Superconductivity - Part 11: Residual resistance ratio measurement - Residual resistance ratio of Nb3Sn composite superconductors

Covers a test method for the determination of the residual resistance ratio (RRR) of Nb3Sn composite conductors. This method is intended for use with superconductor specimens that have a monolithic structure with a rectangular or round cross section, RRR less than 350 and cross-sectional area less than 3 mm2, and have received a reaction heat-treatment. Ideally, it is intended that the specimens are as straight as possible; however, this is not always the case, thus care must be taken to measure the specimen in its as received condition. All measurements are done without an applied magnetic field. The method described in the body of this standard is the "reference" method; optional acquisition methods are outlined in Annex A.

Supraconductivité - Partie 11: Mesure du rapport de résistance résiduelle - Rapport de résistance résiduelle des supraconducteurs composites de Nb3Sn

Spécifie une méthode d'essai pour la détermination du rapport de résistance résiduelle (RRR) des conducteurs composites de Nb3Sn. Cette méthode est destinée à être utilisée avec des éprouvettes de supraconducteurs présentant une structure monolithique avec une section rectangulaire ou circulaire, un rapport RRR inférieur à 350, une surface de section inférieure à 3 mm2, et qui ont reçu un traitement thermique de réaction. Dans l'absolu, il est prévu que les éprouvettes soient aussi droites que possible; cependant, ce n'est pas toujours le cas, c'est pourquoi il faut s'assurer que la mesure est effectuée sur des éprouvettes en l'état de livraison. Toutes les mesures sont effectuées sans appliquer de champ magnétique. La méthode décrite dans le corps de texte de la présente norme est la méthode de «référence»; des méthodes d'acquisition facultatives sont présentées à l'annexe A.

General Information

Status
Published
Publication Date
20-Jan-2003
Technical Committee
Drafting Committee
Current Stage
DELPUB - Deleted Publication
Completion Date
11-Jul-2011
Ref Project

Relations

Buy Standard

Standard
IEC 61788-11:2003 - Superconductivity - Part 11: Residual resistance ratio measurement - Residual resistance ratio of Nb3Sn composite superconductors Released:1/21/2003 Isbn:2831868025
English and French language
27 pages
sale 15% off
Preview
sale 15% off
Preview

Standards Content (Sample)


NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61788-11
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-01
Supraconductivité –
Partie 11:
Mesure du rapport de résistance résiduelle –
Rapport de résistance résiduelle des
supraconducteurs composites de Nb Sn
Superconductivity –
Part 11:
Residual resistance ratio measurement –
Residual resistance ratio of Nb Sn composite
superconductors
Numéro de référence
Reference number
CEI/IEC 61788-.11:2003
Numérotation des publications Publication numbering
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI As from 1 January 1997 all IEC publications are
sont numérotées à partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 issued with a designation in the 60000 series. For
devient la CEI 60034-1. example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.
Editions consolidées Consolidated editions
Les versions consolidées de certaines publications de la The IEC is now publishing consolidated versions of its
CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1
exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer, respectively, to the base publication,
respectivement la publication de base, la publication de the base publication incorporating amendment 1 and
base incorporant l’amendement 1, et la publication de the base publication incorporating amendments 1
base incorporant les amendements 1 et 2. and 2.
Informations supplémentaires Further information on IEC publications
sur les publications de la CEI
Le contenu technique des publications de la CEI est The technical content of IEC publications is kept
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état under constant review by the IEC, thus ensuring that
actuel de la technique. Des renseignements relatifs à the content reflects current technology. Information
cette publication, y compris sa validité, sont dispo- relating to this publication, including its validity, is
nibles dans le Catalogue des publications de la CEI available in the IEC Catalogue of publications
(voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions, amendments
amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under
sujets à l’étude et l’avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the
par le comité d’études qui a élaboré cette publication, technical committee which has prepared this
ainsi que la liste des publications parues, sont publication, as well as the list of publications issued,
également disponibles par l’intermédiaire de: is also available from the following:
• Site web de la CEI (www.iec.ch) • IEC Web Site (www.iec.ch)
• Catalogue des publications de la CEI • Catalogue of IEC publications
Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI The on-line catalogue on the IEC web site
(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire des (www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to search
recherches en utilisant de nombreux critères, by a variety of criteria including text searches,
comprenant des recherches textuelles, par comité technical committees and date of publication. On-
d’études ou date de publication. Des informations line information is also available on recently
en ligne sont également disponibles sur les issued publications, withdrawn and replaced
nouvelles publications, les publications rempla- publications, as well as corrigenda.
cées ou retirées, ainsi que sur les corrigenda.
• IEC Just Published
• IEC Just Published
Ce résumé des dernières publications parues
This summary of recently issued publications
(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par
(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.
courrier électronique. Veuillez prendre contact
Please contact the Customer Service Centre (see
avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus
below) for further information.
d’informations.
• Service clients
• Customer Service Centre
Si vous avez des questions au sujet de cette
If you have any questions regarding this
publication ou avez besoin de renseignements
publication or need further assistance, please
supplémentaires, prenez contact avec le Service
contact the Customer Service Centre:
clients:
Email: custserv@iec.ch
Email: custserv@iec.ch
Tél: +41 22 919 02 11
Tel: +41 22 919 02 11
Fax: +41 22 919 03 00
Fax: +41 22 919 03 00
.
NORME CEI
INTERNATIONALE IEC
61788-11
INTERNATIONAL
Première édition
STANDARD
First edition
2003-01
Supraconductivité –
Partie 11:
Mesure du rapport de résistance résiduelle –
Rapport de résistance résiduelle des
supraconducteurs composites de Nb Sn
Superconductivity –
Part 11:
Residual resistance ratio measurement –
Residual resistance ratio of Nb Sn composite
superconductors
 IEC 2003 Droits de reproduction réservés  Copyright - all rights reserved
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, form or by any means, electronic or mechanical, including
électronique ou mécanique, y compris la photocopie et les photocopying and microfilm, without permission in writing from
microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur. the publisher.
International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varembé, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, Switzerland
Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmail@iec.ch  Web: www.iec.ch
CODE PRIX
N
Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE
International Electrotechnical Commission
Международная Электротехническая Комиссия
Pour prix, voir catalogue en vigueur
For price, see current catalogue

– 2 – 61788-11 © CEI:2003
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS . 4
INTRODUCTION .6
1 Domaine d’application. 8
2 Références normatives . 8
3 Termes et définitions . 8
4 Prescriptions.10
5 Appareillage .10
5.1 Matériau de l'embase de mesure .10
5.2 Longueur de l'embase de mesure .10
5.3 Cryostat pour la mesure de la résistance R .10
6 Préparation de l'éprouvette .10
7 Acquisition des données .10
7.1 Résistance (R ) à température ambiante .10
7.2 Résistance (R ) immédiatement supérieure à la transition supraconductrice.12
7.3 Rapport de résistance résiduelle (RRR).14
8 Exactitude et stabilité de la méthode d'essai.16
8.1 Température.16
8.2 Mesure de la tension .16
8.3 Courant .16
9 Rapport d'essai.16
9.1 Eprouvette.16
9.2 Valeurs RRR consignées .16
9.3 Rapport des conditions d'essai .16
Annexe A (informative) Informations supplémentaires concernant la mesure du RRR.22
Figure 1 – Rapport entre la température et la tension.20
Figure 2 – Courbes de la tension en fonction de la température et définition
de chaque tension.20

61788-11 © IEC:2003 – 3 –
CONTENTS
FOREWORD . 5
INTRODUCTION .7
1 Scope . 9
2 Normative references. 9
3 Terms and definitions . 9
4 Requirements .11
5 Apparatus .11
5.1 Material of measuring base plate .11
5.2 Length of the measuring base plate .11
5.3 Cryostat for the resistance R measurement.11
6 Specimen preparation.11
7 Data acquisition .11
7.1 Resistance (R ) at room temperature.11
7.2 Resistance (R ) just above the superconducting transition.13
7.3 Residual resistance ratio (RRR).15
8 Accuracy and stability in the test method .17
8.1 Temperature.17
8.2 Voltage measurement.17
8.3 Current .17
9 Test report.17
9.1 Specimen .17
9.2 Report of RRR values .17
9.3 Report of test conditions .17
Annex A (informative) Additional information relating to measurement of RRR .23
Figure 1 – Relationship between temperature and voltage .21
Figure 2 – Voltage versus temperature curves and definition of each voltage.21

– 4 – 61788-11 © CEI:2003
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE
____________
SUPRACONDUCTIVITÉ –
Partie 11: Mesure du rapport de résistance résiduelle –
Rapport de résistance résiduelle des supraconducteurs
composites de Nb Sn
AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation
composée de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a
pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les
domaines de l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes
internationales. Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national
intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non
gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement
avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les
deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les
Comités nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
La norme internationale CEI 61788-11 a été établie par le Comité d’Etudes 90:
...

Questions, Comments and Discussion

Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.