Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-16: Testing and measurement techniques - Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 Hz to 150 kHz

Establishes a common and reproducible basis for testing electrical and electronic equipment with the application of common mode disturbances to power supply, control, signal and communication ports. This standard defines test voltage and current waveform, range of test levels, test equipment, test set-up and test procedures. The test is intended to demonstrate the immunity of electrical and electronic equipment when subjected to conducted, common mode disturbances such as those originating from power line currents and return leakage currents in the earthing/grounding system.

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-16: Techniques d'essai et de mesure - Essai d'immunité aux perturbations conduites en mode commun dans la gamme de fréquences de 0 Hz à 150 kHz

Etablit une base commune et reproductible destinée à essayer les performances des matériels électriques et électroniques lorsque ceux-ci sont soumis à des perturbations par conduction en mode commun, appliquées aux accès d'alimentation, de commande, de signal et de communication. La présente norme définit la tension d'essai et la forme du courant, les plages de niveaux d'essai, le matériel d'essai, le circuit d'essai et les procédures d'essai. L'essai vise à démontrer l'immunité des matériels électriques et électroniques soumis à des perturbations de conduction en mode commun telles que celles provenant des courants de ligne d'alimentation et des retours de courants de fuite dans les dispositifs de mise à la terre/à la masse.

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IEC 61000-4-16:1998 - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-16: Testing and measurement techniques - Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 Hz to 150 kHz Released:1/30/1998 Isbn:2831841623
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IEC 61000-4-16:1998+AMD1:2001 CSV - Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-16: Testing and measurement techniques - Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 Hz to 150 kHz Released:7/12/2002 Isbn:2831864313
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Standards Content (Sample)


NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61000-4-16
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-01
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-16:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux perturbations conduites
en mode commun dans la gamme
de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-16:
Testing and measurement techniques –
Test for immunity to conducted, common
mode disturbances in the frequency
range 0 Hz to 150 kHz
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-16:1998
Numéros des publications Numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. issued with a designation in the 60000 series.
Publications consolidées Consolidated publications
Les versions consolidées de certaines publications de Consolidated versions of some IEC publications
la CEI incorporant les amendements sont disponibles. including amendments are available. For example,
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
indiquent respectivement la publication de base, la the base publication, the base publication
publication de base incorporant l’amendement 1, et la incorporating amendment 1 and the base publication
publication de base incorporant les amendements 1 incorporating amendments 1 and 2.
et 2.
Validité de la présente publication Validity of this publication
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept under
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état constant review by the IEC, thus ensuring that the
actuel de la technique. content reflects current technology.
Des renseignements relatifs à la date de Information relating to the date of the reconfirmation of
reconfirmation de la publication sont disponibles dans the publication is available in the IEC catalogue.
le Catalogue de la CEI.
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établis- Information on the revision work, the issue of revised
sement des éditions révisées et aux amendements editions and amendments may be obtained from
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de IEC National Committees and from the following
la CEI et dans les documents ci-dessous: IEC sources:
• Bulletin de la CEI • IEC Bulletin
• Annuaire de la CEI • IEC Yearbook
Accès en ligne* On-line access*
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Publié annuellement et mis à jour régulièrement Published yearly with regular updates
(Accès en ligne)* (On-line access)*
Terminologie, symboles graphiques Terminology, graphical and letter
et littéraux symbols
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur For general terminology, readers are referred to
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electro- IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
technique International (VEI). (IEV).
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux For graphical symbols, and letter symbols and signs
et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le approved by the IEC for general use, readers are
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et symbols for use on equipment. Index, survey and
compilation of the single sheets
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617: and IEC 60617:
Symboles graphiques pour schémas. Graphical symbols for diagrams.
Publications de la CEI établies par IEC publications prepared by the same
le même comité d'études technical committee
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant The attention of readers is drawn to the end pages of
à la fin de cette publication, qui énumèrent les this publication which list the IEC publications issued
publications de la CEI préparées par le comité by the technical committee which has prepared the
d'études qui a établi la présente publication. present publication.
* Voir adresse «site web» sur la page de titre. * See web site address on title page.

NORME
CEI
INTERNATIONALE
IEC
61000-4-16
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
1998-01
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-16:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux perturbations conduites
en mode commun dans la gamme
de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-16:
Testing and measurement techniques –
Test for immunity to conducted, common
mode disturbances in the frequency
range 0 Hz to 150 kHz
 IEC 1998 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mechanical,
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in
copie et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. writing from the publisher.
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– 2 – 61000-4-16 © CEI:1998
SOMMAIRE
Pages
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION . 6
Articles
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives . 10
3 Généralités . 10
4 Définitions. 12
5 Niveaux d’essai. 14
5.1 Niveaux d’essai à la fréquence du secteur . 14
5.2 Niveaux d’essai dans la gamme de fréquences 15 Hz-150 kHz . 16
6 Matériels d’essai . 16
6.1 Générateurs d’essai . 16
6.2 Vérification des caractéristiques des générateurs d’essai . 20
6.3 Réseaux de couplage/découplage . 20
7 Installation d’essai . 22
7.1 Connexions de mise à la terre . 24
7.2 Matériels en cours d’essai . 24
7.3 Générateurs d’essai . 24
7.4 Dispositifs de découplage/isolement . 24
8 Procédure d’essai . 24
8.1 Conditions de référence en laboratoire . 26
8.2 Exécution de l’essai . 26
9 Résultats des essais et rapport d’essai. 28
Figures
1 Exemple d’accès de matériels et configuration . 32
2 Profil de la tension d’essai . 34
3 Schéma de principe du générateur pour les essais en courant continu. 34
4 Schéma de principe du générateur pour essais à la fréquence du réseau . 34
5 Schéma du réseau de couplage en T pour les accès de communication et pour
les autres accès prévus pour être connectés à des paires fortement symétriques . 36
6 Circuit schématique pour essais de type. 38
Annexes
A Sources de perturbations et mécanismes de couplage. 40
B Choix des niveaux d’essai . 44
C Bibliographie. 48

61000-4-16 © IEC:1998 – 3 –
CONTENTS
Page
FOREWORD . 5
INTRODUCTION . 7
Clause
1 Scope . 9
2 Normative references. 11
3 General. 11
4 Definitions. 13
5 Test levels . 15
5.1 Test levels at mains frequency . 15
5.2 Test levels in the frequency range 15 Hz-150 kHz. 17
6 Test equipment . 17
6.1 Test generators. 17
6.2 Verification of the characteristics of the test generators . 21
6.3 Coupling/decoupling networks . 21
7 Test set-up . 23
7.1 Earthing connections. 25
7.2 Equipment under test . 25
7.3 Test generators. 25
7.4 Decoupling/isolation devices. 25
8 Test procedure. 25
8.1 Laboratory reference conditions. 27
8.2 Execution of the test. 27
9 Test results and test report . 29
Figures
1 Example of equipment ports and configuration . 33
2 Profile of the test voltage. 35
3 Schematic in principle of the generator for d.c. voltage tests. 35
4 Schematic in principle of the generator for tests at mains frequency . 35
5 Schematic circuit of the coupling T network for communication ports
and other ports intended for connection to highly balanced pairs. 37
6 Schematic circuit for type tests. 39
Annexes
A Sources of disturbances and coupling mechanisms . 41
B Selection of test levels . 45
C Bibliography. 49

– 4 – 61000-4-16 © CEI:1998
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
__________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-16: Techniques d’essai et de mesure – Essai d’immunité
aux perturbations conduites en mode commun dans
la gamme de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
du possible un accord international
...


IEC 61000-4-16 ®
Edition 1.2 2011-05
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
BASIC EMC PUBLICATION
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM

Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-16: Testing and measurement techniques – Test for immunity to
conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 Hz to 150 kHz

Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-16: Techniques d’essai et de mesure – Essai d’immunité aux
perturbations conduites en mode commun dans la gamme de fréquences de
0 Hz à 150 kHz
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by
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IEC's member National Committee in the country of the requester.
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CH-1211 Geneva 20
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About the IEC
The International Electrotechnical Commission (IEC) is the leading global organization that prepares and publishes
International Standards for all electrical, electronic and related technologies.

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The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC. Please make sure that you have the
latest edition, a corrigenda or an amendment might have been published.
 Catalogue of IEC publications: www.iec.ch/searchpub
The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria (reference number, text, technical committee,…).
It also gives information on projects, withdrawn and replaced publications.
 IEC Just Published: www.iec.ch/online_news/justpub
Stay up to date on all new IEC publications. Just Published details twice a month all new publications released. Available
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in English and French, with equivalent terms in additional languages. Also known as the International Electrotechnical
Vocabulary online.
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Fax: +41 22 919 03 00
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La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est la première organisation mondiale qui élabore et publie des
normes internationales pour tout ce qui a trait à l'électricité, à l'électronique et aux technologies apparentées.

A propos des publications CEI
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 Catalogue des publications de la CEI: www.iec.ch/searchpub/cur_fut-f.htm
Le Catalogue en-ligne de la CEI vous permet d’effectuer des recherches en utilisant différents critères (numéro de référence,
texte, comité d’études,…). Il donne aussi des informations sur les projets et les publications retirées ou remplacées.
 Just Published CEI: www.iec.ch/online_news/justpub
Restez informé sur les nouvelles publications de la CEI. Just Published détaille deux fois par mois les nouvelles
publications parues. Disponible en-ligne et aussi par email.
 Electropedia: www.electropedia.org
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IEC 61000-4-16 ®
Edition 1.2 2011-05
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INTERNATIONALE
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PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM

Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-16: Testing and measurement techniques – Test for immunity to
conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 Hz to 150 kHz

Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-16: Techniques d’essai et de mesure – Essai d’immunité aux
perturbations conduites en mode commun dans la gamme de fréquences de
0 Hz à 150 kHz
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
PRICE CODE
INTERNATIONALE
CODE PRIX CK
ICS 33.100.20 ISBN 978-2-88912-418-3

– 2 – 61000-4-16 © IEC:1998+A1:2001
+A2:2009
CONTENTS
FOREWORD . 3
INTRODUCTION . 5

1 Scope . 6
2 Normative references. 7
3 General . 7
4 Definitions . 8
5 Test levels . 8
5.1 Test levels at mains frequency . 9
5.2 Test levels in the frequency range 15 Hz-150 kHz . 9
6 Test equipment . 10
6.1 Test generators . 10
6.2 Verification of the characteristics of the test generators . 11
6.3 Coupling/decoupling networks . 12
7 Test set-up . 13
7.1 Earthing connections . 13
7.2 Equipment under test . 13
7.3 Test generators . 14
7.4 Decoupling/isolation devices . 14
8 Test procedure . 14
8.1 Laboratory reference conditions . 14
8.2 Execution of the test . 14
9 Evaluation of test results . 16
10 Test report . 16

Annex A (informative)  Sources of disturbances and coupling mechanisms . 21
Annex B (informative)  Selection of test levels . 23
Annex C (informative)  Bibliography . 25

Figure 1 – Example of equipment ports and configuration . 17
Figure 2 – Profile of the test voltage . 18
Figure 3 – Schematic in principle of the generator for d.c. voltage tests . 18
Figure 4 – Schematic in principle of the generator for tests at mains frequency . 18
Figure 5 – Schematic circuit of the coupling T network for communication ports
and other ports intended for connection to highly balanced pairs . 19
Figure 6 – Schematic circuit for type tests . 20

61000-4-16 © IEC:1998+A1:2001 – 3 –
+A2:2009
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-16: Testing and measurement techniques –
Test for immunity to conducted, common mode disturbances
in the frequency range 0 Hz to 150 kHz

FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications,
Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC
Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested
in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-
governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely
with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by
agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence
between any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in
the latter.
5) IEC itself does not provide any attestation of conformity. Independent certification bodies provide conformity
assessment services and, in some areas, access to IEC marks of conformity. IEC is not responsible for any
services carried out by independent certification bodies.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of
patent rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-16 has been prepared by subcommittee 77A: Low-
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility.
It forms part 4-16 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in accordance with
IEC Guide 107.
This consolidated version of IEC 61000-4-16 consists of the first edition (1998) [documents
77A/201/FDIS and 77A/221/RVD], its amendment 1 (2001) [documents 77B/291+293/FDIS and
77B/298+300/RVD] and its amendment 2 (2009) [documents 77A/691/FDIS and 77A/698/RVD].
The technical content is therefore identical to the base edition and its amendments and has
been prepared for user convenience.
It bears the edition number 1.2.

– 4 – 61000-4-16 © IEC:1998+A1:2001
+A2:2009
A vertical line in the margin shows where the base publication has been modified by
amendments 1 and 2.
Annexes A, B and C are for information only.
The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments will
remain unchanged until the stability date indicated on the IEC web site under
"http://webstore.iec.ch" in the data related to the specific publication. At this date, the
publicati
...


NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61000-4-16
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2002-07
Edition 1:1998 consolidée par l'amendement 1:2001
Edition 1:1998 consolidated with amendment 1:2001
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-16:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux perturbations conduites
en mode commun dans la gamme
de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-16:
Testing and measurement techniques –
Test for immunity to conducted,
common mode disturbances in
the frequency range 0 Hz to 150 kHz
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61000-4-16:1998+A1:2001

Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
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(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
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avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
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• Service clients
• Customer Service Centre
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supplémentaires, prenez contact avec le Service
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Tél: +41 22 919 02 11
Tel: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
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INTERNATIONALE IEC
61000-4-16
INTERNATIONAL
Edition 1.1
STANDARD
2002-07
Edition 1:1998 consolidée par l'amendement 1:2001
Edition 1:1998 consolidated with amendment 1:2001
PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
BASIC EMC PUBLICATION
Compatibilité électromagnétique (CEM) –
Partie 4-16:
Techniques d’essai et de mesure –
Essai d’immunité aux perturbations conduites
en mode commun dans la gamme
de fréquences de 0 Hz à 150 kHz
Electromagnetic compatibility (EMC) –
Part 4-16:
Testing and measurement techniques –
Test for immunity to conducted,
common mode disturbances in
the frequency range 0 Hz to 150 kHz
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– 2 – 61000-4-16 © CEI:1998+A1:2001
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION .6
1 Domaine d’application . 8
2 Références normatives .10
3 Généralités .10
4 Définitions.12
5 Niveaux d’essai.14
5.1 Niveaux d’essai à la fréquence du secteur.14
5.2 Niveaux d’essai dans la gamme de fréquences 15 Hz-150 kHz.16
6 Matériels d’essai .16
6.1 Générateurs d’essai.16
6.2 Vérification des caractéristiques des générateurs d’essai .20
6.3 Réseaux de couplage/découplage .20
7 Installation d’essai .22
7.1 Connexions de mise à la terre.24
7.2 Matériels en cours d’essai.24
7.3 Générateurs d’essai.24
7.4 Dispositifs de découplage/isolement.24
8 Procédure d’essai .24
8.1 Conditions de référence en laboratoire .26
8.2 Exécution de l’essai .26
9 Evaluation des résultats d’essai .30
10 Rapport d’essai.30
Annexe A (informative) Sources de perturbations et mécanismes de couplage.40
Annexe B (informative) Choix des niveaux d’essai .44
Annexe C (informative) Bibliographie.48
Figure 1 – Exemple d’accès de matériels et configuration .32
Figure 2 – Profil de la tension d’essai .34
Figure 3 – Schéma de principe du générateur pour les essais en courant continu.34
Figure 4 – Schéma de principe du générateur pour essais à la fréquence du réseau .34
Figure 5 – Schéma du réseau de couplage en T pour les accès de communication
et pour les autres accès prévus pour être connectés à des paires fortement symétriques.36
Figure 6 – Circuit schématique pour essais de type.38

61000-4-16 © IEC:1998+A1:2001 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5
INTRODUCTION .7
1 Scope . 9
2 Normative references.11
3 General.11
4 Definitions.13
5 Test levels .15
5.1 Test levels at mains frequency .15
5.2 Test levels in the frequency range 15 Hz-150 kHz .17
6 Test equipment .17
6.1 Test generators .17
6.2 Verification of the characteristics of the test generators.21
6.3 Coupling/decoupling networks .21
7 Test set-up .23
7.1 Earthing connections.25
7.2 Equipment under test .25
7.3 Test generators .25
7.4 Decoupling/isolation devices .25
8 Test procedure.25
8.1 Laboratory reference conditions .27
8.2 Execution of the test .27
9 Evaluation of test results .31
10 Test report .31
Annex A (informative) Sources of disturbances and coupling mechanisms .41
Annex B (informative) Selection of test levels .45
Annex C (informative) Bibliography.49
Figure 1 – Example of equipment ports and configuration .33
Figure 2 – Profile of the test voltage .35
Figure 3 – Schematic in principle of the generator for d.c. voltage tests.35
Figure 4 – Schematic in principle of the generator for tests at mains frequency .35
Figure 5 – Schematic circuit of the coupling T network for communication ports
and other ports intended for connection to highly balanced pairs .37
Figure 6 – Schematic circuit for type tests.39

– 4 – 61000-4-16 © CEI:1998+A1:2001
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –

Partie 4-16: Techniques d’essai et de mesure – Essai d’immunité
aux perturbations conduites en mode commun dans
la gamme de fréquences de 0 Hz à 150 kHz

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale
...

Questions, Comments and Discussion

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