IEC 61124:1997
(Main)Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity
Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity
Specifies procedures to test whether an observed value of: - failure rate; - failure intensity; - mean time to failure; - mean operating time between failures; complies with a given requirement. Three types of test plans are prescribed as follows: - sequential test plans; - time/failure terminated test plan; - fixed calendar time/failure terminated test plans. Cancels and replaces IEC 60605-7, published in 1978, and its amendment 1 (1990), of which its constitutes a technical revision.
Essais de fiabilité - Plans d'essai de conformité d'un taux de défaillance constant et d'une intensité de défaillance constante
Spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur observée: - du taux de défaillance; - de l'intensité de défaillance; - de la durée moyenne de fonctionnement avant défaillance; - de la moyenne des temps de bon fonctionnement entre défaillances; est conforme à une prescription donnée. Trois types de plans d'essai sont spécifiés comme indiqué ci-après: - plans d'essais progressifs; - plans d'essais tronqués-censurés; - plans d'essais à durée calendaire tronqués-censurés. Annule et remplace la CEI 60605-7, parue en 1978, et son amendement 1 (1990), dont elle constitue une révision technique.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-07
Essais de fiabilité –
Plans d'essai de conformité
d'un taux de défaillance constant
et d'une intensité de défaillance constante
Reliability testing –
Compliance tests for constant failure rate
and constant failure intensity
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61124: 1997
Numéros des publications Numbering
Les publications de la CEI sont numérotées à partir de As from the 1st January 1997 all IEC publications are
60000 dès le 1er janvier 1997. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant amendements sont disponibles. Par including amendments are available. For example,
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication
publication de base incorporant l’amendement 1, et la incorporating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de Information relating to the date of the reconfirmation of
reconfirmation de la publication sont disponibles dans the publication is available in the IEC catalogue.
le Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements editions and amendments may be obtained from IEC
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de National Committees and from the following IEC
la CEI et dans les documents ci-dessous: sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Accès en ligne* On-line access*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Accès en ligne)* (On-line access)*
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to IEC
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
symbols for use on equipment. Index, survey and
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: compilation of the single sheets and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
Publications de la CEI établies par IEC publications prepared by the same
le même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant The attention of readers is drawn to the end pages of
à la fin de cette publication, qui énumèrent les this publication which list the IEC publications issued
publications de la CEI préparées par le comité by the technical committee which has prepared the
d'études qui a établi la présente publication. present publication.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.
NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1997-07
Essais de fiabilité –
Plans d'essai de conformité
d'un taux de défaillance constant
et d'une intensité de défaillance constante
Reliability testing –
Compliance tests for constant failure rate
and constant failure intensity
IEC 1997 Droits de reproduction réservés Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
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copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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Commission Electrotechnique Internationale
PRICE CODE XA
International Electrotechnical Commission
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue
– 2 – 61124 © CEI:1997
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION . 6
Articles
1 Domaine d'application. 8
2 Références normatives . 8
3 Définitions . 10
4 Symboles . 10
5 Nature de l'exigence et domaine d'applicabilité . 12
6 Méthode générale d'essai . 14
7 Plans d'essais progressifs . 18
8 Plans d'essais tronqués-censurés . 22
9 Plans d'essais à durée calendaire tronqués-censurés pour des entités non réparées/
non remplacées. 32
10 Présentation des résultats . 36
Annexes
A Tableaux et graphiques relatifs aux plans d'essais progressifs (voir article 7). 38
B Graphiques relatifs aux plans d'essai tronqués-censurés systématiques (voir 8.1). 74
C Graphiques pour les plans d'essai tronqués-censurés alternatifs (voir 8.2) . 82
D Exemple et références mathématiques relatifs aux plans d'essais progressifs
(voir article 7) . 90
E Exemples et références mathématiques relatifs aux plans d'essais tronqués-
censurés (voir 8.1). 96
F Exemples et références mathématiques relatifs à l'étude de plans d'essais tronqués-
censurés alternatifs (voir 8.2) . 100
G Exemples et références mathématiques relatifs à l'étude de plans d'essais à durée
calendaire tronqués (voir article 9) . 114
Tableaux
1 Récapitulatif des plans d'essais progressifs indiqués à l'annexe A. 20
2 Plans d'essais tronqués-censurés systématiques . 24
Figures
1 Exemple de calcul de T * pour une entité réparée. 16
2 Exemple de calcul de T * pour quatre entités réparées . 16
3 Exemple de calcul de T * pour cinq entités non réparées . 18
61124 © IEC:1997 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD. 5
INTRODUCTION. 7
Clause
1 Scope. 9
2 Normative references. 9
3 Definitions. 11
4 Symbols. 11
5 Nature of requirement and area of application. 13
6 General test procedure. 15
7 Sequential test plans. 19
8 Time/failure terminated test plans. 23
9 Calendar time/failure terminated test plans for non-repaired/non-replaced items . 33
10 Presentation of results . 37
Annexes
A Tables and graphs for sequential test plans (see clause 7). 39
B Graphs for fixed time/failure terminated test plans (see 8.1) . 75
C Graphs for alternative time/failure terminated test plans (see 8.2) . 83
D Example and mathematical reference for sequential test plans (see clause 7) . 91
E Examples and mathematical reference for time/failure terminated test plans
(see 8.1) . 97
F Examples and mathematical reference for the design of alternative time/failure
terminated test plans (see 8.2) . 101
G Examples and mathematical reference for the calendar time terminated test plans
(see clause 9) . 115
Tables
1 Overview of the sequential test plans given in annex A . 21
2 Fixed time/failure terminated test plans . 25
Figures
1 Example of calculation of T* for one repaired item . 17
2 Example of calculation of T* for four repaired items . 17
3 Example of calculation of T* for five non-repaired items . 19
– 4 – 61124 © CEI:1997
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
__________
ESSAIS DE FIABILITÉ –
Plans d'essai de conformité d'un taux de défaillance constant
et d'une intensité de défaillance constante
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
Internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité
national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et
non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore
étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord
entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la
mesure du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer
de façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa
responsabilité n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La Norme internationale CEI 61124 a été établie par le comité d'études 56 de la CEI: Sûreté de
fonctionnement.
Cette première édition de la CEI 61124 annule et remplace la CEI 60605-7, parue en 1978, et
son amendement 1 (1990), dont elle constitue une révision technique.
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
56/531/FDIS 56/579/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-de
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.