IEC 61326-1:1997/AMD2:2000
(Amendment)Amendment 2 - Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 1: General requirements
Amendment 2 - Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 1: General requirements
Amendement 2 - Matériels électriques de mesure, de commande et de laboratoire - Prescriptions relatives à la CEM - Partie 1: Prescriptions générales
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61326-1
INTERNATIONAL
STANDARD
AMENDEMENT 2
AMENDMENT 2
2000-08
Amendement 2
Matériels électriques de mesure,
de commande et de laboratoire –
Prescriptions relatives à la CEM –
Partie 1:
Prescriptions générales
Amendment 2
Electrical equipment for measurement,
control and laboratory use –
EMC requirements –
Part 1:
General requirements
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CODE PRIX
Commission Electrotechnique Internationale
D
PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
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For price, see current catalogue
– 2 – 61326-1 amend. 2 © CEI:2000
AVANT-PROPOS
Le présent amendement a été établi par le sous-comité 65A: Aspects systèmes, du comité
d'études 65 de la CEI: Mesure et commande dans les processus industriels.
Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:
FDIS Rapport de vote
65A/307/FDIS 65A/312/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l'approbation de cet amendement.
Le comité a décidé que le contenu de la publication de base et de ses amendements ne sera
pas modifié avant 2001. A cette date, la publication sera
• reconduite;
• supprimée;
• remplacée par une édition révisée, ou
• amendée.
___________
Ajouter, après l'annexe C, la nouvelle annexe normative D suivante:
Annexe D
(normative)
Configurations d’essai, conditions de fonctionnement et
critères d’aptitude à la fonction pour les matériels d’essai et
de mesure sensibles destinés à des applications non protégées
D.1 Généralités
Outre les prescriptions de la présente norme, cette annexe spécifie des configurations d’essai
plus détaillées, des conditions de fonctionnement et des critères d’aptitude à la fonction pour
les matériels comportant des circuits d’essai et de mesure (à la fois internes et/ou externes
aux matériels) qui ne sont pas protégés en ce qui concerne la CEM pour des raisons
opérationnelles et/ou fonctionnelles, selon ce qui est spécifié par le constructeur.
Une liste non exhaustive de tels matériels comprend par exemple les oscilloscopes, les
analyseurs logiques, les analyseurs de spectre, les analyseurs de réseau, les multimètres
numériques et les systèmes de test de cartes à circuits imprimés.
Le constructeur spécifie l’environnement dans lequel le produit est destiné à être utilisé, et
utilise les spécifications de niveau d’essai correspondantes de la présente norme.
61326-1 Amend. 2 © IEC:2000 – 3 –
FOREWORD
This amendment has been prepared by subcommittee 65A: System aspects, of IEC technical
committee 65: Industrial-process measurement and control.
The text of this amendment is based on the following documents:
FDIS Report on voting
65A/307/FDIS 65A/312/RVD
Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report
on voting indicated in the above table.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments will
remain unchanged until 2001. At this date, the publication will be
• reconfirmed;
• withdrawn;
•
replaced by a revised edition, or
• amended.
___________
Add, after annex C, the following new normative annex D:
Annex D
(normative)
Test configurations, operational conditions and performance criteria
for sensitive test and measurement equipment
for EMC unprotected applications
D.1 General
In addition to the requirements of this standard, this annex specifies more detailed test
configurations, operational conditions and performance criteria for equipment with test and
measurement circuits (both internal and/or external to the equipment) that are not EMC
protected for operational and/or functional reasons, as specified by the manufacturer.
Examples of such equipment include, but are not limited to, oscilloscopes, logic analyzers,
spectrum analyzers, network analyzers, digital multimeters (DMM) and board test systems.
The manufacturer specifies the environment for which the product is intended to be used and
utilizes the corresponding test level specifications in this standard.
– 4 – 61326-1 amend. 2 © CEI:2000
D.2 Configurations d’essai
D.2.1 Accès E/S d’essai et de mesure
Les accès d’entrée d’essai et de mesure doivent être pourvus d’un capuchon et écourtés à
moins que cela ne soit à l’origine de conditions de fonctionnement non compatibles avec la
mesure de l’émission et de l’immunité du produit. On doit alors appliquer un signal d’entrée
approprié.
Les accès de sortie d’essai et de mesure qui ne sont pas nécessaires à l’évaluation des
fonctions essentielles de l’EST doivent être pourvus d’un capuchon et/ou éliminés.
NOTE 1 Il n’est pas nécessaire de connecter les sondes et/ou les cordons d’essai à utiliser avec les accès d’essai
et de mesure. De tels cordons d’essai peuvent différer considérablement d’une application à l’autre et sont souvent
connectés à des matériels dont le couvercle a été retiré et qui peuvent être plus ou moins démontés pour permettre
l’accès à des points d’essai internes. Des cordons d’essai connectés peuvent accroître les émissions et/ou réduire
l’immunité dans certaines applications.
NOTE 2 «Pourvu d’un capuchon» signifie protégé par un blindage local.
D.2.2 Matériel auxiliaire
Les matériels auxiliaires nécessaires au fonctionnement normal de l’EST doivent faire partie du
matériel à tester.
D.3 Conditions de fonctionnement
Lorsque les deux options d’alimentation, par batteries et courant alternatif, sont possibles, les
deux modes de fonctionnement doivent être conformes.
D.3.1 Oscilloscopes
Les accès de l’oscilloscope doivent être configurés pour obtenir la vitesse de balayage
maximale, la sensibilité maximale et un mode d’acquisition continu lors des essais d’immunité,
à moins que d’autres modes ne soient réputés créer des émissions plus importantes ou des
résultats d’immunité plus mauvais en utilisation normale.
D.3.2 Analyseurs logiques
L’analyseur logique doit être configuré en mode d’analyse de données pendant les essais
d’émission, et en mode d’acquisition de données pendant les essais d’immunité, à moins que
d’autres modes ne soient réputés créer des émissions plus importantes ou des résultats
d’immunité plus mauvais e
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.