ISO 6342:1993
(Main)Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.
Micrographie — Cartes à fenêtre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur
General Information
Relations
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Standards Content (Sample)
ISO
INTERNATIONAL
6342
STANDARD
First edition
1993-08-15
- Aperture cards -
Micrographics
Method of measuring thickness of buildup
area
Micrographie - Cartes 6 fen&re - Methode de mesurage de Ia zone
de sur6paisseur
Reference number
ISO 6342:1993(E)
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ISO 6342:1993(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide
federation of national Standards bodies (ISO member bodies). The work
of preparing International Standards is normally carried out through ISO
technical committees. Esch member body interested in a subject for
which a technical committee has been established has the right to be
represented on that committee. International organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
(1 EC) on all matters of electrotechnical standardization.
Draft International Standards adopted by the technical committees are
circulated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.
International Standard ISO 6342 was prepared by Technical Committee
lSO/TC 171, Micrographics and Optical memories for document and image
recording, storage and use.
Annex A of this International Standard is for information only.
0 ISO 1993
All rights reserved. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or
by any means, electronie or mechanical, including photocopying and microfilm, without per-
mission in writing from the publisher.
International Organization for Standardization
Case Postale 56 l CH-1 211 Geneve 20 l Switzerland
Printed in Switzerland
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Aperture cards are widely used in many microfilm Systems. As the various
kinds differ in the thickness of the buildup area, a method of measuring
the buildup thickness is necessary.
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This page intentionally left blank
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INTERNATIONAL STANDARD ISO 6342:1993(E)
Micrographics - Aperture cards - Method of
measuring thickness of buildup area
a size that allows the whole area of the pressure foot
1 Scope
to be in contact with the anvil in the zero Position. The
pressure foot shall move on an axis perpendicular to
This International Standard specifies a method of
the anvil. The pressure foot shall exert a steady
measuring the thickness of the buildup area on aper-
pressure on the test Sample of 50 kPa + 5 kPa, based
ture cards (Camera cards and copy cards) for manu-
on the area of the pressure foot.
facturing and inspection purposes.
The micrometer shall be in accordance with
ISO 534:1988, table 2, as follows:
2 Normative references
The following Standards contain provisions which,
Maximum
Micrometer characteristic
through reference in this text, constitute provisions permitted value
of this International Standard. At the time of publi-
cation, the editions indicated were valid. All Standards
25 Pm or 0,5 %
Indication error
are subject to revision, and Parties to agreements
Error of parallelism between
5 Pm or 1 %
based on this International Standard are encouraged
pressure faces
to investigate the possibility of applying the most re-
Repeatability of measurement
cent editions of the Standards indicated below.
2,5 Pm or 0,5 %
(as a Standard deviation)
Members of IEC and ISO maintain registers of cur-
rently valid Interna
...
NORME Iso
INTERNATIONALE 6342
Première édition
1993-08-I 5
Micrographie - Cartes à fenêtre -
Méthode de mesurage de la zone de
surépaisseur
Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of
buildup area
Numéro de référence
ISO 6342: 1993(F)
---------------------- Page: 1 ----------------------
ISO 6342:1993(F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération
mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de
I’ISO). L’élaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de I’ISO. Chaque comite membre intéressé par une
étude a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent également aux travaux. L’ISO colla-
bore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques
sont soumis aux comités membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des co-
mités membres votants.
La Norme internationale ISO 6342 a été élaborée par le comité technique
lSO/TC 171, Micrographie et mémoires optiques pour l’enregistrement, le
stockage et l’utilisation des documents et des images.
L’annexe A de la présente Norme internationale est donnée uniquement
à titre d’information.
0 ISO 1993
Droits de reproduction réservés. Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord écrit de l’éditeur.
Organisation internationale de normalisation
Case Postale 56 l CH-l 211 Genève 20 l Suisse
Imprimé en Suisse
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ISO 6342:1993(F)
Introduction
L’utilisation des cartes à fenêtre dans de nombreux systèmes de micro-
graphie est maintenant largement répandue. La zone de sut-épaisseur va-
riant suivant les différents types, il est nécessaire d’avoir une méthode
permettant de la mesurer.
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Page blanche
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NORME INTERNATIONALE
ISO 6342:1993(F)
Micrographie
- Cartes à fenêtre - Méthode de
mesurage de la zone de surépaisseur
1 Domaine d’application
4 Appareillage
La présente Norme internationale prescrit une mé-
4.1 Micromètre à cadran, à charge statique, fonc-
thode de mesurage de la zone de surépaisseur des
tionnant soit à l’aide d’un moteur, soit manuellement.
cartes à fenêtre (carte de prise de vue et cartes à
Le micromètre à moteur est recommandé. Sa vitesse
duplication) afin de permettre leur classement à des
d’abaissement doit être d’environ 0,8 mm/s. La tou-
fins de fabrication et de contrôle.
che mobile doit être circulaire avec une surface de
16 mm + 0,5 mm. La touche fixe doit être d’un for-
mat tel sue la surface totale de la touche mobile soit
en contact avec la touche fixe à la position zéro. La
touche mobile doit se déplacer sur un axe perpendi-
2 Références normatives culaire à la touche fixe. La touche mobile doit exercer
sur l’échantillon une contrainte constante de
50 kPa k 5 kPa, basée sur la surface de la touche
Les normes suivantes contiennent des dispositions
mobile.
qui, par suite de la référence qui en est faite, consti-
tuent des dispositions valables pour la présente
Le micromètre doit être conforme à I’ISO 534:1988,
Norme internationale. Au moment de la publication,
tableau 2, à savoir:
les éditions indiquées étaient en vigueur. Toute
norme est sujette a révision et les parties prenantes
Caractéristiques du Valeur limite
des accords fondés sur la présente Norme internatio-
admissible
micromètre
nale sont invitées à rechercher la
...
NORME Iso
INTERNATIONALE 6342
Première édition
1993-08-I 5
Micrographie - Cartes à fenêtre -
Méthode de mesurage de la zone de
surépaisseur
Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of
buildup area
Numéro de référence
ISO 6342: 1993(F)
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ISO 6342:1993(F)
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération
mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comités membres de
I’ISO). L’élaboration des Normes internationales est en général confiée aux
comités techniques de I’ISO. Chaque comite membre intéressé par une
étude a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent également aux travaux. L’ISO colla-
bore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques
sont soumis aux comités membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert l’approbation de 75 % au moins des co-
mités membres votants.
La Norme internationale ISO 6342 a été élaborée par le comité technique
lSO/TC 171, Micrographie et mémoires optiques pour l’enregistrement, le
stockage et l’utilisation des documents et des images.
L’annexe A de la présente Norme internationale est donnée uniquement
à titre d’information.
0 ISO 1993
Droits de reproduction réservés. Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite
ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie et les microfilms, sans l’accord écrit de l’éditeur.
Organisation internationale de normalisation
Case Postale 56 l CH-l 211 Genève 20 l Suisse
Imprimé en Suisse
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ISO 6342:1993(F)
Introduction
L’utilisation des cartes à fenêtre dans de nombreux systèmes de micro-
graphie est maintenant largement répandue. La zone de sut-épaisseur va-
riant suivant les différents types, il est nécessaire d’avoir une méthode
permettant de la mesurer.
---------------------- Page: 3 ----------------------
Page blanche
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NORME INTERNATIONALE
ISO 6342:1993(F)
Micrographie
- Cartes à fenêtre - Méthode de
mesurage de la zone de surépaisseur
1 Domaine d’application
4 Appareillage
La présente Norme internationale prescrit une mé-
4.1 Micromètre à cadran, à charge statique, fonc-
thode de mesurage de la zone de surépaisseur des
tionnant soit à l’aide d’un moteur, soit manuellement.
cartes à fenêtre (carte de prise de vue et cartes à
Le micromètre à moteur est recommandé. Sa vitesse
duplication) afin de permettre leur classement à des
d’abaissement doit être d’environ 0,8 mm/s. La tou-
fins de fabrication et de contrôle.
che mobile doit être circulaire avec une surface de
16 mm + 0,5 mm. La touche fixe doit être d’un for-
mat tel sue la surface totale de la touche mobile soit
en contact avec la touche fixe à la position zéro. La
touche mobile doit se déplacer sur un axe perpendi-
2 Références normatives culaire à la touche fixe. La touche mobile doit exercer
sur l’échantillon une contrainte constante de
50 kPa k 5 kPa, basée sur la surface de la touche
Les normes suivantes contiennent des dispositions
mobile.
qui, par suite de la référence qui en est faite, consti-
tuent des dispositions valables pour la présente
Le micromètre doit être conforme à I’ISO 534:1988,
Norme internationale. Au moment de la publication,
tableau 2, à savoir:
les éditions indiquées étaient en vigueur. Toute
norme est sujette a révision et les parties prenantes
Caractéristiques du Valeur limite
des accords fondés sur la présente Norme internatio-
admissible
micromètre
nale sont invitées à rechercher la
...
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