Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks — X-ray diffraction method

This document specifies a method for the quantitative analysis of residual quartz (i.e. alpha-quartz) in silica bricks within the mass fraction range of 0,3 % to 5,0 %, by X-ray diffraction (XRD) using a Bragg-Brentano diffractometer. This document includes details of sample preparation and of preliminary establishment of a working curve using external standards. This document does not address the safety issues associated with its use. The ground silica brick powders and reference materials may cause damage to lungs through prolonged or repeat inhalation during tests. It is responsibility of the users of this standard to establish appropriate safety and health practices.

Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les briques de silice — Méthode par diffraction des rayons X

La présente norme spécifie une méthode d'analyse quantitative du quartz résiduel (c'est-à-dire du quartz alpha) présent dans les briques de silice à une teneur massique comprise entre 0,3 % et 5,0 %, par diffraction des rayons X (DRX), au moyen d'un diffractomètre à géométrie Bragg-Brentano. Elle fournit également des informations concernant la préparation des échantillons et l'établissement préliminaire d'une courbe d'étalonnage à l'aide d'étalons externes. Ce document n'aborde pas les questions de sécurité liées à son utilisation. Les poudres de briques de silice broyées et les matériaux de référence peuvent provoquer des lésions pulmonaires en cas d'inhalation prolongée ou répétée pendant les essais. Il incombe aux utilisateurs de cette norme de mettre en place des pratiques appropriées en matière de sécurité et de santé.

General Information

Status
Published
Publication Date
03-Jul-2025
Technical Committee
Drafting Committee
Current Stage
6060 - International Standard published
Start Date
04-Jul-2025
Due Date
22-Jul-2025
Completion Date
04-Jul-2025
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ISO 16206:2025 - Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks — X-ray diffraction method Released:4. 07. 2025
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Standards Content (Sample)


International
Standard
ISO 16206
First edition
Phase quantitative analysis of
2025-07
residual quartz in silica bricks —
X-ray diffraction method
Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les
briques de silice — Méthode par diffraction des rayons X
Reference number
© ISO 2025
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on
the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address below
or ISO’s member body in the country of the requester.
ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii
Contents Page
Foreword .iv
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Principle . 2
5 Apparatus . 2
6 Alpha-quartz reference materials . 2
7 Sampling . 2
8 Procedure . 2
8.1 Number of test pieces .2
8.2 Establishment of a working curve .3
8.2.1 Preparation of reference materials .3
8.2.2 Preparation of test pieces .3
8.2.3 Measuring parameters .3
8.2.4 Measure .3
8.2.5 Working curve .3
8.3 Analysis of the sample .4
8.3.1 Preparation of the test pieces .4
8.3.2 Measure .4
9 Test result . . 4
10 Test report . 4
Annex A (informative) Results of round robin test and precision statistics . 5
Annex B (informative) Calculation of limit of detection and limit of quantification . 7
Bibliography . 8

iii
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through
ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee
has been established has the right to be represented on that committee. International organizations,
governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely
with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described
in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types
of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the
ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
ISO draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a)
patent(s). ISO takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent rights
in respect thereof. As of the date of publication of this document, ISO had not notice of (a) patent(s) which may
be required to implement this document. However, implementers are cautioned that this may not represent
the latest information, which may be obtained from the patent database available at www.iso.org/patents.
ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions
related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade
Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 33, Refractories.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www.iso.org/members.html.

iv
International Standard ISO 16206:2025(en)
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica
bricks — X-ray diffraction method
1 Scope
This document specifies a method for the quantitative analysis of residual quartz (i.e. alpha-quartz) in silica
bricks within the mass fraction range of 0,3 % to 5,0 %, by X-ray diffraction (XRD) using a Bragg-Brentano
diffractometer. This document includes details of sample preparation and of preliminary establishment of a
working curve using external standards.
This document does not address the safety issues associated with its use. The ground silica brick powders
and reference materials may cause damage to lungs through prolonged or repeat inhalation during tests. It
is responsibility of the users of this standard to establish appropriate safety and health practices.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes
requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references,
the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 836, Terminology for refractories
ISO 5022, Shaped refractory products — Sampling and acceptance testing
ISO 23071:2021, Refractory products — Determination of reduced species in carbon containing refractories by XRD
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 836 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https:// www. iso. org/o bp
— IEC Electropedia: available at https:// www.e lectropedia. org/
3.1
sample
representative collection of items that can be obtained by sampling according to a sampling plan agreed
upon by the interested parties
Note 1 to entry: An example sampling plan is given in ISO 5022.
3.2
silica brick
refractory brick containing SiO greater than or equal to 93 % by mass
3.3
item
refractory silica brick (3.2)
3.4
test portion
amount of powder, taken from a crushed and ground item (3.3)

3.5
test piece
piece of material for the test, prepared by compaction into an adequate holder from test portion (3.4)
3.6
diluent
silica brick without alpha-quartz
EXAMPLE Used silica bricks in the working area served for more than 10 years, containing tridymite and a small
amount of glass phase, and alpha-quartz is not detected.
4 Principle
The X-ray diffraction peak intensity of a phase to be measured in multi-phase materials is proportional to the
phase content. Silica bricks are mainly composed of phases of tridymite, cristobalite and alpha -quartz. The
quantitative analysis of alpha-quartz phase in silica bricks is conducted by the external standard method.
5 Apparatus
5.1 X-ray diffractometer, in accordance with in ISO 23071:2021, Clauses 4 and 5.
5.2 Grinder and suitable grinding media, which shall not contaminate the test portion, e.g. tungsten
carbide or zirconia, grinding the item(s) into powder with particle size no more than 0,030 mm.
5.3 Analytical balance, with a sensitivity of 0,1 mg.
5.4 Drying oven, capable of being controlled at (110 ± 5) °C, or other device which has an equivalent
heating effect.
5.5 Cavity holder, powder holder and punch.
6 Alpha-quartz reference materials
The alpha-quartz content of the reference materials, e.g. NIST 1878b, shall not be less than a mass fraction of
95 %; other phases shall not be observed through X-ray diffraction or polarizing microscopy. Alternatively, a
series of reference materials qualified may be used for establishment of a working curve, e.g. GSB S2021004.
7 Sampling
A sample shall consist of at least four items, obtained by sampling in accordance with ISO 5022, or a sampling
plan agreed upon by the interested parties.
8 Procedure
8.1 Number of test pieces
A test portion shall be prepared for each item. Five test pieces shall be prepared for each test portion.
If the test portion is insufficient for preparing five test pieces, reuse the measured materials after re-
homogenising and re-shaping for subsequent measurements.

8.2 Establishment of a working curve
8.2.1 Preparation of reference materials
Dry the alpha-quartz reference materials (Clause 6) in a drying oven at (110 ± 5) °C to a constant mass, then
move to a dryer and cool to the room temperature.
Weigh an appropriate amount of alpha-quartz reference material (e.g. NIST 1878b) and diluent. Dilute the
alpha-quartz reference material by the diluent to get mixtures with the alpha-quartz content of 0,5 %,
1,0 %, 2,0 %, 3,0 %, 4,0 % and 5,0 %, respectively. Mix well till uniform. Series reference materials (e.g. GSB
S2021004) can also be directly used.
8.2.2 Preparation of test pieces
For each external standard mixture prepared, five test pieces shall be prepared from test portions. Fill a
sufficient amount of test portion into the powder holder to form a test piece using the punch by hand keeping
the surface flat, the thickness consistent and the packing density consistent. Backfilling the cavity holder is
preferred to minimise the effect of orientation of the test piece. The depth of the cavity shall be sufficient to
exceed the critical depth of the incident radiation for the test pieces. The dimensions of the powder holder
shall be such that X-rays irradiating outside of the test piece volume can be avoided.
The test pieces shall have a complete shape during the entire test.
8.2.3 Measuring parameters
The angular scan shall be sufficient to include the <101> peak of the alpha-quartz, as a minimum that shall be:
— Start angle, 2θ 25,0° for Cu X-ray tube or 30,5° for Co X-ray tube.
— End angle, 2θ 28,0° for Cu X-ray tube or 31,5° for Co X-ray tube.
In order to maximize the information content in diffraction pattern and, at the same time, the efficiency of
data collection, measuring paramete
...


Norme
internationale
ISO 16206
Première édition
Analyse quantitative de la phase de
2025-07
quartz résiduel dans les briques de
silice — Méthode par diffraction des
rayons X
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks —
X-ray diffraction method
Numéro de référence
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2025
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii
Sommaire Page
Avant-propos .iv
1 Domaine d'application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Principe. 2
5 Appareillage . 2
6 Matériaux de référence à teneur en quartz alpha . 2
7 Échantillonnage . 2
8 Mode opératoire . 3
8.1 Nombre d'éprouvettes.3
8.2 Établissement d'une courbe d'étalonnage .3
8.2.1 Préparation des matériaux de référence .3
8.2.2 Préparation des éprouvettes .3
8.2.3 Paramètres de mesure .3
8.2.4 Mesure .4
8.2.5 Courbe d'étalonnage . .4
8.3 Analyse de l'échantillon .4
8.3.1 Préparation des éprouvettes .4
8.3.2 Mesure .4
9 Résultats d'essai . 4
10 Rapport d'essai . 4
Annexe A (informative) Résultats de l'essai interlaboratoires et statistiques de fidélité . 6
Annexe B (informative) Calcul de la limite de détection et de la limite de quantification . 8
Bibliographie . 9

iii
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes nationaux
de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est en général
confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire
partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux. L'ISO collabore étroitement avec
la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document
a été rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2
(voir www.iso.org/directives).
L'ISO attire l'attention sur le fait que la mise en application du présent document peut entraîner l'utilisation
d'un ou de plusieurs brevets. L'ISO ne prend pas position quant à la preuve, à la validité et à l'applicabilité de
tout droit de propriété revendiqué à cet égard. À la date de publication du présent document, l'ISO n'avait pas
reçu notification qu'un ou plusieurs brevets pouvaient être nécessaires à sa mise en application. Toutefois,
il y a lieu d'avertir les responsables de la mise en application du présent document que des informations
plus récentes sont susceptibles de figurer dans la base de données de brevets, disponible à l'adresse
www.iso.org/brevets. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié tout ou partie de
tels droits de brevet.
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données pour
information, par souci de commodité, à l'intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion de
l'ISO aux principes de l'Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles techniques au
commerce (OTC), voir www.iso.org/avant-propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 33, Matériaux réfractaires.
Il convient que l'utilisateur adresse tout retour d'information ou toute question concernant le présent
document à l'organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes se
trouve à l'adresse www.iso.org/fr/members.html.

iv
Norme internationale ISO 16206:2025(fr)
Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les
briques de silice — Méthode par diffraction des rayons X
1 Domaine d'application
La présente norme spécifie une méthode d'analyse quantitative du quartz résiduel (c'est-à-dire du quartz
alpha) présent dans les briques de silice à une teneur massique comprise entre 0,3 % et 5,0 %, par diffraction
des rayons X (DRX), au moyen d'un diffractomètre à géométrie Bragg-Brentano. Elle fournit également
des informations concernant la préparation des échantillons et l'établissement préliminaire d'une courbe
d'étalonnage à l'aide d'étalons externes.
Ce document n'aborde pas les questions de sécurité liées à son utilisation. Les poudres de briques de silice
broyées et les matériaux de référence peuvent provoquer des lésions pulmonaires en cas d'inhalation
prolongée ou répétée pendant les essais. Il incombe aux utilisateurs de cette norme de mettre en place des
pratiques appropriées en matière de sécurité et de santé.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu'ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour
les références non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
ISO 836, Terminologie des matériaux réfractaires
ISO 5022, Produits réfractaires façonnés — Échantillonnage et contrôle de réception
ISO 23071:2021, Produits réfractaires - Détermination par DRX des espèces réduites dans les réfractaires
contenant du carbone
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l’ISO 836 et suivants s'appliquent.
L'ISO et l'IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en normalisation,
consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l'adresse https:// www .electropedia .org/
3.1
échantillon
ensemble représentatif d'individus, qui peut être obtenu par échantillonnage selon un plan d'échantillonnage
convenu entre les parties intéressées
Note 1 à l'article: Un exemple de plan d'échantillonnage est donné dans l'ISO 5022.
3.2
brique de silice
brique réfractaire contenant du SiO supérieur ou égal à 93 % en masse
3.3
individu
brique ou bloc réfractaire (3.2)
3.4
prise d'essai
quantité de poudre prélevée sur un individu (3.3) concassé et broyé
3.5
éprouvette
fraction de matériau destinée à l'essai, préparée par compactage dans un porte-échantillon adapté à partir
de la prise d'essai (3.4)
3.6
diluant
brique de silice sans quartz alpha
EXEMPLE Les briques de silice utilisées dans la zone de travail depuis plus de 10 ans contiennent de la tridymite
et une petite quantité de phase vitreuse, et le quartz alpha n'est pas détecté.
4 Principe
Dans un matériau multiphasé, l'intensité des pics d'une phase obtenue par diffraction des rayons X est
proportionnelle à la teneur de ladite phase. Les briques de silice sont principalement composées de phases
tridymite, cristobalite et quartz alpha. La phase de quartz alpha dans les briques de silice est analysée
quantitativement au moyen de la méthode de l'étalon externe.
5 Appareillage
5.1 Diffractomètre à rayons X, conformément à l'Article 4 et l'Article 5 de l'ISO 23071:2021.
5.2 Broyeur et corps de broyage en carbure de tungstène ou zircone par exemple, qui ne doit pas
contaminer la prise d'essai en broyant et réduisant en poudre le(s) individu(s) avec une granulométrie
inférieure ou égale à 0,030 mm.
5.3 Balance analytique, d'une précision de 0,1 mg.
5.4 Étuve de séchage, pouvant être régulée à une température de (110 ± 5) °C, ou autre dispositif pouvant
procurer un chauffage équivalent.
5.5 support de porte-échantillon, le porte-échantillon et le poinçon.
6 Matériaux de référence à teneur en quartz alpha
La teneur en quartz alpha des matériaux de référence (par exemple, NIST 1878b) ne doit pas être inférieure
à une teneur massique de 95 %. Aucune autre phase ne doit être observée par diffraction des rayons X ou
par microscopie polarisante. Il est possible également d'utiliser une série de matériaux de référence certifiés
pour établir une courbe d'étalonnage (par exemple, GSB S2021004).
7 Échantillonnage
Conformément à l’ISO 5022, un échantillon est composé d'au moins quatre individus, obtenus par
échantillonnage selon un plan d'échantillonnage convenu entre les parties intéressées.

8 Mode opératoire
8.1 Nombre d'éprouvettes
Une prise d'essai doit être préparée pour chaque individu. Pour chaque prise d'essai, cinq éprouvettes
doivent être préparées.
Si la prise d'essai ne suffit pas pour préparer cinq éprouvettes, les éprouvettes utilisées doivent être ré-
homogénéisées et remises en forme en vue des mesurages ultérieurs.
8.2 Établissement d'une courbe d'étalonnage
8.2.1 Préparation des matériaux de référence
Sécher le matériau de référence contenant du quartz alpha (Article 6) dans une étuve de séchage à une
température de (110 ± 5) °C jusqu'à masse constante; le placer ensuite dans un dessiccateur et le laisser
refroidir à température ambiante.
Peser une quantité appropriée de matériau de référence contenant du quartz alpha (par exemple,
NIST 1878b) et de diluant. Réduire la concentration en quartz alpha du matériau de référence par ajout de
diluant de sorte à obtenir les teneurs en quartz alpha respectives suivantes: 0,5 %, 1,0 %, 2,0 %, 3,0 %,
4,0 %, et 5,0 %. Bien mélanger po
...


FINAL DRAFT
International
Standard
ISO/FDIS 16206
ISO/TC 33
Phase quantitative analysis of
Secretariat: BSI
residual quartz in silica bricks —
Voting begins on:
X-ray diffraction method
2025-04-08
Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les
Voting terminates on:
briques de silice — Méthode par diffraction des rayons X
2025-06-03
RECIPIENTS OF THIS DRAFT ARE INVITED TO SUBMIT,
WITH THEIR COMMENTS, NOTIFICATION OF ANY
RELEVANT PATENT RIGHTS OF WHICH THEY ARE AWARE
AND TO PROVIDE SUPPOR TING DOCUMENTATION.
IN ADDITION TO THEIR EVALUATION AS
BEING ACCEPTABLE FOR INDUSTRIAL, TECHNO­
LOGICAL, COMMERCIAL AND USER PURPOSES, DRAFT
INTERNATIONAL STANDARDS MAY ON OCCASION HAVE
TO BE CONSIDERED IN THE LIGHT OF THEIR POTENTIAL
TO BECOME STAN DARDS TO WHICH REFERENCE MAY BE
MADE IN NATIONAL REGULATIONS.
Reference number
ISO/FDIS 16206:2025(en) © ISO 2025

FINAL DRAFT
ISO/FDIS 16206:2025(en)
International
Standard
ISO/FDIS 16206
ISO/TC 33
Phase quantitative analysis of
Secretariat: BSI
residual quartz in silica bricks —
Voting begins on:
X-ray diffraction method
Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les
Voting terminates on:
briques de silice — Méthode par diffraction des rayons X
RECIPIENTS OF THIS DRAFT ARE INVITED TO SUBMIT,
WITH THEIR COMMENTS, NOTIFICATION OF ANY
RELEVANT PATENT RIGHTS OF WHICH THEY ARE AWARE
AND TO PROVIDE SUPPOR TING DOCUMENTATION.
© ISO 2025
IN ADDITION TO THEIR EVALUATION AS
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LOGICAL, COMMERCIAL AND USER PURPOSES, DRAFT
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ISO/FDIS 16206:2025(en) © ISO 2025

ii
ISO/FDIS 16206:2025(en)
Contents Page
Foreword .iv
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Principle . 2
5 Apparatus . 2
6 Alpha-quartz reference materials . 2
7 Sampling . 2
8 Procedure . 2
8.1 Number of test pieces .2
8.2 Establishment of a working curve .3
8.2.1 Preparation of reference materials .3
8.2.2 Preparation of test pieces .3
8.2.3 Measuring parameters .3
8.2.4 Measure .3
8.2.5 Working curve .3
8.3 Analysis of the sample .4
8.3.1 Preparation of the test pieces .4
8.3.2 Measure .4
9 Test result . . 4
10 Test report . 4
Annex A (informative) Results of round robin test and precision statistics . 5
Annex B (informative) Calculation of limit of detection and limit of quantification . 7
Bibliography . 8

iii
ISO/FDIS 16206:2025(en)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through
ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee
has been established has the right to be represented on that committee. International organizations,
governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely
with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described
in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types
of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the
ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
ISO draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a)
patent(s). ISO takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent rights
in respect thereof. As of the date of publication of this document, ISO had not notice of (a) patent(s) which may
be required to implement this document. However, implementers are cautioned that this may not represent
the latest information, which may be obtained from the patent database available at www.iso.org/patents.
ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
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related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade
Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html.
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Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
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iv
FINAL DRAFT International Standard ISO/FDIS 16206:2025(en)
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica
bricks — X-ray diffraction method
1 Scope
This document specifies a method for the quantitative analysis of residual quartz (i.e. alpha-quartz) in silica
bricks within the mass fraction range of 0,3 % to 5,0 %, by X-ray diffraction (XRD) using a Bragg-Brentano
diffractometer. This document includes details of sample preparation and of preliminary establishment of a
working curve using external standards.
This document does not address the safety issues associated with its use. The ground silica brick powders
and reference materials may cause damage to lungs through prolonged or repeat inhalation during tests. It
is responsibility of the users of this standard to establish appropriate safety and health practices.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes
requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references,
the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 836, Terminology for refractories
ISO 5022, Shaped refractory products — Sampling and acceptance testing
ISO 23071:2021, Refractory products — Determination of reduced species in carbon containing refractories by XRD
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 836 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at https:// www .electropedia .org/
3.1
sample
representative collection of items that can be obtained by sampling according to a sampling plan agreed
upon by the interested parties
Note 1 to entry: An example sampling plan is given in ISO 5022.
3.2
silica brick
refractory brick containing SiO greater than or equal to 93 % by mass.
3.3
item
refractory silica brick (3.2).

ISO/FDIS 16206:2025(en)
3.4
test portion
amount of powder, taken from a crushed and ground item (3.3).
3.5
test piece
piece of material for the test, prepared by compaction into an adequate holder from test portion (3.4).
3.6
diluent
silica brick without alpha-quartz
EXAMPLE Used silica bricks in the working area served for more than 10 years, containing tridymite and a small
amount of glass phase, and alpha-quartz is not detected
4 Principle
The X-ray diffraction peak intensity of a phase to be measured in multi-phase materials is proportional to the
phase content. Silica bricks are mainly composed of phases of tridymite, cristobalite and alpha -quartz. The
quantitative analysis of alpha-quartz phase in silica bricks is conducted by the external standard method.
5 Apparatus
5.1 X-ray diffractometer, in accordance with in ISO 23071:2021, Clauses 4 and 5.
5.2 Grinder and suitable grinding media, which shall not contaminate the test portion, e.g. tungsten
carbide or zirconia, grinding the item(s) into powder with particle size no more than 0,030 mm.
5.3 Analytical balance, with a sensitivity of 0,1 mg.
5.4 Drying oven, capable of being controlled at (110 ± 5) °C, or other device which has an equivalent
heating effect.
5.5 Cavity holder, powder holder and punch.
6 Alpha-quartz reference materials
The alpha-quartz content of the reference materials, e.g. NIST 1878b, shall not be less than 95 %; other
phases shall not be observed through X-ray diffraction or polarizing microscopy. Alternatively, a series of
reference materials qualified may be used for establishment of a working curve, e.g. GSB S2021004.
7 Sampling
A sample shall consist of at least four items, obtained by sampling in accordance with ISO 5022, or a sampling
plan agreed upon by the interested parties.
8 Procedure
8.1 Number of test pieces
A test portion shall be prepared for each item. Five test pieces shall be prepared for each test portion.
If the test portion is insufficient for preparing five test pieces, reuse the measured materials after re-
homogenising and re-shaping for subsequent measurements.

ISO/FDIS 16206:2025(en)
8.2 Establishment of a working curve
8.2.1 Preparation of reference materials
Dry the alpha-quartz reference materials (Clause 6) in a drying oven at (110 ± 5) °C to a constant mass, then
move to a dryer and cool to the room temperature.
Weigh an appropriate amount of alpha-quartz reference material (
...


ISO/FDIS 16206: 2025(en)
ISO /TC 33/WG 31
Secretariat: BSI
Date: 2025-02-0603-25
Phase Quantitative Analysisquantitative analysis of Residual Quartzresidual quartz in Silica Bricks—
silica bricks — X-ray Diffraction Methoddiffraction method
Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les briques de silice — Méthode par diffraction des
rayons X
FDIS stage
ISO DIS/FDIS 16206: 2024(E2025(en)
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication
may be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying,
or posting on the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO
at the address below or ISO’s member body in the country of the requester.
ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: + 41 22 749 01 11
EmailE-mail: copyright@iso.org
Website: www.iso.orgwww.iso.org
Published in Switzerland
ii © ISO DIS 16206 2025 – All rights reserved
ii
ISO/FDIS 16206: 2025(en)
Contents
Foreword . iv
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Principle . 2
5 Apparatus . 2
6 Alpha-quartz reference materials . 2
7 Sampling . 2
8 Procedure . 3
9 Test result . 4
10 Test report . 4
Annex A (informative) Results of round robin test and precision statistics . 5
Annex B (informative) Calculation of limit of detection and limit of quantification . 7
Bibliography . 8

Foreword . iv
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Principle. 1
5 Apparatus . 2
6 Alpha-quartz reference materials . 2
7 Sampling . 2
8 Procedure . 2
8.1 Number of test pieces . 2
8.2 Establishment of a working curve . 2
8.3 Analysis of the sample . 3
9 Test result . 3
10 Test report . 3
Annex A (informative) Results of round robin test and precision statistics . 5
Annex B (informative) Calculation of limit of detection and limit of quantification . 7
Bibliography . 8

© ISO 2025 – All rights reserved
iii
ISO DIS/FDIS 16206: 2024(E2025(en)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through
ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been
established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and
non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the
International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described
in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of
ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the
ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Field Code Changed
ISO draws attention to the possibility that the implementation of this document may involve the use of (a)
patent(s). ISO takes no position concerning the evidence, validity or applicability of any claimed patent rights
in respect thereof. As of the date of publication of this document, ISO had not notice of (a) patent(s) which may
be required to implement this document. However, implementers are cautioned that this may not represent
the latest information, which may be obtained from the patent database available at
www.iso.org/patents.www.iso.org/patents. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such
patent rights.
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions
related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade
Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html.
Field Code Changed
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 33, Refractories.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www.iso.org/members.html.
Field Code Changed
iv © ISO DIS 16206 2025 – All rights reserved
iv
DRAFT International Standard ISO/FDIS 16206: 2025(en)

Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks —
— X-ray diffraction method
1 Scope
This document specifies a method for the quantitative analysis of residual quartz (i.e. alpha-quartz) in silica
bricks within the mass fraction range of 0,3 % to 5,0 %, by X-ray diffraction (XRD) using a Bragg-Brentano
diffractometer. This document includes details of sample preparation and of preliminary establishment of a
working curve using external standards.
This document does not address the safety issues associated with its use. The ground silica brick powders and
reference materials may cause damage to lungs through prolonged or repeat inhalation during tests. It is
responsibility of the users of this standard to establish appropriate safety and health practices.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content constitutes
requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references,
the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 836, Terminology for refractories
ISO 5022, Shaped refractory products -— Sampling and acceptance testing
ISO 23071:2021, Refractory products -— Determination of reduced species in carbon containing refractories by
XRD
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, terminologythe terms and definitions given in ISO 836 and the following
terms and definitions apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
— — ISO Online browsing platform: available at https://www.iso.org/obphttps://www.iso.org/obp
— — IEC Electropedia: available at https://www.electropedia.org/https://www.electropedia.org/
3.1 3.1
sample
representative collection of items that can be obtained by sampling according to a sampling plan agreed upon
by the interested parties
Note 1 to entry: An example sampling plan is given in ISO 5022.
3.2 3.2
silica brick
refractory brick containing SiO greater than or equal to 93 % by mass.
ISO/FDIS 16206:2025(en)
3.3 3.3
item
refractory silica brick (3.2).(3.2).
3.4 3.4
test portion
amount of powder, taken from a crushed and ground item (3.3).(3.3).
3.5 3.5
test piece
piece of material for the test, prepared by compaction into an adequate holder from test portion (3.4).(3.4).
3.6 3.6
diluent
the silica brick without alpha-quartz, e.g. used
EXAMPLE Used silica bricks in the working area served for more than 10 years, containing tridymite and a small
amount of glass phase, and alpha-quartz is not detected.
4 Principle
The X-ray diffraction peak intensity of a phase to be measured in multi-phase materials is proportional to the
phase content. Silica bricks are mainly composed of phases of tridymite, cristobalite and alpha -quartz. The
quantitative analysis of alpha-quartz phase in silica bricks is conducted by the external standard method.
5 Apparatus
5.1 5.1 X-ray diffractometer, see clauses 4 and 5in accordance with in ISO 23071:2021,
Clauses 4 and 5.
5.2 5.2 Grinder and suitable grinding media, which shall not contaminate the test portion, e.g.
tungsten carbide or zirconia, grinding the item(s) into powder with particle size no more than 0,030 mm.
5.3 5.3 Analytical balance, with a sensitivity of 0,1 mg.
5.4 5.4 Drying oven, capable of being controlled at (110 ± ± 5) °C, or other device which has an
equivalent heating effect.
5.5 5.5 Cavity holder, powder holder and punch.
6 Alpha-quartz reference materials
The alpha-quartz content of the reference materials, e.g. NIST 1878b, shall not be less than 95 %; other phases
shall not be observed through X-ray diffraction or polarizing microscopy. Alternatively, a series of reference
materials qualified may be used for establishment of a working curve, e.g. GSB S2021004.
7 Sampling
A sample shall consist of at least four items, obtained by sampling according toin accordance with ISO 5022,
or a sampling plan agreed upon by the interested parties.
2 © ISO DIS 16206 2025 – All rights reserved
ISO/FDIS 16206: 2025(en)
8 Procedure
8.1 Number of test pieces
A test portion shall be prepared for each item. Five test pieces shall be prepared for each test portion.
If the test portion is insufficient for preparing five test pieces, reuse the measured materials after re-
homogenising and re-shaping for subsequent measurements.

8.2 Establishment of a working curve
8.2.1 Preparation of reference materials
Dry the alpha-quartz reference materials (Clause 6)(Clause 6) in a drying oven at (110 ± ± 5) °C to a constant
mass, then move to a dryer and cool to the room temperature.
Weigh an appropriate amount of alpha-quartz reference material (e.g. NIST 1878b) and diluent. Dilute the
alpha-quartz reference material by the diluent to get mixtures with the alpha-quartz content of 0,5 %, 1,0 %,
2,0 %, 3,0 %, 4,0 % and 5,0 %, respectively. Mix well till uniform. Series reference materials (e.g. GSB
S2021004) can also be directly used.
8.2.2 Preparation of test pieces
For each external standard mixture prepared, five test pieces shall be prepared from test portions. Fill a
sufficient amount of test portion into the powder holder to form a test piece using the punch by hand keeping
the surface flat, the thickness consistent and the packing density consistent. Backfilling the cavity holder is
preferred to minimise the effect of orientation of the test piece. The depth of the cavity shall be sufficient to
exceed the critical depth of the incident radiation for the test pieces. The dimensions of the powder holder
shall be such that X-rays irradiating outside of the test piece volume can be avoided.
The test pieces shall be withhave a complete shape during the whole testsentire test.
8.2.3 Measuring parameters
The angular scan shall be sufficient to include the <101> peak of the alpha-quartz
...


PROJET FINAL
Norme
internationale
ISO/FDIS 16206
ISO/TC 33
Analyse quantitative de la phase de
Secrétariat: BSI
quartz résiduel dans les briques de
Début de vote:
silice — Méthode par diffraction des
2025-04-08
rayons X
Vote clos le:
2025-06-03
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks —
X-ray diffraction method
LES DESTINATAIRES DU PRÉSENT PROJET SONT
INVITÉS À PRÉSENTER, AVEC LEURS OBSERVATIONS,
NOTIFICATION DES DROITS DE PROPRIÉTÉ DONT ILS
AURAIENT ÉVENTUELLEMENT CONNAISSANCE ET À
FOURNIR UNE DOCUMENTATION EXPLICATIVE.
OUTRE LE FAIT D’ÊTRE EXAMINÉS POUR
ÉTABLIR S’ILS SONT ACCEPTABLES À DES FINS
INDUSTRIELLES, TECHNOLOGIQUES ET COM-MERCIALES,
AINSI QUE DU POINT DE VUE DES UTILISATEURS, LES
PROJETS DE NORMES
INTERNATIONALES DOIVENT PARFOIS ÊTRE CONSIDÉRÉS
DU POINT DE VUE DE LEUR POSSI BILITÉ DE DEVENIR DES
NORMES POUVANT
SERVIR DE RÉFÉRENCE DANS LA RÉGLEMENTATION
NATIONALE.
Numéro de référence
ISO/FDIS 16206:2025(fr) © ISO 2025

PROJET FINAL
ISO/FDIS 16206:2025(fr)
Norme
internationale
ISO/FDIS 16206
ISO/TC 33
Analyse quantitative de la phase de
Secrétariat: BSI
quartz résiduel dans les briques de
Début de vote:
silice — Méthode par diffraction des
2025-04-08
rayons X
Vote clos le:
2025-06-03
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks —
X-ray diffraction method
LES DESTINATAIRES DU PRÉSENT PROJET SONT
INVITÉS À PRÉSENTER, AVEC LEURS OBSERVATIONS,
NOTIFICATION DES DROITS DE PROPRIÉTÉ DONT ILS
AURAIENT ÉVENTUELLEMENT CONNAISSANCE ET À
FOURNIR UNE DOCUMENTATION EXPLICATIVE.
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
OUTRE LE FAIT D’ÊTRE EXAMINÉS POUR
ÉTABLIR S’ILS SONT ACCEPTABLES À DES FINS
© ISO 2025 INDUSTRIELLES, TECHNOLOGIQUES ET COM-MERCIALES,
AINSI QUE DU POINT DE VUE DES UTILISATEURS, LES
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
PROJETS DE NORMES
INTERNATIONALES DOIVENT PARFOIS ÊTRE CONSIDÉRÉS
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
DU POINT DE VUE DE LEUR POSSI BILITÉ DE DEVENIR DES
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
NORMES POUVANT
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
SERVIR DE RÉFÉRENCE DANS LA RÉGLEMENTATION
NATIONALE.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse Numéro de référence
ISO/FDIS 16206:2025(fr) © ISO 2025

ii
ISO/FDIS 16206:2025(fr)
Sommaire Page
Avant-propos .iv
1 Domaine d'application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Principe. 2
5 Appareillage . 2
6 Matériaux de référence à teneur en quartz alpha . 2
7 Échantillonnage . 2
8 Mode opératoire . 3
8.1 Nombre d'éprouvettes.3
8.2 Établissement d'une courbe d'étalonnage .3
8.2.1 Préparation des matériaux de référence .3
8.2.2 Préparation des éprouvettes .3
8.2.3 Paramètres de mesure .3
8.2.4 Mesure .4
8.2.5 Courbe d'étalonnage . .4
8.3 Analyse de l'échantillon .4
8.3.1 Préparation des éprouvettes .4
8.3.2 Mesure .4
9 Résultats d'essai . 4
10 Rapport d'essai . 4
Annexe A (informative) Résultats de l'essai interlaboratoires et statistiques de fidélité . 6
Annexe B (informative) Calcul de la limite de détection et de la limite de quantification . 8
Bibliographie . 9

iii
ISO/FDIS 16206:2025(fr)
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes nationaux
de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est en général
confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de faire
partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux. L'ISO collabore étroitement avec
la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document
a été rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2
(voir www.iso.org/directives).
L'ISO attire l'attention sur le fait que la mise en application du présent document peut entraîner l'utilisation
d'un ou de plusieurs brevets. L'ISO ne prend pas position quant à la preuve, à la validité et à l'applicabilité de
tout droit de propriété revendiqué à cet égard. À la date de publication du présent document, l'ISO n'avait pas
reçu notification qu'un ou plusieurs brevets pouvaient être nécessaires à sa mise en application. Toutefois,
il y a lieu d'avertir les responsables de la mise en application du présent document que des informations
plus récentes sont susceptibles de figurer dans la base de données de brevets, disponible à l'adresse
www.iso.org/brevets. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié tout ou partie de
tels droits de brevet.
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données pour
information, par souci de commodité, à l'intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion de
l'ISO aux principes de l'Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles techniques au
commerce (OTC), voir www.iso.org/avant-propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 33, Matériaux réfractaires.
Il convient que l'utilisateur adresse tout retour d'information ou toute question concernant le présent
document à l'organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes se
trouve à l'adresse www.iso.org/fr/members.html.

iv
PROJET FINAL Norme internationale ISO/FDIS 16206:2025(fr)
Analyse quantitative de la phase de quartz résiduel dans les
briques de silice — Méthode par diffraction des rayons X
1 Domaine d'application
La présente norme spécifie une méthode d'analyse quantitative du quartz résiduel (c'est-à-dire du quartz
alpha) présent dans les briques de silice à une teneur massique comprise entre 0,3 % et 5,0 %, par diffraction
des rayons X (DRX), au moyen d'un diffractomètre à géométrie Bragg-Brentano. Elle fournit également
des informations concernant la préparation des échantillons et l'établissement préliminaire d'une courbe
d'étalonnage à l'aide d'étalons externes.
Ce document n'aborde pas les questions de sécurité liées à son utilisation. Les poudres de briques de silice
broyées et les matériaux de référence peuvent provoquer des lésions pulmonaires en cas d'inhalation
prolongée ou répétée pendant les essais. Il incombe aux utilisateurs de cette norme de mettre en place des
pratiques appropriées en matière de sécurité et de santé.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu'ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l'édition citée s'applique. Pour
les références non datées, la dernière édition du document de référence s'applique (y compris les éventuels
amendements).
ISO 836, Terminologie des matériaux réfractaires
ISO 5022, Produits réfractaires façonnés — Échantillonnage et contrôle de réception
ISO 23071:2021, Produits réfractaires - Détermination par DRX des espèces réduites dans les réfractaires
contenant du carbone
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l’ISO 836 et suivants s'appliquent.
L'ISO et l'IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en normalisation,
consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l'adresse https:// www .electropedia .org/
3.1
échantillon
ensemble représentatif d'individus, qui peut être obtenu par échantillonnage selon un plan d'échantillonnage
convenu entre les parties intéressées
Note 1 à l'article: Un exemple de plan d'échantillonnage est donné dans l'ISO 5022
3.2
brique de silice
brique réfractaire contenant du SiO supérieur ou égal à 93 % en masse
ISO/FDIS 16206:2025(fr)
3.3
individu
brique ou bloc réfractaire (3.2)
3.4
prise d'essai
quantité de poudre prélevée sur un individu (3.3) concassé et broyé
3.5
éprouvette
fraction de matériau destinée à l'essai, préparée par compactage dans un porte-échantillon adapté à partir
de la prise d'essai (3.4)
3.6
diluant
brique de silice sans quartz alpha
EXEMPLE Les briques de silice utilisées dans la zone de travail depuis plus de 10 ans contiennent de la tridymite
et une petite quantité de phase vitreuse, et le quartz alpha n'est pas détecté.
4 Principe
Dans un matériau multiphasé, l'intensité des pics d'une phase obtenue par diffraction des rayons X est
proportionnelle à la teneur de ladite phase. Les briques de silice sont principalement composées de phases
tridymite, cristobalite et quartz alpha. La phase de quartz alpha dans les briques de silice est analysée
quantitativement au moyen de la méthode de l'étalon externe.
5 Appareillage
5.1 Diffractomètre à rayons X, conformément à l'Article 4 et l'Article 5 de l'ISO 23071:2021.
5.2 Broyeur et corps de broyage en carbure de tungstène ou zircone par exemple, qui ne doit pas
contaminer la prise d'essai en broyant et réduisant en poudre le(s) individu(s) avec une granulométrie
inférieure ou égale à 0,030 mm.
5.3 Balance analytique, d'une précision de 0,1 mg.
5.4 Étuve de séchage, pouvant être régulée à une température de (110 ± 5) °C, ou autre dispositif pouvant
procurer un chauffage équivalent.
5.5 support de porte-échantillon, le porte-échantillon et le poinçon.
6 Matériaux de référence à teneur en quartz alpha
La teneur en quartz alpha des maté
...

Questions, Comments and Discussion

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