IEC 61967-4:2002

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 ohm/150 ohm direct coupling method

Specifies a method to measure the conducted electromagnetic emission of integrated circuits by direct RF current measurement with a 1 ohm resistive probe and RF voltage measurement using a 150 ohm coupling network. These methods guarantee a high degree of repeatability and correlation of measurements.
The contents of the corrigendum 1 of June 2017 have been included in this copy.

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4 : Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1 ohm/150 ohm

Spécifie une méthode de mesure de l'émission électromagnétique conduite des circuits intégrés par mesure directe des courants RF avec une sonde résistive de 1 ohm et mesure des tensions RF en utilisant un réseau de couplage de 150 ohm. Ces méthodes garantissent un degré élevé de répétabilité, ainsi que la corrélation des mesures.
Le contenu du corrigendum 1 de juin 2017 a été pris en considération dans cette exemplaire.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 29-Apr-2002
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 31.200 - Integrated circuits. Microelectronics
• Technical Committee: SC 47A - Integrated circuits
• Drafting Committee: WG 9 - TC 47/SC 47A/WG 9
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Start Date: 31-Dec-2018
• Completion Date: 16-Mar-2021

Relations

• Amended By: IEC 61967-4:2002/AMD1:2006 - Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Corrected By: IEC 61967-4:2002/COR1:2017 - Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 Ω/150 Ω direct coupling method
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 61967-4:2021 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-04
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 ΩΩ/150 ΩΩ
ΩΩ ΩΩ
Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 ΩΩΩΩ/150 ΩΩΩΩ direct coupling method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61967-4:2002
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
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• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2002-04
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 ΩΩ/150 ΩΩ
ΩΩ ΩΩ
Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 ΩΩΩΩ/150 ΩΩΩΩ direct coupling method
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Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
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microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. the publisher.
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
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CODE PRIX
U
PRICE CODE
Commission Electrotechnique Internationale
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61967-4  CEI:2002
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4
1 Domaine d’application.10
2 Références normatives .10
3 Définitions .10
4 Généralités.10
4.1 Principes de base de mesure.10
4.2 Mesure du courant RF .14
4.3 Mesure de la tension RF aux broches CI.14
4.4 Evaluation de la technique de mesure.14
5 Conditions d’essai.16
6 Appareillage d’essai.16
6.1 Spécification du récepteur d’essai.16
6.2 Spécification de la sonde de courant RF .16
6.3 Essai de la capacité de la sonde de courant RF .18
6.4 Spécification du réseau d’adaptation.18
7 Montage d’essai.18
7.1 Configuration générale d’essai.18
7.2 Disposition pour carte d’essai à circuit imprimé.20
8 Procédure d’essai .22
9 Rapport d’essai.22
Annexe A (normative) Procédure d’étalonnage de sonde .24
Annexe B (informative) Classification des niveaux des émissions conduites.30
B.1 Remarque d’introduction.30
B.2 Généralités.30
B.3 Définition des niveaux d’émission .30
B.4 Présentation des résultats .32
Annexe C (informative) Exemple de niveaux de référence pour applications automobiles.38
C.1 Remarque d’introduction.38
C.2 Généralités.38
C.3 Niveaux de référence.38
Annexe D (informative) Exigences CEM et méthode d’utilisation
des techniques de mesure CEM CI.42
D.1 Introduction .42
D.2 Utilisation des procédures de mesures CEM .42
D.3 Evaluation de l’influence des CI sur le comportement CEM des modules .44
Annexe E (informative) Exemple de montage d’essai comprenant une carte principale
d’essai CEM et une carte d’essai EME CI .46
E.1 Carte principale d’essai CEM .46
E.2 Carte d’essai EME CI.50

61967-4  IEC:2002 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.4
1 Scope.11
2 Normative references.11
3 Definitions .11
4 General .11
4.1 Measurement basics.11
4.2 RF current measurement .15
4.3 RF voltage measurement at IC pins .15
4.4 Assessment of the measurement technique .15
5 Test conditions .17
6 Test equipment.17
6.1 Test receiver specification .17
6.2 RF current probe specification .17
6.3 Test of the RF current probe capability.19
6.4 Matching network specification .19
7 Test set-up .19
7.1 General test configuration.19
7.2 Printed circuit test board layout.21
8 Test procedure .23
9 Test report.23
Annex A (normative) Probe calibration procedure .25
Annex B (informative) Classification of conducted emission levels .31
B.1 Introductory remark .31
B.2 General .31
B.3 Definition of emission levels.31
B.4 Presentation of results .33
Annex C (informative) Example of reference levels for automotive applications.39
C.1 Introductory remark .39
C.2 General .39
C.3 Reference levels.39
Annex D (informative) EMC requirements and how to use EMC IC measurement techniques.43
D.1 Introduction .43
D.2 Using EMC measurement procedures .43
D.3 Assessment of the IC influence to the EMC behaviour of the modules .45
Annex E (informative) Example of a test set-up consisting of an EMC main test board
and an EME IC test board .47
E.1 The EMC main test board .
...

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2006-07
Edition 1:2002 consolidée par l'amendement 1:2006
Edition 1:2002 consolidated with amendment 1:2006
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 Ω/150 Ω direct coupling method

Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61967-4:2002+A1:2006
Numérotation des publications Publication numbering

Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are

sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For

devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.

Editions consolidées Consolidated editions

Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its

CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1

exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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sur les publications de la CEI
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• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a
recherches en utilisant de nombreux critères, variety of criteria including text searches,
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INTERNATIONALE
IEC
61967-4
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2006-07
Edition 1:2002 consolidée par l'amendement 1:2006
Edition 1:2002 consolidated with amendment 1:2006
Circuits intégrés – Mesure des émissions
électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz –
Partie 4:
Mesure des émissions conduites –
Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

Integrated circuits – Measurement of
electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz –
Part 4:
Measurement of conducted emissions –
1 Ω/150 Ω direct coupling method

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МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
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– 2 – 61967-4  CEI:2002+A1:2006

SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6

1 Domaine d’application.10

2 Références normatives.10

3 Définitions.12

4 Généralités.12

4.1 Principes de base de mesure.12

4.2 Mesure du courant RF .14

4.3 Mesure de la tension RF aux broches CI.14
4.4 Evaluation de la technique de mesure.16
5 Conditions d’essai.16
6 Appareillage d’essai.16
6.1 Spécification du récepteur d’essai.16
6.2 Spécification de la sonde de courant RF .16
6.3 Essai de la capacité de la sonde de courant RF .18
6.4 Spécification du réseau d’adaptation.18
7 Montage d’essai.20
7.1 Configuration générale d’essai.20
7.2 Disposition pour carte d’essai à circuit imprimé.20
8 Procédure d’essai .22
9 Rapport d’essai.22
Annexe A (normative) Procédure d’étalonnage de sonde .24
Annexe B (informative) Classification des niveaux des émissions conduites.30
B.1 Remarque d’introduction.30
B.2 Généralités.30
B.3 Définition des niveaux d’émission .30
B.4 Présentation des résultats .32
Annexe C (informative) Exemple de niveaux de référence pour applications automobiles.38
C.1 Remarque d’introduction.38
C.2 Généralités.38
C.3 Niveaux de référence.38
Annexe D (informative) Exigences CEM et méthode d’utilisation

des techniques de mesure CEM CI.42
D.1 Introduction.42
D.2 Utilisation des procédures de mesures CEM .42
D.3 Evaluation de l’influence des CI sur le comportement CEM des modules .44
Annexe E (informative) Exemple de montage d’essai comprenant une carte principale
d’essai CEM et une carte d’essai EME CI .46
E.1 Carte principale d’essai CEM .46
E.2 Carte d’essai EME CI.50
Annexe F (informative) Réseaux de couplage directs 150 Ω pour mesures d’émission
en mode commun des CI de transfert de données en mode différentiel et circuits
analogues .58
F.1 Réseau de couplage direct de base .58
F.2 Exemple d’une alternative de réseau de couplage en mode commun
pour CAN ou LVDS haute vitesse ou RS485 ou systèmes analogues.60

61967-4  IEC:2002+A1:2006 – 3 –

CONTENTS
FOREWORD.7

1 Scope.11

2 Normative references.11

3 Definitions.13

4 General.13

4.1 Measurement basics.13

4.2 RF current measurement .15

4.3 RF voltage measurement at IC pins .15
4.4 Assessment of the measurement technique .17
5 Test conditions .17
6 Test equipment.17
6.1 Test receiver specification .17
6.2 RF current probe specification .17
6.3 Test of the RF current probe capability.19
6.4 Matching network specification .19
7 Test set-up.21
7.1 General test configuration.21
7.2 Printed circuit test board layout.21
8 Test procedure.23
9 Test report.23
Annex A (normative) Probe calibration procedure .25
Annex B (informative) Classification of conducted emission levels .31
B.1 Introductory remark.31
B.2 General.31
B.3 Definition of emission levels.31
B.4 Presentation of results .33
Annex C (informative) Example of reference levels for automotive applications.39
C.1 Introductory remark.
...