ISO 19986:2020

Lasers and laser-related equipment - Test method for angle resolved scattering

This document describes procedures for the determination of the angle resolved scattering by optical components such as coated or uncoated optical elements, photonic structures, and materials that can be transparent, translucent, or opaque. It comprises scattering into the scattering sphere around the specimen usually separated into the backward and forward hemispheres. The procedures apply to wavelengths of radiation ranging from 5 nm in the extreme ultraviolet to 15 µm in the infrared spectral ranges.

Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d’essai pour déterminer la dispersion avec résolution angulaire

Le présent document décrit les procédures de détermination de la dispersion avec résolution angulaire par des éléments optiques, tels qu'éléments optiques revêtus ou non, structures photoniques et matériaux pouvant être transparents, translucides ou opaques. Il traite de la dispersion dans la sphère de dispersion autour de l'éprouvette, généralement séparée en hémisphères avant et arrière. Les procédures s'appliquent à des longueurs d'onde de rayonnement s'échelonnant des domaines spectraux de 5 nm dans l'ultraviolet extrême à 15 µm dans l'infrarouge.

General Information

• Status: Published
• Publication Date: 10-Dec-2020
• ICS: 31.260 - Optoelectronics. Laser equipment
• Technical Committee: ISO/TC 172/SC 9 - Laser and electro-optical systems
• Drafting Committee: ISO/TC 172/SC 9/WG 1 - Terminology and test methods for electro-optical systems
• Current Stage: 9093 - International Standard confirmed
• Start Date: 07-Nov-2025
• Completion Date: 27-Dec-2025

Overview

ISO 19986:2020 - Lasers and laser-related equipment - Test method for angle resolved scattering (ARS) defines a standardized test method to measure the angular distribution of radiation scattered from optical components. The scope covers coated and uncoated optics, photonic structures and materials that are transparent, translucent or opaque, across wavelengths from 5 nm (EUV) to 15 µm (IR). Results are reported as angle resolved scattering (ARS) and can be converted to BRDF/BTDF/BSDF or integrated to yield Total Scattering (TS).

Key Topics and Requirements

• Measurement principle: ARS is measured by recording scattered radiant power as a function of polar and azimuthal angles using a detector with a finite aperture scanned over the scattering sphere (often via in‑plane detector scans).
• Instrument functional sections: radiation source, beam preparation (spatial filter, attenuator, beam shaping), goniometer/scan mechanics, detection system (detector aperture, field lens), and specimen mount.
• Geometry and origin: spherical coordinates referenced to specimen normal; origin location (entrance/exit surface or specimen) must be documented.
• Wavelength range: applicable from 5 nm (EUV) to 15 µm (IR).
• Environmental control: measurements should be performed in a cleanroom or under laminar flow to minimize dust-induced scatter (referenced ISO 14644‑1).
• Calibration and alignment: procedures, including at least two calibration methods and instrument alignment steps, are specified; a reference channel is required if source drift or fluctuations exceed ~5% during calibration/measurement.
• Data and uncertainty: procedures include ARS determination, conversion to BRDF/BTDF/BSDF, numerical integration to derive TS, and uncertainty considerations for meaningful metrology.
• Documentation: specimen orientation, origin, illumination conditions, angular scan ranges and instrument signature must be recorded.

Applications

• Quality control and acceptance testing of optical components (mirrors, lenses, coated surfaces).
• Characterization of photonic structures, diffraction gratings, display foils and diffusers.
• Stray light and stray‑radiation analysis in optical system design (input for ray- and wave‑based simulations).
• Development and qualification of optics for deep‑UV, EUV and IR applications where scatter limits system performance.
• Research labs and metrology centers performing high‑precision scattering measurements.

Who Should Use It

• Optical manufacturers and coating houses
• Photonics and semiconductor metrology teams
• Laser system designers and optical engineers
• Standards bodies and test laboratories specializing in stray light and surface quality

Related Standards

• ISO 13696 - Total Scattering (TS) measurement methods and definitions
• ISO 11145 - Optics and photonics vocabulary and symbols
• ISO 14644‑1 - Cleanroom classification
• ASTM E2387‑19 and SEMI ME1392 - other ARS measurement references

ISO 19986:2020 provides a practical, standardized framework for consistent, traceable ARS measurements that feed directly into optical design, quality assurance and stray‑light mitigation workflows.

Standards Content (Sample)

INTERNATIONAL ISO
STANDARD 19986
First edition
2020-12
Lasers and laser-related equipment —
Test method for angle resolved
scattering
Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes d’essai pour
déterminer la dispersion avec résolution angulaire
Reference number
©
ISO 2020
© ISO 2020
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CH-1214 Vernier, Geneva
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Published in Switzerland
ii © ISO 2020 – All rights reserved

Contents Page
Foreword .iv
Introduction .v
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 1
4 Symbols and abbreviated terms . 2
5 Scattering geometry . 2
6 Test method . 3
6.1 Principle . 3
6.2 Measurement arrangement and test equipment . 3
6.2.1 General. 3
6.2.2 Environmental conditions . 4
6.2.3 Radiation source . 4
6.2.4 Beam preparation system . 5
6.2.5 Goniometer . 5
6.2.6 Detection system. 6
6.2.7 Specimen preparation . 6
7 Procedure. 7
7.1 General . 7
7.2 Alignment procedure . 7
7.2.1 General. 7
7.2.2 Alignment of the instrument . 7
7.2.3 Alignment of the specimen . 8
7.3 Calibration . 8
7.3.1 General. 8
7.3.2 Method 1 . 8
7.3.3 Method 2 . 9
7.4 Measurement procedure . 9
7.4.1 Selection of specimen position .10
7.4.2 Selection of illumination conditions .11
7.4.3 Selection of angular scan range .11
7.4.4 Determination of the ARS .11
7.5 Uncertainty considerations .11
8 Measurement protocol .12
Bibliography .14
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www .iso .org/ directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www .iso .org/ patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see www .iso .org/
iso/ foreword .html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee
SC 9, Laser and electro-optical systems.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www .iso .org/ members .html.
iv © ISO 2020 – All rights reserved

Introduction
In 2004, increasing demands from industry for qualified angle resolved scattering (ARS) measurements
led to a discussion note to start activities for a completely new standard on ARS measurements of
optical components in SC 9/WG 6, which was later discussed again in 2008. This new attempt was in
particular driven by, but not limited to, the development of optical components for the deep ultraviolet
spectral region, where scatter losses by material and surface imperfections cause critical limitations. It
was then agreed to support the development of a new working draft.
Since then, there has been an increased interest in a standard procedure that is easy to apply for
practical applications ranging from high-end surfaces, coatings, and materials, structured components
like diffraction gratings, to radiation shaping elements like display foils and diffusors used at
wavelengths ranging from the EUV and DUV to the IR spectral regions.
Two standards exist that describe measurements of angle resolved scattering:
[15]
— ASTM E 2387-19 ;
[16]
— SEMI ME 1392-0116 .
Another related document is ISO 13696 which describes procedures to measure the Total Scattering
(TS) of optical components.
Radiation scattering caused by imperfections of optical components can critically affect the performance
of optical systems. Radiation scattered into large angles usually means a loss of radiant power and thus
reduced throughput. Radiation scattered into smaller angles can lead to image degradation. Knowledge
of the angular distribution of scattered radiation is thus essential in order to assess the quality of
optical components.
This standard describes a testing procedure for the corresponding quantity, the angle resolved
scattering (ARS), which is defined by the measured scattered intensity (scattered radiant power
normalized to incident radiant power and solid angle of detection) as a function of the scattering angles.
Angle resolved scattering data can be used as input for stray-radiation calculations in optical design
software. Other information like the Total Scattering (defined in ISO 13696) or other integrated
scattering quantities can be derived from angle resolved scattering by numerical integration. In
addition, although not covered in this document, analysing angle resolved scattering can provide
information about the origins of scattering such as interface roughness, particles, defects, sub-surface
damage, and bulk inhomogeneities.
INTERNATIONAL STANDARD ISO 19986:2020(E)
Lasers and laser-related equipment — Test method for
angle resolved scattering
1 Scope
This document describes procedures for the determination of the angle resolved scattering by optical
components such as coated or uncoated optical elements, photonic structures, and materials that
can be transparent, translucent, or opaque. It comprises scattering into the scattering sphere around
the specimen usually separated into the backward and forward hemispheres. The procedures apply
to wavelengths of radiation ranging from 5 nm in the extreme ultraviolet to 15 µm in the infrared
spectral ranges.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 11145, Optics and photonics — Lasers and laser-related equipment — Vocabulary and symbols
ISO 14644-1, Cleanrooms and associated controlled environments — Part 1: Classification of air cleanliness
by particle concentration
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 11145 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: available at http:// www .electropedia .org/
3.1
scattered radiation
fraction of the incident radiation that is deflected from the specular optical path
[SOURCE: ISO 13696:2002, 3.1.1]
3.2
detector solid angle
ΔΩ
s
solid angle of the detector aperture with respect to the origin of coordinates
3.3
angle resolved scattering
ARS
radiant power ΔP scattered into a direction (θ ,�φ ) relative to the incident radiant power P and the
s s s i
detector solid angle (3.2) ΔΩ :
s
ΔP θφ,
()
ss s

f θφ, =
()
ss
PΔΩ
is
Note 1 to entry: ARS can be transformed into the bidirectional reflectance, transmittance, or scattering
distribution function, BRDF, BTDF, or BSDF ( f ) respectively, by dividing ARS by cosθ :
s
r

f θφ,
()
ss
f θφ, =
()
rs s
cosθ
s
1)
Note 2 to entry: The total scattering defined in ISO 13696 can be derived from ARS through numerical
integration within the corresponding scattering hemispheres. For normal incidence and reflective scattering,
the integral is:
2π≥°85

σθ= f ,sφ inθθφdd
()
TS ss ss s
∫∫
0 ≤°2
3.4
diffuse reflectance standard
diffuse reflector with known, preferably Lambertian, ARS (3.3)
3.5
instrument signature
intrinsic contribution to measured ARS (3.3) produced by the instrument itself, usually estimated by
measuring ARS (3.3) without any specimen
4 Symbols and abbreviated terms

angle resolved scattering, ARS
f
ΔΩ detector solid angle
s
ΔP scattered radiant power
s
P incident radiant power
i
φ azimuthal scattering angle
s
θ angle of incidence
i
θ angle of specular reflection
r
θ polar scattering angle
s
5 Scattering geometry
The scattering geometry is defined in spherical coordinates with respect to the specimen normal as
shown in Figure 1. The origin of coordinates lies at the specimen as follows:
— for measuring reflective scattering, the origin lies at the entrance surface;
— for measuring transmissive scattering, the origin lies at the exit surface;
— for thin specimens (specimen thickness small compared to the field of view of the detector), the
origin can be either at the entrance or the exit surface;
— for certain applications, it may be useful to place the origin at other locations, for example in the
specimen.
The exact location of the origin shall be documented.
1)  In ISO 13696:2002, total scattering is currently described by the symbol TS. This will be changed to the symbol,
σ , in the upcoming revision.
TS
2 © ISO 2020 – All rights reserved

Key
1 specimen under test θ angle of incidence
i
2 incident beam θ polar scattering angle
s
3 specularly reflected beam azimuthal scattering angle
φ
s
4 ΔΩ detector solid angle
scattered radiation at θφ,
()
s
ss
NOTE The angle of the specular reflection (θ ) is equal to the angle of incidence (θ ).
r i
Figure 1 — Scattering geometry
The scattering geometry is shown in Figure 1. The azimuthal scattering angle is zero for measurements
within the incident plane containing both the incident and specularly reflected beams. In addition,
a specimen orientation angle should be defined and documented. The direction of incidence and the
surface normal define the incident plane.
6 Test method
6.1 Principle
The fundamental operating principle of the instrument for ARS measurements (see Figure 2) is based
on measuring the radiant power scattered from the specimen as a function of the scattering angles
using a detector with a small but finite aperture that is scanned along a defined trajectory on or within
the full scattering sphere about the specimen. The simplest type of measurement is a detector scan
with the plane of incidence (in-plane scan).
The angle of incidence is kept constant during a single measurement. The ARS is either measured by
rotating the detector with respect to the specimen and the illumination system, or, alternatively, the
detector is fixed and the illumination system and the specimen are rotated with respect to the detector.
6.2 Measurement arrangement and test equipment
6.2.1 General
The instrument employed for the determination of ARS is divided into four functional sections which
are described in detail in Figure 2.
Key
1 radiation source 8 specimen
2 chopper (optional) 9 beam dump
3 variable attenuator (optional) 10 detector entrance aperture
4 focussing element 1 11 field lens (optional)
5 pinhole 12 detector
6 focussing element 2 13 beam splitter (optional)
7 baffles (optional) 14 reference detector (optional)
Figure 2 — Instrument for ARS measurements
If radiant power fluctuations or drifts of the radiation source of more than 5 % are expected over
the time scale comprising calibration and measurements, an additional reference channel shall be
implemented into the setup shown in Figure 2. The back reflection of a tilted superpolished substrate
of a material transparent in the relevant spectral region of the laser and positioned before the spatial
filter as well as an appropriate detector, preferably similar to the actual scatter detector, should be used
for this purpose.
6.2.2 Environmental conditions
The instrument should be located in a clean room environment or under a laminar flow system to
prevent scattering from dust particles. Some applications, in particular in the UV range, require
operation in vacuum or specific gas atmospheres to avoid absorption of radiation in air or to suppress
Rayleigh scattering from air molecules. The environmental conditions during measurements shall be
documented.
6.2.3 Radiation source
Excellent beam quality and sufficiently high incident radiant power are essential for ARS measurements
of optical components. Therefore, lasers, laser diodes or narrow or broad band sources may be used as
radiation sources. The source used shall be documented.
The temporal radiant power variation of the radiation source shall be measured and documented. This
comprises long-term drifts as well as short-term fluctuations. Drifts and fluctuations smaller than 5 %
are below the overall uncertainty of measurement and can be accepted. Larger drifts and fluctuations
should be monitored and taken into account accordingly. For this purpose, a reference signal should be
measured using a beam splitter and a reference detector.
An attenuator based on a combination of neutral density filters or other means is used to adjust the
incident radiant power.
4 © ISO 2020 – All rights reserved

6.2.4 Beam preparation system
The beam preparation system consists of a spatial filter to generate a clean beam and, if necessary,
additional baffles to suppress stray radiation from the illumination system. The beam profile should
be a rotationally symmetric Gaussian. Other profiles, for example a top-hat profile can also be used
provided that the instrument signature, particularly at scatter angles close to the specular directions,
is not affected.
The last focussing element images the pinhole onto the plane of the detector aperture. That is, the
specularly reflected or normally transmitted beam shall be focused on the detector aperture when the
detector is viewing that direction and when the specimen being measured is in place.
If the focal point of the illumination system is at the specimen, at infinity (collimated beam) or at any
other position other than the detector aperture, the user shall check, document, and quantify to which
extent this affects the near-specular instrument signature and the compatibility with results obtained
from TS measurements according to ISO 13696.
The focal length of the beam preparation system shall be adjustable so that the refractive power of the
specimen can be compensated.
Single surface mirrors are preferred as optical components, because they usually produce less
scattering and thus enable better (lower and narrower) instrument signatures to be achieved. Ideally
the ARS of the mirrors should be lower than the ARS of the specimen to be measured.
If spherical mirrors are used, the angles of incidence should be as small as possible to reduce aberrations
that can critically affect the instrument signature in the near-specular regions.
The beam diameter on the specimen shall be documented. It shall be smaller than the field of view of
the detector at the specimen position. Typical diameters are between D = 0,4 mm and 1
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 19986
Première édition
2020-12
Lasers et équipements associés
aux lasers — Méthodes d’essai
pour déterminer la dispersion avec
résolution angulaire
Lasers and laser-related equipment — Test method for angle resolved
scattering
Numéro de référence
©
ISO 2020
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Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: [phone]
E-mail: [e-mail]
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2020 – Tous droits réservés

Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d'application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Symboles et abréviations . 2
5 Géométrie de dispersion . 3
6 Méthode d’essai . 3
6.1 Principe . 3
6.2 Dispositif de mesurage et équipement d'essai . 4
6.2.1 Généralités . 4
6.2.2 Conditions environnementales . 4
6.2.3 Source de rayonnement . 5
6.2.4 Système de préparation de faisceaux . 5
6.2.5 Goniomètre . 6
6.2.6 Système de détection . 6
6.2.7 Préparation de l’éprouvette . 7
7 Procédure. 8
7.1 Généralités . 8
7.2 Procédure d’alignement . 8
7.2.1 Généralités . 8
7.2.2 Alignement de l’instrument. 8
7.2.3 Alignement de l’éprouvette . 8
7.3 Étalonnage . 8
7.3.1 Généralités . 8
7.3.2 Méthode 1 . 9
7.3.3 Méthode 2 . 9
7.4 Procédure de mesurage .10
7.4.1 Sélection de la position de l’éprouvette .11
7.4.2 Sélection des conditions d’éclairage .11
7.4.3 Sélection de la plage de balayage angulaire .12
7.4.4 Détermination de la DRA .12
7.5 Considérations sur l’incertitude .12
8 Protocole de mesurage .13
Bibliographie .15
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L'élaboration des Normes internationales est
confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le droit de
faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales
et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO, participent également aux travaux. L’ISO collabore
étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui concerne la
normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/ directives).
L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/ brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www .iso .org/ iso/ fr/ avant -propos.
Le présent document a été élaboré par le Comité technique ISO/TC 172, Optique et photonique, sous-
comité SC 9, Lasers et systèmes électro-optiques.
Il convient que tout retour d’information ou question sur le présent document soit adressé à l’organisme
national de normalisation de l’utilisateur. Une liste complète de ces organismes peut être consultée à
l’adresse www .iso .org/ fr/ members .html.
iv © ISO 2020 – Tous droits réservés

Introduction
En 2004, les demandes croissantes de mesurages qualifiés de dispersion avec résolution angulaire
(DRA) émanant de l’industrie a mené à une note de discussion pour lancer des activités destinées à une
norme entièrement nouvelle relatives aux mesurages DRA d'éléments optiques dans SC 9/WG 6, et qui
a fait ultérieurement l’objet d’une nouvelle discussion en 2008. Cette nouvelle tentative a été pilotée, en
particulier, mais sans y être limitée, par le développement d'éléments optiques pour le domaine spectral
de l’ultraviolet profond, dans lequel les pertes par dispersion en raison d’imperfections de surface et
de matière entraînent des limitations critiques. Il a donc été décidé de soutenir le développement d’un
nouveau projet de travail.
Depuis lors, l’intérêt n’a cessé d’augmenter pour une procédure type, facile à appliquer dans la pratique,
englobant aussi bien des surfaces, des revêtements, des matériaux, des composants structurés, de
haute qualité, comme les réseaux de diffraction, que des éléments conformateurs de rayonnement, tels
que des tableaux interactifs et des diffuseurs, utilisés à des longueurs d’onde allant des régions UVE et
UVP aux régions spectrales IR.
Il existe deux normes qui décrivent des mesurages de dispersion avec résolution angulaire:
[15]
— ASTM E 2387-19 ;
[16]
— SEMI ME 1392-0116 .
Un autre document associé est l’ISO 13696 qui décrit des procédures pour mesurer la Dispersion totale
(DT) des éléments optiques.
La dispersion du rayonnement causée par des imperfections d’éléments optiques peut affecter de
manière critique la performance des systèmes optiques. Un rayonnement dispersé en grands angles
correspond habituellement à une perte de puissance rayonnante, et donc à une réduction de la
production. Un rayonnement dispersé en petits angles peut conduire à une dégradation de l’image. La
connaissance de la distribution angulaire du rayonnement dispersé est donc essentielle pour évaluer la
qualité d’éléments optiques.
La présente norme décrit une méthode d’essais pour la quantité correspondante, la dispersion avec
résolution angulaire (DRA), qui est définie par l’intensité dispersée mesurée (puissance rayonnante
dispersée normalisée à une puissance rayonnante incidente et à un angle de détection solide) en
fonction des angles de dispersion.
Les données de dispersion avec résolution angulaire peuvent servir d’entrée aux calculs de rayonnement
parasite dans un logiciel de conception optique. D’autres informations, telles que la Dispersion totale
(définie dans l’ISO 13696) ou d’autres quantités de dispersion intégrées, peuvent être fournies à
partir de la dispersion avec résolution angulaire par intégration numérique. De plus, bien que non
abordée dans le présent document, l’analyse de la dispersion avec résolution angulaire peut donner
des informations sur les origines de la dispersion, telles que rugosité d'interface, particules, défauts,
dommages sub-superficiels, et inhomogénéités importantes.
NORME INTERNATIONALE ISO 19986:2020(F)
Lasers et équipements associés aux lasers — Méthodes
d’essai pour déterminer la dispersion avec résolution
angulaire
1 Domaine d'application
Le présent document décrit les procédures de détermination de la dispersion avec résolution angulaire
par des éléments optiques, tels qu’éléments optiques revêtus ou non, structures photoniques et
matériaux pouvant être transparents, translucides ou opaques. Il traite de la dispersion dans la sphère
de dispersion autour de l’éprouvette, généralement séparée en hémisphères avant et arrière. Les
procédures s’appliquent à des longueurs d’onde de rayonnement s’échelonnant des domaines spectraux
de 5 nm dans l’ultraviolet extrême à 15 µm dans l’infrarouge.
2 Références normatives
Les documents suivants cités dans le texte constituent, pour tout ou partie de leur contenu, des
exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les
références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y compris les éventuels
amendements).
ISO 11145, Optique et photonique — Lasers et équipements associés aux lasers — Vocabulaire et symboles
ISO 14644-1:1999, Salles propres et environnements maîtrisés apparentés — Partie 1: Classification de la
propreté de l’air
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l’ISO 11145 ainsi que les
suivants s'appliquent.
L'ISO et l'IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse https:// www .iso .org/ obp
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse http:// www .electropedia .org/
3.1
rayonnement dispersé
fraction du rayonnement incident dévié du trajet optique spéculaire
[SOURCE: ISO 13696:2002, 3.1.1]
3.2
angle solide de détecteur
ΔΩ
s
angle solide d’ouverture du détecteur par rapport à l’origine des coordonnées
3.3
dispersion avec résolution angulaire
DRA
puissance rayonnante ΔP dispersée dans une direction (θ ,�φ ) par rapport à la puissance rayonnante
s s s
incidente P et à l’angle solide du détecteur ΔΩ (3.2):
i s
ΔP θφ,
()
ss s

f θφ, =
()
ss
PΔΩ
is
Note 1 à l'article: La DRA peut être transformée en fonction de la distribution de la réflectance, de la transmission,
ou de la dispersion bidirectionnelle, FDRB, FDTD, ou FDDB ( f ) , respectivement, en divisant la DRA par cosθ :
r s

f θφ,
()
ss
f ()θφ, =
rs s
cosθ
s
1)
Note 2 à l'article: La dispersion totale définie dans l’ISO 13696 peut résulter de la DRA par intégration
numérique à l’intérieur des hémisphères de dispersion correspondantes. Pour l’incidence normale et la dispersion
de réflexion, l’intégrale est:
2π≥°85

σθ= f ,sφ inθθφdd
()
TS ss ss s
∫∫
0 ≤°2
3.4
étalon de réflectance diffuse
réflecteur diffus avec DRA (3.3) connue, de préférence Lambertienne
3.5
signature d’instrument
contribution intrinsèque à la DRA (3.3) mesurée, produite par l’instrument lui-même, généralement
estimée en mesurant la DRA (3.3) sans éprouvette
4 Symboles et abréviations

Dispersion avec résolution angulaire, DRA
f
ΔΩ angle solide de détecteur
s
ΔP puissance rayonnante dispersée
s
P puissance rayonnante incidente
i
φ
angle de dispersion azimutal
s
θ angle d’incidence
i
θ angle de réflexion spéculaire
r
θ angle de dispersion polaire
s
1) Dans l’ISO 13696:2002, la dispersion totale est actuellement décrite par le symbole, TS. Cette description sera
modifiée par le symbole, σ , dans la prochaine révision.
TS
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5 Géométrie de dispersion
La géométrie de dispersion est définie en coordonnées sphériques par rapport à la normale à
l’éprouvette, tel que représenté à la Figure 1. L’origine des coordonnées se trouve, comme suit, au niveau
de l’éprouvette:
— pour mesurer la dispersion de réflexion, l’origine se trouve au niveau de la surface d’entrée.
— pour mesurer la dispersion de transmission, l’origine se trouve au niveau de la surface de sortie.
— pour les éprouvettes minces (éprouvette de petite épaisseur comparé au champ de vision du
détecteur), l’origine peut se trouver au niveau de la surface d’entrée ou de la surface de sortie.
— pour certaines applications, il peut être utile de placer l’origine à d’autres emplacements, par
exemple, dans l’éprouvette.
L’emplacement exact de l’origine doit être documenté.
Légende
1 éprouvette sous test θ angle d’incidence
i
2 faisceau incident θ angle de dispersion polaire
s
3 faisceau réfléchi spéculairement angle de dispersion azimutal
φ
s
4 ΔΩ angle solide de détecteur
rayonnement dispersé à ()θφ,
s
ss
NOTE L’angle de la réflexion spéculaire (θ ) est égal à l’angle d’incidence (θ ).
r i
Figure 1 — Géométrie de dispersion
La géométrie de dispersion est représentée à la Figure 1. L’angle de dispersion azimutal est nul pour les
mesurages à l’intérieur du plan incident contenant les faisceaux incidents et réfléchis spéculairement.
De plus, il convient de définir et de documenter un angle d’orientation de l’éprouvette. La direction
d’incidence et la normale à la surface définissent le plan incident.
6 Méthode d’essai
6.1 Principe
Le principe de fonctionnement fondamental de l’instrument pour les mesurages DRA (voir Figure 2)
repose sur la mesure de la puissance rayonnante dispersée provenant de l’éprouvette, en fonction
des angles de dispersion, en utilisant un détecteur doté d’une petite ouverture bien délimitée qui est
balayée le long d’une trajectoire définie sur, ou à l’intérieur de l’ensemble de la sphère de dispersion
autour de l’éprouvette. Le type de mesurage le plus simple est un balayage de détecteur avec le plan
d’incidence (balayage en plan).
L’angle d’incidence est maintenu constant pendant un mesurage simple. La DRA est mesurée soit en
tournant le détecteur par rapport à l’éprouvette et au système d‘éclairage, soit le détecteur est fixé, et le
système d’éclairage ainsi que l’éprouvette sont tournés par rapport au détecteur.
6.2 Dispositif de mesurage et équipement d'essai
6.2.1 Généralités
Le fonctionnement de l’instrument servant à déterminer la DRA est divisée en quatre sections
fonctionnelles décrites en détail à la Figure 2.
Légende
1 source de rayonnement 8 éprouvette
2 hacheur (option) 9 décharge de faisceau
3 atténuateur variable (option) 10 ouverture d’entrée du détecteur
4 élément de focalisation 1 11 lentille de champ (option)
5 trou d’épingle 12 détecteur
6 élément de focalisation 2 13 séparateur de faisceaux (option)
7 déflecteurs (option) 14 détecteur de référence (option)
Figure 2 — Instrument de mesurages de DRA
Si des fluctuations ou des dérives de plus de 5 % de la puissance rayonnante sont prévues sur l’échelle
de temps comprenant l’étalonnage et les mesurages, un canal de référence supplémentaire doit
être implémenté dans la configuration représentée à la Figure 2. Il convient d’utiliser, à cet effet, la
réflexion d’un substrat super poli incliné d’un matériau transparent dans la région spectrale du laser
et placé avant le filtre spatial, ainsi qu’un détecteur approprié, de préférence, similaire au détecteur de
dispersion actuel.
6.2.2 Conditions environnementales
Il convient de placer l’instrument dans un environnement de salle propre ou sous un système à flux
laminaire pour éviter la dispersion émanant de particules de poussière. Certaines applications, en
particulier, dans la plage UV, exigent un fonctionnement en atmosphères gazeuses spécifiques ou sous
vide pour éviter l’absorption du rayonnement dans l’air ou pour supprimer la diffusion de Rayleigh
émanant des molécules d’air. Les conditions environnementales pendant les mesurages doivent être
documentées.
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6.2.3 Source de rayonnement
Une excellente qualité du faisceau et une puissance rayonnante incidente suffisamment élevée sont
essentielles pour les mesurages de DRA d’éléments optiques. Les lasers, les diodes laser ou les sources
en bande large ou étroite peuvent donc être utilisés comme sources de rayonnement. La source utilisée
doit être documentée.
La variation temporaire de la puissance rayonnante du rayonnement doit être mesurée et documentée.
Elle comprend les dérives à long terme et les fluctuations à court terme. Les dérives et fluctuations
inférieures à 5 % sont en dessous de l’incertitude globale de mesure, et sont acceptables. Il convient
de surveiller et, par suite, de tenir compte des dérives et fluctuations plus importantes. À cet effet, il
convient de mesurer un signal de référence à l’aide d’un séparateur de faisceaux et d’un détecteur de
référence.
Un atténuateur basé sur une combinaison de filtres de densité neutre ou d’autres moyens sert à ajuster
la puissance rayonnante incidente.
6.2.4 Système de préparation de faisceaux
Le système de préparation de faisceaux consiste en un filtre spatial permettant de générer un faisceau
propre et, si nécessaire, en des déflecteurs supplémentaires pour supprimer le rayonnement parasite
du système d’éclairage. Il convient que le profil du faisceau corresponde à une fonction gaussienne
symétrique en rotation. D’autres profils, par exemple, un profil “chapeau”, peuvent être également
utilisés, à condition que la signature de l’instrument, en particulier, aux angles de dispersion proches
des directions spéculaires, ne soit pas affectée.
Le dernier élément de focalisation obtient une image du trou d’épingle sur le plan de l’ouverture du
détecteur. À savoir que le faisceau réfléchi spéculairement ou transmis normalement doit être focalisé
sur l’ouverture du détecteur lorsque celui-ci voit cette direction et que l’éprouvette mesurée est en place.
Si le point focal du système d’éclairage se trouve au niveau de l’éprouvette, à l’infini (faisceau collimaté)
ou en toute autre position autre que le plan d’ouverture du détecteur, l’utilisateur doit vérifier,
documenter, et quantifier dans quelle mesure cela affecte la signature de l’instrument proche du
spéculaire, et la compatibilité avec les résultats obtenus par les mesurages de la dispersion totale selon
l’ISO 13696.
La distance focale du système de préparation du faisceau doit être réglable de manière à pouvoir
compenser la puissance de réfraction de l’éprouvette.
Les miroirs à surface uniforme sont préférés comme éléments optiques, car ils produisent généralement
moins de dispersion et permettent d’obtenir de meilleures signatures de l'instrument (réduites et
plus étroites). Idéalement, il convient que le DRA des mirroirs soit inférieur au DRA de l’éprouvette à
mesurer.
Si des miroirs sphériques sont utilisés, il convient que les angles d’incidence soient les plus petits
possibles pour réduire les aberrations qui pourraient affecter de manière critique la signature de
l’instrument dans les régions proches du spéculaire.
Le diamètre du faisceau sur l’éprouvette doit être documenté. Il doit être plus petit que le champ de
vision du détecteur à la position de l’éprouvette. Les diamètres types sont compris entre 0,4 mm et
10 mm. Le champ de vision doit être adapté au diamètre du faisceau.
NOTE Certaines applications exigent une focalisation sur l’éprouvette. Ainsi, des diamètres
...