IEC 61124:2012

Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity

IEC 61124:2012 gives a number of optimized test plans, the corresponding operating characteristic curves and expected test times. In addition the algorithms for designing test plans using a spreadsheet program are also given, together with guidance on how to choose test plans. This standard specifies procedures to test whether an observed value of: failure rate, failure intensity, meantime to failure (MTTF), and mean operating time between failures (MTBF). The main changes with respect to the previous edition are as follows:
- A number of new test plans have been added based on the Russian standard GOST R 27.402 [1], and it is intended to align the new edition of MIL-HDBK-781 [2] with this edition. Algorithms for optimizing test plans using a spreadsheet program are given and a number of optimized test plans are listed. Furthermore, emphasis is laid on the fact that the test should be repeated following design changes;
- Discrepancies in test plans A, B as well as Annexes A and B that originated in IEC 60605-7 [3], now withdrawn, have been corrected so these test plans differ from those given in previous editions of IEC 61124. As requested by the National Committees, mathematical background material and spreadsheet program information has been moved to informative annexes. In addition, the symbol lists have been divided, so that some annexes have separate lists of symbols;
- Guidance on how to choose test plans has been added as well as guidance on how to use spreadsheet programs to create them. Test plans A.1 to A.9 and B.1 to B.13 have been corrected;
- Subcluses 8.1, 8.2, 8.3, Clause 9, Annex C, Clauses G.2, I.2, I.3 and Annex J are unchanged, except for updated terminology and references. The contents of the corrigendum of January 2013 have been included in this copy.

Essais de fiabilité - Plan d'essais de conformité d'un taux de défaillance constant et d'une intensité de défaillance constante

La CEI 61124:2012 fournit un certain nombre de plans d'essais optimisés, les courbes OC associées et les valeurs moyennes des temps d'essais. De plus, les algorithmes pour la conception de plans d'essais à l'aide d'un tableur électronique sont également fournis avec des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais. La présente norme spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur observée: d'un taux de défaillance, d'une intensité de défaillance, d'une durée moyenne de fonctionnement avant défaillance (MTTF), moyenne des temps de bon fonctionnement (MTBF). Les modifications techniques majeures par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:
- de nouveaux plans d'essais sont ajoutés, basés sur la Norme russe GOST R 27.402 [1], et son objectif est d'être cohérent avec la nouvelle édition de MIL-HDBK-781 [2]. Elle comprend les algorithmes pour l'optimisation des plans d'essais en utilisant un tableur électronique, ainsi qu'une liste de plan d'essais. En outre l'accent est mis sur le fait qu'il convient de réitérer l'essai à la suite des modifications de conception;
- Les écarts dans les plans d'essais A, B et les Annexes A et B qui provenaient de la CEI 60605-7 [3], (retirée) ont été corrigés et ces plans sont donc différents de ceux donnés dans les précedentes éditions de la CEI 61124. Comme demandé par les Comités nationaux, les informations concernant la base mathématique et le tableur électronique ont été déplacées aux annexes informatives. De plus, les listes de symboles ont été divisées, pour obtenir des listes de symboles séparées dans certaines annexes.
- Des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais ont été ajoutées de même que sur la manière d'utiliser les tableurs électroniques pour les créer. Les plans d'essais A.1 à A.9 et B.1 à B.13 ont été corrigés;
- Les paragraphes 8.1, 8.2, 8.3, l'Article 9 et l'Annexe C, les Articles G.2, I.2, I.3 et l'Annexe J ne changent pas, sauf pour la terminologie et les références mises à jour. Le contenu du corrigendum de janvier 2013 a été pris en considération dans cet exemplaire.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 22-May-2012
• ICS: 03.120.30 - Application of statistical methods
• ICS: 19.020 - Test conditions and procedures in general
• ICS: 21.020 - Characteristics and design of machines, apparatus, equipment
• Technical Committee: TC 56 - Dependability
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Start Date: 04-Oct-2019
• Completion Date: 24-Feb-2023

Relations

• Corrected By: IEC 61124:2012/COR1:2013 - Corrigendum 1 - Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revises: IEC 61124:2006 - Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 61124:2023 - Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

IEC 61124 ®
Edition 3.0 2012-05
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
Reliability testing – Compliance tests for constant failure rate and constant
failure intensity
Essais de fiabilité – Plan d’essais de conformité d’un taux de défaillance
constant et d’une intensité de défaillance constante

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committee,…). definitions in English and French, with equivalent terms in
It also gives information on projects, replaced and additional languages. Also known as the International
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IEC 61124 ®
Edition 3.0 2012-05
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
colour
inside
Reliability testing – Compliance tests for constant failure rate and constant

failure intensity
Essais de fiabilité – Plan d’essais de conformité d’un taux de défaillance

constant et d’une intensité de défaillance constante

INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX XF
ICS 03.120.30; 19.020; 21.020 ISBN 978-2-88912-061-1

– 2 – 61124 © IEC:2012
CONTENTS
FOREWORD . 8
1 Scope . 10
2 Normative references . 10
3 Terms, definitions, abbreviations and symbols . 11
3.1 Terms and definitions . 11
3.2 Abbreviations and symbols . 11
3.2.1 Abbreviations . 11
3.2.2 Symbols . 11
4 General requirements and area of application . 13
4.1 Requirements . 13
4.2 Applicability to replaced and repaired items . 13
4.3 Types of test plans . 13
4.3.1 General . 13
4.3.2 Advantages and disadvantages of the different test plan types . 14
5 General test procedure . 14
5.1 Test conditions . 14
5.2 General characteristics of the test plans . 15
5.3 Data to be recorded . 15
*
5.4 Calculation of accumulated test time, T . 15
5.5 Number of failures . 16
6 Sequential test plans . 17
6.1 General . 17
6.2 Common test procedure . 17
6.3 Decision criteria . 17
6.4 Overview of test plans . 17
7 Fixed time/failure terminated test plans – Fixed duration test plans . 18
7.1 General . 18
7.2 Common test procedure . 18
7.3 Decision criteria . 19
7.4 Test plans . 19
8 Design of alternative time/failure terminated test plans . 20
8.1 General . 20
8.2 Design procedures . 20
8.3 Common test procedure . 20
8.4 Decision criteria . 21
9 Calendar time/failure terminated test plans for non-replaced items . 21
9.1 General . 21
9.2 Common test procedure . 21
9.3 Decision criteria . 21
9.4 Use of Table 2 of IEC 61123:1991 for fixed calendar time tests . 22
9.4.1 General . 22
9.4.2 Procedure when the test time is given . 22
9.4.3 Procedure when the number of items is given . 22
10 Combined test plans . 23

61124 © IEC:2012 – 3 –
10.1 General . 23
10.2 Common test procedure . 23
10.3 Decision criteria . 23
10.4 Test plans . 24
11 Performing the test . 24
12 Presentation of results . 24
Annex A (normative) Tables and graphs for sequential test plans . 25
Annex B (normative) Graphs for fixed time/failure terminated test plans . 44
Annex C (normative) Graphs for alternative time/failure terminated test plans . 53
Annex D (normative) Tables and graphs for combined test plans and additional
sequential test plans . 60
Annex E (informative) Examples and mathematical references for sequential test
plans . 78
Annex F (informative) Design of sequential test plans using a common spreadsheet
program . 86
Annex G (informative) Examples and mathematical references for fixed time/failure
terminated test plans – Fixed duration test plans . 97
Annex H (informative) Design of fixed duration time/failure terminated test plans using
a spreadsheet program . 99
Annex I (informative) Examples and mathematical references for the design of
alternative time/failure terminated test plans . 105
Annex J (informative) Examples and mathematical references for the calendar time
terminated test plans . 112
Annex K (informative) Derivation and mathematical reference for the optimized test
plans of GOST R 27 402 . 114
Bibliography . 122

Figure A.1 – Accept and reject lines for test plan A.1 . 25
Figure A.2 – Test plan A.1 – Operating characteristic curve . 26
Figure A.3 – Test plan A.1 – Expected accumulated test time to decision . 27
Figure A.4 – Accept and reject lines for test plan A.2 . 27
Figure A.5 – Test plan A.2 – Operating characteristic curve . 28
Figure A.6 – Test plan A.2 – Expected accumulated test time to decision . 29
Figure A.7 – Accept and reject lines for test plan A.3 . 29
Figure A.8 – Tes
...