IEC 61587-3:2006

Mechanical structures for electronic equipment - Tests for IEC 60917 and IEC 60297 - Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabinets, racks and subracks

Specifies the tests for empty cabinets and subracks concerning electromagnetic shielding performance, in the frequency range of 30 MHz to 2 000 MHz. Ensures physical integrity and environmental performance of cabinets and subracks, taking into account the need for different levels of performance in different applications. Was developed in close relationship to IEC 61000-5-7 but with the specific focus on subracks and cabinets and the determination of performance levels at the chosen frequency range.

Structures mécaniques pour équipement électronique - Essais pour la CEI 60917 et la CEI 60297 - Partie 3: Essais de performance du blindage électromagnétique pour les baies, les bâtis et les bacs à cartes

Spécifie les essais pour les baies et les bacs à cartes vides concernant leurs performances de blindage électromagnétique dans la gamme de fréquences de 30 MHz à 2 000 MHz. Assure l'intégrité physique et les performances environnementales des baies et des bacs à cartes en tenant compte du besoin de différents niveaux de performances dans différentes applications. A été établie en relation étroite avec la CEI 61000-5-7, mais spécifiquement pour les bacs à cartes et les baies et la détermination des niveaux de performances dans la gamme de fréquences choisie.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 26-Jun-2006
• ICS: 31.240 - Mechanical structures for electronic equipment
• Technical Committee: SC 48D - Mechanical structures for electrical and electronic equipment
• Drafting Committee: WG 2 - TC 48/SC 48D/WG 2
• Current Stage: DELPUB - Deleted Publication
• Completion Date: 06-Feb-2013

Relations

• Replaces: IEC TS 61587-3:1999 - Mechanical structures for electronic equipment - Tests for IEC 60917 and IEC 60297 - Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabinets, racks and subracks
• Effective Date: 05-Sep-2023
• Revised: IEC 61587-3:2013 - Mechanical structures for electronic equipment - Tests for IEC 60917 and IEC 60297 - Part 3: Electromagnetic shielding performance tests for cabinets and subracks
• Effective Date: 05-Sep-2023

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61587-3
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-06
Structures mécaniques pour
équipement électronique –
Essais pour la CEI 60917 et la CEI 60297 –
Partie 3:
Essais de performance du blindage
électromagnétique pour les baies,
les bâtis et les bacs à cartes

Mechanical structures for electronic equipment –
Tests for IEC 60917 and IEC 60297 –
Part 3:
Electromagnetic shielding performance tests
for cabinets, racks and subracks
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61587-3:2006
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61587-3
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2006-06
Structures mécaniques pour
équipement électronique –
Essais pour la CEI 60917 et la CEI 60297 –
Partie 3:
Essais de performance du blindage
électromagnétique pour les baies,
les bâtis et les bacs à cartes

Mechanical structures for electronic equipment –
Tests for IEC 60917 and IEC 60297 –
Part 3:
Electromagnetic shielding performance tests
for cabinets, racks and subracks

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– 2 – 61587-3  CEI:2006
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4

Domaine d'application et objet .8
2 Références normatives .8
3 Essais de performances du blindage électromagnétique.10
3.1 Essais de performances du blindage électromagnétique pour les baies et les
bacs à cartes.10
3.2 Conditions d'essai .10
3.3 Configuration d'essai .10
3.3.1 Etalonnage de l'antenne de référence .10
3.3.2 Antenne d'émission.10
3.3.3 Antenne de réception .12
3.3.4 Mesure de référence.12
3.3.5 Montage de l'antenne d'émission.12
3.3.6 Montage de l'éprouvette.12
3.4 Exigences d'essai.12
3.5 Résultats d'essai .14
3.5.1 Emplacements d'essai en champ libre.20
3.5.2 Chambres semi-anéchoïque ou complètement anéchoïque .22

Annexe A (informative) Exemple d'antenne dipôle sphérique (SDA) .24

Figure 1 – Configuration type de l'équipement d'essai .16
Figure 2 – Exemple de présentation des données de mesure .18
Figure 3 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de référence E1.20
Figure 4 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (baie) .20
Figure 5 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (bac à cartes).20
Figure 6 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de référence E1.22
Figure 7 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (baie) .22
Figure 8 – Montage pour la mesure de la valeur du champ de fuite E2 (bac à cartes).22
Figure A.1 – SDA .24
Figure A.2 – E/O-O/E .26
Figure A.3 – Valeur du champ électrique .28

Tableau 1 – Niveau d'affaiblissement du champ électrique .14

61587-3  IEC:2006 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

1 Scope and object.9
2 Normative references .9
3 Electromagnetic shielding performance test.11
3.1 Electromagnetic shielding performance tests for cabinets and subracks .11
3.2 Test conditions.11
3.3 Test configuration.11
3.3.1 Calibration of the reference antenna.11
3.3.2 Transmitting antenna.11
3.3.3 Receiving antenna.13
3.3.4 Reference measurement.13
3.3.5 Transmitting antenna set-up .13
3.3.6 Test specimen set-up .13
3.4 Test requirements .13
3.5 Test results .15
3.5.1 Open field test sites.21
3.5.2 Semi-anechoic or full anechoic chambers .23

Annex A (informative) An example of a spherical dipole antenna (SDA) .25

Figure 1 – Typical test equipment configuration .17
Figure 2 – Example of a measurement data presentation .19
Figure 3 – Set-up for measurement of reference field strength E1.21
Figure 4 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (cabinet).21
Figure 5 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (subrack).21
Figure 6 – Set-up for measurement of reference field strength E1.23
Figure 7 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (cabinet).23
Figure 8 – Set-up for measurement of leakage field strength E2 (subrack).23
Figure A.1 – SDA.25
Figure A.2 – E/O-O/E.27
Figure A.3 – Electric field strength .29

Table 1 – Electric field attenuation levels .15

– 4 – 61587-3  CEI:2006
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
STRUCTURES MÉCANIQUES POUR ÉQUIPEMENT ÉLECTRONIQUE –
ESSAIS POUR LA CEI 60917 ET LA CEI 60297 –

Partie 3: Essais de performance du blindage électromagnétique
pour les baies, les bâtis et les bacs à cartes

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI
...