IEC 62153-4-7:2006

Metallic communication cable test methods - Part 4-7: Electromagnetic compatibility (EMC) - Test method for measuring the transfer impedance and the screening - or the coupling attenuation - Tube in tube method

is suitable to determine the surface transfer impedance and/or screening attenuation and coupling attenuation of mated screened connectors (including the connection between cable and connector) and cable assemblies. This method could also be extended to determine the transfer impedance, coupling or screening attenuation of balanced or multipin connectors and cable assemblies.

Méthodes d'essai des câbles métalliques de communication - Partie 4-7: Compatibilité électromagnétique (CEM) - Méthode d'essai pour mesurer l'impédance de transfert et l'affaiblissement d'écran - ou l'affaiblissement de couplage - Méthode des tubes concentriques

convient pour déterminer l'impédance surfacique de transfert et/ou l'affaiblissement d'écran et l'affaiblissement de couplage de connecteurs blindés adaptés (y compris la connexion entre un câble et un connecteur) et d'ensembles de câbles. Cette méthode peut également être étendue pour déterminer l'impédance de transfert, l'affaiblissement d'écran ou de couplage de connecteurs symétriques ou à plusieurs broches et d'ensembles de câbles.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 20-Apr-2006
• ICS: 33.100.10 - Emission
• ICS: 33.120.10 - Coaxial cables. Waveguides
• Technical Committee: TC 46 - Cables, wires, waveguides, RF connectors, RF and microwave passive components and accessories
• Drafting Committee: WG 5 - TC 46/WG 5
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Completion Date: 09-Dec-2015

Relations

• Revised: IEC 62153-4-7:2015 - Metallic communication cable test methods - Part 4-7: Electromagnetic compatibility (EMC) - Test method for measuring of transfer impedance Z_T and screening attenuation a_S or coupling attenuation a_C of connectors and assemblies up to and above 3 GHz - Triaxial tube in tube method
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
62153-4-7
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-04
Méthodes d'essai des câbles métalliques
de communication –
Partie 4-7:
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d'essai pour mesurer l'impédance
de transfert et l'affaiblissement d'écran –
ou l'affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
Metallic communication cables test methods –
Part 4-7:
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer
impedance and the screening – or the coupling
attenuation – Tube in tube method
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 62153-4-7:2006
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62153-4-7
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-04
Méthodes d'essai des câbles métalliques
de communication –
Partie 4-7:
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Méthode d'essai pour mesurer l'impédance
de transfert et l'affaiblissement d'écran –
ou l'affaiblissement de couplage –
Méthode des tubes concentriques
Metallic communication cables test methods –
Part 4-7:
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Test method for measuring the transfer
impedance and the screening – or the coupling
attenuation – Tube in tube method
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– 2 – 62153-4-7 ¤ CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .6
INTRODUCTION.10
1 Domaine d’application.12
2 Références normatives .12
3 Termes et définitions .12
4 Principe de la méthode d’essai.16
5 Support théorique .20
6 Procédure.20
6.1 Équipement .20
6.2 Connexion entre le tube d’extension et le dispositif en essai.20
6.3 Plage dynamique ou bruit de fond .22
6.4 Impédance du système interne .22
6.5 Préparation d’échantillon .28
7 Mesure .30
7.1 Impédance de transfert.30
7.2 Affaiblissement de blindage .32
7.3 Affaiblissement de couplage .32
8 Expression des résultats.34
8.1 Impédance de transfert et impédance de transfert efficace.34
8.2 Affaiblissement d’écran.34
8.3 Affaiblissement de couplage .36
8.4 Exigences.38
Annexe A (informative) Mesures de l’efficacité du blindage des connecteurs et des
ensembles de câbles.40
Annexe B (informative) Influence des résistances de contact.62
Bibliographie .66
Figure 1 – Définition de Z .14
T
Figure 2 – Principe de montage d’essai pour mesurer les impédances de transfert et
l’affaiblissement d’écran ou de couplage de connecteurs .18
Figure 3 – Principe de montage d’essai pour mesurer les impédances de transfert et
l’affaiblissement d’écran d’ensembles de câbles courts .18
Figure 4 – Principe de montage pour l’essai de vérification .22
Figure 5 – Adaptation d’impédance pour Z <50 Ω.26
Figure 6 – Adaptation d’impédance pour Z >50 Ω.26
Figure 7a – Principe de préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs
pour l’impédance de transfert et l’affaiblissement d’écran .28
Figure 7b – Principe de préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs
pour l’affaiblissement de couplage.30
Figure 7 – Préparation de connecteurs symétriques ou multiconducteurs.30

62153-4-7 © IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.7
INTRODUCTION.11
1 Scope.13
2 Normative references .13
3 Terms and definitions .13
4 Principle of the test method .17
5 Theoretical background .21
6 Procedure .21
6.1 Equipment.21
6.2 Connection between extension tube device under test.21
6.3 Dynamic range respectively noise floor .23
6.4 Impedance of the inner system.23
6.5 Sample preparation .29
7 Measurement .31
7.1 Transfer impedance.31
7.2 Screening attenuation .33
7.3 Coupling attenuation .33
8 Expression of results .35
8.1 Transfer impedance and effective transfer impedance .35
8.2 Screening attenuation .35
8.3 Coupling attenuation .37
8.4 Requirement.39
Annex A (informative) Measurements of the screening effectiveness of connectors and
cable assemblies .41
Annex B (informative) Influence of contact resistances .63
Bibliography.67
Figure 1 – Definition of Z .15
T
Figure 2 – Principle of the test set-up to measure transfer impedances and screening
or coupling attenuation of connectors .19
Figure 3 – Principle of the test set-up to measure transfer impedances and screening
attenuation of short cable assemblies .19
Figure 4 – Principle set-up for verification test .23
Figure 5 – Impedance matching for Z <50 Ω.27
Figure 6 – Impedance matching f
...