EN ISO 11254-1:2000

Lasers and laser-related equipment - Determination of laser-induced damage threshold of optical surfaces - Part 1: 1 on 1 test (ISO 11254-1:2000)

This Standard specifies a test method for determining the single shot laser radiation induced damage threshold of optical surfaces.

Laser und Laseranlagen - Bestimmung der laserinduzierten Zerstörschwelle optischer Oberflächen - Teil 1: 1 auf 1 Prüfung (ISO 11254-1:2000)

Dieser Teil von ISO 11254 legt ein Prüfverfahren fest zur Bestimmung der laserstrahlungsinduzierten Einzelschuß-Zerstörschwelle optischer Oberflächen. Dieses Prüfverfahren ist anwendbar für alle Kombinationen von Laserwellenlängen und Pulsdauern. Trotzdem kann der Vergleich von Zerstörschwellen-Daten irreführend sein, wenn die Messungen nicht bei identischen Wellenlängen, Pulsdauern und Strahldurchmessern durchgeführt wurden. Dieser Teil von ISO 11254 ist vorläufig beschränkt auf die irreversible Beschädigung von optischen Oberflächen.

Lasers et équipements associés aux lasers - Détermination du seuil d'endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques - Partie 1: Essai 1 sur 1 (ISO 11254-1:2000)

La présente partie de l'ISO 11254 spécifie une méthode d'essai de détermination du seuil d'endommagement causé sur les surfaces optiques par un rayonnement laser simple.  Cette procédure d'essai s'applique à toutes les différentes combinaisons de longueur d'onde et de durée d'impulsion de laser. Toutefois, la comparaison des données du seuil d'endommagement peut être erronée, à moins que les mesures aient été effectuées avec une même longueur d'onde, une même durée d'impulsion et un même diamètre de faisceau.  La présente partie de l'ISO 11254 est provisoirement limitée aux dommages irréversibles des surfaces optiques.  
NOTE : Des exemples pour les unités et échelles de seuil d'endommagement causé par laser sont donnés en annexe C.  AVERTISSEMNT - L'extrapolation des données d'endommagement peut conduire à des résultats de calcul erronés et à une surestimation du seuil d'endommagement. Dans le cas des matériaux toxiques (par exemple: ZnSe, GaAs, CdTe, ThF4, chalcogénides, Be, Cr, Ni), cela peut conduire à de sérieux risques pour la santé. Voir en annexe C pour des commentaires supplémentaires.

Laserji in laserska oprema - Ugotavljanje praga poškodbe na optični površini, povzročene z laserjem - 1. del: Preskus 1 na 1 (ISO 11254-1:2000)

General Information

• Status: Withdrawn
• Publication Date: 31-May-2000
• Withdrawal Date: 14-Jul-2011
• ICS: 31.260 - Optoelectronics. Laser equipment
• Technical Committee: CEN/TC 123 - Lasers and photonics
• Drafting Committee: CEN/TC 123 - Lasers and photonics
• Current Stage: 9960 - Withdrawal effective - Withdrawal
• Start Date: 15-Jul-2011
• Completion Date: 15-Jul-2011
• Ref Project: SIST EN ISO 11254-1:2000 - Lasers and laser-related equipment - Determination of laser-induced damage threshold of optical surfaces - Part 1: 1 on 1 test (ISO 11254-1:2000)

Relations

• Replaced By: EN ISO 21254-2:2011 - Lasers and laser-related equipment - Test methods for laser-induced damage threshold - Part 2: Threshold determination (ISO 21254-2:2011)
• Effective Date: 08-Jun-2022
• Replaced By: EN ISO 21254-1:2011 - Lasers and laser-related equipment - Test methods for laser-induced damage threshold - Part 1: Definitions and general principles (ISO 21254-1:2011)
• Effective Date: 08-Jun-2022

Standards Content (Sample)

SLOVENSKI STANDARD
SIST EN ISO 11254-1:2000
01-november-2000
/DVHUMLLQODVHUVNDRSUHPD8JRWDYOMDQMHSUDJDSRãNRGEHQDRSWLþQLSRYUãLQL
SRY]URþHQH]ODVHUMHPGHO3UHVNXVQD,62
Lasers and laser-related equipment - Determination of laser-induced damage threshold
of optical surfaces - Part 1: 1 on 1 test (ISO 11254-1:2000)
Laser und Laseranlagen - Bestimmung der laserinduzierten Zerstörschwelle optischer
Oberflächen - Teil 1: 1 auf 1 Prüfung (ISO 11254-1:2000)
Lasers et équipements associés aux lasers - Détermination du seuil d'endommagement
provoqué par laser sur les surfaces optiques - Partie 1: Essai 1 sur 1 (ISO 11254-
1:2000)
Ta slovenski standard je istoveten z: EN ISO 11254-1:2000
ICS:
31.260 Optoelektronika, laserska Optoelectronics. Laser
oprema equipment
SIST EN ISO 11254-1:2000 en
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.

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SIST EN ISO 11254-1:2000
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 11254-1
First edition
2000-06-01
Laser and laser-related equipment —
Determination of laser-induced damage
threshold of optical surfaces —
Part 1:
1-on-1 test
Lasers et équipements associés aux lasers — Détermination du seuil
d’endommagement provoqué par laser sur les surfaces optiques —
Partie 1: Essai 1 sur 1
Reference number
ISO 11254-1:2000(E)
©
ISO 2000

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SIST EN ISO 11254-1:2000
ISO 11254-1:2000(E)
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SIST EN ISO 11254-1:2000
ISO 11254-1:2000(E)
Contents
Foreword.iv
Introduction.v
1 Scope .1
2 Normative references .1
3 Terms and definitions .1
4 Symbols and units.3
5 Sampling.4
6 Test method.4
6.1 Principle.4
6.2 Apparatus .5
6.3 Preparation of test spec
...