IEC 61788-9:2005

Superconductivity - Part 9: Measurements for bulk high temperature superconductors - Trapped flux density of large grain oxide superconductors

Specifies a test method for the determination of the trapped field (trapped flux density) of bulk high temperature superconductors. This International Standard is applicable to large grain bulk oxide superconductors that have well defined shapes such as round discs, rectangular, and hexagonal pellets. The trapped flux density can be assessed at temperatures from 4,2 K to 90 K. For the purpose of standardization, the trapped flux density will be reported for liquid nitrogen temperature.

Supraconductivité - Partie 9: Mesures pour supraconducteurs haute température massifs - Densité de flux résiduel des oxydes supraconducteurs à gros grains

Spécifie une méthode d'essai pour la détermination du champ résiduel (densité de flux résiduel) des supraconducteurs haute température massifs. La présente Norme internationale s'applique aux oxydes supraconducteurs à gros grains ayant des formes bien définies telles que les disques et les pastilles rectangulaires et hexagonales. La densité de flux résiduel peut être déterminée pour des températures comprises entre 4,2 K et 90 K. Pour les besoins de la normalisation, la densité de flux résiduel sera consignée pour la température de l'azote liquide.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 20-Apr-2005
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 17.220.20 - Measurement of electrical and magnetic quantities
• ICS: 29.050 - Superconductivity and conducting materials
• Technical Committee: TC 90 - Superconductivity
• Drafting Committee: WG 10 - TC 90/WG 10
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 31-Jul-2005
• Completion Date: 21-Apr-2005

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61788-9
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2005-04
Supraconductivité –
Partie 9:
Mesures pour supraconducteurs
haute température massifs –
Densité de flux résiduel des oxydes
supraconducteurs à gros grains

Superconductivity –
Part 9:
Measurements for bulk high temperature
superconductors –
Trapped flux density of large grain
oxide superconductors
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61788-9:2005
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
61788-9
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2005-04
Supraconductivité –
Partie 9:
Mesures pour supraconducteurs
haute température massifs –
Densité de flux résiduel des oxydes
supraconducteurs à gros grains

Superconductivity –
Part 9:
Measurements for bulk high temperature
superconductors –
Trapped flux density of large grain
oxide superconductors
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R
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International Electrotechnical Commission
МеждународнаяЭлектротехническаяКомиссия
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– 2 – 61788-9  CEI:2005
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS.4
INTRODUCTION.8

1 Domaine d’application .10
2 Références normatives.10
3 Termes et définitions .10
4 Principe.10
5 Exigences .14
6 Appareillage .16
7 Procédure de mesure .18
8 Précision et justesse de la méthode d’essai .18
9 Rapport d'essai .20

Annexe A (informative) Informations complémentaires relatives aux Articles 3 à 6.22
Annexe B (informative) Mesures de la force de lévitation des supraconducteurs haute
température massifs .28
Annexe C (informative) Rapport d’essai (exemple).34

Bibliographie.38

Figure 1 – Principe de la densité de flux résiduel dans un supraconducteur massif.12
Figure 2 – Vue schématique de l’installation expérimentale .14
Figure A.1 – Dépendance de l’épaisseur de la densité de flux résiduel (B ).22
z
Figure A.2 – Dépendance de l’entrefer du champ magnétique.26
Figure C.1 – Carte de distribution de densité de flux résiduel.36

61788-9  IEC:2005 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5
INTRODUCTION.9

1 Scope.11
2 Normative references .11
3 Terms and definitions .11
4 Principle .11
5 Requirements .15
6 Apparatus.17
7 Measurement procedure.19
8 Precision and accuracy of the test method.19
9 Test report.21

Annex A (informative) Additional information related to Clauses 3 to 6.23
Annex B (informative) Measurements for levitation force of bulk high temperature
superconductors .29
Annex C (informative) Test report (example).35

Bibliography.39

Figure 1 – Principle of trapped flux density in bulk superconductor .13
Figure 2 – Schematic view of the experimental set-up.15
Figure A.1 – Thickness dependence of the trapped flux density (B ).23
z
Figure A.2 – Gap dependence of the field strength .27
Figure C.1 – Distribution map of trapped flux density .37

– 4 – 61788-9  CEI:2005
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
__________
SUPRACONDUCTIVITÉ –
Partie 9: Mesures pour supraconducteurs haute température massifs –
Densité de flux résiduel des oxydes supraconducteurs à gros grains

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes
internationales, des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au
public (PAS) et des Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de la CEI"). Leur élaboration est confiée à des
comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent
également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO),
selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable
de l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications
nationales et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications
nationales ou régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) La CEI n’a prévu aucune procédure de marquage valant indication d’approbation et n'engage pas sa
responsabilité pour les équipements déclarés conformes à une de ses Publications.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à la CEI, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou
mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités
nationaux de la CEI, pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre
dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais
de justice) et les dépenses découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de la CEI ou de
toute autre Publication de la CEI, ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des é
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