Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 5: Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS

IEC 62321-5:2013 describes the four test methods for lead, cadmium and chromium in polymers, metals and electronics, namely AAS (atomic absorption spectrometry), AFS (atomic fluorescence spectrometry), ICP-OES (inductively coupled plasma optical emission spectrometry), and ICP-MS (inductively coupled plasma mass spectrometry) as well as several procedures for preparing the sample solution from which the most appropriate method of analysis can be selected by experts.

Verfahren zur Bestimmung von bestimmten Substanzen in Produkten der Elektrotechnik - Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in Polymeren und Elektronik und Cadmium und Blei in Metallen mit AAS, AFS, ICP-OES und ICP-MS

Détermination de certaines substances dans les produits électrotechniques - Partie 5: Du cadmium, du plomb et du chrome dans les polymères et les produits électroniques, du cadmium et du plomb dans les métaux par AAS, AFS, ICP-OES et ICP-MS

La CEI 62321-5:2013 décrit les quatre méthodes d'essai pour le plomb, le cadmium et le chrome dans les polymères, les métaux et les produits électroniques, à savoir l'AAS (spectrométrie d'absorption atomique), l'AFS (spectrométrie de fluorescence atomique), l'ICP-OES (spectrométrie d'émission optique couplée à un plasma induit) et l'ICP-MS (spectrométrie de masse couplée à un plasma induit), ainsi que plusieurs procédures de préparation de la solution d'échantillon à partir desquelles les experts peuvent choisir la méthode d'analyse la plus appropriée.

Določevanje posameznih snovi v elektrotehničnih izdelkih - 5. del: Določevanje kadmija, svinca in kroma v polimerih in elektronskih elementih ter kadmija in svinca v kovinah z AAS, AFS, ICP-OES in ICP-MS (IEC 62321-5:2013)

Standard EN-IEC 62321-5 opisuje preskusne metode za določevanje svinca, kadmija in kroma v polimerih in elektronskih elementih z atomsko absorpcijsko spektrometrijo (AAS), atomsko fluorescenčno spektrometrijo (AFS), optično emisijsko spektrometrijo z induktivno sklopljeno plazmo (ICP-OES) in masno spektrometrijo z induktivno sklopljeno plazmo (ICP-MS). Ta standard navaja določanje kadmija (Cd), svinca (Pb) in kroma (Cr) v elektronskih elementih. Zajema tri vrste matric: polimere/polimerne obdelovance, kovine in zlitine ter elektroniko. Ta standard se nanaša na vzorec kot predmet, ki se obdela in meri. Kaj ta vzorec je ali kako ga pridobiti, določa subjekt, ki izvaja preskuse. Dodatna navodila o pridobivanju reprezentativnih vzorcev iz končnih elektronskih izdelkov za testiranje ravni reguliranih snovi je mogoče najti v standardu IEC 62321-2. Opozoriti je treba, da lahko izbira in/ali določanje vzorca vpliva na razlago rezultatov preskusa. Ta standard opisuje uporabo štirih metod, in sicer AAS (atomska absorpcijska spektrometrija), AFS (atomska fluorescentna spektrometrija), ICP-OES (optična emisijska spektrometrija z induktivno sklopljeno plazmo) in ICP-MS (masna spektrometrija z induktivno sklopljeno plazmo), kot tudi več postopkov za pripravo vzorčne raztopine, s pomočjo katere lahko strokovnjaki izberejo najbolj primerno metodo analize. Ker je z analizo šestvalentnega kroma tega včasih težko določiti v polimerih in elektroniki, ta standard uvaja presejalne metode za krom v polimerih in elektroniki, z izjemo atomske absorpcijske spektrometrije. Analiza kroma zagotavlja informacije o obstoju šestvalentnega kroma v materialih. Vendar z analizo elementov ni mogoče selektivno zaznati šestvalentnega kroma. Z njo se določi vsebnost kroma v vseh oksidacijskih stanjih v vzorcih. Če vsebnost kroma preseže mejo za šestvalentni krom, je treba testirati vsebnost šestvalentnega kroma. Preskusni postopki, opisani v tem standardu, so namenjeni zagotavljanju najvišje stopnje točnosti in natančnosti za vsebnosti svinca, kadmija in kroma v tem območju; pri optični emisijski spektrometriji z induktivno sklopljeno plazmo in atomski absorpcijski spektrometriji od 10 mg/kg za svinec, kadmij in krom, pri masni spektrometriji z induktivno sklopljeno plazmo od 0,1 mg/kg za svinec in kadmij, pri atomski fluorescentni spektrometriji pa od 10 mg/kg svinec in 1,5 mg/kg za kadmij. Postopki se lahko uporabljajo tudi za višje koncentracije. Zaradi njihove stabilnosti ta standard ne velja za materiale, ki vsebujejo polifluorirane polimere. Če je v analitskem postopku uporabljena žveplova kislina, obstaja tveganje izgube svinca, kar povzroči nepravilne nizke vrednosti tega analita. Ob tem žveplova in fluorovodikova kislina nista primerni za določanje kadmija z atomsko absorpcijsko spektrometrijo, saj ovirata zmanjšanje vsebnosti kadmija. Omejitve in tveganja se pojavijo zaradi koraka z raztopino vzorca, pride lahko npr. do obarjanja ciljnega ali drugih elementov, pri čemer je treba ostanke preveriti posebej ali jih raztopiti na drug način in jih nato združiti z vzorčno raztopino.

General Information

Status
Published
Publication Date
24-Apr-2014
Withdrawal Date
14-Nov-2016
Current Stage
6060 - Document made available - Publishing
Start Date
25-Apr-2014
Completion Date
25-Apr-2014

Relations

Buy Standard

Standard
EN 62321-5:2014 - BARVE
English language
40 pages
sale 10% off
Preview
sale 10% off
Preview
e-Library read for
1 day

Standards Content (Sample)

SLOVENSKI STANDARD
SIST EN 62321-5:2014
01-junij-2014
1DGRPHãþD
SIST EN 62321:2009
'RORþHYDQMHSRVDPH]QLKVQRYLYHOHNWURWHKQLþQLKL]GHONLKGHO'RORþHYDQMH
NDGPLMDVYLQFDLQNURPDYSROLPHULKLQHOHNWURQVNLKHOHPHQWLKWHUNDGPLMDLQ
VYLQFDYNRYLQDK]$$6$)6,&32(6LQ,&306 ,(&
Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 5: Determination
of cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in
metals by AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS
Verfahren zur Bestimmung von bestimmten Substanzen in Produkten der Elektrotechnik
- Teil 5: Bestimmung von Cadmium, Blei und Gesamtchrom in Polymeren und Elektronik
und von Cadmium und Blei in Metallen mit AAS, AFS, ICP-OES und ICP-MS
Détermination de certaines substances dans les produits électrotechniques - Partie 5:
Détermination du cadmium, du plomb et du chrome dans les polymères et les produits
électroniques, et du cadmium et du plomb dans les métaux par AAS, AFS, ICP-OES et
ICP-MS
Ta slovenski standard je istoveten z: EN 62321-5:2014
ICS:
29.020 Elektrotehnika na splošno Electrical engineering in
general
31.020 Elektronske komponente na Electronic components in
splošno general
SIST EN 62321-5:2014 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

---------------------- Page: 1 ----------------------

SIST EN 62321-5:2014

---------------------- Page: 2 ----------------------

SIST EN 62321-5:2014

EUROPEAN STANDARD
EN 62321-5

NORME EUROPÉENNE
April 2014
EUROPÄISCHE NORM


ICS 13.020; 43.040.10 Supersedes EN 62321:2009 (partially)


English version


Determination of certain substances in electrotechnical products -
Part 5: Cadmium, lead and chromium in polymers and electronics and
cadmium and lead in metals by AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS
(IEC 62321-5:2013)


Détermination de certaines substances Verfahren zur Bestimmung von
dans les produits électrotechniques - bestimmten Substanzen in Produkten der
Partie 5: Du cadmium, du plomb et du Elektrotechnik -
chrome dans les polymères et les produits Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in
électroniques, du cadmium et du plomb Polymeren und Elektronik und Cadmium
dans les métaux par AAS, AFS, ICP-OES und Blei in Metallen mit AAS, AFS, ICP-
et ICP-MS OES und ICP-MS
(CEI 62321-5:2013) (IEC 62321-5:2013)



This European Standard was approved by CENELEC on 2013-11-15. CENELEC members are bound to comply
with the CEN/CENELEC Internal Regulations which stipulate the conditions for giving this European Standard
the status of a national standard without any alteration.

Up-to-date lists and bibliographical references concerning such national standards may be obtained on
application to the CEN-CENELEC Management Centre or to any CENELEC member.

This European Standard exists in three official versions (English, French, German). A version in any other
language made by translation under the responsibility of a CENELEC member into its own language and notified
to the CEN-CENELEC Management Centre has the same status as the official versions.

CENELEC members are the national electrotechnical committees of Austria, Belgium, Bulgaria, Croatia, Cyprus,
the Czech Republic, Denmark, Estonia, Finland, Former Yugoslav Republic of Macedonia, France, Germany,
Greece, Hungary, Iceland, Ireland, Italy, Latvia, Lithuania, Luxembourg, Malta, the Netherlands, Norway, Poland,
Portugal, Romania, Slovakia, Slovenia, Spain, Sweden, Switzerland, Turkey and the United Kingdom.

CENELEC
European Committee for Electrotechnical Standardization
Comité Européen de Normalisation Electrotechnique
Europäisches Komitee für Elektrotechnische Normung

CEN-CENELEC Management Centre: Avenue Marnix 17, B - 1000 Brussels


© 2014 CENELEC - All rights of exploitation in any form and by any means reserved worldwide for CENELEC members.
Ref. No. EN 62321-5:2014 E

---------------------- Page: 3 ----------------------

SIST EN 62321-5:2014
EN 62321-5:2014 - 2 -

Foreword
The text of document 111/297/FDIS, future edition 1 of IEC 62321-5, prepared by IEC/TC 111
"Environmental standardization for electrical and electronic products and systems" was submitted to the
IEC-CENELEC parallel vote and approved by CENELEC as EN 62321-5:2014.
The following dates are fixed:
(dop) 2014-10-25
• latest date by which the document has
to be implemented at national level by
publication of an identical national
standard or by endorsement
(dow) 2016-11-15
• latest date by which the national
standards conflicting with the

document have to be withdrawn

EN 62321-5:2014 is a partial replacement of EN 62321:2009, forming a structural revision and generally
replacing Clauses 8 to 10, as well as Annexes F, G and H.
Future parts in the EN 62321 series will gradually replace the corresponding clauses from EN
62321:2009. Until such time as all parts are publis
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.