IEC 60512-25-6:2004

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter

Describes methods for measuring an eye pattern response and jitter in the time domain.

Connecteurs pour équipements électroniques - Essais et mesures - Partie 25-6: Essai 25f: Diagramme de l'oeil et gigue

Décrit les méthodes pour mesurer la réponse en diagramme de l'oeil et la gigue dans le domaine temporel.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 25-May-2004
• ICS: 01 - GENERALITIES. TERMINOLOGY. STANDARDIZATION. DOCUMENTATION
• ICS: 31.220.10 - Plug-and-socket devices. Connectors
• Technical Committee: SC 48B - Electrical connectors
• Current Stage: PPUB - Publication issued
• Start Date: 15-Jul-2004
• Completion Date: 26-May-2004

Standards Content (Sample)

NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60512-25-6
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2004-05
Connecteurs pour équipements électroniques –
Essais et mesures –
Partie 25-6:
Essai 25f: Diagramme de l'oeil et gigue

Connectors for electronic equipment –
Tests and measurements –
Part 25-6:
Test 25f: Eye pattern and jitter
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 60512-25-6:2004
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base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
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critères, comprenant des recherches textuelles, par searches, technical committees and date of
comité d’études ou date de publication. Des publication. On-line information is also available
informations en ligne sont également disponibles sur on recently issued publications, withdrawn and
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NORME CEI
INTERNATIONALE
IEC
60512-25-6
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2004-05
Connecteurs pour équipements électroniques –
Essais et mesures –
Partie 25-6:
Essai 25f: Diagramme de l'oeil et gigue

Connectors for electronic equipment –
Tests and measurements –
Part 25-6:
Test 25f: Eye pattern and jitter
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Q
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– 2 – 60512-25-6  CEI:2004
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS .4

1 Introduction.8
1.1 Domaine d’application et objet .8
1.2 Termes et définitions .8
2 Ressources d’essai.8
2.1 Equipement.8
2.2 Montage.10
3 Echantillon d’essai.10
3.1 Description.10
4 Procédure d’essai.10
4.1 Généralités.10
4.2 Diagramme de l’œil.12
4.3 Gigue.14
5 Détails à spécifier .16
6 Documentation d’essai.16

Annexe A (normative) Schémas d’adaptations réelles.18
Annexe B (informative) Interprétation du diagramme de l’œil – Guide pratique .22

Figure A.1 – Adaptations asymétriques.18
Figure A.2 – Adaptations différentielles (symétriques).20
Figure B.1 – Réponse typique en diagramme de l’œil.22
Figure B.2 – Réponse en diagramme de l’œil montrant la hauteur et la largeur de l’œil .24
Figure B.3 – Réponse en diagramme de l’œil avec masque (sans impacts).26
Figure B.4 – Réponse en diagramme de l’œil montrant les impacts à l’intérieur du masque.28
Figure B.5 – Méthode automatique de l’oscilloscope numérique à échantillonnage, montrant
les limites verticales approximativement séparées de 20 mV, référencée en 4.3.1.3.2.30
Figure B.6 – Méthode manuelle de l’oscilloscope numérique à échantillonnage, montrant
les deux curseurs verticaux, un de chaque coté de l’œil, référencée en 4.3.1.4.1 .32
Figure B.7 – Méthode D, schéma d’un essai unitaire impulsionnel, montrant la largeur
de l’impulsion, référencée en 4.3.2.4 .34

60512-25-6  IEC:2004 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD.5

1 Introduction.9
1.1 Scope.9
1.2 Terms and definitions .9
2 Test resources.9
2.1 Equipment.9
2.2 Fixture.11
3 Test specimen.11
3.1 Description.11
4 Test procedure.11
4.1 General.11
4.2 Eye pattern.13
4.3 Jitter.15
5 Details to be specified.17
6 Test documentation.17

Annex A (normative) Schematics of sample termination.19

Annex B (informative) Eye pattern interpretation – Practical guidance .23

Figure A.1 – Single-ended terminations .19
Figure A.2 – Differential (balanced) terminations .21
Figure B.1 – Typical eye pattern response .23
Figure B.2 – Eye pattern response showing eye height and eye width .25
Figure B.3 – Eye pattern response with mask (no hits).27
Figure B.4 – Eye pattern response showing hits inside mask .29
Figure B.5 – DSO automatic method, showing vertical limits approximately 20 mV apart,
referenced in 4.3.1.3.2 .31
Figure B.6 – DSO Manual method, showing two vertical cursors one on each side of the
eye, referenced in 4.3.1.4.1.33
Figure B.7 – Method D, pulse test single pattern, showing the pulse width, referenced in
4.3.2.4 .35

– 4 – 60512-25-6  CEI:2004
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
___________
CONNECTEURS POUR ÉQUIPEMENTS ÉLECTRONIQUES –
ESSAIS ET MESURES –
Partie 25-6: Essai 25f: Diagramme de l'œil et gigue

AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés «Publication(s) de la CEI»). Leur élaboration est confiée à des comités d'études,
aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux
travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de la CEI
intéressés sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de la CEI se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelco
...