Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity

IEC 61124:2012 gives a number of optimized test plans, the corresponding operating characteristic curves and expected test times. In addition the algorithms for designing test plans using a spreadsheet program are also given, together with guidance on how to choose test plans. This standard specifies procedures to test whether an observed value of: failure rate, failure intensity, meantime to failure (MTTF), and mean operating time between failures (MTBF). The main changes with respect to the previous edition are as follows:
- A number of new test plans have been added based on the Russian standard GOST R 27.402 [1], and it is intended to align the new edition of MIL-HDBK-781 [2] with this edition. Algorithms for optimizing test plans using a spreadsheet program are given and a number of optimized test plans are listed. Furthermore, emphasis is laid on the fact that the test should be repeated following design changes;
- Discrepancies in test plans A, B as well as Annexes A and B that originated in IEC 60605-7 [3], now withdrawn, have been corrected so these test plans differ from those given in previous editions of IEC 61124. As requested by the National Committees, mathematical background material and spreadsheet program information has been moved to informative annexes. In addition, the symbol lists have been divided, so that some annexes have separate lists of symbols;
- Guidance on how to choose test plans has been added as well as guidance on how to use spreadsheet programs to create them. Test plans A.1 to A.9 and B.1 to B.13 have been corrected;
- Subcluses 8.1, 8.2, 8.3, Clause 9, Annex C, Clauses G.2, I.2, I.3 and Annex J are unchanged, except for updated terminology and references. The contents of the corrigendum of January 2013 have been included in this copy.

Essais de fiabilité - Plan d'essais de conformité d'un taux de défaillance constant et d'une intensité de défaillance constante

La CEI 61124:2012 fournit un certain nombre de plans d'essais optimisés, les courbes OC associées et les valeurs moyennes des temps d'essais. De plus, les algorithmes pour la conception de plans d'essais à l'aide d'un tableur électronique sont également fournis avec des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais. La présente norme spécifie les méthodes utilisées pour vérifier qu'une valeur observée: d'un taux de défaillance, d'une intensité de défaillance, d'une durée moyenne de fonctionnement avant défaillance (MTTF), moyenne des temps de bon fonctionnement (MTBF). Les modifications techniques majeures par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:
- de nouveaux plans d'essais sont ajoutés, basés sur la Norme russe GOST R 27.402 [1], et son objectif est d'être cohérent avec la nouvelle édition de MIL-HDBK-781 [2]. Elle comprend les algorithmes pour l'optimisation des plans d'essais en utilisant un tableur électronique, ainsi qu'une liste de plan d'essais. En outre l'accent est mis sur le fait qu'il convient de réitérer l'essai à la suite des modifications de conception;
- Les écarts dans les plans d'essais A, B et les Annexes A et B qui provenaient de la CEI 60605-7 [3], (retirée) ont été corrigés et ces plans sont donc différents de ceux donnés dans les précedentes éditions de la CEI 61124. Comme demandé par les Comités nationaux, les informations concernant la base mathématique et le tableur électronique ont été déplacées aux annexes informatives. De plus, les listes de symboles ont été divisées, pour obtenir des listes de symboles séparées dans certaines annexes.
- Des lignes directrices sur la manière de choisir les plans d'essais ont été ajoutées de même que sur la manière d'utiliser les tableurs électroniques pour les créer. Les plans d'essais A.1 à A.9 et B.1 à B.13 ont été corrigés;
- Les paragraphes 8.1, 8.2, 8.3, l'Article 9 et l'Annexe C, les Articles G.2, I.2, I.3 et l'Annexe J ne changent pas, sauf pour la terminologie et les références mises à jour. Le contenu du corrigendum de janvier 2013 a été pris en considération dans cet exemplaire.

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Publication Date
22-May-2012
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Current Stage
DELPUB - Deleted Publication
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04-Oct-2019
Completion Date
24-Feb-2023
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Reliability testing – Compliance tests for constant failure rate and constant
failure intensity

Essais de fiabilité – Plan d’essais de conformité d’un taux de défaillance
constant et d’une intensité de défaillance constante

IEC 61124:2012

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committee,…). definitions in English and French, with equivalent terms in
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withdrawn publications. Electrotechnical Vocabulary (IEV) on-line.

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