:1998 consolidated with amendment 1:2003
Dispositifs d'affichage à cristaux liquides
et à semiconducteurs –
Partie 1:
Spécification générique
Liquid crystal and solid-state display devices –
Part 1:
Generic specification
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– 2 – 61747-1 © CEI:1998+A1:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 6
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives . 8
3 Terminologie.10
3.1 Concepts physiques .10
3.2 Termes généraux.18
3.3 Termes relatifs aux valeurs limites et aux caractéristiques.28
4 Aspects techniques .36
4.1 Ordre de priorité .36
4.2 Terminologie, unités et symboles .36
4.3 Plages préférentielles de température, d’humidité et de pression.42
4.4 Marquage .42
4.4.1 Identification des dispositifs.42
4.4.2 Traçabilité des dispositifs .42
4.4.3 Conditionnement .44
4.5 Catégories de qualité assurée .44
4.6 Sélection.44
4.7 Traitement .44
5 Procédures d’évaluation qualité.46
5.1 Admissibilité à l’homologation .46
5.1.1 Première étape de fabrication.46
5.2 Informations commerciales confidentielles .46
5.3 Constitution des lots de contrôle .46
5.4 Dispositifs à structure similaire.46
5.5 Octroi d’homologation .46
5.6 Contrôle de conformité à la qualité .48
5.6.1 Division en groupes et sous-groupes .48
5.6.2 Prescriptions de contrôle.50
5.6.3 Procédure complémentaire pour contrôle restreint .52
5.6.4 Prescriptions d’échantillonnage pour petits lots.54
5.6.5 Registre certifié des lots acceptés (RCLA).54
5.6.6 Remise de dispositifs soumis à des essais destructifs ou non destructifs .54
5.6.7 Remises différées .54
5.6.8 Procédures complémentaires de remise .54
5.7 Procédures statistiques d’échantillonnage .54
5.7.1 Plans d’échantillonnage NQA .54
5.7.2 Plans d’échantillonnage NQT .54
5.8 Essais d’endurance.54
61747-1 © IEC:1998+A1:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 7
1 Scope . 9
2 Normative references. 9
3 Terminology.11
3.1 Physical concepts .11
3.2 General terms.19
3.3 Terms related to ratings and characteristics .29
4 Technical aspects .37
4.1 Order of precedence .37
4.2 Terminology, units and symbols .37
4.3 Preferred values of temperature, humidity and pressure .43
4.4 Marking .43
4.4.1 Device identification .43
4.4.2 Device traceabillity .43
4.4.3 Packing.45
4.5 Categories of assessed quality.45
4.6 Screening .45
4.7 Handling .45
5 Quality assessment procedures.47
5.1 Eligibility for qualification approval.47
5.1.1 Primary stage of manufacture.47
5.2 Commercially confidential information .47
5.3 Formation of inspection lots .47
5.4 Structurally similar devices.47
5.5 Granting of qualification approval .47
5.6 Quality conformance inspection.49
5.6.1 Division into groups and subgroups .49
5.6.2 Inspection requirements .51
5.6.3 Supplementary procedure for reduced inspection.53
5.6.4 Sampling requirements for small lots .55
5.6.5 Certified records of released lots (CRRL) .55
5.6.6 Delivery of devices subjected to destructive or non-destructive tests.55
5.6.7 Delayed deliveries.55
5.6.8 Supplementary procedure for deliveries.55
5.7 Statistical sampling procedures.55
5.7.1 AQL sampling plans .55
5.7.2 LTPD sampling plans .55
5.8 Endurance tests.55
– 4 – 61747-1 © CEI:1998+A1:2003
5.9 Essais d’endurance avec taux de défaillance spécifié .
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.