ISO 3543:1981
(Main)Metallic and non-metallic coatings — Measurement of thickness — Beta backscatter method
Metallic and non-metallic coatings — Measurement of thickness — Beta backscatter method
Revêtements métalliques et non métalliques — Mesurage de l'épaisseur — Méthode par rétrodiffusion des rayons bêta
General Information
Relations
Buy Standard
Standards Content (Sample)
International Standard
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATIONWlE~YHAPO~HAF OPTAHM3AUMR fl0 CTAH~APTH3Al#lM~RGANISATION INTERNATIONALE DE NORMALISATION
Metallic and non-metallic coatings - Measurement of
thickness -
Beta backscatter method
Revetements m&alfiques et non m&alliques - Mesurage de l’&paisseur -
Methode par r&rodiffusion des rayons b&a
First edition - 1981-07-15
UDC 669.058 : 531.717 : 537.533.74
Ref. No. ISO3543-1981 (E)
Descriptors : coatings, metal coatings, non metallic coatings,
dimensional measurement, thickness, non destructive tests, beta backscatter
method.
Price based on 9 pages
---------------------- Page: 1 ----------------------
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of
national Standards institutes (ISO member bodies). The work of developing Interna-
tional Standards is carried out through ISO technical committees. Every member body
interested in a subject for which a technical committee has been set up has the right to
be represented on that committee. International organizations, governmental and non-
governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to
the member bodies for approval before their acceptance as International Stan-
dards by the ISO Council.
International Standard ISO 3543 was developed by Technical Committee ISO/TC 107,
M’eta/ic and other non-organic coatings, and was circulated to the member bodies in
May 1978.
lt has been approved by the member bodies of the following countries :
Australia India Sweden
Czechoslovakia Switzerland
Israel
Egypt, Arab Rep. of Italy United Kingdom
France Japan USA
Germany, F. R. Mexico USSR
Hungary South Africa, Rep. of
No member body expressed disapproval of the document.
0 International Organkation for Standardkation, 1981
Printed in Switzerland
---------------------- Page: 2 ----------------------
ISO 3543-1981 IE)
INTERNATIONAL STANDARD
Metallic and non-metallic coatings - Measurement of
thickness - Beta backscatter method
2.4 electron-volt : A unit of energy equal to the Change in
1 Scope and field of application
energy of an electron in passing through a potential differente
of 1 V. (1 eV = 1,602 10 x 10-19 J)”
This International Standard specifies a method for the non-
destructive measurement of coating thicknesses using beta
backscatter gauges. lt applies to both metallic and non-metallic Since this unit is too small for the energies encountered with
beta particles, the mega-electronvolt (MeV) is commonly used.
coatings on both metallic and non-metallic Substrates. To
employ this method, the atomic numbers or equivalent atomic
numbers of the coating and the Substrate must differ by an
appropriate amount.
2.5 activity : The number of spontaneous nuclear
disintegrations occurring in a given quantity of material during
CAUTION - Beta backscatter instruments used for the
a suitably small interval of time divided by that interval of time.*
measurement of coating thicknesses employ a number of
different radioactive sources. Although the activities of
Therefore, in beta backscatter measurements, a higher activity
these sources are normally very low, they tan present a
corresponds to a greater emission of beta particles.
hazard to health, if incorrectly handled. Therefore, all
rules and regulations of local or national authorities must
The SI unit of activity is the becquerel (Bq). The activity of a
be observed.
radioactive element used in beta backscatter gauges is gener-
ally expressed in microcuries (PCi) (1 PCi = 3,7 x 104 Bq,
which represents 3,7 x 104 disintegrations per second).
2 Def initions
For the purpose of this International Standard, the following
2.6 half-life, radioactive : For a Single radioactive decay
definitions apply.
process, the time required for the activity to decrease to half its
value by that process.*
2.1 radioactive decay : A spontaneous nuclear transforma-
tion in which particles or gamma radiation are emitted or
X-radiation is emitted following orbital electron Capture or in 2.7 stattering : A process in which a Change in direction or
which the nucleus undergoes spontaneous fission.” energy of an incident particle or incident radiation is caused by
a collision with a particle or a System of particles.”
2.2 beta particle : An electron, of either positive or negative
Charge, which has been emitted by an atomic nucleus or
2.8 backscatter : Stattering as a result of which a particle
neutron in a nuclear transformation. *
leaves a body of matter from the same surface at which it
entered.
2.3 beta-emitting isotope; beta-emitting Source; beta
emitter : A material the nuclei of which emit beta particles.
NOTE - Radiations other than beta rays are emitted or backscattered
by a coating and Substrate and some of these may be included in the
lt is possible to classify beta emitters by the maximum energy
backscatter measurement. Whenever the term “backscatter” is used in
level of the particles which they release during their disintegra-
this International Standard, it is to be assumed that reference is made
to the total radiation measured.
tion.
* Definition taken from ISO 921, Nuclear energy glossary.
---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO 3543-1981 (El
2.14 sealed Source : P radioactive Source sealed in a con-
2.9 backscatter coefficient, R (sf a body) : The ratio of
the number of particles backscattered to that entering the tainer or having a bonded cover, the Container or cover being
strong enough to prevent
body. contact with and dispersion of the
radioactive material under the conditions of use and wear for
This number R is independent of the activity of the isotope and which it was designed.”
of the measuring time.
(Also called sealed isotope.)
2.10 backscatter count :
2.15 aperture : The opening of the mask abutting the test
2.10.1 absolute backscatter count, X : The number of par-
specimen, which determines the size of the area on which the
ticles backscattered during a fixed interval of time, and received
coating thickness is to be measured. (This mask is also often
by a detector.
referred to as a platen, an aperture platen, or a specimen sup-
Port.)
X will, therefore, depend on the activity of the isotope, the
measuring time, the geometric configuration of the measuring
System, and the properties of the detector. The count pro-
: The spatial arrangemen
2.16 Source geometry t of the
duced by the uncoated Substrate is generally designated by XO,
Source, , the aperture, and the detector, with respect to each
and that of the coating material by X,. To obtain these values,
other.
it is necessary that both these materials are available with a
thickness greater than the Saturation thickness (see 2.13).
2.17 dead time : The time period during which a Geiger-
2.10.2 normalized backscatter count, x, : A quantity
Müller tube is unresponsive to the receipt of further beta par-
which is independent of the activity of the isotope, the measur-
ticles.
ing time, and the properties of the detector, and defined by the
equation :
2.18 resolving time : The recovery time of the Geiger-
x - x.
Müller tubes and associated electronie equipment during which
x, = -
the counting circuit is unresponsive to further pulses.
xs - xo
where
X0 is the absolute backscatter count of the Saturation 3 Principle
thickness of the Substrate material;
When beta particles impinge upon a material, a certain Portion
Xs is the absolute backscatter count of the Saturation of them is backscattered. This backscatter is essentially a func-
tion of the atomic number of the material.
thickness of the coating material;
If the body has a surface coating, and if the atomic numbers of
X is the absolute backscatter count of the coated specimen;
the Substrate and of the coating material are sufficiently dif-
ferent, the intensity sf the backscatter will be between two
each of these counts being taken over the same interval of
limits: the backscatter intensity of the Substrate, and that of the
time.
coating. Thus, with proper instrumentation and, if suitably
displayed, the intensity of the backscatter tan be used for the
For simplicity, it is often advantageous to express the normal-
measurement of mass per unit area of the coating which, pro-
ized backscatter count as a percentage by multiplying x, by
vided that it is of uniform density, is directly proportional to the
100.
thickness, that is, to the mean thickness within the measuring
area.
2.11 normalized backscatter curve : The curve obtained
by plotting the coating thickness as a function of x,.
The curve expressing coating thickness versus beta backscatter
intensity is continuous and tan be subdivided into three distinct
2.12 equivalent [apparentl atomic number : For a
regions, as shown in figure 1, on which the normalized count,
material, which tan be an alloy or a compound, the atomic
x,, is plotted on the X-axis, and the logarithm of the coating
number of an element which has the same backscatter coeffic-
thickness on the Y-axis. In the range 0
ient R as the material.
essentially linear. In the range 0,35
nearly logarithmic; this means that, when drawn on semi-
logarithmic graph Paper, as in figure 1, the curve approximates
: The minimum thickness of a
2.13 Saturation thickness
a straight line. In the range 0,85
material which produces a backscatter which is not changed
hyperbolic.
when the thickness is increased. (See also annex C.)
* Definition taken
from ISO 921, Nuclear energ y glossary.
2
---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO 35434981 (El
lnstrumentation
4 5.2 Coating and Substrate materials
In general, a beta backscatter gauge will comprise : As the backscatter intensity of a measurement depends on the
atomic numbers of the Substrate and the coating, the accuracy
a) a radiation Source (isotope) emitting mainly beta par- of the measurement will depend to a large degree on the dif-
ticles having an energy appropriate to the coating thickness ference between these atomic numbers; thus, with the same
to be measured; measuring Parameters, the greater this differente, the more
accurate the measurement will be.
a probe or measuring System with a range of apertures
b)
that limit the beta particles to the area of the test specimen As a rule of thumb, for most applications, it tan be stated that
the differente in atomic numbers should be at least 5. For
on which the coating thickness is to be measured, and con-
materials with atomic numbers below 20, this differente may be
taining a detector capable of counting the number of
reduced to 25 % of the higher atomic number; for materials
backscattered pat-ticles, for example a Geiger-Müller
with atomic numbers higher than 50, this differente should be
counter (or tube);
at least 10 % of the higher atomic number. Most unfilled
plastics and related organic materials (for example
c) a readout instrument where the intensity of the
photoresists) may be assumed to have an equivalent atomic
backscatter is displayed. The display, which tan be in the
number close to 6.
form of a meter reading or a digital readout, is either propor-
tional to the absolute count, or to the absolute normalized
count, or to the coating thickness expressed either in (Annex B gives atomic numbers of commonly used coating and
thickness units or in mass per unit area. Substrate materials.)
5.3 Aperture
Despite the collimated nature of the sources used in commer-
5 Factors relating to accuracy
cial backscatter gauges, the backscatter recorded by the detect-
or is, nearly always, the sum of the backscatter produced by
5.1 Counting statistics
the test specimen exposed through the aperture and that of the
specimen support. lt is, therefore, advantageous to use for the
Radioactive decay takes place in a random manner. This means
platen construction a material with a low atomic number, and
that, during a fixed time interval, the number of beta particles
to select the largest aperture possible. However, measuring
backscattered will not always be the Same. This gives rise to
errors will still occur if the edges of the aperture opening are
statistical errors inherent in radiation counting. In conse-
worn or damaged, or if the test specimen does not properly
quence, an estimate of the counting rate based on a short
contact these edges.
counting interval (for example, 5 s) may be appreciably dif-
ferent from an estimate based on a longer counting period, par-
Because the measuring area on the test specimen has to be
ticularly if the counting rate is low. To reduce the statistical
constant to prevent the introduction of another variable,
error to an acceptable level, it is necessary to use a counting
namely the dimensions of the test specimen, the aperture shall
interval long enough to accumulate a sufficient number of
be smaller than the area of the surface on which the measure-
counts.
ment is made.
For counts normally made, the Standard deviation (0) will
closely approximate the Square root of the absolute count, that
is o = J X; in 95 % of all cases, the true count will be within X
5.4 Coating thickness
rt 2 CL To judge the significance of the precision, it is often
helpful to express the Standard deviation as a percentage of the
5.4.1 In the logarithmic range, the rer’ative measuring error is
count, that is 100 ,/XlX, or lOO/JX. Thus, a count of
nearly constant, and has its smallest value.
100 000 will give a value ten times more precise than that ob-
tained with a count of 1 000. Whenever possible, a counting in-
terval sha II be
Chosen that will provide a total count of at least
5.4.2 In the linear range, the absolute measuring error, ex-
10ooo,w hich would correspond to a Standard deviation of 1 %
pressed in mass per unit area or thickness, is nearly constant,
arising from the random nature of radioactive decay.
which means that as the coating thickness decreases, the
relative measuring error increases. At, or near, xn = 0,35, the
Direct reading instruments are also subject to these statistical
relative errors of the linear and logarithmic ranges are about the
random errors. However, if these instruments do not permit the
Same. This means that the relative error at this Point may, for all
display of the actual count rate, one way to determine the
practical purposes, be used to calculate the absolute error over
measuring precision is to make a large number of repetitive
the entire linear range.
measurements at the same location on the same coated
specimen, and to calculate the Standard deviation by conven-
tional means.
5.4.3 In the hyperbolic range, the measuring error is always
large, because a small Variation in the intensity of the beta
IMPORTANT NOTE - The precision of a thickness measurement by
beta backscatter is always less than the precision described above, backscatter will produce a large Variation in the measured value
inasmuch as it also depends on other factors which are listed below.
of coating thickness.
3
---------------------- Page: 5 ----------------------
.5 Resolwing time od the detector mine this range Bor each Substrate thickness, without having
actual Standards. lf they are no% available from the manufac-
5ecause of the dead time of the Geiger-Müller tube (sec 2.171,
turer, this range has to be determined experimentally.
the count indicated by the readout instrument is always less
than the actual number of backscattered beta particles that
5.8.2 Test specimens with intermediate layers between
would otherwise be counted. This does not diminish the
the coating and the basis material
measuring accuracy, unless the count rate is excessively high.
lf the intermediate layer adjacent to the coating is thicker than
the Saturation thickness, the test method will not be affected
5.6 Source geometry
by any variations in the Substrate thickness, as long as the in-
strument is calibrated with Standards having the intermediate
The greatest measuring accuracy is obtained with the Source
coating as the basis material.
placed in a
...
Norme internationale
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION.ME~YHAPOflHAR OPTAHM3ALlMR fl0 CTAH~APTM3AL(MM.ORGANISATION INTERNATIONALE DE l!lORMALISATION
Revêtements métalliques et non métalliques - Mesurage
de l’épaisseur - Méthode par rétrodiffusion des rayons
bêta
Metallic and non-metallic coatings - Measuremen t of thickness - Beta backscatter method
Première édition - 1981-07-15
Réf. no : ISO 3543-1981 (F)
CDU 669.058 : 531.717 : 537.533.74
Descripteurs : revêtement, revêtement métallique, revêtement non métallique, mesurage de dimension, épaisseur, essai non destructif, méthode
par rétrodiffusion des rayons bêta.
Prix basé sur 9 pages
---------------------- Page: 1 ----------------------
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale
d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration
des Normes internationales est confiée aux comités techniques de I’ISO. Chaque
comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité technique
correspondant. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouverne-
mentales, en liaison avec I’ISO, participent également aux travaux.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis
aux comités membres pour approbation, avant leur acceptation comme Normes inter-
nationales par le Conseil de I’ISO.
La Norme internationale ISO 3543 a été élaborée par le comité technique ISO/TC 107,
Revêtements métalliques et autres revêtements non organiques, et a été soumise aux
-
comités membres en mai 1978.
Les comités membres des pays suivants l’ont approuvée :
Afrique du Sud, Rép. d’ Inde Suède
Allemagne, R.F. Israël Suisse
Australie Italie Tchécoslovaquie
Égypte, Rép. arabe d’ Japon URSS
France Mexique USA
Hongrie Royaume-Uni
Aucun comité membre ne l’a désapprouvée.
@ Organisation internationale de normalisation, 1981 0
Imprimé en Suisse
---------------------- Page: 2 ----------------------
NORME INTERNATIONALE ISO 35434981 (FI
Revêtements métalliques et non métalliques - Mesurage
de l’épaisseur - Méthode par rétrodiffusion des rayons
bêta
1 Objet et domaine d’application 2.4 électronvolt : Unité d’énergie égale à la variation d’éner-
gie d’un électron qui subit une variation de potentiel de 1 V.
La présente Norme internationale spécifie une méthode de (1 eV =
1,602 10 x lO-‘9J.)”
mesurage non destructif de l’épaisseur des revêtements, basée
sur le principe de la rétrodiffusion des rayons bêta. Elle est Cette unité étant trop petite pour les énergies développées par
les particules bêta, on utilise communément le mégaélectron-
applicable aux revêtements métalliques ou non métalliques,
volt (MeV).
que les substrats soient ou non métalliques. Pour que la pré-
sente méthode soit applicable, il faut que les numéros atomi-
ques ou les numéros atomiques équivalents du revêtement et
2.5 activité : Nombre de désintégrations nucléaires sponta-
du substrat diffèrent d’une quantité convenable.
nées qui se produisent dans une quantité donnée de matière
durant un intervalle de temps convenablement petit, divisé par
ATTENTION - Les instruments à rétrodiffusion des
cet intervalle de temps.*
rayons bêta, utilisés pour le mesurage de l’épaisseur des
revêtements, utilisent un certain nombre de sources
Par conséquent, dans le mesurage de la rétrodiffusion des
radioactives différentes. Bien que les activités de ces
rayons bêta, une plus grande activité correspond à une plus
sources soient généralement très faibles, elles peuvent
grande émission de particules bêta.
présenter un danger pour la santé si elles ne sont pas
manipulées correctement. En conséquence, tous les
L’unité SI d’activité est le becquerel (Bq). L’activité d’un élé-
règlements et directives de sécurité prescrits par les
ment radioactif utilisé dans les jauges à rétrodiffusion des
autorités locales ou nationales doivent être respectés.
rayons bêta est généralement exprimée en microcuries (pCi)
(1 pCi = 3’7 x 104 Bq, ce qui représente 3’7 x 104 désintégra-
tions par seconde).
2 Définitions
Dans le cadre de la présente Norme internationale, les défini-
2.6 demi-vie radioactive; période radioactive : Dans le
tions suivantes sont applicables.
cas d’un processus unique de désintégration radioactive, temps
nécessaire pour que l’activité diminue jusqu’à la moitié de sa
2.1 désintégration radioactive : Transformation nucléaire
valeur selon ce processus.*
spontanée dans laquelle sont émis des particules ou un rayon-
nement gamma, ou dans laquelle est émis un rayonnement X
consécutif à une capture électronique, ou dans laquelle le
2.7 diffusion : Processus dans lequel un changement de
noyau subit une fission spontanée.*
direction ou d’énergie d’une particule incidente ou d’un rayon-
nement incident est causé par une collision avec une particule
ou un systéme de particules.*
2.2 particule bêta : Électron, de charge positive ou néga-
tive, qui a été émis par un noyau atomique ou un neutron au
cours d’une transformation nucléaire.*
2.8 rétrodiffusion : Diffusion ayant comme résultat le
départ d’une particule d’un corps de matière par la même sur-
2.3 isotope émetteur de rayons bêta; source bmettrice
face que celle par laquelle elle est entrée.
de rayons bêta; émetteur de rayons bêta : Matière dont les
noyaux He émettent des particules bêta.
NOTE - Le mesurage de la rétrodiffusion peut tenir compte de cer-
tains rayonnements autres que les rayons bêta émis ou rétrodiffusés
II est possible de classer les émetteurs de rayons bêta d’après
par un revêtement et un substrat. Lorsqu’on utilise le mot wétrodiffu-
l’énergie des particules qu’ils libérent pendant leur désintégra-
sion)) dans la présente Norme internationale, il est sous-entendu qu’on
tion.
fait référence au rayonnement total mesuré.
* Définition extraite de I’ISO 921, Vocabulaire de l’énergie nucléaire.
1
---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO 35434981 (FI
2.9 coefficient de rétrodiffusion, R (d’une substance) : 2.14 source scellée : Source radioactive enfermée dans un
Rapport du nombre de particules rétrodiffusées par cette subs- boîtier scellé, ou revêtue d’une enveloppe à laquelle elle est inti-
tance au nombre de particules y pénétrant. mement liée, ce boîtier ou cette enveloppe devant présenter
une résistance suffisante pour empêcher le contact avec la
Ce nombre R est indépendant de l’activité de l’isotope et de la matière radioactive et la dispersion de celle-ci dans les condi-
durée du mesurage. tions d’emploi pour lesquelles elle a été concue.”
(Également appelée isotope scellé.)
2.10 comptage de la rétrodiffusion :
2.15 ouverture : Orifice du masque en contact avec I’éprou-
2.10.1 comptage absolu de la rétrodiffusion, X : Nombre
vette, qui détermine la forme et les dimensions de la surface sur
de particules bêta rétrodiffusées durant un intervalle de temps
laquelle est mesurée l’épaisseur du revêtement. (Ce masque est
et recues par un détecteur.
aussi appelé platine ou platine d’ouverture ou support d’éprou-
vette.)
Xdépendra donc de l’activité de l’isotope, de la durée du mesu-
rage, de la configuration géométrique du système de mesure et
2.16 géométrie de la source : Disposition dans l’espace de
des caractéristiques du détecteur. Le comptage obtenu avec le
la source, de l’ouverture et du détecteur, les uns par rapport
matériau de base non revêtu est généralement désigné par X0
aux autres.
et celui qui est obtenu avec le matériau de revêtement par Xs.
Pour obtenir ces valeurs, il est nécessaire de pouvoir disposer
de ces matériaux en épaisseurs supérieures à l’épaisseur de
2.17 temps mort : Période de temps durant laquelle un tube
saturation (voir 2.13).
de Geiger-Müller reste insensible à la réception de particules
bêta ultérieures.
2.10.2 comptage normalisé de la rétrodiffusion, x, :
Grandeur indépendante de l’activité de l’isotope, de la durée du
2.18 temps de résolution : Temps de restitution des tubes
mesurage et des caractéristiques du détecteur, et définie par
de Geiger-Müller et autres appareils électroniques associés
l’équation
durant lequel le circuit de comptage reste insensible à des
impulsions ultérieures.
x - x0
X” =
x, - x0
où
3 Principe
X0 est le comptage absolu de la rétrodiffusion de l’épaisseur
Lorsque des particules bêta viennent frapper un corps, une cer-
de saturation du matériau de base;
taine proportion d’entre elles sont rétrodiffusées. L’intensité de
rétrodiff usion des particules est essentiellement une fonction
Xs est le comptage absolu de la rétrodiffusion de l’épaisseur
du numéro atomique du corps.
de saturation du matériau de revêtement;
Si le corps est recouvert d’un revêtement superficiel dont le
X est le comptage absolu de la rétrodiffusion de I’échantil-
numéro atomique est assez différent de celui du substrat,
Ion revêtu;
l’intensité de la rétrodiffusion se situera entre deux limites :
intensité de rétrodiffusion du substrat et intensité de rétrodiffu-
chacun de ces comptage étant pris sur le même intervalle de
sion du revêtement. Ainsi, un appareillage de mesure convena-
temps.
ble, notamment quant au dispositif de lecture, permet d’utiliser
l’intensité de la rétrodiffusion pour mesurer la masse par unité
Pour simplifier, il est souvent avantageux d’exprimer le comp-
d’aire du revêtement qui, à condition que la masse volumique
tage normalisé de la rétrodiffusion en pourcentage, en multi-
soit uniforme, est directement proportionnelle à l’épaisseur,
pliant x, par 100.
c’est-à-dire l’épaisseur moyenne dans l’aire de mesurage.
2.11 courbe normalisée de rétrodiffusion : Courbe obte-
La courbe représentant l’épaisseur du revêtement en fonction
nue en portant l’épaisseur de revêtement en fonction de x,.
de l’intensité de rétrodiffusion est une courbe continue qui peut
se subdiviser en trois régions distinctes comme le montre la
2.12 numho atomique équivalent [apparent] : Pour un
figure 1 sur laquelle le comptage normalisé, x,, est porté sur
matériau, c’est-à-dire un alliage ou un composé, numéro atomi-
l’axe des X, et le logarithme de l’épaisseur du revêtement sur
que d’un élément qui a le même coefficient de rétrodiffusion R
l’axe des Y. Dans l’intervalle 0
que le matériau.
tiellement linéaire. Dans l’intervalle 0,35
est presque logarithmique; cela implique que, dessinée sur un
2.13 épaisseur de saturation : Épaisseur minimale d’un papier semi-logarithmique, comme sur la figure 1, la courbe se
matériau qui produit une rétrodiffusion qui n’est pas modifiée rapproche d’une ligne droite. Dans l’intervalle 0,85 ~4, < 1, la
lorsque l’épaisseur augmente. (Voir également annexe C.)
courbe est presque hyperbolique.
* Définition extraite de 1’60 921, Vocabulaire de l’énergie nucléaire.
2
---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO 35434981 (FI
étant donné qu’elle dépend d’autres facteurs qui sont répertoriés ci-
4 Appareillage de mesure
après.
Une jauge à rétrodiffusion des rayons bêta comprend en géné-
ral
5.2 Matières constituant le revêtement et le subs-
trat
a) une source émettrice (isotope), émettant principale-
ment des particules bêta ayant une énergie appropriée pour
L’intensité de la rétrodiffusion dépendant des numéros atomi-
l’épaisseur de revêtement à mesurer;
ques du substrat et du revêtement, la précision du mesurage
dépend, dans une large mesure, de la différence entre ces
b) un palpeur ou un système de mesure, ayant une gamme
numéros; avec les mêmes paramètres de mesure donc, plus la
d’ouvertures permettant de limiter le rayonnement de parti-
différence est grande, plus le mesurage est précis.
cules bêta à la zone de l’éprouvette sur laquelle doit être
mesurée l’épaisseur du revêtement et contenant un détec-
Pour la plupart des utilisations, il peut être établi empiriquement
teur capable de compter le nombre des particules rétrodiffu-
que la différence des numéros atomiques doit être d’au
sées, par exemple un compteur (ou tube) de Geiger-Müller;
moins 5. Pour les matiéres dont le numéro atomique est infé-
rieur à 20, cette différence peut être réduite de 25 % du numéro
c) un appareil de mesure sur lequel s’affiche l’intensité de
le plus élevé; pour les matières de numéro atomique supérieur à
la rétrodiffusion. Cet affichage qui peut se faire soit en uni-
50, la différence doit être d’au moins 10 % du numéro le plus
tés métriques, soit sous forme numérique, est proportionnel
élevé. La plupart des plastiques non chargés et autres matières
au comptage absolu ou au comptage normalisé absolu, ou à
organiques connexes (par exemple photorésistantes) sont cen-
l’épaisseur de revêtement exprimée soit de facon linéaire,
,
sés avoir un numéro atomique apparent proche de 6.
soit en masse par unité d’aire.
(L’annexe B donne les numéros atomiques des matériaux de
substrats et de revêtements couramment utilisés.)
5 Facteurs se rapportant à la précision de
mesurage
5.3 Ouverture
5.1 Statistique du comptage
En dépit du caractère de collimateur des sources utilisées dans
La désintégration radioactive est de nature aléatoire. Cela impli-
les jauges à rétrodiffusion du commerce, la rétrodiffusion enre-
que que, durant un intervalle de temps donné, le nombre de
gistrée par le détecteur est, en général, la somme de la rétrodif-
particules bêta rétrodiffusées est variable. Cela donne nais-
fusion causée par l’éprouvette exposée dans l’ouverture et de
sance à des erreurs statistiques inhérentes au comptage des
celle du support d’éprouvette. II est donc avantageux d’utiliser
radiations. En conséquence, une estimation du taux de comp-
pour l’ouverture un matériau de numéro atomique faible et de
tage, basée sur une courte durée de mesurage (par exemple
choisir l’ouverture la plus grande possible. Des erreurs se pro-
5 s), peut différer de facon appréciable d’une estimation basée
duiront également si les bords de l’ouverture sont usés ou
sur une longue période de comptage, en particulier si le taux de
endommagés, ou si l’éprouvette n’entre pas bien en contact
comptage est peu élevé. Pour réduire l’erreur statistique à un
avec les bords de celle-ci.
niveau acceptable, il est nécessaire d’appliquer une durée de
comptage suffisamment longue pour accumuler un nombre
L’aire de mesurage de l’éprouvette devant être constante pour
élevé de comptages.
éviter l’apparition d’une autre variable, à savoir les dimensions
de l’éprouvette, l’ouverture doit être plus petite que l’aire de
Pour les comptages normalement évalués, l’écart-type (a) est
mesurage.
trés voisin de la racine carrée du comptage absolu, c’est-à-dire
--
0 = 1/ X; dans 95 % des cas, le comptage exact sera à I’inté-
5.4 Épaisseur du revêtement
rieur de l’intervalle X Or: 2 a. Pour estimer la précision, il est
souvent utile d’exprimer l’écart-type comme un pourcentage du
comptage, c’est-à-dire 100 d X/X ou lOO/ Jx Ainsi, un
5.4.1 L’erreur de mesure relative dans la partie logarithmique
comptage de 100 000 conduira à un résultat dix fois plus précis de la courbe est presque constante et atteint sa valeur la plus
que celui obtenu avec un comptage de 1 000. Si possible, la faible.
durée du comptage devra être choisie de facon à conduire à un
comptage d’environ 10 000, ce qui correspondra à un écart-
5.4.2 Dans la partie linéaire, l’erreur de mesure absolue, expri-
type de 1 % en raison de la nature aléatoire de la désintégration
mée en masse par unité d’aire ou d’épaisseur, est presque cons-
radioactive.
tante, ce qui signifie que plus l’épaisseur du revêtement dimi-
nue, plus l’erreur de mesure relative augmente. Pour ou au voi-
Les instruments à lecture directe sont également soumis à ces
sinage de x, = 0,35, les erreurs relatives de la partie linéaire et
erreurs statistiques dues au caractère aléatoire. Toutefois, si
de la partie logarithmique sont à peu près identiques. Cela
ces instruments ne fournissent pas l’enregistrement du taux de
implique que l’on peut utiliser, pour calculer l’erreur absolue
comptage réel, une manière d’estimer la précision de la mesure
pour toute la partie linéaire, l’erreur relative en ce point.
est d’effectuer un grand nombre de mesurages répétitifs au
même endroit du même échantillon revêtu et de calculer l’écart-
5.4.3 Dans la partie hyperbolique, l’erreur de mesure est tou-
type selon les méthodes conventionnelles.
jours très grande puisqu’une faible variation de l’intensité de la
rétrodiffusion des rayons bêta entraîne une grande variation de
NOTE IMPORTANTE - La précision d’un mesurage par rétrodiffusion
la valeur mesurée de l’épaisseur du revêtement.
bêta est toujours inférieure à celle qui est indiquée précédemment,
3
---------------------- Page: 5 ----------------------
ISO 35434981 IF)
5.5 Temps de résolution du détecteur et également variable, la présente méthode d’essai ne donne
pas une seule valeur d’épaisseur de revêtement, mais une
Par suite du temps mort du tube de Geiger-Müller (voir 2.171, le gamme de valeurs, avec un minimum et un maximum. Si I’ins-
comptage indiqué par l’instrument de mesure est toujours infé-
trument à lecture directe est capable de fournir le taux de
rieur au nombre réel de particules bêta rétrodiffusées qui
comptage absolu ou normalisé de la rétrodiffusion, des graphi-
auraient autrement été mesurées. Cela ne diminue pas la préci-
ques simplifiés peuvent être utilisés pour déterminer cette
sion de mesure, à moins que le taux de comptage ne soit extrê
...
Norme internationale
INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION.ME~YHAPOflHAR OPTAHM3ALlMR fl0 CTAH~APTM3AL(MM.ORGANISATION INTERNATIONALE DE l!lORMALISATION
Revêtements métalliques et non métalliques - Mesurage
de l’épaisseur - Méthode par rétrodiffusion des rayons
bêta
Metallic and non-metallic coatings - Measuremen t of thickness - Beta backscatter method
Première édition - 1981-07-15
Réf. no : ISO 3543-1981 (F)
CDU 669.058 : 531.717 : 537.533.74
Descripteurs : revêtement, revêtement métallique, revêtement non métallique, mesurage de dimension, épaisseur, essai non destructif, méthode
par rétrodiffusion des rayons bêta.
Prix basé sur 9 pages
---------------------- Page: 1 ----------------------
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale
d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de I’ISO). L’élaboration
des Normes internationales est confiée aux comités techniques de I’ISO. Chaque
comité membre intéressé par une étude a le droit de faire partie du comité technique
correspondant. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouverne-
mentales, en liaison avec I’ISO, participent également aux travaux.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont soumis
aux comités membres pour approbation, avant leur acceptation comme Normes inter-
nationales par le Conseil de I’ISO.
La Norme internationale ISO 3543 a été élaborée par le comité technique ISO/TC 107,
Revêtements métalliques et autres revêtements non organiques, et a été soumise aux
-
comités membres en mai 1978.
Les comités membres des pays suivants l’ont approuvée :
Afrique du Sud, Rép. d’ Inde Suède
Allemagne, R.F. Israël Suisse
Australie Italie Tchécoslovaquie
Égypte, Rép. arabe d’ Japon URSS
France Mexique USA
Hongrie Royaume-Uni
Aucun comité membre ne l’a désapprouvée.
@ Organisation internationale de normalisation, 1981 0
Imprimé en Suisse
---------------------- Page: 2 ----------------------
NORME INTERNATIONALE ISO 35434981 (FI
Revêtements métalliques et non métalliques - Mesurage
de l’épaisseur - Méthode par rétrodiffusion des rayons
bêta
1 Objet et domaine d’application 2.4 électronvolt : Unité d’énergie égale à la variation d’éner-
gie d’un électron qui subit une variation de potentiel de 1 V.
La présente Norme internationale spécifie une méthode de (1 eV =
1,602 10 x lO-‘9J.)”
mesurage non destructif de l’épaisseur des revêtements, basée
sur le principe de la rétrodiffusion des rayons bêta. Elle est Cette unité étant trop petite pour les énergies développées par
les particules bêta, on utilise communément le mégaélectron-
applicable aux revêtements métalliques ou non métalliques,
volt (MeV).
que les substrats soient ou non métalliques. Pour que la pré-
sente méthode soit applicable, il faut que les numéros atomi-
ques ou les numéros atomiques équivalents du revêtement et
2.5 activité : Nombre de désintégrations nucléaires sponta-
du substrat diffèrent d’une quantité convenable.
nées qui se produisent dans une quantité donnée de matière
durant un intervalle de temps convenablement petit, divisé par
ATTENTION - Les instruments à rétrodiffusion des
cet intervalle de temps.*
rayons bêta, utilisés pour le mesurage de l’épaisseur des
revêtements, utilisent un certain nombre de sources
Par conséquent, dans le mesurage de la rétrodiffusion des
radioactives différentes. Bien que les activités de ces
rayons bêta, une plus grande activité correspond à une plus
sources soient généralement très faibles, elles peuvent
grande émission de particules bêta.
présenter un danger pour la santé si elles ne sont pas
manipulées correctement. En conséquence, tous les
L’unité SI d’activité est le becquerel (Bq). L’activité d’un élé-
règlements et directives de sécurité prescrits par les
ment radioactif utilisé dans les jauges à rétrodiffusion des
autorités locales ou nationales doivent être respectés.
rayons bêta est généralement exprimée en microcuries (FCi)
(1 pCi = 3,7 x 104 Bq, ce qui représente 3,7 x 104 désintégra-
tions par seconde).
2 Définitions
Dans le cadre de la présente Norme internationale, les défini-
2.6 demi-vie radioactive; période radioactive : Dans le
tions suivantes sont applicables.
cas d’un processus unique de désintégration radioactive, temps
nécessaire pour que l’activité diminue jusqu’à la moitié de sa
2.1 désintégration radioactive : Transformation nucléaire
valeur selon ce processus.*
spontanée dans laquelle sont émis des particules ou un rayon-
nement gamma, ou dans laquelle est émis un rayonnement X
consécutif à une capture électronique, ou dans laquelle le
2.7 diffusion : Processus dans lequel un changement de
noyau subit une fission spontanée.*
direction ou d’énergie d’une particule incidente ou d’un rayon-
nement incident est causé par une collision avec une particule
ou un systéme de particules.*
2.2 particule bêta : Électron, de charge positive ou néga-
tive, qui a été émis par un noyau atomique ou un neutron au
cours d’une transformation nucléaire.*
2.8 rétrodiffusion : Diffusion ayant comme résultat le
départ d’une particule d’un corps de matière par la même sur-
2.3 isotope émetteur de rayons bêta; source bmettrice
face que celle par laquelle elle est entrée.
de rayons bêta; émetteur de rayons bêta : Matière dont les
noyaux He émettent des particules bêta.
NOTE - Le mesurage de la rétrodiffusion peut tenir compte de cer-
tains rayonnements autres que les rayons bêta émis ou rétrodiffusés
II est possible de classer les émetteurs de rayons bêta d’après
par un revêtement et un substrat. Lorsqu’on utilise le mot wétrodiffu-
l’énergie des particules qu’ils libérent pendant leur désintégra-
sion)) dans la présente Norme internationale, il est sous-entendu qu’on
tion.
fait référence au rayonnement total mesuré.
* Définition extraite de I’ISO 921, Vocabulaire de l’énergie nucléaire.
1
---------------------- Page: 3 ----------------------
ISO 35434981 (FI
2.9 coefficient de rétrodiffusion, R (d’une substance) : 2.14 source scellée : Source radioactive enfermée dans un
Rapport du nombre de particules rétrodiffusées par cette subs- boîtier scellé, ou revêtue d’une enveloppe à laquelle elle est inti-
tance au nombre de particules y pénétrant. mement liée, ce boîtier ou cette enveloppe devant présenter
une résistance suffisante pour empêcher le contact avec la
Ce nombre R est indépendant de l’activité de l’isotope et de la matière radioactive et la dispersion de celle-ci dans les condi-
durée du mesurage. tions d’emploi pour lesquelles elle a été concue.”
(Également appelée isotope scellé.)
2.10 comptage de la rétrodiffusion :
2.15 ouverture : Orifice du masque en contact avec I’éprou-
2.10.1 comptage absolu de la rétrodiffusion, X : Nombre
vette, qui détermine la forme et les dimensions de la surface sur
de particules bêta rétrodiffusées durant un intervalle de temps
laquelle est mesurée l’épaisseur du revêtement. (Ce masque est
et recues par un détecteur.
aussi appelé platine ou platine d’ouverture ou support d’éprou-
vette.)
Xdépendra donc de l’activité de l’isotope, de la durée du mesu-
rage, de la configuration géométrique du système de mesure et
2.16 géométrie de la source : Disposition dans l’espace de
des caractéristiques du détecteur. Le comptage obtenu avec le
la source, de l’ouverture et du détecteur, les uns par rapport
matériau de base non revêtu est généralement désigné par X0
aux autres.
et celui qui est obtenu avec le matériau de revêtement par Xs.
Pour obtenir ces valeurs, il est nécessaire de pouvoir disposer
de ces matériaux en épaisseurs supérieures à l’épaisseur de
2.17 temps mort : Période de temps durant laquelle un tube
saturation (voir 2.13).
de Geiger-Müller reste insensible à la réception de particules
bêta ultérieures.
2.10.2 comptage normalisé de la rétrodiffusion, x, :
Grandeur indépendante de l’activité de l’isotope, de la durée du
2.18 temps de résolution : Temps de restitution des tubes
mesurage et des caractéristiques du détecteur, et définie par
de Geiger-Müller et autres appareils électroniques associés
l’équation
durant lequel le circuit de comptage reste insensible à des
impulsions ultérieures.
x - x0
X” =
x, - x0
où
3 Principe
X0 est le comptage absolu de la rétrodiffusion de l’épaisseur
Lorsque des particules bêta viennent frapper un corps, une cer-
de saturation du matériau de base;
taine proportion d’entre elles sont rétrodiffusées. L’intensité de
rétrodiff usion des particules est essentiellement une fonction
Xs est le comptage absolu de la rétrodiffusion de l’épaisseur
du numéro atomique du corps.
de saturation du matériau de revêtement;
Si le corps est recouvert d’un revêtement superficiel dont le
X est le comptage absolu de la rétrodiffusion de I’échantil-
numéro atomique est assez différent de celui du substrat,
Ion revêtu;
l’intensité de la rétrodiffusion se situera entre deux limites :
intensité de rétrodiffusion du substrat et intensité de rétrodiffu-
chacun de ces comptage étant pris sur le même intervalle de
sion du revêtement. Ainsi, un appareillage de mesure convena-
temps.
ble, notamment quant au dispositif de lecture, permet d’utiliser
l’intensité de la rétrodiffusion pour mesurer la masse par unité
Pour simplifier, il est souvent avantageux d’exprimer le comp-
d’aire du revêtement qui, à condition que la masse volumique
tage normalisé de la rétrodiffusion en pourcentage, en multi-
soit uniforme, est directement proportionnelle à l’épaisseur,
pliant x, par 100.
c’est-à-dire l’épaisseur moyenne dans l’aire de mesurage.
2.11 courbe normalisée de rétrodiffusion : Courbe obte-
La courbe représentant l’épaisseur du revêtement en fonction
nue en portant l’épaisseur de revêtement en fonction de x,.
de l’intensité de rétrodiffusion est une courbe continue qui peut
se subdiviser en trois régions distinctes comme le montre la
2.12 numho atomique équivalent [apparent] : Pour un
figure 1 sur laquelle le comptage normalisé, x,, est porté sur
matériau, c’est-à-dire un alliage ou un composé, numéro atomi-
l’axe des X, et le logarithme de l’épaisseur du revêtement sur
que d’un élément qui a le même coefficient de rétrodiffusion R
l’axe des Y. Dans l’intervalle 0
que le matériau.
tiellement linéaire. Dans l’intervalle 0,35
est presque logarithmique; cela implique que, dessinée sur un
2.13 épaisseur de saturation : Épaisseur minimale d’un papier semi-logarithmique, comme sur la figure 1, la courbe se
matériau qui produit une rétrodiffusion qui n’est pas modifiée rapproche d’une ligne droite. Dans l’intervalle 0,85 ~4, < 1, la
lorsque l’épaisseur augmente. (Voir également annexe C.)
courbe est presque hyperbolique.
* Définition extraite de I’ISO 921, Vocabulaire de l’énergie nucléaire.
2
---------------------- Page: 4 ----------------------
ISO 3543-1981 (FI
étant donné qu’elle dépend d’autres facteurs qui sont répertoriés ci-
4 Appareillage de mesure
après.
Une jauge à rétrodiffusion des rayons bêta comprend en géné-
ral
5.2 Matières constituant le revêtement et le subs-
trat
a) une source émettrice (isotope), émettant principale-
ment des particules bêta ayant une énergie appropriée pour
L’intensité de la rétrodiffusion dépendant des numéros atomi-
l’épaisseur de revêtement à mesurer;
ques du substrat et du revêtement, la précision du mesurage
dépend, dans une large mesure, de la différence entre ces
b) un palpeur ou un système de mesure, ayant une gamme
numéros; avec les mêmes paramètres de mesure donc, plus la
d’ouvertures permettant de limiter le rayonnement de parti-
différence est grande, plus le mesurage est précis.
cules bêta à la zone de l’éprouvette sur laquelle doit être
mesurée l’épaisseur du revêtement et contenant un détec-
Pour la plupart des utilisations, il peut être établi empiriquement
teur capable de compter le nombre des particules rétrodiffu-
que la différence des numéros atomiques doit être d’au
sées, par exemple un compteur (ou tube) de Geiger-Müller;
moins 5. Pour les matiéres dont le numéro atomique est infé-
rieur à 20, cette différence peut être réduite de 25 % du numéro
c) un appareil de mesure sur lequel s’affiche l’intensité de
le plus élevé; pour les matières de numéro atomique supérieur à
la rétrodiffusion. Cet affichage qui peut se faire soit en uni-
50, la différence doit être d’au moins 10 % du numéro le plus
tés métriques, soit sous forme numérique, est proportionnel
élevé. La plupart des plastiques non chargés et autres matières
au comptage absolu ou au comptage normalisé absolu, ou à
organiques connexes (par exemple photorésistantes) sont cen-
l’épaisseur de revêtement exprimée soit de facon linéaire,
,
sés avoir un numéro atomique apparent proche de 6.
soit en masse par unité d’aire.
(L’annexe B donne les numéros atomiques des matériaux de
substrats et de revêtements couramment utilisés.)
5 Facteurs se rapportant à la précision de
mesurage
5.3 Ouverture
5.1 Statistique du comptage
En dépit du caractère de collimateur des sources utilisées dans
La désintégration radioactive est de nature aléatoire. Cela impli-
les jauges à rétrodiffusion du commerce, la rétrodiffusion enre-
que que, durant un intervalle de temps donné, le nombre de
gistrée par le détecteur est, en général, la somme de la rétrodif-
particules bêta rétrodiffusées est variable. Cela donne nais-
fusion causée par l’éprouvette exposée dans l’ouverture et de
sance à des erreurs statistiques inhérentes au comptage des
celle du support d’éprouvette. II est donc avantageux d’utiliser
radiations. En conséquence, une estimation du taux de comp-
pour l’ouverture un matériau de numéro atomique faible et de
tage, basée sur une courte durée de mesurage (par exemple
choisir l’ouverture la plus grande possible. Des erreurs se pro-
5 s), peut différer de facon appréciable d’une estimation basée
duiront également si les bords de l’ouverture sont usés ou
sur une longue période de comptage, en particulier si le taux de
endommagés, ou si l’éprouvette n’entre pas bien en contact
comptage est peu élevé. Pour réduire l’erreur statistique à un
avec les bords de celle-ci.
niveau acceptable, il est nécessaire d’appliquer une durée de
comptage suffisamment longue pour accumuler un nombre
L’aire de mesurage de l’éprouvette devant être constante pour
élevé de comptages.
éviter l’apparition d’une autre variable, à savoir les dimensions
de l’éprouvette, l’ouverture doit être plus petite que l’aire de
Pour les comptages normalement évalués, l’écart-type (a) est
mesurage.
trés voisin de la racine carrée du comptage absolu, c’est-à-dire
--
0 = 1/ X; dans 95 % des cas, le comptage exact sera à I’inté-
5.4 Épaisseur du revêtement
rieur de l’intervalle X Or: 2 a. Pour estimer la précision, il est
souvent utile d’exprimer l’écart-type comme un pourcentage du
comptage, c’est-à-dire 100 d X/X ou lOO/ Jx Ainsi, un
5.4.1 L’erreur de mesure relative dans la partie logarithmique
comptage de 100 000 conduira à un résultat dix fois plus précis de la courbe est presque constante et atteint sa valeur la plus
que celui obtenu avec un comptage de 1 000. Si possible, la faible.
durée du comptage devra être choisie de facon à conduire à un
comptage d’environ 10 000, ce qui correspondra à un écart-
5.4.2 Dans la partie linéaire, l’erreur de mesure absolue, expri-
type de 1 % en raison de la nature aléatoire de la désintégration
mée en masse par unité d’aire ou d’épaisseur, est presque cons-
radioactive.
tante, ce qui signifie que plus l’épaisseur du revêtement dimi-
nue, plus l’erreur de mesure relative augmente. Pour ou au voi-
Les instruments à lecture directe sont également soumis à ces
sinage de x, = 0,35, les erreurs relatives de la partie linéaire et
erreurs statistiques dues au caractère aléatoire. Toutefois, si
de la partie logarithmique sont à peu près identiques. Cela
ces instruments ne fournissent pas l’enregistrement du taux de
implique que l’on peut utiliser, pour calculer l’erreur absolue
comptage réel, une manière d’estimer la précision de la mesure
pour toute la partie linéaire, l’erreur relative en ce point.
est d’effectuer un grand nombre de mesurages répétitifs au
même endroit du même échantillon revêtu et de calculer l’écart-
5.4.3 Dans la partie hyperbolique, l’erreur de mesure est tou-
type selon les méthodes conventionnelles.
jours très grande puisqu’une faible variation de l’intensité de la
rétrodiffusion des rayons bêta entraîne une grande variation de
NOTE IMPORTANTE - La précision d’un mesurage par rétrodiffusion
la valeur mesurée de l’épaisseur du revêtement.
bêta est toujours inférieure à celle qui est indiquée précédemment,
3
---------------------- Page: 5 ----------------------
ISO 35434981 IF)
5.5 Temps de résolution du détecteur et également variable, la présente méthode d’essai ne donne
pas une seule valeur d’épaisseur de revêtement, mais une
Par suite du temps mort du tube de Geiger-Müller (voir 2.171, le gamme de valeurs, avec un minimum et un maximum. Si I’ins-
comptage indiqué par l’instrument de mesure est toujours infé-
trument à lecture directe est capable de fournir le taux de
rieur au nombre réel de particules bêta rétrodiffusées qui
comptage absolu ou normalisé de la rétrodiffusion, des graphi-
auraient autrement été mesurées. Cela ne diminue pas la préci-
ques simplifiés peuvent être utilisés pour déterminer cette
sion de mesure, à moins que le taux de comptage ne soit extr
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.