ISO 10110-8:2019
(Main)Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 8: Surface texture
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 8: Surface texture
This document specifies rules for the indication of the surface texture of optical elements, in the ISO 10110 series, which standardizes drawing indications for optical elements and systems. Surface texture is the characteristic of a surface that can be effectively described with statistical methods. Typically, surface texture is associated with high spatial frequency errors (roughness) and mid-spatial frequency errors (waviness). This document is primarily intended for the specification of polished optics. This document describes a method for characterizing the residual surface that is left after detrending by subtracting the surface form. The control of the surface form specified in ISO 10110-5, ISO 10110-12, and ISO 10110-19 is not specified in this document.
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Partie 8: État de surface
Le présent document spécifie les règles d'indication de l'état de surface des éléments optiques, dans la série ISO 10110, qui normalise les indications sur les dessins pour les éléments et systèmes optiques. L'état de surface est la caractéristique d'une surface qui peut être efficacement décrite par des méthodes statistiques. L'état de surface est généralement associé à des erreurs de hautes fréquences spatiales (rugosité) et à des erreurs de fréquences spatiales moyennes (ondulation). Le présent document est essentiellement destiné à la spécification des optiques polies. Le présent document décrit une méthode de caractérisation de la surface résiduelle qui reste après redressement par soustraction de la forme de surface. Le contrôle de la forme de surface spécifié dans l'ISO 10110-5, l'ISO 10110-12 et l'ISO 10110-19, n'est pas traité dans le présent document.
General Information
Relations
Buy Standard
Standards Content (Sample)
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 10110-8
Third edition
2019-11
Optics and photonics — Preparation
of drawings for optical elements and
systems —
Part 8:
Surface texture
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et
systèmes optiques —
Partie 8: État de surface
Reference number
©
ISO 2019
© ISO 2019
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting
on the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address
below or ISO’s member body in the country of the requester.
ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2019 – All rights reserved
Contents Page
Foreword .iv
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Description of surface texture . 7
4.1 General . 7
4.2 Description of matt surfaces . 8
4.3 Description of optically smooth surfaces . 8
4.3.1 Description methods . 8
4.3.2 Rms roughness and rms waviness. 8
4.3.3 Polish grades . 9
4.3.4 Power spectral density (PSD) function . 9
4.3.5 Area power spectral density (APSD) function.10
4.3.6 Rms slope .11
4.3.7 Area rms slope .11
5 Indication in drawings .11
5.1 General .11
5.2 Indication for matt surface texture .11
5.3 Indication for optically smooth surface texture .12
5.3.1 Optically smooth surface without quantitative modification .12
5.3.2 Indication of smoothness by polish grade .12
5.3.3 Indication of rms roughness and rms waviness .13
5.3.4 Indication of PSD function specification .13
5.3.5 Indication of APSD function specification .13
5.3.6 Indication of rms or area rms slope specification .14
5.3.7 Indication of lay .14
5.4 Location .15
Annex A (informative) Relationship between surface texture and scattering characteristic
of textured surfaces .16
Annex B (informative) Examples of indication of surface texture requirements .18
Bibliography .22
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www .iso .org/
iso/ foreword .html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and Photonics, Subcommittee
SC 1, Fundamental Standards.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 10110-8:2010), which has been
technically revised.
The main changes compared to the previous edition are as follows:
a) a drawing notation and interpretation is provided for the following additional areal terms: Sa, Sq,
SΔq, and APSD;
b) the following terms are explicitly allowed: Ra, Rsk, Rku, and ACV, which also required the addition
of more definitions, and additional examples.
c) this edition removes the reference to micro-defects as a method of determining polish grade, and
replaces it with specific rms roughness values.
A list of all parts in the ISO 10110 series can be found on the ISO website.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
iv © ISO 2019 – All rights reserved
INTERNATIONAL STANDARD ISO 10110-8:2019(E)
Optics and photonics — Preparation of drawings for
optical elements and systems —
Part 8:
Surface texture
1 Scope
This document specifies rules for the indication of the surface texture of optical elements, in the
ISO 10110 series, which standardizes drawing indications for optical elements and systems. Surface
texture is the characteristic of a surface that can be effectively described with statistical methods.
Typically, surface texture is associated with high spatial frequency errors (roughness) and mid-spatial
frequency errors (waviness).
This document is primarily intended for the specification of polished optics.
This document describes a method for characterizing the residual surface that is left after detrending
by subtracting the surface form. The control of the surface form specified in ISO 10110-5, ISO 10110-12,
and ISO 10110-19 is not specified in this document.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 1302:2002, Geometrical Product Specifications (GPS) — Indication of surface texture in technical
product documentation
ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms,
definitions and surface texture parameters
ISO 10110-1, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems, Part 1:
General
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 4287 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at http:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at http:// www .electropedia .org/
3.1
surface texture
characteristic relating to the profile of an optical surface that can be effectively described with
statistical methods
Note 1 to entry: Localized defects, known as surface imperfections, are specified in ISO 10110-7.
3.2
matt surface
optical surface for which the height variation of the surface texture is not considerably smaller than the
wavelength of light
Note 1 to entry: Matt surfaces are usually produced by brittle grinding of glass or other dielectric material, or by
etching.
3.3
optically smooth surface
optical surface for which the height variation of the surface texture is considerably smaller than the
wavelength of light
Note 1 to entry: Due to the smaller height variation, the amount of light scattered is small.
Note 2 to entry: Optically smooth surfaces are usually produced by polishing or moulding.
3.4
reference profile
trace on which the probe of contact (stylus) instruments is moved within the intersection plane along
the guide
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.2, modified — "of contact (stylus) instruments" has been inserted and the
Note to entry has been omitted.]
3.5
total profile
digital form of the traced profile relative to the reference profile, with the vertical and horizontal
coordinates assigned to each other
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.3, modified — The Note to entry has been omitted.]
3.6
profile filter
filter which separates profiles into longwave and shortwave components
Note 1 to entry: There are three filters used in instruments for measuring roughness, waviness and primary
profiles (see Figure 1). They all have the same transmission characteristics, defined in ISO 11610-21, but different
cut-off wavelengths.
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1, modified — In the definition, ISO 11562 has been deleted. In Note 1 to
entry, ISO 11562 has been replaced by ISO 11610-21.]
3.7
profile filter λ
s
filter which defines the intersection between the roughness and the even shorter wave components
present in a surface (see Figure 1)
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1.1, modified — “λ profile filter” has been replaced by “profile filter λ ”.]
s s
3.8
profile filter λ
c
filter which defines the intersection between the roughness and waviness components (see Figure 1)
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1.2, modified — “λ profile filter” has been replaced by “profile filter λ ”.]
c c
3.9
profile filter λ
f
filter which defines the intersection between the waviness and the even longer wave components
present in a surface (see Figure 1)
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1.3, modified — “λ profile filter” has been replaced by “profile filter λ ”.]
f f
2 © ISO 2019 – All rights reserved
3.10
primary profile
total profile after application of the short wavelength filter, λ
s
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.4, modified — The Note to entry has been removed.]
3.11
roughness profile
profile derived from the primary profile by suppressing the longwave component using the profile filter
λ ; this profile is intentionally modified (see Figure 1)
c
[SOURC
...
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 10110-8
Third edition
2019-11
Optics and photonics — Preparation
of drawings for optical elements and
systems —
Part 8:
Surface texture
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et
systèmes optiques —
Partie 8: État de surface
Reference number
©
ISO 2019
© ISO 2019
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting
on the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address
below or ISO’s member body in the country of the requester.
ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO 2019 – All rights reserved
Contents Page
Foreword .iv
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Description of surface texture . 7
4.1 General . 7
4.2 Description of matt surfaces . 8
4.3 Description of optically smooth surfaces . 8
4.3.1 Description methods . 8
4.3.2 Rms roughness and rms waviness. 8
4.3.3 Polish grades . 9
4.3.4 Power spectral density (PSD) function . 9
4.3.5 Area power spectral density (APSD) function.10
4.3.6 Rms slope .11
4.3.7 Area rms slope .11
5 Indication in drawings .11
5.1 General .11
5.2 Indication for matt surface texture .11
5.3 Indication for optically smooth surface texture .12
5.3.1 Optically smooth surface without quantitative modification .12
5.3.2 Indication of smoothness by polish grade .12
5.3.3 Indication of rms roughness and rms waviness .13
5.3.4 Indication of PSD function specification .13
5.3.5 Indication of APSD function specification .13
5.3.6 Indication of rms or area rms slope specification .14
5.3.7 Indication of lay .14
5.4 Location .15
Annex A (informative) Relationship between surface texture and scattering characteristic
of textured surfaces .16
Annex B (informative) Examples of indication of surface texture requirements .18
Bibliography .22
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www .iso .org/
iso/ foreword .html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and Photonics, Subcommittee
SC 1, Fundamental Standards.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 10110-8:2010), which has been
technically revised.
The main changes compared to the previous edition are as follows:
a) a drawing notation and interpretation is provided for the following additional areal terms: Sa, Sq,
SΔq, and APSD;
b) the following terms are explicitly allowed: Ra, Rsk, Rku, and ACV, which also required the addition
of more definitions, and additional examples.
c) this edition removes the reference to micro-defects as a method of determining polish grade, and
replaces it with specific rms roughness values.
A list of all parts in the ISO 10110 series can be found on the ISO website.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
iv © ISO 2019 – All rights reserved
INTERNATIONAL STANDARD ISO 10110-8:2019(E)
Optics and photonics — Preparation of drawings for
optical elements and systems —
Part 8:
Surface texture
1 Scope
This document specifies rules for the indication of the surface texture of optical elements, in the
ISO 10110 series, which standardizes drawing indications for optical elements and systems. Surface
texture is the characteristic of a surface that can be effectively described with statistical methods.
Typically, surface texture is associated with high spatial frequency errors (roughness) and mid-spatial
frequency errors (waviness).
This document is primarily intended for the specification of polished optics.
This document describes a method for characterizing the residual surface that is left after detrending
by subtracting the surface form. The control of the surface form specified in ISO 10110-5, ISO 10110-12,
and ISO 10110-19 is not specified in this document.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 1302:2002, Geometrical Product Specifications (GPS) — Indication of surface texture in technical
product documentation
ISO 4287:1997, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms,
definitions and surface texture parameters
ISO 10110-1, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems, Part 1:
General
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 4287 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at http:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at http:// www .electropedia .org/
3.1
surface texture
characteristic relating to the profile of an optical surface that can be effectively described with
statistical methods
Note 1 to entry: Localized defects, known as surface imperfections, are specified in ISO 10110-7.
3.2
matt surface
optical surface for which the height variation of the surface texture is not considerably smaller than the
wavelength of light
Note 1 to entry: Matt surfaces are usually produced by brittle grinding of glass or other dielectric material, or by
etching.
3.3
optically smooth surface
optical surface for which the height variation of the surface texture is considerably smaller than the
wavelength of light
Note 1 to entry: Due to the smaller height variation, the amount of light scattered is small.
Note 2 to entry: Optically smooth surfaces are usually produced by polishing or moulding.
3.4
reference profile
trace on which the probe of contact (stylus) instruments is moved within the intersection plane along
the guide
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.2, modified — "of contact (stylus) instruments" has been inserted and the
Note to entry has been omitted.]
3.5
total profile
digital form of the traced profile relative to the reference profile, with the vertical and horizontal
coordinates assigned to each other
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.3, modified — The Note to entry has been omitted.]
3.6
profile filter
filter which separates profiles into longwave and shortwave components
Note 1 to entry: There are three filters used in instruments for measuring roughness, waviness and primary
profiles (see Figure 1). They all have the same transmission characteristics, defined in ISO 11610-21, but different
cut-off wavelengths.
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1, modified — In the definition, ISO 11562 has been deleted. In Note 1 to
entry, ISO 11562 has been replaced by ISO 11610-21.]
3.7
profile filter λ
s
filter which defines the intersection between the roughness and the even shorter wave components
present in a surface (see Figure 1)
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1.1, modified — “λ profile filter” has been replaced by “profile filter λ ”.]
s s
3.8
profile filter λ
c
filter which defines the intersection between the roughness and waviness components (see Figure 1)
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1.2, modified — “λ profile filter” has been replaced by “profile filter λ ”.]
c c
3.9
profile filter λ
f
filter which defines the intersection between the waviness and the even longer wave components
present in a surface (see Figure 1)
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1.3, modified — “λ profile filter” has been replaced by “profile filter λ ”.]
f f
2 © ISO 2019 – All rights reserved
3.10
primary profile
total profile after application of the short wavelength filter, λ
s
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.4, modified — The Note to entry has been removed.]
3.11
roughness profile
profile derived from the primary profile by suppressing the longwave component using the profile filter
λ ; this profile is intentionally modified (see Figure 1)
c
[SOURC
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 10110-8
Troisième édition
2019-11
Optique et photonique — Indications
sur les dessins pour éléments et
systèmes optiques —
Partie 8:
État de surface
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements
and systems —
Part 8: Surface texture
Numéro de référence
©
ISO 2019
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2019
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2019 – Tous droits réservés
Sommaire Page
Avant-propos .iv
1 Domaine d'application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Description de l'état de surface . 7
4.1 Généralités . 7
4.2 Description des surfaces dépolies . 8
4.3 Description des surfaces optiquement lisses . 9
4.3.1 Méthodes de description . 9
4.3.2 Rugosité et ondulation quadratiques moyennes . 9
4.3.3 Degrés de polissage .10
4.3.4 Fonction de densité spectrale de puissance (PSD) .10
4.3.5 Fonction de densité spectrale de surface (APSD) .11
4.3.6 Pente quadratique moyenne .12
4.3.7 Pente quadratique moyenne de surface .12
5 Indication figurant sur les dessins .12
5.1 Généralités .12
5.2 Indication pour un état de surface dépoli.12
5.3 Indication pour un état de surface optiquement lisse .13
5.3.1 Surface optiquement lisse sans modification quantitative .13
5.3.2 Indication du polissage par degré .13
5.3.3 Indication de la rugosité quadratique moyenne de surface et de
l'ondulation quadratique moyenne de surface .14
5.3.4 Indication de la spécification de la fonction PSD .14
5.3.5 Indication de la spécification de la fonction APSD .15
5.3.6 Indication de pente quadratique moyenne ou de pente quadratique
moyenne de surface .15
5.3.7 Indication de l'orientation .16
5.4 Positionnement .16
Annexe A (informative) Relation entre l'état de surface et les caractéristiques de diffusion
des surfaces complexes .17
Annexe B (informative) Exemples d'indication pour les exigences d'état de surface .19
Bibliographie .23
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l'intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l'Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/ iso/ fr/ avant -propos .html.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 172, Optique et photonique, sous-
comité SC 1, Normes fondamentales.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 10110-8:2010), qui a fait l'objet
d'une révision technique.
Les principales modifications par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:
a) une annotation sur le dessin et une interprétation sont fournies pour les termes surfaciques
supplémentaires suivants: Sa, Sq, SΔq, et APSD;
b) les termes suivants sont explicitement autorisés: Ra, Rsk, Rku et ACV, qui ont également requis
l'ajout d'autres définitions et d'exemples supplémentaires;
c) dans cette édition ne figure plus la référence aux microdéfauts en tant que méthode de
détermination du degré de polissage. Elle est remplacée par des valeurs de rugosité quadratique
moyenne spécifiques.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 10110 se trouve sur le site Web de l'ISO.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
iv © ISO 2019 – Tous droits réservés
NORME INTERNATIONALE ISO 10110-8:2019(F)
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour
éléments et systèmes optiques —
Partie 8:
État de surface
1 Domaine d'application
Le présent document spécifie les règles d'indication de l'état de surface des éléments optiques, dans la
série ISO 10110, qui normalise les indications sur les dessins pour les éléments et systèmes optiques.
L'état de surface est la caractéristique d'une surface qui peut être efficacement décrite par des méthodes
statistiques. L'état de surface est généralement associé à des erreurs de hautes fréquences spatiales
(rugosité) et à des erreurs de fréquences spatiales moyennes (ondulation).
Le présent document est essentiellement destiné à la spécification des optiques polies.
Le présent document décrit une méthode de caractérisation de la surface résiduelle qui reste après
redressement par soustraction de la forme de surface. Le contrôle de la forme de surface spécifié dans
l’ISO 10110-5, l'ISO 10110-12 et l'ISO 10110-19, n'est pas traité dans le présent document.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu'ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique.
Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les
éventuels amendements).
ISO 1302:2002, Spécification géométrique des produits (GPS) — Indication des états de surface dans la
documentation technique de produits
ISO 4287:1997, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil —
Termes, définitions et paramètres d'état de surface
ISO 10110-1, Optiques et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques —
Partie 1: Généralités
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l'ISO 4287 ainsi que les
suivants s'appliquent.
L'ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse http:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l'adresse http:// www .electropedia .org/
3.1
état de surface
caractéristique relative au profil d'une surface optique qui peut être efficacement décrite par des
méthodes statistiques
Note 1 à l'article: Les défauts localisés, connus en tant que défauts de surface, sont traités dans l'ISO 10110-7.
3.2
surface dépolie
surface optique pour laquelle la variation de hauteur de l'état de surface est légèrement inférieure à la
longueur d'onde de la lumière visible
Note 1 à l'article: Les surfaces dépolies sont habituellement obtenues par dépolissage jusqu'au point de fragilité
du verre ou d'un autre matériau diélectrique, ou par corrosion.
3.3
surface lisse d'un point de vue optique
surface optique pour laquelle la variation de hauteur de l'état de surface est considérablement inférieure
à la longueur d'onde de la lumière visible
Note 1 à l'article: En raison de la plus faible variation de hauteur, la quantité de lumière diffusée est faible.
Note 2 à l'article: Les surfaces optiques lisses sont habituellement produites par polissage ou par moulage.
3.4
profil de référence
chemin parcouru par la sonde des appareils à contact (palpeur) le long de la référence de guidage dans
le plan d'intersection
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.2, modifiée — «sonde des appareils à contact (palpeur)» a été inséré et la
Note à l'article a été omise.]
3.5
profil total
représentation numérique du profil tracé rapportée au profil de référence, avec les coordonnées
horizontales et verticales correspondantes
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.3, modifiée — La Note à l'article a été omise.]
3.6
filtre de profil
filtre qui sépare le profil en composantes de longueur d'onde longue et composantes de longueur
d'onde courte
Note 1 à l'article: Trois filtres sont utilisés dans les instruments de mesure des profils de rugosité, d'ondulation
et du profil primaire (voir Figure 1). Ils ont tous les mêmes caractéristiques de transmission, définies dans
l'ISO 11610-21, mais des longueurs d'onde de coupure différentes.
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1, modifiée — Dans la définition, l’ISO 11562 a été supprimée. Dans la
Note 1 à l’article, l’ISO 11562 a été remplacée par l’ISO 11610-21.]
3.7
filtre de profil λ
s
filtre qui définit la séparation entre les composantes de ru
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 10110-8
Troisième édition
2019-11
Optique et photonique — Indications
sur les dessins pour éléments et
systèmes optiques —
Partie 8:
État de surface
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements
and systems —
Part 8: Surface texture
Numéro de référence
©
ISO 2019
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2019
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2019 – Tous droits réservés
Sommaire Page
Avant-propos .iv
1 Domaine d'application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Description de l'état de surface . 7
4.1 Généralités . 7
4.2 Description des surfaces dépolies . 8
4.3 Description des surfaces optiquement lisses . 9
4.3.1 Méthodes de description . 9
4.3.2 Rugosité et ondulation quadratiques moyennes . 9
4.3.3 Degrés de polissage .10
4.3.4 Fonction de densité spectrale de puissance (PSD) .10
4.3.5 Fonction de densité spectrale de surface (APSD) .11
4.3.6 Pente quadratique moyenne .12
4.3.7 Pente quadratique moyenne de surface .12
5 Indication figurant sur les dessins .12
5.1 Généralités .12
5.2 Indication pour un état de surface dépoli.12
5.3 Indication pour un état de surface optiquement lisse .13
5.3.1 Surface optiquement lisse sans modification quantitative .13
5.3.2 Indication du polissage par degré .13
5.3.3 Indication de la rugosité quadratique moyenne de surface et de
l'ondulation quadratique moyenne de surface .14
5.3.4 Indication de la spécification de la fonction PSD .14
5.3.5 Indication de la spécification de la fonction APSD .15
5.3.6 Indication de pente quadratique moyenne ou de pente quadratique
moyenne de surface .15
5.3.7 Indication de l'orientation .16
5.4 Positionnement .16
Annexe A (informative) Relation entre l'état de surface et les caractéristiques de diffusion
des surfaces complexes .17
Annexe B (informative) Exemples d'indication pour les exigences d'état de surface .19
Bibliographie .23
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l'intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l'Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/ iso/ fr/ avant -propos .html.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 172, Optique et photonique, sous-
comité SC 1, Normes fondamentales.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 10110-8:2010), qui a fait l'objet
d'une révision technique.
Les principales modifications par rapport à l'édition précédente sont les suivantes:
a) une annotation sur le dessin et une interprétation sont fournies pour les termes surfaciques
supplémentaires suivants: Sa, Sq, SΔq, et APSD;
b) les termes suivants sont explicitement autorisés: Ra, Rsk, Rku et ACV, qui ont également requis
l'ajout d'autres définitions et d'exemples supplémentaires;
c) dans cette édition ne figure plus la référence aux microdéfauts en tant que méthode de
détermination du degré de polissage. Elle est remplacée par des valeurs de rugosité quadratique
moyenne spécifiques.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 10110 se trouve sur le site Web de l'ISO.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
iv © ISO 2019 – Tous droits réservés
NORME INTERNATIONALE ISO 10110-8:2019(F)
Optique et photonique — Indications sur les dessins pour
éléments et systèmes optiques —
Partie 8:
État de surface
1 Domaine d'application
Le présent document spécifie les règles d'indication de l'état de surface des éléments optiques, dans la
série ISO 10110, qui normalise les indications sur les dessins pour les éléments et systèmes optiques.
L'état de surface est la caractéristique d'une surface qui peut être efficacement décrite par des méthodes
statistiques. L'état de surface est généralement associé à des erreurs de hautes fréquences spatiales
(rugosité) et à des erreurs de fréquences spatiales moyennes (ondulation).
Le présent document est essentiellement destiné à la spécification des optiques polies.
Le présent document décrit une méthode de caractérisation de la surface résiduelle qui reste après
redressement par soustraction de la forme de surface. Le contrôle de la forme de surface spécifié dans
l’ISO 10110-5, l'ISO 10110-12 et l'ISO 10110-19, n'est pas traité dans le présent document.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu'ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique.
Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les
éventuels amendements).
ISO 1302:2002, Spécification géométrique des produits (GPS) — Indication des états de surface dans la
documentation technique de produits
ISO 4287:1997, Spécification géométrique des produits (GPS) — État de surface: Méthode du profil —
Termes, définitions et paramètres d'état de surface
ISO 10110-1, Optiques et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques —
Partie 1: Généralités
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l'ISO 4287 ainsi que les
suivants s'appliquent.
L'ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse http:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l'adresse http:// www .electropedia .org/
3.1
état de surface
caractéristique relative au profil d'une surface optique qui peut être efficacement décrite par des
méthodes statistiques
Note 1 à l'article: Les défauts localisés, connus en tant que défauts de surface, sont traités dans l'ISO 10110-7.
3.2
surface dépolie
surface optique pour laquelle la variation de hauteur de l'état de surface est légèrement inférieure à la
longueur d'onde de la lumière visible
Note 1 à l'article: Les surfaces dépolies sont habituellement obtenues par dépolissage jusqu'au point de fragilité
du verre ou d'un autre matériau diélectrique, ou par corrosion.
3.3
surface lisse d'un point de vue optique
surface optique pour laquelle la variation de hauteur de l'état de surface est considérablement inférieure
à la longueur d'onde de la lumière visible
Note 1 à l'article: En raison de la plus faible variation de hauteur, la quantité de lumière diffusée est faible.
Note 2 à l'article: Les surfaces optiques lisses sont habituellement produites par polissage ou par moulage.
3.4
profil de référence
chemin parcouru par la sonde des appareils à contact (palpeur) le long de la référence de guidage dans
le plan d'intersection
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.2, modifiée — «sonde des appareils à contact (palpeur)» a été inséré et la
Note à l'article a été omise.]
3.5
profil total
représentation numérique du profil tracé rapportée au profil de référence, avec les coordonnées
horizontales et verticales correspondantes
[SOURCE: ISO 3274:1996, 3.1.3, modifiée — La Note à l'article a été omise.]
3.6
filtre de profil
filtre qui sépare le profil en composantes de longueur d'onde longue et composantes de longueur
d'onde courte
Note 1 à l'article: Trois filtres sont utilisés dans les instruments de mesure des profils de rugosité, d'ondulation
et du profil primaire (voir Figure 1). Ils ont tous les mêmes caractéristiques de transmission, définies dans
l'ISO 11610-21, mais des longueurs d'onde de coupure différentes.
[SOURCE: ISO 4287:1997, 3.1.1, modifiée — Dans la définition, l’ISO 11562 a été supprimée. Dans la
Note 1 à l’article, l’ISO 11562 a été remplacée par l’ISO 11610-21.]
3.7
filtre de profil λ
s
filtre qui définit la séparation entre les composantes de ru
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.