ISO/IEC 15416:2000
(Main)Information technology — Automatic identification and data capture techniques — Bar code print quality test specification — Linear symbols
Information technology — Automatic identification and data capture techniques — Bar code print quality test specification — Linear symbols
Technologies de l'information — Techniques automatiques d'identification et de capture des données — Spécifications pour essai de qualité d'impression des codes à barres — Symboles linéaires
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Standards Content (Sample)
INTERNATIONAL ISO/IEC
STANDARD 15416
First edition
2000-08-15
Information technology — Automatic
identification and data capture
techniques — Bar code print quality test
specification — Linear symbols
Technologies de l'information — Techniques d'identification automatique et
de capture des données — Spécifications pour essai de qualité
d'impression des codes à barres — Symboles linéaires
Reference number
ISO/IEC 15416:2000(E)
©
ISO/IEC 2000
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ISO/IEC 15416:2000(E)
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ISO/IEC 15416:2000(E)
Contents Page
Foreword.vi
Introduction.vii
1 Scope .1
2 Normative references .1
3 Terms and definitions .1
4 Symbols and abbreviated terms .3
4.1 Abbreviations.3
4.2 Symbols .3
5 Measurement methodology.4
5.1 General requirements.4
5.2 Reference reflectivity measurements.5
5.2.1 Measurement wavelength(s).5
5.2.2 Measuring aperture.5
5.2.3 Optical geometry.6
5.2.4 Inspection band .7
5.2.5 Number of scans.7
5.3 Scan reflectance profile .7
5.4 Scan reflectance profile assessment parameters.8
5.4.1 Element determination .9
5.4.2 Edge determination .9
5.4.3 Decode .10
5.4.4 Symbol contrast (SC) .10
5.4.5 Minimum reflectance (R ).10
min
5.4.6 Edge contrast (EC).10
5.4.7 Modulation (MOD).10
5.4.8 Defects .10
5.4.9 Decodability.10
5.4.10 Quiet zone check .11
6 Symbol grading.12
6.1 Scan reflectance profile grading.12
6.1.1 Decode .12
6.1.2 Reflectance parameter grading.12
6.1.3 Decodability.13
6.2 Expression of symbol grade.13
7 Substrate characteristics.13
Annex A (normative) Decodability.14
A.1 Two-width symbologies .14
A.2 Edge to similar edge decodable symbologies ((n, k) symbologies) .14
Annex B (normative) Example of symbol quality grading .16
B.1 Individual scan reflectance profile grading .16
B.2 Overall symbol grade .17
Annex C (informative) Symbol grading flowchart.18
Annex D (informative) Substrate characteristics.19
D.1 Substrate opacity.19
D.2 Gloss .19
D.3 Over-laminate.19
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ISO/IEC 15416:2000(E)
D.4 Static reflectance measurements.19
D.4.1 Prediction of Symbol Contrast (SC).20
D.4.2 Prediction of Minimum Edge Contrast (EC ) and Modulation (MOD) .20
min
D.4.3 Acceptability of measured and derived values.22
Annex E (informative) Interpretation of the scan reflectance profile and profile grades.23
E.1 Significance of scan reflectance profiles.23
E.2 Interpretation of results.23
E.3 Matching grades to applications.24
E.4 Alphabetic grading .25
Annex F (informative) Guidance on selection of light wavelength .26
F.1 Light sources.26
F.2 Effect of variations in wavelength.27
Annex G (informative) Guidance on number of scans per symbol.28
Annex H (informative) Example of verification report .29
Annex I (informative) Comparison with traditional methodologies .30
I.1 Traditional methodologies.30
I.2 Correlation of Print Contrast Signal with symbol contrast measurements.30
I.3 Guidance on grading for applications also specifying PCS .31
Annex J (informative) Process control requirements.32
J.1 Process control for repetitive printing .32
J.2 Number of scans.32
J.3 Bar width deviation.33
J.3.1 Two-width symbologies .33
J.3.2 (n, k) symbologies .33
J.3.3 Average bar width gain/loss .33
Bibliography .34
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ISO/IEC 15416:2000(E)
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) and IEC (the International Electrotechnical Commission)
form the specialized system for worldwide standardization. National bodies that are members of ISO or IEC
participate in the development of International Standards through technical committees established by the
respective organization to deal with particular fields of technical activity. ISO and IEC technical committees
collaborate in fields of mutual interest. Other international organizations, governmental and non-governmental, in
liaison with ISO and IEC, also take part in the work.
International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, Part 3.
In the field of information technology, ISO and IEC have established a joint technical committee, ISO/IEC JTC 1.
Draft International Standards adopted by the joint technical committee are circulated to national bodies for voting.
Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the national bodies casting a vote.
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of
patent rights. ISO and IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard ISO/IEC 15416 was prepared by Joint Technical Committee ISO/IEC JTC 1, Information
technology, Subcommittee SC 31, Automatic identification and data capture techniques.
Annexes A and B form a normative part of this International Standard. Annexes C to J are for information only.
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ISO/IEC 15416:2000(E)
Introduction
The technology of bar coding is based on the recognition of patterns encoded in bars and spaces of defined
dimensions according to rules defining the translation of characters into such patterns, known as the symbology
specification.
The bar code symbol must be produced in such a way as to be reliably decoded at the point of use, if it is to fulfil its
basic objective as a machine readable data carrier.
Manufacturers of bar code equipment and the producers and users of bar code symbols therefore require publicly
available standard test specifications for the objective assessment of the quality of bar code symbols, to which they
can refer when developing equipment and application standards or determining the quality of the symbols. Such
test specifications form the basis for the development of measuring equipment for process control and quality
assurance purposes during symbol production as well as afterwards.
The performance of measuring equipment is the subject of a separate International Standard, ISO/IEC 15426.
This International Standard is intended to be substantially equivalent in technical content to EN 1635 and ANSI
standards X3.182 - 1990 and ANSI/UCC5 on which it has been based. It should be read in conjunction with the
symbology specification applicable to the bar code symbol being tested, which provides symbology-specific detail
necessary for its application.
There are currently many methods of assessing bar code quality at different stages of symbol production. The
methodology provided in this specification is not intended as a replacement for any current process control
methods but gives essential additional quality information. This methodology provides a basis for grading the
quality of bar code symbols in relation to their expected performance when read and therefore gives symbol
producers and their trading partners a universally standardized means for communicating about the quality of bar
code symbols after they have been printed. It also provides symbol producers with information enabling them to
adjust their production process.
Alternative methods of quality assessment may be agreed between parties or as part of an application
specification.
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INTERNATIONAL STANDARD ISO/IEC 15416:2000(E)
Information technology — Automatic identification and data
capture techniques — Bar code print quality test specification —
Linear symbols
1 Scope
This International Standard
� specifies the methodology for the measurement of specific attributes of bar code symbols;
� defines a method for evaluating these measurements and deriving an overall assessment of symbol quality;
� gives information on possible causes of deviation from optimum grades to assist users in taking appropriate
corrective action.
This International Standard applies to those symbologies for which a reference decode algorithm has been defined,
and which are intended to be read using linear scanning methods, but its methodology can be applied partially or
wholly to other symbologies.
2 Normative references
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions of
this International Standard. For dated references, subsequent amendments to, or revisions of, any of these
publications do not apply. However, parties to agreements based on this International Standard are encouraged to
investigate the possibility of applying the most recent editions of the normative documents indicated below. For
undated references, the latest edition of the normative document referred to applies. Members of ISO and IEC
maintain registers of currently valid International Standards.
ISO 7724-2:1984, Paints and varnishes — Colorimetry — Part 2: Colour measurement.
EN 1556:1998, Bar coding — Terminology.
3 Terms and definitions
For the purposes of this International Standard, the terms and definitions given in EN 1556 and the following apply.
3.1
bar
A dark element corresponding to a region of a scan reflectance profile below the global threshold.
3.2
bar reflectance
The lowest reflectance value of an individual bar element in the scan reflectance profile of that element.
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ISO/IEC 15416:2000(E)
3.3
decodability
The proportion of the available margin (between the ideal dimension of an element or combination of elements and
the relevant reference threshold) that has not been consumed by the element or combination of elements,
calculated for the element or combination of elements deviating most from its ideal dimension.
3.4
decode
Determination of the information encoded in a bar code symbol.
3.5
edge contrast
The difference between bar reflectance and space reflectance of two adjacent elements.
3.6
element reflectance non-uniformity
The reflectance difference between the highest peak and the lowest valley in the scan reflectance profile of an
individual element or quiet zone.
3.7
global threshold
The reflectance level midway between the maximum and minimum reflectance values in a scan reflectance profile
used for the initial identification of elements.
3.8
gloss
The propensity of a surface to reflect a proportion of incident light in a specular manner.
3.9
inspection band
The band (usually from 10 % to 90 % of the height of a bar code symbol) across which measurements are taken
(see Figure 2).
3.10
measuring aperture
A circular opening which governs the effective sample area of the symbol, and the diameter of which at 1:1
magnification is equal to that of the sample area.
3.11
modulation
The ratio of minimum edge contrast to symbol contrast.
3.12
(n, k) symbology
A class of bar code symbologies in which each symbol character is n modules in width and is composed of k bar
and space pairs.
3.13
peak
A point of higher reflectance in a scan reflectance profile with points of lower reflectance on either side.
3.14
sample area
The effective area of the symbol within the field of view of the measurement device.
3.15
scan reflectance profile
Plot of variations in reflectance with linear distance along a scan path.
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ISO/IEC 15416:2000(E)
3.16
scan path
The line along which the centre of the sample area traverses the symbol, including quiet zones.
3.17
space
A light element corresponding to a region of a scan reflectance profile above the global threshold.
3.18
space reflectance
The highest reflectance value of an individual space element or quiet zone in the scan reflectance profile of that
element or quiet zone.
3.19
two-width symbology
A bar code symbology in which symbol characters consist only of narrow and wide elements the widths of which
are in a constant ratio to each other.
3.20
valley
A point of lower reflectance in a scan reflectance profile with points of higher reflectance on either side.
3.21
vertical redundancy
The property of a bar code symbol whereby there exist multiple possible scan paths as a result of the symbol being
significantly higher than the height of a single scan line.
4 Symbols and abbreviated terms
4.1 Abbreviations
EC: Edge contrast
EC : Minimum value of EC
min
ERN: Element reflectance non-uniformity
ERN : Maximum value of ERN
max
GT: Global threshold
MOD: Modulation
PCS: Print contrast signal
RT: Reference threshold
SC: Symbol contrast
SRD: Static reflectance difference
4.2 Symbols
A: Average achieved width of element or element combinations of a particular type
e: Width of widest narrow element
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ISO/IEC 15416:2000(E)
E: Width of narrowest wide element
th
e:i edge to similar edge measurement, counting from leading edge of symbol character
i
K: Smallest absolute difference between a measurement and a reference threshold
k: number of element pairs in a symbol character in a (n, k) symbology
M: Width of element showing greatest deviation from A
m: Number of modules in a symbol character
N: Average achieved wide to narrow ratio
n: number of modules in a symbol character in a (n, k) symbology
R : Bar reflectance
b
R : Dark reflectance
D
R : Light reflectance
L
R : Space reflectance
s
R : Maximum reflectance
max
R : Minimum reflectance
min
RT : Reference threshold between measurements j and (j+1) modules wide
j
S: Total width of a character
V: Decodability value
V : Decodability value for a symbol character
C
X: Nominal narrow element dimension
Z: Average achieved narrow element dimension
5 Measurement methodology
5.1 General requirements
The measurement methodology defined in this standard is designed to maximize the consistency of both reflectivity
and bar and space width measurements of bar code symbols on various substrates. This methodology is also
intended to correlate with conditions encountered in bar code scanning hardware.
Measurements shall be made with a single light wavelength and a measurement aperture of a diameter defined by
the application specification or determined in accordance with 5.2.1 and 5.2.2.
Whenever possible, measurements shall be made on the bar code symbol in its final configuration, i.e. the
configuration in which it is intended to be scanned. If this is impossible, refer to annex D for the method to be used
for measuring reflectance for non-opaque substrates.
The sampling method should be based on a statistically valid sample size within the lot or batch being tested. A
minimum grade for acceptability shall be established prior to quality control inspection. In the absence of a
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ISO/IEC 15416:2000(E)
sampling plan defined in formal quality assurance procedures or by bilateral agreement, a suitable plan may be
based on the recommendations in ISO 2859 or ISO 3951.
5.2 Reference reflectivity measurements
Equipment for assessing the quality of bar code symbols in accordance with this standard shall comprise a means
of measuring and analysing the variations in the diffuse reflectivity of a bar code symbol on its substrate along a
number of scan paths which shall traverse the full width of the symbol including both quiet zones. The basis of this
methodology is the measurement of diffuse reflectance from the symbol.
All measurements on a bar code symbol shall be made within the inspection band defined in accordance with 5.2.4.
The measured reflectance values shall be expressed in percentage terms either with reference to the reflectance of
a barium sulphate or magnesium oxide reference sample complying with the requirements of ISO 7724, which shall
be taken as 100 %, or by means of calibration and reference to recognised national standards laboratories for
samples illuminated at 45° with the diffusely reflected light being collected perpendicular to the surface.
5.2.1 Measurement wavelength(s)
The peak light wavelength used for measurements should be specified in the application specification to suit the
intended scanning environment. When the wavelength is not specified in the application specification,
measurements should be made using the wavelength of light that approximates most closely to the wavelength
expected to be used in the scanning process. Refer to annex F for guidance on the selection of the wavelength of
light.
5.2.2 Measuring aperture
The nominal diameter of the measuring aperture should be specified by the user application specification, to suit
the intended scanning environment. When the measuring aperture diameter is not specified in the application
specification, Table 1 should be used as a guide. In an application where a range of X dimensions will be
encountered, all measurements shall be made with the aperture appropriate to the smallest X dimension to be
encountered.
In the absence of a defined X dimension, the Z dimension shall be substituted.
The effective measuring aperture diameter may vary slightly from its nominal dimension due to manufacturing
tolerances and optical effects. Note that the measured width of some of the narrow elements may be smaller than
the measuring aperture diameter.
Table 1 — Guideline for diameter of measuring aperture
X Dimension Aperture diameter Reference
mm mm number
0,075 03
0,100�X<0,180
0,125 05
0,180�X<0,330
0,250 10
0,330�X<0,635
0,635 < X 0,500 20
NOTE The aperture reference number approximates to the measuring aperture
diameter in thousandths of an inch; this reference number is used for consistency
with the ANSI standard X3.182.
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ISO/IEC 15416:2000(E)
5.2.3 Optical geometry
The reference optical geometry for reflectivity measurements shall consist of:
a) a source of incident illumination which is uniform across the sample area at 45° from a perpendicular to the
surface, and in a plane containing the illumination source that shall be both perpendicular to the surface and
parallel to the bars, and
b) a light collection device, the axis of which is perpendicular to the surface.
The light reflected from a circular sample area of the surface shall be collected within a cone, the angle at the
vertex of which is 15°, centred on the perpendicular to the surface, through a circular measuring aperture, the
diameter of which at 1:1 magnification shall be equivalent to that of the sample area.
NOTE Figure 1 illustrates the principle of the optical arrangement, but is not intended to represent an actual device.
This reference geometry is intended to minimise the effects of specular reflection and to maximise those of diffuse
reflection from the symbol. It is intended to provide a reference basis to assist the consistency of measurement. It
may not correspond with the optical geometry of individual scanning systems. Alternative optical geometries and
components may be used, provided that their performance can be correlated with that of the reference optical
arrangement defined in this section.
1 - Light sensing element
2 - Aperture at 1:1 magnification (measurement A = measurement B)
3 - Baffle
4- Sample
5 - Light source
Figure 1 — Reference optical arrangement
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ISO/IEC 15416:2000(E)
5.2.4 Inspection band
The area within which all measurement scan paths shall lie shall be contained between two lines perpendicular to
the height of the bars of the symbol, as illustrated in Figure 2. The lower line shall be positioned at a distance
above the average lower edge of the bar pattern of the symbol, and the upper line at the same distance below the
average upper edge of the bar pattern of the symbol. This distance shall be eq
...
NORME ISO/CEI
INTERNATIONALE 15
Première édition
2000-08-15
hlde rmion —
Techniques d'identification automatique et
de capture des données — Spécifications
pour essai de qualité d'impression des
codes à barres — Symboles linéaires
Information technology — Automatic identification and data capture
techniques — Bar code print quality test specification — Linear symbols
Numéro de référence
ISO/CEI 15416:2000(F)
©
ISO/CEI 2000
at l'info ogies no Tec
416
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ISO/CEI 15416:2000(F)
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Web www.iso.org
Version française parue en 2003
en Suisse
ii © ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés
Pu blié
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Sommaire Page
1 Domaine d'application .1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions.1
4 Symboles et termes abrégés.3
4.1 Abréviations .3
4.2 Symboles.4
5 Méthodologie de mesure .5
5.1 Exigences générales .5
5.2 Mesure de la réflectivité de référence .5
5.2.1 Longueur(s) d’onde des mesures.5
5.2.2 Ouverture de mesure.5
5.2.3 Géométrie optique .6
5.2.4 Bande d’analyse .7
5.2.5 Nombre de balayages.8
5.3 Profil de réflectivité du balayage .8
5.4 Paramètres d’évaluation des profils de réflectivité du balayage .9
5.4.1 Elément de détermination.10
5.4.2 Détermination du bord .11
5.4.3 Décodage.11
5.4.4 Contraste du symbole (SC) .11
5.4.5 Réflectivité minimale (R ).11
min
5.4.6 Contraste de bord (EC) .11
5.4.7 Modulation (MOD).11
5.4.8 Défauts.11
5.4.9 Décodabilité .12
5.4.10 Contrôle des marges.13
6 Notation des symboles .13
6.1 Notation du profil de réflectivité du balayage .14
6.1.1 Décodage.14
6.1.2 Notation des paramètres de réflectivité .14
6.1.3 Décodabilité .15
6.2 Expression des grades de symboles .15
7 Caractéristiques des supports.15
Annexe A (normative) Décodabilité.16
A.1 Systèmes de symbolisation à deux largeurs.16
A.2 Systèmes de symbolisation de bord à bord semblable (systèmes de symbolisation [n,k)] .16
Annexe B (normative) Exemple de notation de qualité de symbole .18
B.1 Notation d’un profil de réflectivité du balayage individuel .18
B.2 Grade global du symbole.19
Annexe C (informative) Organigramme de la notation du symbole.20
Annexe D (informative) Caractéristiques du support.21
D.1 Opacité du support.21
D.2 Brillance.21
D.3 Film de protection.21
D.4 Mesure de la réflectivité statique .22
D.4.1 Prévision du contraste du symbole (SC) .22
D.4.2 Prévision du contraste de bord minimal (EC ) et de la modulation (MOD) .22
min
© ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés iii
15416:200(F) ISO/CEI
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D.4.3 Acceptabilité des valeurs mesurées et déduites.23
Annexe E (informative) Interprétation du profil de réflectivité du balayage et des grades de profil.24
E.1 Signification des profils de réflectivité du balayage.24
E.2 Interprétation des résultats .24
E.3 Adaptation des grades aux applications.25
E.4 Notation alphabétique .26
Annexe F (informative) Guide de sélection de la longueur d'onde lumineuse .27
F.1 Sources de lumière.27
F.2 Effet de la variation de la longueur d’onde .28
Annexe G (informative) Guide sur le nombre de balayages par symbole.29
Annexe H (informative) Exemple de rapport de vérification .30
Annexe I (informative) Comparaison avec les méthodes traditionnelles.31
I.1 Méthodologies traditionnelles.31
I.2 Corrélation du contraste de lecture (PCS) avec les mesures de contraste du symbole .31
I.3 Guide sur la notation pour les applications définissant également le PCS .32
Annexe J (informative) Exigences relatives à la commande de processus.33
J.1 Commande de processus pour une impression répétitive .33
J.2 Nombre de balayages.34
J.3 Ecart de largeur de barre .34
J.3.1 Systèmes de symbolisation à deux largeurs.34
J.3.2 Systèmes de symbolisation (n,k).34
J.3.3 Gain moyen ou perte moyenne de largeur de barre .34
Bibliographie .36
iv © ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés
15416:200(F) ISO/CEI
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Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) et la CEI (Commission électrotechnique internationale)
forment le système spécialisé de la normalisation mondiale. Les organismes nationaux membres de l'ISO ou de la
CEI participent au développement de Normes internationales par l'intermédiaire des comités techniques créés par
l'organisation concernée afin de s'occuper des domaines particuliers de l'activité technique. Les comités
techniques de l'ISO et de la CEI collaborent dans des domaines d'intérêt commun. D'autres organisations
Les Normes internationales sont rédigées conformément aux règles données dans les Directives ISO/CEI,
3.
Dans le domaine des technologies de l'information, l'ISO et la CEI ont créé un comité technique mixte,
1. Les projets de Normes internationales adoptés par le comi té technique mixte sont soumis aux
% au
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO et la CEI ne sauraient être tenues pour
La Norme internationale ISO/CEI 15416 a été élaborée par le comité technique mixte ISO/CEI JTC 1,
Technologies de l'information, sous-comité SC 31, Techniques d’identification et de captage automatique des
données.
Les annexes A et B constituent des éléments normatifs de la présente Norme internationale. Les annexes C à J
sont données uniquement à titre d’information.
© ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés v
responsables de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence.
moins des organismes nationaux votants.
organismes nationaux pour vote. Leur publication comme Normes internationales requiert l'approbation de 75
JTC l'ISO/CEI
Partie
aux travaux.
internationales, gouvernementales ou non gouvernementales, en liaison avec l'ISO et la CEI participent également
15416:200(F) ISO/CEI
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Introduction
La technologie des codes à barres est fondée sur la reconnaissance de formes se présentant comme une
succession de barres et d’espaces de dimensions données, selon des règles définissant la traduction des
Le symbole de code à barres doit être produit de telle sorte qu’il soit décodable de manière fiable sur les lieux de
son utilisation pour réaliser son objectif fondamental qui est de servir de porteur de données lisibles par une
Les fabricants de matériel de code à barres ainsi que les producteurs et les utilisateurs de symboles de code à
barres ont donc besoin de spécifications d’essai normalisées et publiques pour l’évaluation objective de la qualité
des symboles de code à barres. Ils pourront s’y reporter pour le développement de matériel et de normes
d’application, ou pour déterminer la qualité des symboles. Ces spécifications d’essai constituent la base du
développement de matériels de mesure destinés à la commande de processus et à l’assurance qualité pendant et
15426.
La présente Norme internationale est destinée à être substantiellement équivalente au contenu technique des
normes EN 1635 et ANSI X3.182 - 1990 et ANSI/UCC, sur lesquelles elle s’appuie. Il convient de lire cette n
avec la spécification du système de symbolisation applicable au symbole de code à barres en cours de test, qui
A l’heure actuelle, il existe de nombreuses méthodes d’évaluation de la qualité des codes à barres à différents
niveaux de la production de symboles. La méthodologie fournie dans cette spécification n’est pas destinée à
remplacer les méthodes actuelles de commande de processus, mais à fournir des informations complémentaires
essentielles sur la qualité. Elle constitue une base pour la notation qualitative des symboles de codes à barres en
fonction de leur efficacité prévue lors de leur lecture. Par conséquent, cette méthodologie représente pour les
fabricants de symboles et leurs partenaires commerciaux un moyen normalisé et universel pour communiquer sur
la qualité des symboles de codes à barres une fois qu’ils ont été imprimés. Elle fournit également des informations
vi © ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés
d’application.
D’autres méthodes de mesure de la qualité peuvent être adoptées par les parties ou faire partie d’une spécification
permettant aux fabricants d’ajuster leurs processus de production.
fournit des détails symbologiques spécifiques pour son application.
orme
L’efficacité des instruments de mesure fait l’objet d’une Norme internationale distincte, ISO/CEI
après la production de symboles.
machine.
caractères dans ce format. Ces règles sont dites spécifications de système de symbolisation.
15416:200(F) ISO/CEI
---------------------- Page: 6 ----------------------
NORME INTERNATIONALE ISO/CEI 15416:2000(F)
—
—
1 Domaine d'application
¾
¾ définit une méthode pour l’évaluation de ces mesures et la déduction d’une évaluation générale de la qualité
;
¾ donne des informations sur les causes possibles d’écart par rapport aux degrés de qualité optimum afin de
La présente Norme internationale est applicable aux systèmes de symbolisation pour lesquels un algorithme de
décodage de référence a été défini et qui sont destinés à être lus à l’aide de méthodes de balayage linéaire. Cette
2
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence qui y est faite,
constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale . Pour les références datées, les
amendements ultérieurs ou les révisions de ces publications ne s’appliquent pas. Toutefois, les parties prenantes
aux accords fondés sur la présente Norme internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les
éditions les plus récentes des documents normatifs indiqués ci -après. Pour les références non datées, la dernière
7724.
3 Termes et définitions
Pour les besoins de la présente Norme internationale , les termes et définitions donnés dans l’EN 1556 ainsi que
© ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés1
élément sombre correspondant à une région d’un profil de réflectivité du balayage sous le seuil global
barre
3.1
les suivants s'appliquent.
— Terminologie. Codes à barres 1556:1998, EN
2 : Mesurage de la couleur — Colorimétrie — Partie Peintures et vernis -2:1984, ISO
Normes internationales en vigueur.
édition du document normatif en référence s’applique. Les membres de l'ISO et de la CEI possèdent le registre des
Références normatives
méthodologie peut être appliquée partiellement ou intégralement à d’autres systèmes de symbolisation.
permettre aux utilisateurs de prendre les mesures correctives appropriées.
des symboles
; spécifie la méthodologie pour la mesure des attributs spécifiques des symboles de codes à barres
La présente Norme internationale
linéaires
essai de qualité d'impression des codes à barres Symboles
Spécifications pour automatique et de capture des données
— Techniques d'identification Technologies de l'information
---------------------- Page: 7 ----------------------
0
plus faible valeur de réflectivité d’un élément de barre individuel dans le profil de réflectivité du balayage de cet
proportion de la marge disponible (entre la dimension idéale d’un élément ou d’une combinaison d’éléments et le
seuil de référence correspondant) n’ayant pas été consommée par l’élément ou la combinaison d’éléments,
calculée pour la déviation la plus grande de l’élément ou la combinaison d’éléments par rapport à sa dimension
différence de réflectivité entre le sommet le plus élevé et la vallée la plus basse dans le profil de réflectivité du
niveau de réflectivité établi au milieu des valeurs de réflectivité maximale et minimale d’un profil de réflectivité du
bande (couvrant généralement entre 10% et 90% de la hauteur d’un symbole de code à barres) dans laquelle sont
2)
ouverture circulaire déterminant la zone-échantillon effective du symbole, dont le diamètre au grossissement 1 :1
grade de systèmes de symbolisation de code à barres dans lequel chaque caractère symbolisé est égal à n
point de plus haute réflectivité dans un profil de réflectivité du balayage, avec des points de réflectivité plus faible
2 © ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés
de chaque côté
sommet
3.13
modules en largeur et est composé de k paires de barres et d’espaces
système de symbolisation ou symbologie (n, k)
3.12
rapport entre le contraste de bord minimum et le contraste du symbole
modulation
3.11
est égal à celui de la zone-échantillon
ouverture de mesure
3.10
effectuées les mesures (voir Figure
bande d’analyse
3.9
propension d’une surface à réfléchir une partie de la lumière incidente de manière spéculaire
brillance
3.8
balayage, utilisé pour l’identification initiale des éléments
seuil global
3.7
balayage d’un élément individuel ou d’une marge
non-uniformité de réflectivité d’un élément
3.6
différence entre la réflectivité de la barre et la réflectivité d’un espace de deux éléments adjacents
contraste de bord
3.5
détermination des informations codées dans un symbole de code à barres
décodage
3.4
idéale
décodabilité
3.3
élément
réflectivité de la barre
3.2
15416:200(F) ISO/CEI
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0
valeur de réflectivité la plus élevée d’un espace individuel ou d’une marge dans le profil de réflectivité du balayage
système de symbolisation de code à barres dans lequel les caractères symbolisés ne sont constitués que
point de plus faible réflectivité dans un profil de réflectivité du balayage, avec des points de plus haute réflectivité
propriété d’un symbole de code à barres par laquelle plusieurs lignes de balayage existent du fait que la hauteur
4 Symboles et termes abrégés
4.1
MOD
RT
© ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés3
: contraste du symbole SC
: seuil de référence
: contraste de lecture PCS
: modulation
: seuil global GT
max
: valeur maximale de ERN ERN
: non-uniformité de réflectivité d'un élément ERN
min
: valeur minimale de EC EC
: contraste de bord EC
Abréviations
du symbole est nettement supérieure à celle d’une ligne de balayage
redondance verticale
3.21
de chaque côté
vallée
3.20
d’élément étroits et larges dont les dimensions se trouvent dans un rapport constant entre elles
système de symbolisation à deux largeurs
3.19
de cet espace ou de cette marge
réflectivité d’espace
3.18
élément clair correspondant à une région d’un profil de réflectivité du balayage au-dessus du seuil global
espace
3.17
ligne le long de laquelle le centre de la zone-échantillon traverse le symbole, incluant les marges
ligne de balayage
3.16
tracé des variations de réflectivité avec une distance linéaire le long d’une ligne de balayage
profil de réflectivité du balayage
3.15
zone du symbole effectivement située dans le champ de vue du dispositif de mesure
zone-échantillon
3.14
15416:200(F) ISO/CEI
---------------------- Page: 9 ----------------------
10
4.2
e
e i
M
n
R b
R D
R L
R s
R
R
RT
j
S
V
V
c
X
Z
4 © ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés
: dimension moyenne réalisée d’un élément étroit
: dimension nominale d’un élément étroit
: valeur de décodabilité d’un caractère symbolisé
: valeur de décodabilité
: largeur totale d’un caractère
de large : seuil de référence entre les mesures à j et (j+1) modules
min
: réflectivité minimale
max
: réflectivité maximale
: réflectivité de l’espace
: réflectivité de la zone claire
: réflectivité de la zone sombre
: réflectivité de la barre
: nombre de modules d’un caractère symbolisé dans un système de symbolisation (n, k)
: rapport réalisé large/étroit N
: nombre de modules par caractère symbolisé m
: largeur d'un élément montrant le plus grand écart par rapport à A
: nombre de paires d’éléments dans un caractère symbolisé d’un système de symbolisation (n, k) k
: différence minimale absolue entre une mesure et un seuil de référence K
mesure entre bords similaires, à partir du bord avant du caractère symbolisé : j
: largeur de l'élément large le plus étroit E
: largeur de l'élément étroit le plus large e
: largeur moyenne réalisée d'un élément ou d'une combinaison d'éléments d'un type spécifique A
Symboles
: différence de réflectivité statique SRD
5416:200(F) ISO/CEI
---------------------- Page: 10 ----------------------
10
5
5.1 sE
n
réflectivité et de largeur des barres et des espaces des symboles de code à barres sur différents supports. Elle a
également pour but d’établir une corrélation avec les conditions rencontrées dans les matériels de lecture de code
Il convient que les mesures soient effectuées avec une seule longueur d’onde lumineuse et une ouverture de
Dans la mesure du possible, il convient que les mesures soient réalisées sur le symbole de code à barres dans sa
configuration finale, c’est-à-dire la configuration dans laquelle la lecture du symbole est prévue. Si cela n’est pas
possible, se reporter à l’annexe D pour déterminer la méthode à utiliser pour la mesure de la réflectivité sur des
Il convient de baser la méthodologie d’échantillonnage sur une taille d’échantillon statistiquement valide dans le lot
testé. Il convient d’établir un niveau minimal d’acceptabilité avant le contrôle de la qualité. En l’absence d’un plan
d’échantillonnage défini dans les procédures d’assurance qualité ou par accord bilatéral, un plan approprié peut
5.2
Les équipements de mesure de la qualité des symboles de code à barres, conformément à la présente norme,
à barres sur son support. Ceci s’effectue sur plusieurs lignes de balayage traversant la totalité de la largeur du
symbole, y compris les deux marges. La présente méthodologie repose sur la mesure de la réflectivité diffuse du
Toutes les mesures portant sur un symbole de code à barres doivent être effectuées sur la bande
Les valeurs de réflectivité mesurées doivent être exprimées en pourcentage, par rapport à la réflectivité d’un
échantillon de référence de sulfate de baryum ou d’oxyde de magnésium conforme aux spécifications de
l'ISO 7724, qui doit être de 100 %; elles peuvent également être exprimées au moyen d’un calibrage et d’une
référence aux laboratoires nationaux de normalisation pour des échantillons illuminés à 45°, la lumière réfléchie
e é e
lI
pour qu’elle soit adaptée à l’environnement de lecture prévu. Lorsque la longueur d’onde n’est pas indiquée
dans la spécification d’application, il convient que les mesures soient réalisées avec la longueur d’onde lumineuse
s’approchant le plus de celle dont l’utilisation dans le processus de lecture est prévue. Se reporter à l’annexe F
Il convient que le diamètre nominal de l’ouverture de mesure soit spécifié par la spécification d’application de
l'utilisateur, afin qu’il soit adapté à l’environnement de lecture prévu. Lorsque le diamètre de l’ouverture de mesure
s n
a e
e
.
© ISO/CEI 2000 – Tous droits réservés5
En l’absence d’une dimension X définie, la dimension Zdoi t êt reut il is ée
ad ap télaplus petite dimension X rencontrée.à
un pp li ca ti on comportant une série de dimensions X, toutes les mesures doivent être effectuées avec l’ouverture
'e st pa indiqué dans la spécification d’application, il co nv ie nt qu e le Tableau 1 so it utilisé comme référence. Dans
Ouverture de mesure 5.2.2
pour des conseils sur la sélection de la longueur d’onde lumineuse.
l co nv ien t qu e a longueur d’onde lumineuse utilisée pour les mesures so it définie dans la spécification d’application
Longueur(s) d’onde des mesures 5.2.1
di ff us ta nt co ll ec té perpendiculairement à la surface.
d’analyse définie conformément à 5.2.4.
symbole.
doivent comprendre un dispositif de mesure et d’analyse des variations de réflectivité diffuse d’un symbole de code
Mesure de la réflectivité de référence
3951. 2859 et ISO être établi à partir des recommandations de l’ISO
supports non opaques.
mesure d’un diamètre défini par la spécification d’application ou déterminé conformément à 5.2.1 et 5.2.2.
à barres.
La méthodologie de mesure définie dans la présente orme est destinée à optimiser la cohérence des mesures de
xigenc es gé né ra le
Méthodologie de mesure
5416:200(F) ISO/CEI
---------------------- Page: 11 ----------------------
0
Le diamètre effectif de l’ouverture de mesure peut légèrement varier de sa dimension nominale en raison de
tolérances de fabrication et d’effets optiques. Il est à noter que la largeur mesurée de certains des éléments
é
1
mm mm
£
£
£
Le numéro de référence d'ouverture correspond au diamètre d’ouverture de
mesure en millièmes de pouce. Ce numéro de référence est utilisé par souci de cohérence
:
une source de lumière incidente, uniforme sur la zone-échantillon à 45° de la perpendiculaire de la surface et
située dans un plan contenant la source de lumière qui doit être perpendiculaire à la surface et parallèle aux
, et
La lumière réfléch
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.